JPS62214522A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS62214522A JPS62214522A JP5506686A JP5506686A JPS62214522A JP S62214522 A JPS62214522 A JP S62214522A JP 5506686 A JP5506686 A JP 5506686A JP 5506686 A JP5506686 A JP 5506686A JP S62214522 A JPS62214522 A JP S62214522A
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Landscapes
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は磁気記録媒体、特に垂直磁化膜を用いた磁気記
録媒体の製造方法に関するものである。
録媒体の製造方法に関するものである。
[従来の技術]
垂直磁気記録方式は現行の面内磁気記録方式に比べ、記
録密度を飛躍的に向上させることが可能であり、その実
用化は磁気記録の発展にとって極めて重要である。垂直
磁気記録用の記録媒体としては、GoおよびGo−Cr
合金を代表とするCo合金、あるいはBa−フェライト
が開発されている。
録密度を飛躍的に向上させることが可能であり、その実
用化は磁気記録の発展にとって極めて重要である。垂直
磁気記録用の記録媒体としては、GoおよびGo−Cr
合金を代表とするCo合金、あるいはBa−フェライト
が開発されている。
Ba−フェライト媒体はバインダーにBa−フェライト
微粒子を分散させ、基体上に塗布するものであり、従来
の記録媒体の製造方法を使用できる利点があるが飽和磁
束密度Bsが小さいという問題点がある。
微粒子を分散させ、基体上に塗布するものであり、従来
の記録媒体の製造方法を使用できる利点があるが飽和磁
束密度Bsが小さいという問題点がある。
一方、真空蒸着法、スパッタリング法、メッキ法等薄膜
堆積法で形成するCoあるいはCo合金からなる垂直磁
化膜はBgがBa−フェライトに比べて大きく、その分
さらに高密度記録が可能である。しかしながらGoある
いはCo合金膜は磁気特性は優れているものの、#厚擦
、耐摩耗、耐衝撃の劣る点が従来より実用化の障害とな
っている。その改善方法として金属石けん、脂肪酸エス
テルパークロロボリエーテル等の有機化合物を磁性層に
被若させる方法が考えられているが、十分な耐久性を有
する保護潤滑剤が見つかっていない。
堆積法で形成するCoあるいはCo合金からなる垂直磁
化膜はBgがBa−フェライトに比べて大きく、その分
さらに高密度記録が可能である。しかしながらGoある
いはCo合金膜は磁気特性は優れているものの、#厚擦
、耐摩耗、耐衝撃の劣る点が従来より実用化の障害とな
っている。その改善方法として金属石けん、脂肪酸エス
テルパークロロボリエーテル等の有機化合物を磁性層に
被若させる方法が考えられているが、十分な耐久性を有
する保護潤滑剤が見つかっていない。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明は上述したGoあるいはGo合金垂直磁化膜を用
いた磁気記録媒体における潤滑性、耐摩耗性、耐衝撃性
に劣るという問題点を除去し、高密度記録用としての耐
久性に優れた磁気記録媒体の製造方法を提供するもので
ある。
いた磁気記録媒体における潤滑性、耐摩耗性、耐衝撃性
に劣るという問題点を除去し、高密度記録用としての耐
久性に優れた磁気記録媒体の製造方法を提供するもので
ある。
[問題点を解決するための手段および作用]本発明は、
非磁性基体上にCoあるいはCo合金からなる垂直磁化
膜を形成し、該垂直磁化膜上に物理蒸着方法によりCo
酸化膜を形成した後、酸化性雰囲気にさらしながら加熱
処理することを特徴とする磁気記録媒体の製造方法であ
る。
非磁性基体上にCoあるいはCo合金からなる垂直磁化
膜を形成し、該垂直磁化膜上に物理蒸着方法によりCo
酸化膜を形成した後、酸化性雰囲気にさらしながら加熱
処理することを特徴とする磁気記録媒体の製造方法であ
る。
以下、本発明を図面を参照し詳細に説明する。
第1図は本発明の製造方法により製造される磁気記録媒
体の一例の断面の微細構造を示す模式図である。第1図
に示す磁気記録媒体は基体1上に垂直磁化膜の磁気記録
層2を設け、さらに磁気記録層2の上にCo酸化膜3を
設けた構成になっている。
体の一例の断面の微細構造を示す模式図である。第1図
に示す磁気記録媒体は基体1上に垂直磁化膜の磁気記録
層2を設け、さらに磁気記録層2の上にCo酸化膜3を
設けた構成になっている。
基体1はガラス、アルミニウム、表面酢化処理したアル
ミニウム、あるいはポリエステル、ポリイミド、ポリア
ミド、ポリアセテート、ポリスルホン等の高分子化合物
等からなる。
ミニウム、あるいはポリエステル、ポリイミド、ポリア
ミド、ポリアセテート、ポリスルホン等の高分子化合物
等からなる。
磁性層2はCoあるいはCo合金からなる垂直磁化膜に
より構成される。磁気記録層2は真空蒸着法、スパッタ
リング法、イオンブレーティング法、あるいはメッキ法
で基体1に形成され、磁化容易方向が膜面にほぼ垂直と
なる金属強磁性薄膜、すなわち垂直磁化膜となる。金属
強磁性薄膜としては、Co、 Co−Crr、 Go−
V、 Co−No、 Go−1itおよびGo−Or−
Pd、 Go−Or−No、 Go−Or−Rh等があ
るが、中でもGo−Crは垂直磁気異方性が大きく比較
的容易に垂直磁化膜が得られる。このため、磁気記録層
2としては、Go−Crが好ましい。磁気記録層2は、
基体l上に直接形成される他、Ti、旧、 Ge等の金
属膜あるいは非晶質膜の中間層を介在させて形成しても
かまわない。また、基体1と磁気記録層2の間あるいは
基体1と前記中間層の間に記録効率の向上、再生出力の
増大を目的として高透磁率磁性層を設けることもある。
より構成される。磁気記録層2は真空蒸着法、スパッタ
リング法、イオンブレーティング法、あるいはメッキ法
で基体1に形成され、磁化容易方向が膜面にほぼ垂直と
なる金属強磁性薄膜、すなわち垂直磁化膜となる。金属
強磁性薄膜としては、Co、 Co−Crr、 Go−
V、 Co−No、 Go−1itおよびGo−Or−
Pd、 Go−Or−No、 Go−Or−Rh等があ
るが、中でもGo−Crは垂直磁気異方性が大きく比較
的容易に垂直磁化膜が得られる。このため、磁気記録層
2としては、Go−Crが好ましい。磁気記録層2は、
基体l上に直接形成される他、Ti、旧、 Ge等の金
属膜あるいは非晶質膜の中間層を介在させて形成しても
かまわない。また、基体1と磁気記録層2の間あるいは
基体1と前記中間層の間に記録効率の向上、再生出力の
増大を目的として高透磁率磁性層を設けることもある。
Co酸化膜3は、垂直磁化膜2上に例えば所定の酸素を
含む不活性ガス中でGoをターゲーットとしてスパッタ
リングを行なうことにより、または希薄酸素下でCoを
蒸着源として真空蒸着もしくはイオンブレーティングす
ることにより形成される。
含む不活性ガス中でGoをターゲーットとしてスパッタ
リングを行なうことにより、または希薄酸素下でCoを
蒸着源として真空蒸着もしくはイオンブレーティングす
ることにより形成される。
このようにして作製された磁気記録媒体は、そのままで
は充分なパシベーションがなされていないので、耐摩耗
性、耐衝撃性、耐久性の面で改善を必要とする。そのた
めに重要な技術は、成膜直後、上記磁気記録媒体を酸化
性雰囲気にさらした状態で加熱処理することである。
は充分なパシベーションがなされていないので、耐摩耗
性、耐衝撃性、耐久性の面で改善を必要とする。そのた
めに重要な技術は、成膜直後、上記磁気記録媒体を酸化
性雰囲気にさらした状態で加熱処理することである。
このようにして作製したCo酸化膜は極めて潤滑性、耐
摩耗性に優れるため磁気記録媒体のへラドタッチ及び走
行性を格段に向上させる。
摩耗性に優れるため磁気記録媒体のへラドタッチ及び走
行性を格段に向上させる。
Co酸化膜は酸素含有量により強磁性から非磁性に飽和
磁束密度Bsが連続的に変化する。余り酸素含有量が少
ないと潤滑性、耐摩耗性の効果が少なく耐候性も悪くな
るため、Co酸化膜はBsが10,000ガウス以下の
ものが好ましい。Co酸化膜の厚みは極端に薄くすると
潤滑、耐摩耗の効果、耐久性が乏しくなるため、少なく
とも30A以上とするのが好ましい。また、Cas化膜
は厚くなるに従って耐久性が向上するが、 300 A
以上になるとスペーシングロスが大きくなり、記録効率
、再生出力が低下する。このためCo酸化膜の厚みは3
0〜300Aの範囲であることが好ましい。
磁束密度Bsが連続的に変化する。余り酸素含有量が少
ないと潤滑性、耐摩耗性の効果が少なく耐候性も悪くな
るため、Co酸化膜はBsが10,000ガウス以下の
ものが好ましい。Co酸化膜の厚みは極端に薄くすると
潤滑、耐摩耗の効果、耐久性が乏しくなるため、少なく
とも30A以上とするのが好ましい。また、Cas化膜
は厚くなるに従って耐久性が向上するが、 300 A
以上になるとスペーシングロスが大きくなり、記録効率
、再生出力が低下する。このためCo酸化膜の厚みは3
0〜300Aの範囲であることが好ましい。
またCo酸化膜の酸化性雰囲気での加熱処理温度は10
0℃以下では膜のパシベーションが充分になされず、こ
のため100℃以上の温度が好ましい。
0℃以下では膜のパシベーションが充分になされず、こ
のため100℃以上の温度が好ましい。
また、基体のガラス転移点より低いことが必要であり、
従って加熱処理温度は100〜350℃が好ましい。
従って加熱処理温度は100〜350℃が好ましい。
[実施例]
以下実施例により本発明をさらに詳しく説明する。
第2図にCo酸化膜をスパッタリングにて形成する装置
の一例を示す。巻き出しローラー4から巻き出した垂直
磁化膜を積層してなる基体5をキャン6に巻回し回転駆
動を与えながら巻き取りローラー7に巻き取る。キャン
6は、キャン内部に加熱ヒーターもしくは温媒循環装置
を有し、キャン表面温度が350°Cまで加熱できる。
の一例を示す。巻き出しローラー4から巻き出した垂直
磁化膜を積層してなる基体5をキャン6に巻回し回転駆
動を与えながら巻き取りローラー7に巻き取る。キャン
6は、キャン内部に加熱ヒーターもしくは温媒循環装置
を有し、キャン表面温度が350°Cまで加熱できる。
第2図装置を真空槽中にて10−3 Pa以下の真空に
した後、装置雰囲気が0,05〜IPaとなるよう不活
性ガスであるArを導入する。次にパイプ9より酸素を
導入し、Coメタ−ット8を用いて反応性スパッタリン
グを行なうことにより基体3上にCo酸化膜を形成する
。
した後、装置雰囲気が0,05〜IPaとなるよう不活
性ガスであるArを導入する。次にパイプ9より酸素を
導入し、Coメタ−ット8を用いて反応性スパッタリン
グを行なうことにより基体3上にCo酸化膜を形成する
。
実施例1
基体に12JL11ポリイミドフイルムを用い、その上
にスパッタリング法により80wt$ Go −20w
t$ Cr垂直磁化膜を0.4 gta形成し、前記G
o−Cr膜上にCo酸化膜を、第2図に示す装置により
形成し・た。
にスパッタリング法により80wt$ Go −20w
t$ Cr垂直磁化膜を0.4 gta形成し、前記G
o−Cr膜上にCo酸化膜を、第2図に示す装置により
形成し・た。
前記製造方法により作製した磁気記録媒体を、第2図に
示す装置により酸素導入パイプ9を用いて酸素圧がl
kg/cm3の圧力となる雰囲気下でキャン表面温度1
00°Cにて加熱処理を行った。加熱時間は20分間で
ある。このCo酸化膜は同一条件にてポリイミドフィル
ム上に直接形成した後100°Cにて加熱処理した試料
を振動試料型磁力計で測定した結果、そのBsは400
0ガウスであった。Co酸化膜の厚みが0.001.0
.003.0.01.0.03.0.05JLmの前記
構成を有する磁気記録媒体、それぞれ試料1〜5を作製
した。
示す装置により酸素導入パイプ9を用いて酸素圧がl
kg/cm3の圧力となる雰囲気下でキャン表面温度1
00°Cにて加熱処理を行った。加熱時間は20分間で
ある。このCo酸化膜は同一条件にてポリイミドフィル
ム上に直接形成した後100°Cにて加熱処理した試料
を振動試料型磁力計で測定した結果、そのBsは400
0ガウスであった。Co酸化膜の厚みが0.001.0
.003.0.01.0.03.0.05JLmの前記
構成を有する磁気記録媒体、それぞれ試料1〜5を作製
した。
比較例1
加熱処理の工程を省いた以外は実施例1と同様にして0
.017zmの厚さのCo酸化膜を有する磁気記録媒体
を作製した。
.017zmの厚さのCo酸化膜を有する磁気記録媒体
を作製した。
実施例1で得られた試料1〜5及び比較例1のサンプル
について、市I阪の8 mmVTRを用いてスチルライ
フを測定し耐摩耗性の試験を行った。その際、4.5M
Hzの記録後の初期再生出力を測定した。
について、市I阪の8 mmVTRを用いてスチルライ
フを測定し耐摩耗性の試験を行った。その際、4.5M
Hzの記録後の初期再生出力を測定した。
ここでスチルライフは市販のVTR装置のスチルモード
において初期再生出力から6dBダウンするまでの時間
と定義した。
において初期再生出力から6dBダウンするまでの時間
と定義した。
第1表はその結果である。表中の相対出力は実施例1の
試料1で得られた磁気記録媒体の初期再生出力をOdB
とした時の各試料の初期相対出力である。第1表に示す
ように、Co酸化層の厚みが0.001 p、 mの磁
気記録媒体では、スチルライフは13分間と短く耐摩耗
性がない。酸化層の厚みが30A以上になるとスチルラ
イフは商品的有価性の高い耐摩耗性を有す磁気記録媒体
が得られるが、Co酸化層厚みが300A以上になると
相対出力がしだいに低下し、500Aでは実施例1の試
料lの2分の1以下に低下する。このことからCo酸化
層厚みが30〜300Aの範囲で磁性層の磁気記録特性
を充分に発揮でき、耐摩耗性の優れた磁気記録媒体を得
ることが可能であることがわかる。
試料1で得られた磁気記録媒体の初期再生出力をOdB
とした時の各試料の初期相対出力である。第1表に示す
ように、Co酸化層の厚みが0.001 p、 mの磁
気記録媒体では、スチルライフは13分間と短く耐摩耗
性がない。酸化層の厚みが30A以上になるとスチルラ
イフは商品的有価性の高い耐摩耗性を有す磁気記録媒体
が得られるが、Co酸化層厚みが300A以上になると
相対出力がしだいに低下し、500Aでは実施例1の試
料lの2分の1以下に低下する。このことからCo酸化
層厚みが30〜300Aの範囲で磁性層の磁気記録特性
を充分に発揮でき、耐摩耗性の優れた磁気記録媒体を得
ることが可能であることがわかる。
また、温度100℃にて酸化性雰囲気中で加熱処理した
Co酸化膜を有する磁気記録媒体は、加熱処理を施して
ない磁気記録媒体(比較例1)に比してスチルライフは
長くなっている。この効果は、Co酸化膜に酸化性雰囲
気中で加熱処理を施すことテ膜ノパシベーションが充分
になされ、Co酸化膜の構造欠陥が減少し、耐衝撃性、
耐久性が向上したことによるものである。
Co酸化膜を有する磁気記録媒体は、加熱処理を施して
ない磁気記録媒体(比較例1)に比してスチルライフは
長くなっている。この効果は、Co酸化膜に酸化性雰囲
気中で加熱処理を施すことテ膜ノパシベーションが充分
になされ、Co酸化膜の構造欠陥が減少し、耐衝撃性、
耐久性が向上したことによるものである。
以上、表1から明らかなように木発朗で得られた磁気記
録媒体はいずれの従来の磁気記録媒体(比較例1)に比
してスチルライフが長くなり、このことから本発明によ
って得られる磁気記録媒体は充分な耐摩耗性、耐衝撃性
を有すことがわかる。
録媒体はいずれの従来の磁気記録媒体(比較例1)に比
してスチルライフが長くなり、このことから本発明によ
って得られる磁気記録媒体は充分な耐摩耗性、耐衝撃性
を有すことがわかる。
第 1 表
実施例2
基体に12gmポリイミドフィルムを用い、その上ニス
バッタリング法により80wt$ co −20wt$
Cr垂直磁化膜を0.4島m形成し、前記Go−Cr
膜上に厚みが0.03ルmであるCo酸化膜を、第2図
に示す装置により形成した。このGo酸化膜は同一条件
にてポリイミドフィルム上に直接形成した試料を振動試
料型磁力計で測定した結果、そのBsは4000ガウス
であった。
バッタリング法により80wt$ co −20wt$
Cr垂直磁化膜を0.4島m形成し、前記Go−Cr
膜上に厚みが0.03ルmであるCo酸化膜を、第2図
に示す装置により形成した。このGo酸化膜は同一条件
にてポリイミドフィルム上に直接形成した試料を振動試
料型磁力計で測定した結果、そのBsは4000ガウス
であった。
前記製造方法により作製した磁気記録媒体を、第2図に
示す装置により酸素導入パイプ9を用いて酸素圧が1
kg/c+s3の圧力となる雰囲気下で、キャン表面温
度を30.100.150.200.250℃にて加熱
処理を行った。それぞれ加熱時間は20分間である。
示す装置により酸素導入パイプ9を用いて酸素圧が1
kg/c+s3の圧力となる雰囲気下で、キャン表面温
度を30.100.150.200.250℃にて加熱
処理を行った。それぞれ加熱時間は20分間である。
前記加熱処理を施した磁気記録媒体について、ダイヤモ
ンド針を用いた引っ掻き試験によりCo酸化膜の膜破断
荷重を測定した。膜破断荷重は、半径100 graの
ダイヤモンド針に掛かる荷重を変えていきGo酸化膜の
膜にクラックが入った時点の荷重である。磁気記録媒体
の厚みが薄いため引っ掻き試験ホルダー上の測定位置に
より膜破断荷重が変化する。このため−表面温度に対し
lOサンプルを作製し、その平均値を膜破断荷重とした
。またCom化膜表面にキズが発生する荷重をキズ発生
荷重として測定した。
ンド針を用いた引っ掻き試験によりCo酸化膜の膜破断
荷重を測定した。膜破断荷重は、半径100 graの
ダイヤモンド針に掛かる荷重を変えていきGo酸化膜の
膜にクラックが入った時点の荷重である。磁気記録媒体
の厚みが薄いため引っ掻き試験ホルダー上の測定位置に
より膜破断荷重が変化する。このため−表面温度に対し
lOサンプルを作製し、その平均値を膜破断荷重とした
。またCom化膜表面にキズが発生する荷重をキズ発生
荷重として測定した。
第2表はその結果である。第2表に示されるようにco
酸化膜に酸化性雰囲気下で加熱処理を施した磁気記録媒
体は(試料7 、8 、9 、10)加熱処理を施さな
い磁気記録媒体(試料6)に比して膜破断荷重が増し、
Co−Cr垂直磁化膜とCo酸化膜の密着性は向上して
いる。また、キズ発生荷重も同様に増し、Co酸化膜の
耐衝撃性が向上している。
酸化膜に酸化性雰囲気下で加熱処理を施した磁気記録媒
体は(試料7 、8 、9 、10)加熱処理を施さな
い磁気記録媒体(試料6)に比して膜破断荷重が増し、
Co−Cr垂直磁化膜とCo酸化膜の密着性は向上して
いる。また、キズ発生荷重も同様に増し、Co酸化膜の
耐衝撃性が向上している。
[発明の効果]
以上の実施例から明らかな様に、CoもしくはCo合金
からなる垂直磁化膜を磁気記録層とする磁気記録媒体表
面にCo酸化膜を形成してなる磁気記録媒体を酸化性雰
囲気にさらし加熱処理を施すことにより、磁気記録媒体
の耐摩耗性、耐衝撃性、密着性が格段に向上した。
からなる垂直磁化膜を磁気記録層とする磁気記録媒体表
面にCo酸化膜を形成してなる磁気記録媒体を酸化性雰
囲気にさらし加熱処理を施すことにより、磁気記録媒体
の耐摩耗性、耐衝撃性、密着性が格段に向上した。
第1図は本発明により製造される磁気記録媒体の断面模
式図であり、第2図はコバルト酸化膜を成膜し、かつ本
発明の酸化性雰囲気での加熱処理を行う装置の概略図で
ある。 l・・・非磁性基体、2・・・Co含有垂直磁化膜、3
・・・Co酸化膜、4・・・巻き出しローラー、5・・
・磁気記録媒体、6・・・加熱キャン、7・・・巻き取
りローラー、8・・・Coケタ−ット、9・・・02導
入パイプ、 10・・・マスク。
式図であり、第2図はコバルト酸化膜を成膜し、かつ本
発明の酸化性雰囲気での加熱処理を行う装置の概略図で
ある。 l・・・非磁性基体、2・・・Co含有垂直磁化膜、3
・・・Co酸化膜、4・・・巻き出しローラー、5・・
・磁気記録媒体、6・・・加熱キャン、7・・・巻き取
りローラー、8・・・Coケタ−ット、9・・・02導
入パイプ、 10・・・マスク。
Claims (3)
- (1)非磁性基体上にCoあるいはCo合金からなる垂
直磁化膜を形成し、該垂直磁化膜上に物理蒸着方法によ
りCo酸化膜を形成した後、酸化性雰囲気にさらしなが
ら加熱処理することを特徴とする磁気記録媒体の製造方
法。 - (2)垂直磁化膜がCoとCrの合金からなる特許請求
の範囲第1項記載の磁気記録媒体の製造方法。 - (3)非磁性基体が高分子フィルムである特許請求の範
囲第1項あるいは第2項記載の磁気記録媒体の製造方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5506686A JPS62214522A (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5506686A JPS62214522A (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62214522A true JPS62214522A (ja) | 1987-09-21 |
Family
ID=12988316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5506686A Pending JPS62214522A (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62214522A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01232536A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 | Hitachi Ltd | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
JPH0352118A (ja) * | 1989-07-19 | 1991-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
-
1986
- 1986-03-14 JP JP5506686A patent/JPS62214522A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01232536A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 | Hitachi Ltd | 垂直磁気記録媒体の製造方法 |
JPH0352118A (ja) * | 1989-07-19 | 1991-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
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