JPS62212965A - 二次記憶装置の不良セクタ検出方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は二次記憶装置の不良セクタ検出方式に関し、特
に二次記憶装置に設けられたセクタ良否情報記憶領域に
記憶されているセクタ良否情報を使用し、アクセスする
セクタの良否を検出する二次記憶装置の不良セクタ検出
方式に関する。

〔従来の技術〕

従来の二次記憶装置の不良セクタ検出方式は、Ｉ／Ｏ制
御部からの制御信号により直接二次記憶装置を起動し、
この二次記憶装置に設けられたセクタ良否情報記憶領域
から指定されたセクタの良否を判定し、そのセクタが不
良であれば、Ｉ／Ｏ制御部に戻り次のステップに進むと
いう方式になっていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来の二次記憶装置の不良セクタ検出方式は、
直接二次記憶装置を起動して指定されたセクタの良否を
判定する方式となっているので、動作の遅い二次記憶装
置を動作させるためにセクタの良否の判定結果を得るま
でに時間がかかり、且つ指定されたセクタが不良だった
場合には、同様の動作を繰返すことになり、時間が浪費
されるという問題点があった。

本発明の目的は、指定されたセクタの良否の判定結果が
短時間で得られ、且つ指定されたセクタが不良であって
も、時間が浪費されることなく次のステ・ツブへ進むこ
とができ、システム動作の高速化がてきる二次記憶装置
の不良セクタ検出方式を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段） 本発明の二次記憶装置の不良セクタ検出方式は、二次記
憶装置に設けられたセクタ良否情報記憶領域から前記二
次記憶装置内の各セクタの良否情報を読取り前記各セク
タに対応してマツピングを行ないマツピング情報を出力
するマ・ソピング手段と、前記マツピング情報によりセ
クタ良否情報を記憶するセクタ良否情報領域を含む一次
記憶手段と、前記セクタ良否情報領域から前記セクタ良
否情報を読取り指定されたセクタの良否を判定する判定
手段と、この判定手段によるセクタの判定結果が良であ
るとき前記指定されたセクタへのアクセスを可能にする
Ｉ／Ｏ制御部とを有している。

し実施例〕 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。

マツピング手段３は、マツピングの指示信号ＶＩＭによ
り、二次記憶装置１に設けられたセクタ良否情報記憶領
域２から二次記憶装置コ内に存在する各セクタの良否情
報を読取り、この良否情報を各セクタに対応させてマ・
ソピングし、マツピング情報を一次記憶手段である一次
記憶装置４に出力する。−次記憶装置４は、マツピング
情報に従って、内部に確保されたセクタ良否情報領域５
にセクタ良否情報を記憶する。

セクタ良否情報領域５に記憶されるセクタ良否情報は、
二次記憶装置１の各１セクタに対して１ビットを対楕さ
せる１　１対応でも、また複数セクタに対して１ビツト
を対応させる複数：１対応の何れでもよく、不良のセク
タがあれば°１゛、良いセクタには゛０°′をセットす
る。

ここまでの動作は、システム立上げ時には必ず行なわれ
る。

次に、二次記憶装置１のセクタに対してアクセス信号Ｖ
ＩＡが入力されると、■／Ｏ制御部７から指定されたセ
クタのセクタ番号の情報■Ｎが良否判定手段６に伝達さ
れ、良否判定手段６はセクタ良否情報領域５からセクタ
良否情報を読取り、指定されたセクタの良否を判定する
７この判定結果はＴ／’Ｏ制御部７に伝達され、Ｉ／’
Ｏ制御部７はこの判定結果が、良と出た場合は二次記憶
装置１にアクセス信号ＶＯＡを出力し次のステップへ進
み、不良と出た場合はエラー信号ＶＯＢを出力しエラー
処理が行なわれる。

従って、二次記憶装置１をアクセスしないでアクセスし
ようとするセクタの良否が高速で判定でき、特にアクセ
スしようとするセクタが不良であった場合には、従来の
ように時間を浪費することがないので、高速動作を行な
うことができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、二次記憶装置内のセクタ
の良否情報を一次記憶手段の中に取込み、この良否情報
により指定されたセクタの良否を判定する手段を有する
ことにより、動作速度の遅い二次記憶装置をアスセスし
ないで指定されたセクタの良否が高速で判定でき、特に
指定されたセクタが不良であった場合には時間を浪費し
ないで次のステップへ進むことができ、システムの動作
を高速化できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。 １・・・二次記憶装置、２・・・セクタ良否情報記憶領
域、３・・・マツピング手段、４・・・−次記憶装置、
５・・・セクタ良否情報領域、６・・・良否判定手段、
７・・・−〇−

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 二次記憶装置に設けられたセクタ良否情報記憶領域から
   前記二次記憶装置内の各セクタの良否情報を読取り前記
   各セクタに対応してマッピングを行ないマッピング情報
   を出力するマッピング手段と、前記マッピング情報によ
   りセクタ良否情報を記憶するセクタ良否情報領域を含む
   一次記憶手段と、前記セクタ良否情報領域から前記セク
   タ良否情報を読取り指定されたセクタの良否を判定する
   判定手段と、この判定手段によるセクタの判定結果が良
   であるとき前記指定されたセクタへのアクセスを可能に
   するＩ／Ｏ制御部とを有することを特徴とする二次記憶
   装置の不良セクタ検出方式。