JPS62204105A - 光フアイバ端面間隔測定方法 - Google Patents

光フアイバ端面間隔測定方法

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JPS62204105A
JPS62204105A JP4686786A JP4686786A JPS62204105A JP S62204105 A JPS62204105 A JP S62204105A JP 4686786 A JP4686786 A JP 4686786A JP 4686786 A JP4686786 A JP 4686786A JP S62204105 A JPS62204105 A JP S62204105A
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JP
Japan
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optical fiber
power
face
core
sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP4686786A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuya Yamashita
克也 山下
Masayoshi Yano
正義 矢野
Yahei Oyamada
弥平 小山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ファイバ融着装置や光ファイバ伝送特性自
動検査装置などに適用可能な高速に精度よく光ファオバ
端面の突合せ間隔を測定する方法に関するものである。
〔従来の技術〕
従来の光ファイバ融着装置では、第13図(A)のよう
に光ファイバ端面を拡大して観察し、はぼ所要の間隔に
合せる手法を用いていた。第13図(8)は端面の拡大
図である。10は基準光ファイバ、11は突合せ→融着
接続を行う光ファイバ、12は光ファイバ融着装置本体
、13はクランパ、14は顕微鏡、15は目である。こ
のような構成では、作業者の勘にたよる要素が大きい欠
点がある。一方、他に顕微鏡にビジコンカメラを接続し
、デジタル2次元画像処理を行う手法を用いることも可
能であるが、この手法では、データの入出力時間、コン
ピュータ処理時間が長くなること、および画像入出力装
置や高速入出力インターフェイス、高速処理コンピュー
タを要するためにハードウェアコストが高くなることな
どの欠点がある。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、従来技術における作業者の熟練にたよる要素
、高価になる要素を除去し、簡易、高速で精度のよい微
小な間隔における端面間隔測定方法を提供することを目
的とする。
(問題点を解決するための手段) このような目的を達成するために、本発明においては、
基準光ファイバの端面と、端面と突合せ接続を行う第2
の光ファイバの端面との間隔を測定する方法において、
基準光ファイバのコア中心軸と垂直な方向に基準光ファ
イバの端面を挟んで一方には光源を、他方には光源から
の光を検出する光センサの一端をそのコア中心軸が光源
および基準光ファイバの中心軸を含む平面上でなくかつ
基準光ファイバの外径から出ない位置でさらに光源から
の光センサのコアへの入射光が基準光ファイバの突合せ
端部によって僅かに遮られる位置にそれぞれ配設し、第
2の光ファイバの突合せ端部が基準光ファイバに近づく
に従って遮断される光源からの光のパワを光センサの他
端に接続された光パワメータで検出し、予め求めておい
た光パワと端面間隔の関係に基いて基準光ファイバと第
2の光ファイバの端面間隔を測定することを特徴とする
〔作 用〕
本発明は、豆ランプなどの小型光源と光センサおよびパ
ワメータ部のみで構成され、光センサの光軸を基準光フ
ァイバの中心軸とわずかにずらすことにより、突合せ対
象となる光ファイバが近接していく場合に非常に大きな
検出パワ変動を与えることを可能としており、これによ
って明確に端面間隔量を測定することができる。
〔実施例〕
第1図は本発明の第1の実施例を説明する図である。第
1図(A)はその基本構成を示し、2oは光源、20′
は電源、21はセンサ用光ファイバ、22は受光器、ア
ンプなどからなる光パワメータ部である。第1図(B)
 、(C)は図(A)の点線で囲った部分(センシング
部)の上面および側面の拡大図を示し、23はセンサ用
光ファイバ21のコア部、24はクラッド部を示す。2
1のコア部の上面からみた陵線のうち基準光ファイバに
近い側を基準光ファイバ10の端面と同一平面上に配し
ている。これは、非突合せ時における光ファイバセンサ
のコアに入射する光を最大限に上げ、かつ突合せ時にZ
方向の検出範囲を最大限確保するためにこのような配置
構成としている。突合せ対象の光ファイバ11の端面が
最初z=zlの位置にあり、Zl−22−Z3→Z4と
順次基準光ファイバ10に近づくと、パワメータ指示値
はセンサ用光ファイバ21のコア23を遮光しない状態
(例えばz=z4)を基準(OdB)  として第2図
のように変動する。ここでδyは光ファイバセンサ21
のコア中心軸と基準光ファイバlOのコア中心軸のy方
向間隔である。第2図のようにδyをパラメータとして
考えると、z=z4の時の受光パワ(最小受光パワ)は
δyに大きく依存することがわかる。そこでδνと最小
受光パワの関係を調べると第3図のようになる。最小受
光パワが低い程、端面間隔の変化に対するセンサで検出
されるパワの変化量が大きく、高精度な端面間隔測定が
可能になる。本例においては第3図からδy Lrd/
4とすることにより最も感度が高く最適となる。
次にこれを解析的に説明する。突合せ対象となる光ファ
イバ11はZ=24  (最大遮光時)で第4図に示す
ような円筒レンズとして振るまう。ここで、25は光フ
ァイバ11で屈折されて光ファイバセンサ21のコア2
3に達し導波する光線、26は屈折されて光ファイバセ
ンサ21のクラッド部24に入射する光線を示している
。同図中の各記号を用いて光ファイバセンサ21のコア
23に入射し導波していく条件は、光線25に着目して
以下の各式で表わされる。
21θ0−01≦θ□x (r)          
  (1)(ys−6y) 2+ Z*’≦a2(2)
ただし、 y、−tan[2(θ0−θ)] −[8,+a co
s (θ。−2θ月−a 5in(θ。−20) θ+eax−Sin−’[2△(1−(r/a) 2)
 ] ”・・・・・・光ファイバセンサがグレーデッド
型光ファイバの場合 θ、、X−5in−’ [2△]1″ ・・・・・・光ファイバセンサがステップ型光ファイバ
の場合 r=[(Ys−5y) 2+ Z*’l ”’θo−5
in−’ [y+n /ml θ−5in−’ [y+n /nr] ここで空間の屈折率は1としておりnはクラッドの屈折
率、Δはコア・クラッド間の比屈折率差、aはセンサ光
ファイバ21のコア半径、rは突合せ対象光ファイバ1
1のクラッド半径である。またSXは、光ファイバセン
サ21の端面と、突合せ対象の光ファイバ11の表面と
の距離である。Zs。
Ysは光ファイバセンサ21の端面上の光線入射Z座標
、Y座標を示している。光源からの光線はYZ平面に対
して垂直で一様に分布しているとして最小受光パワを上
式の関係を用いて数値計算した。その結果として、δx
1 δyと最小受光パワの関係が明らかになる。これを
第5図(光ファイバセンサ21がステップインデックス
型の場合)、第6図(光ファイバセンサ21がグレーデ
ッド型の場合)に示す。これらの図中のPが最小受光パ
ワ値を示す。δy=Q〜20μmの領域を考えると円筒
レンズ(光ファイバ)11で大きく屈折されない(θ0
が小)成分が多く、光ファイバセンサ21のコア部に入
射し導波モードとなり易く最小受光パワは低い。δyを
次第に大きくすれば光ファイバセンサ21のコア端面に
入射する光パワは大きな入射角をコア軸に対して持つよ
うになり、導波モードとならず最小受光パワが低下して
いく、δy〉37.5μm  (一般的にはδy >d
/2−a )では光ファイバセンサ21のコア部23に
は円筒レンズ(光ファイバ) 11を介さずに光源から
常時直接光が入射され、最小受光パワが増大(悪化)す
る。
第5図、第6図から最適なδν値は25<δyく37.
5μmで、一般的にはaくδy <d /2− aの領
域にあると考えられる。またδXに対しては広い領域で
最適化できることがわかる(例えば0くδx<100μ
m)。P≦20dBの領域に着目し第5図、第6図を比
較するとグレーデッド型が広いことがわかる。すなわち
光ファイバセンサとしてはグレーデッド型がより適して
いる。この例では、δX =50μm 、  δy =
30μm (%r/2)付近に光ファイバセンサ21の
端面を設定すれば、例えば±5μm程度の機械的な振動
、或い□は経時的な変動がy方向に生じても、最小受光
パワは一20dB以下を確保でき、安定で高精度な端面
間隔測定が可能なことがわかる。この条件下(δx=5
0μm。
δy=30μm)で測定系を構成した場合の端面間隔と
パワ変動量の関係を第7図に示す。実線が計算値であり
O印が実験値である。センシング可能な端面間隔50μ
m  (=2a)に対して20dBのパワ変動が確保さ
れる。端面間隔が30〜50μmではパワ変動が緩やか
であるが、0〜30μmでは急峻であり、例えば光源、
およびパワメータ部の安定度が±0.2dB程度であっ
ても±1μm程度の高精度の端面間隔設定が可能になる
。この端面間隔測定系の初期設定方法は、(i)  δ
X:まず光ファイバセンサ21の端面をδx=Q〜10
0μm間に設定し、(if)Z遮光:次に基準光ファイ
バ10または、突合せ対象を仮定した光ファイバ11を
光ファイバセンサ21の前面に移動させて(z=z4 
)Z方向に遮光状態とし、(i i i)  δy:次
にY方向に光ファイバセンサ21を基準光ファイバ10
に対して相対的に移動させ光パワメータ22の指示光パ
ワを最小とするように設定し、(iV)基準光ファイバ
位置二次に光ファイバセンサ21のコア全面に光が照射
されるように基準光ファイバ10を−Z方向、突合せ対
象を仮定した光ファイバ11を+Z方向に動かし、この
場合の光パワメータ指示値(最大値)を知り、基準光フ
ァイバ10を今度は+Z方向に徐々に動かし光パワメー
タ22の値が最大値かられずかに変化する点でとめて完
了する。また、本構成における較正は、第7図のカーブ
(O印)を一度取っておけばよい。同図の関係を用いて
以後パワ変動から端面間隔を知る。本発明は、このよう
な原理を用いており、第2図かられかるように、δyを
適当な値にすれば50μmの端面間隔変動に対して20
dB以上のパワ変動値が得られるため、例えばコア径5
0μmの光ファイバセンサ21を用いて0〜30μmの
端面間隔で±1μmの精度が得られ、高精度の間隔測定
が可能なことが明白である。従来の顕微鏡直視の方法に
比べて高精度、また、ビジコンカメラを用いる画像処理
による方法よりもパワメータのみで測定が可能であるた
め、簡便に、高速に測定が可能な利点がある。
第8図は本発明の第2の実施例のセンシング部の側面拡
大図を示すものである。30はコア、31はクラッドを
示す。矩形の導光路を用いており、この特徴は第9図に
示すようにそのパワ変動特性が、端面間隔に対してリニ
アに変化する点である。従ってパワー変位の直線化補正
が不要である利点がある。また、Z方向の検出領域が広
い利点もある。
第10図は本発明の第3の実施例のセンシング部の側面
拡大図を示すものである。40はコア、41はクラッド
部を示すテープ型マルチコア光ファイバ(テープ型パン
チファイバ)を用いており、その特徴は、Z方向の幅を
広くすることが容易で検出領域が広い利点がある。また
矩形の導光路よりもこのような構造の光ファイバは製造
が容易である。第1O図の実施例のパワー変動特性を第
11図に示す。
第12図は本発明の第4の実施例を示すものである。5
0は、曲げ部を示す。センサ用光ファイバ21の途中に
曲げを与えてタララドモード、漏洩モードの伝搬を抑制
するものである。21にコア径50μm1クラツド径1
25 μm %コア・クツラッド比屈折率1零の光ファ
イバで長さ2mのものを用いた場合、曲げを与えない場
合(曲げ部50がない場合)の最小受光パワは一14d
llであった。一方、光ファイバセンサ21の一部分に
15mmφ× 5ターンの曲げを与えた場合−23dB
に大幅改善がなされ、より高精度な測定が可能となるこ
とがわかった。従ってこのようなりラフ1モード、漏洩
モードストリッパを付加することで本発明の第1〜第3
の実施例は、高精度化をより確実に達成できる。センサ
用光ファイバに数100m以上の長尺の光ファイバを用
いても同様の効果が期待できる。
以上説明したように、本発明は安価な豆ランプなどの光
源と光ファイバー心およびパワメータのみで構成される
端面間隔測定系を提供する方法であり、微小な突合せ間
隔の測定をパワ変動のみで行い、かつその変動量が大き
い(例えば20dB150μm)ために、簡便に高速で
高精度な光ファイバ端面間隔測定を可能とする鞠点があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)は本発明の第1の実施例の構成を示す図、 第1図(B)および(C)はそれぞれ第1図(A)の拡
大上面図および拡大側面図、 第2図は端面間隔によるパワ変動特性図、第3図はY方
向オフセット量と最小受光パワの関係を示す図、 第4図は円筒状レンズモデルによる解析図、第5図およ
び第6図はそれぞれステップインデックス型光ファイバ
およびグレーデッドインデックス型光ファイバにおける
δx1δyと最小受光パワの関係を示す図、 第7図はδX、δyを最適値とした時のパワ変動特性図
、 第8図は第2の実施例の拡大断面図、 第9図は第2の実施例のパワ変動特性図、第10図は第
3の実施例の拡大断面図、第11図は第3の実施のパワ
変動特性図、第12図は本発明の第4の実施例の構成を
示す図、 第13図(A)は従来の光ファイバ融着装置の構成を示
す図、 第13図(B)はその拡大断面図である。 10・・・基準光ファイバ、 11・・・突合せを行なう光ファイバ、12・・・融着
器本体、 13・・・クランパ、 14・・・顕微鏡、 15・・・眼、 20・・・光源(豆ランプ)、 20’ ・・・光諒用電源、 21・・・センサ用光ファイバ、 22・・・パワメータ部、 23・・・光ファイバセンサのコア部、24・・・光フ
ァイバセンサクラッド部、30・・・矩形導波路のコア
部、 31・・・矩形導波路のクラッド部、 40・・・マルチコアファイバのコア部、41・・・マ
ルチコアファイバのクラッド部、50・・・光ファイバ
センサ曲げ部。 特許出願人  日本電信電話株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)基準光ファイバの端面と、該端面と突合せ接続を行
    う第2の光ファイバの端面との間隔を測定する方法にお
    いて、前記基準光ファイバのコア中心軸と垂直な方向に
    該基準光ファイバの端面を挟んで一方には光源を、他方
    には該光源からの光を検出する光センサの一端をそのコ
    ア中心軸が前記光源および前記基準光ファイバの中心軸
    を含む平面上でなくかつ該基準光ファイバの外径から出
    ない位置でさらに前記光源からの該光センサのコアへの
    入射光が前記基準光ファイバの突合せ端部によって僅か
    に遮られる位置にそれぞれ配設し、前記第2の光ファイ
    バの突合せ端部が前記基準光ファイバに近づくに従って
    遮断される前記光源からの光のパワを前記光センサの他
    端に接続された光パワメータで検出し、予め求めておい
    た光パワと端面間隔の関係に基いて前記基準光ファイバ
    と前記第2の光ファイバの端面間隔を測定することを特
    徴とする光ファイバ端面間隔測定方法。 2)前記光センサが光ファイバであることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の光ファイバ端面間隔測定方
    法。 3)前記光センサが矩形導波路であることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の光ファイバ端面間隔測定方
    法。 4)前記光センサが複数のコアが一次元的に配されたテ
    ープ型マルチコア光ファイバであることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の光ファイバ端面間隔測定方法
    。 5)前記光センサが曲げ部を有する光ファイバであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光ファイバ
    端面間隔測定方法。
JP4686786A 1986-03-04 1986-03-04 光フアイバ端面間隔測定方法 Pending JPS62204105A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01263510A (ja) * 1988-04-06 1989-10-20 Dukane Corp 微小距離の測定方法及びその装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01263510A (ja) * 1988-04-06 1989-10-20 Dukane Corp 微小距離の測定方法及びその装置

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