JPS62198937A - 検査可能な電子装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、特許請求の範囲第１項記載の上位概念に記載
の例えば自動車に塔載される、検査可能の電子装置に関
する。更に本発明は、特許請求の範囲第６項記載の上位
概念に記載の、前記電子装置の検査方法に関する。

従来技術 例えば自動車に塔載される電子装置は複雑になる一方で
ありそれ故従来の検査装置および検査方法では検査時間
が長くなる一方でありしたがって生産コストが上昇して
いる。自動車におけるこのような電子装置には例えば調
速機や、スロットルバルブ（絞り弁）にアクセルペダル
位置を伝達する制御装置等がある。本発明は例えばこの
ような装置に関する。このような装置はマイクロコンピ
ュータと、例えば、入力信号を供給するアクセルペダル
位置センサや、出力信号により制御される、スロットル
バルブの操作機構等の他の装置への接続用のインターフ
ェースとを備えている。このような装置の相応の入力側
と出力側は屡々１つのプラグの複数の接触点により形成
されている。

従来においてはこのような装置の検査を、入力側に、前
もって与えられた入力信号を供給しそして出力信号を評
価して行った。このような検査は、検査するべき電子装
置全体と、それに記憶されているプログラムＫまで及ん
だ。この検査方法では通常、電子装置を検査用に特別に
構成する必要はないがしかしながら検査に必要な時間が
長くかかる、何故ならば入力信号供給から出力信号送出
までの時間が場合によっては、例えば、数分の遅延時間
を何することもある制御装置の時間特性等の通常の装置
機能が原因で長くかかるからである。同様に立上り過渡
現象も検査時間を長びかせる。更に、装置全体を検査す
ることの欠点は、障害のある出力信号の評価が場合によ
っては困難でありそのような欠陥の発生個所を検出する
作業に時間がかかることにらる。

発明が解決しようとする問題点 本発明の課題は、迅速にしかも欠陥の発生個所を検出し
て検査する、例えば自動車に塔載される、冒頭に述べた
構成の検査可能の電子制御装置を提供することにある。

問題を解決するための手段 上記問題は、特許請求の範囲第１項記載の特徴部分に記
載の構成の検査可能な電子装置により解決される。また
特許請求の範囲第１項に記載の電子装置による検査方法
は特許請求の範囲第６項に記載されている。この検査方
法において検査段階ｄで、入力信号を供給するプラグに
設けられている、電子装置の入力側から、このプラグと
接続されており入力信号全検出しまた検査のために相応
のテスト出力信号をインターフェースを介して検出する
、電子装置内の回路素子までの、電子装置の一部分を検
査する。検査段階すでは電子装置内の他の／％　−１，
ｓウェアーユニットの検査が前述のように行われる。１
つのメモリ領域に記憶されているテスト制御データによ
り電子装置の中に発生されるテスト制御信号により個々
のハードウェアーユニットの検査をハードウェアのみに
関して行うことができる。検査段階Ｃではハードウェア
ーユニットと、電子装置のプラグの接触端子における電
子装置出力側との接続の検査を行う。これらの電子装置
出力側から出力信号を取出せるように、電子装置出力側
に前置接続されている／’１−　）”ウェアーユニット
に、テスト信号の特殊ケースでありテスト信号と実質的
に同様に発゛生される出力テスト制御信号を供給・する
。

発明の効果 電子装置をこのように構成することにより、こうした電
子装置の全体を一体的に検査する必要がなくなり検査を
電子装置の個々のハードウェアーユニットに対して互い
に分離して行うことが可能となる。例えば電子装置の入
力側から出力側までの信号区間の検査は互いに分離して
行なわれしかも順次に行われる。しかしながら個々のハ
ードウェアーユニットの検査の順序は互いに無関係であ
る。このような電子装置は、自動化された検査方法によ
る検査に適する。本発明の利点は、検査が、装置機能に
より前もって与えられた時間特性に起因する遅延時間に
より長びくことがないことにある。何故ならそれに相応
する時限素子を、個々のノ・−２ウエアーユニツ）を互
いに分離して制御することができるので実質的に回避す
ることができるからである。個々のハードウェアーユニ
ット金検査することにより欠陥の発生個所を正確に検出
することができる、何故ならば１つの検査過程で検出さ
れた欠陥の発生個所はその都度の検査対象のハードウェ
アーユニットの中に限られているからである。１つの検
査段階で検出された欠陥は簡単に記憶させそしてプリン
トすることができる。個々のハードウェアーユニットを
互いに分離して制御しまた、これらのバー−ウェアーユ
ニットの制御時に発生するテスト出力信号を評価するこ
とにより意識的に、電子装置内に記憶されている、その
操作機能に関するソフトウェアの検査を大幅に省略して
検査過程を迅速にしまた欠陥のサーチを簡単にしている
。それ放電子装置のいわゆる主プログラムの検査は実質
的に行わなくともよい、何故ならばすべての電子装置に
同一なソフトウェアは作成および試験段階で十分に試験
されているからである。それ故検査すべき′ｉ電子装置
蘭々のユニットはここではハードウェアーユニットとし
て記述されている。

電子装置の検査は、生産に引続く段階においてのみ可能
であるのではなく、後で場合によってその通常の使用中
に発生する障害の除にも繰返し行うことができる。

電子装置の全システムは検査のために個々のハードウェ
アーユニットに分割されているのでこれらのハードウエ
ア一二二ツトに、テスト出力信号が引続く特別の制御信
号を供給することができる。このようにして個々のハー
ドウェアーユニットの検査を検査段階を順次にして行う
ことにより実質的に全装置を検査することができる、し
かしながら障害の発生が少ないハードウェアーユニット
の検査を省略することもできる。

電子装置のインターフェースで検出することが ２できる、検査の際に１つのハードウェアーユニット毎
に発生するテスト出力信号の評価は主テスト装置で実際
値と目標源との比較により行われる。主テスト装置は、
個々のハードウエア−ユニットで順次に行われる検査過
程の制御のためにリード線を介して、検査すべき電子装
置の機能的インターフェースと接続されている。

このリード線ヲ介して、検査可能の電子装置は主テスト
装置と直列に接続されている。このために主テスト装置
は機能的インターフェースを有する。しかしながら本発
明においては′電子装置のインターフェースとは、半導
体により実施可能な機能的かつ制御可能なインターフェ
ースのみから成るものではなく例えば、電子装置のハー
ドウェアーユニットを互いに分離して制御することを可
能にする接点を有しまたテスト出力信号を取出すことが
できる、電子装置のプラグ等を含むものである。

決められたハードウェアーユニットの検査の際には、電
子装置の出力側に発生する出力信号を主テスト装置にお
ける実際値と目標値との比較に直接に用いるのは有利で
はなく、同様に主テスト装置と電子装置との間に挿入接
続されている測定アダプタでそれらの出力信号を変換し
て比較を簡単に行えるようにするのが有利である。更に
測定ブタ９シタの構成を、主テスト装置により制御され
ている入力信号を検査可能な電子装置に供給して検査を
行いまたそれらの信号を電子装置または電子装置のプラ
グに、作動中に発生する入力信号と同様に供給すること
ができるようにすることもできる。

特許請求の範囲第２項記載の検査可能な電子装置は、テ
ストプログラムのテスト制御データが記憶されているメ
モリを備えている。このテストプログラムにより電子装
置の中で、個々のハードウェアーユニットを順次に制御
し、同期した主テスト装置で評価することができるよう
なテスト信号を供給するように配列されたテスト制御信
号を発生することができる。このために、検査可能の電
子装置に記憶されているテストプログラムを電子装置と
主テスト装置とのインターフェースを介して又は特別の
信号線ヲ介して実行させるようにする。

検査可能の電子装置に記憶されているテストプログラム
のテスト制御データは電子装置の全装置機能を作動させ
る必要はないのでこれらの装置機能を記憶させるための
記憶容量は比較的に小さくて済む。それ故テスト制御デ
ータを例えばＲＯＭの一記憶領域に常時記憶させておく
ことができる。

しかしながら、電子装置の中の使用可能の全記憶容量を
、作動中に装置機能を制御する主プログラムのために必
要とする場合には、もしＥＲＯＭ等の消去可能メモリが
設けられているならば、電子装置の通常作動の際に事前
に主プログラムの代り（・てテスト制御データを記憶さ
せることもできる。これが、個々のバー−ウェアーユニ
ットを互いに分離して検査することの別の利点である。

例えば、論理演算を行う、電子装置内のモージュールの
検査はハードウェアに関して行えば良い、すなわち例え
ば計算素子の検査には、命令順序を前提としていない計
算例を用いれば良くまたＲＯＭの検査には、正しいデー
タが記憶されているかを調べれば良い。マイクロプロセ
ッサのこれらのユニットの他にプログラムメモリをバー
−ウェアーユニットとして検査することもできる、すな
わち主テスト装置の中で検査合計信号の検査を行うよう
にするテスト制御信号をこのプログラムメモリに供給し
て検査するのである、また目標値と実際値との比較を行
うことにより主テスト装置へのプログラム伝送の検萱も
行うことができる。

実施例 次に本発明を図を用いて詳しく説明する。

第１図において１てより検査可５しな電子装置が示され
ており、この電子装置１はマイクロコンピュータ２と、
これに後置接続されているユニットとしての増幅器３と
を備えている。マイクロコンピュータはプロセッサ４と
、ＦＲＯＭとして構成されているプログラムメモリ５等
とから成る。プログラムメモリ５は主プログラムのため
のメモリ領域５ａとテストプログラムのためのメモリ領
域５ｂとに分割されている。

更に電子装置は、電子装置の入力１（すを形成する図示
されていないプラグ接点と、増幅器３における出力側を
形成する図示されていないプラグ接点とを有するプラグ
６を備えている。プラグ６は隈能的インターフェース７
を介してプロセッサ４すなわち計算素子８とＲＡＭ　９
とタイマ１０とに接続されている。更にインターフェー
ス７はプログラムメモリ５の双方のメモリ領域５ａおよ
び５ｂと接続されている。更にプラグ６の出力」妾点は
増幅器３の出力側に接続されてかりまたこの増幅器３の
入力側は変換５１１を介してゾロ七ツ？４に接続されて
いる。

≠ラグ６は対向プラグ１２に協動できるようになってお
りこの対向プラグ１２は少くとも１つのリード線１３を
介して主テスト装置１４に直列に接続されている。主テ
スト装置１４は同様にインターフェース１５ｔ−有して
おりこのインターフェース１５はインター・フェース７
に接続されている。主テスト装置１４は、電子装置１の
中で目標値と実際値との比較が行われまたテストプログ
ラムを実行するように構成されている。主テスト装置１
４はａＪ１定アダプタ１６とリード線１７を介して接続
されているので測定アダツタ１６は１．相応の制御信号
か主テスト装置１４かも送出されると入力信号を入力信
号線１８と更に対同プラグ１２とを介してプラグ６に供
給する。対向プラグ１２かも出力信号が出力信号線１９
を介して測定アダプタ１６に供給されこの測定アダプタ
でこれらの出力信号から、主テスト装置１４での目標値
と実際値との比較に用いられるづ信号すなわちデータが
形成へれる。

この目標値と実際値との比較の結果はプリンタ２０によ
りプリントされる。

検査可能な電子装置１およびプラグ６の個々のハードウ
ェアーユニットを順次に検査するために主テスト装ｆｔ
１１４により、リード線１３を介して、プログラムメモ
リ５に記憶されているテストプログラムが呼出される。

更に主テスト装置１４は測定アダプタ１６に１この測定
アダプタ１６が第１の検査段階で入力信号の組合わせ信
号を入力信号線１８を介してプラグ６に供給するように
測定アダプタ１６に信号を供給する。

主テスト装置１４と、プログラムメモリ５に記憶されて
いるテストプログラムとにより制御されるインターフェ
ース７を介して、プロセッサ４で処理された入力゛信号
はテスト出力信号として主テスト装置１４に戻されそこ
で目標ｉ直と実際値との比較に用いられる。

引続いて、テストプログラムにより前もって与えられて
いる後続の検査段階で、プログラムメモリとプロセッサ
と全順次に検査するのに用いるテスト制御信号が発生さ
れる。このためにこれらのハードウェアーユニットのテ
スト出力信号はインターフェース７を介して主テスト装
置１４に供給されそこで目標値と実際値との比較に用い
る。更に、プロセッサ２の中に設けられているタイマ１
０の検査は、クロック、パルス間の時間が測定されこの
測定時間が主テスト装置で比較べより評価されることに
より行われる。

後読の１つの検査段階でプロセッサ４は主テスト装置１
４により、増１嘔器３が出力信号をプラグ６に供給する
ように制御される。これらの出力信号は出力信号線１９
ｆ、介して測定アダプタ１６に供給されそこで、主テス
ト装置１４で目標値と実際値との比較を行うのに用いる
ことができるように変換される。

第２図において左から右へ順次に、まず入力信号の検査
が行われ引続いて論理演算の検査が行われ最後に出力信
号の検査が行われることが示されている。重要なことは
、ハードウェアーユニットの検査を、電子装置の中で実
質的に検査を必要としないソフトウェア（主プログラム
）から機能的に５）雌することにある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、検査可能な電子装置とそねに接１涜されてい
る主テスト装置および測定アダプタと略示するブロック
線図である。第２図は、検査すべき電子装置における信
号路を略示するブロック線図である。 １・・・検査可能な電子装置、２・・・マイクロコンピ
ュータ、３・・・増幅器、４・・・プロセッサ、５・・
・プログラムメモリ、６・・・プラグ、７・・・インタ
ーフェース、８・・・計算素子、９・・・ＲＡＭ、１０
・・・タイマ、１１・・・変換器、１２・・・対向プラ
グ、１３・・・リード線、１４・・・主テスト装置、１
５・・・インターフェース、１６・・・測定アダプタ、
１７・・・リ−）’ｉｎ！、１８・・・入力信号線、１
９・・・出カ信号巌、２０・・・プリンタ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、マイクロコンピュータと、検査可能な電子装置に入
   力信号を供給しまた、前記電子装置から出力信号を受取
   る他の装置への接続用のインターフェースとを有し検査
   可能な電子装置において、個々のハードウェアーユニッ
   ト（マイクロコンピュータ（２）のプロセッサ（４）お
   よび、プログラムメモリ（５）を構成するユニット）を
   、インターフェースを介して互いに分離して制御して検
   査しまた前記インターフェースを介して、検査の際にハ
   ードウェアーユニットにより発生されたテスト出力信号
   を、目標値と実際値との比較のために外部に送出するよ
   うにしたことを特徴とする検査可能な電子装置。 ２、マイクロコンピュータ（２）が、テストプログラム
   のテスト制御データを記憶しているプログラムメモリ（
   ５）を備えている特許請求の範囲第１項記載の検査可能
   の電子装置。 ６、テスト制御データを常時記憶しているメモリ領域を
   有する特許請求の範囲第２項記載の検査可能な電子装置
   。 ４、テスト制御データを、電子装置の通常作動の前にの
   み記憶している消去可能なメモリ領域（ＥＲＯＭ５ｂ）
   を備えている特許請求の範囲第２項記載の検査可能な電
   子装置。 ５、電子装置のインターフェースが電子装置のプラグを
   備えている特許請求の範囲第１項記載の検査可能な電子
   装置。 ６、マイクロコンピュータとインターフェースと電子装
   置の入力側および出力側とを有する前記電子装置の検査
   方法において、互いに分離されている検査段階において ａ）電子装置の入力側（プラグ６）に複数の入力信号か
   ら成る少くとも１つの組合わせ信号を供給しまた、その
   際に電子装置（１）のハードウェアーユニット（４、８
   、９）の入力側から取出されるテスト出力信号をインタ
   ーフェースを介して送出し外部で、前記入力信号から成
   る組合わせ信号と比較し、 ｂ）それぞれのハードウェアーユニット（５、８、９）
   にテスト制御信号を供給しそして、そのようにしてこの
   ハードウェアーユニットの出力側から取出されたテスト
   出力信号をインターフェースを介して、外部での目標値
   と実際値との比較のために読出し、 ｃ）電子装置の出力側（プラグ６）と接続されている少
   くとも１つのハードウェアーユニット（３、４）に出力
   テスト制御信号を供給しそして、そのようにして電子装
   置の出力側から取出される出力信号を、外部での目標値
   と実際値との比較のために供給する ことを特徴とする電子装置の検査方法。 ７、ｂ１）ハードウェアーユニットとしてのプログラム
   メモリ（５）の検査のために ｂ１１）検査合計信号と ｂ１２）主プログラム全体を目標値と実際値との比較の
   ために送出するのに用いる信号と、ｂ２）マイクロプロ
   セッサ（４）の検査のために ｂ２１）ＲＡＭ（９）からのＲＡＭ信号と ｂ２２）タイマ（１０）からのタイマ信号とｂ２３）計
   算例により形成される、計算素子からの信号と であるテスト出力信号のうちの１つ又は複数を外部での
   目標値と実際値との比較のために、検査すべき電子装置
   （１）のインターフェースを介して送出するようにした
   特許請求の範囲第６項記載の電子装置の検査方法。