JPS62177954A - 半導体装置用外部接続リ−ド - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業、1−の利用分野〕
この発明は、半導体集積回路チップを封入する半導体集
積回路(以下ICと称する)パッケージの一構成部品で
ある外部接続リードに関するものである。
積回路(以下ICと称する)パッケージの一構成部品で
ある外部接続リードに関するものである。
従来、この種の集積回路装置に関して、特に回路性能の
向上を計りながら、併せて、内部接続リードに関連して
、外部接続リード数を減少させる意図を有する集積回路
装置の提案がなされている。例えば、第3図、第4図は
、特公昭52−5228号公報に開示された従来の外部
接続リードと内部接続リードとの関係を示す説明図であ
る。
向上を計りながら、併せて、内部接続リードに関連して
、外部接続リード数を減少させる意図を有する集積回路
装置の提案がなされている。例えば、第3図、第4図は
、特公昭52−5228号公報に開示された従来の外部
接続リードと内部接続リードとの関係を示す説明図であ
る。
(従来例の構成)
第3図は、例えば前置増幅器AI および電力増幅器A
2から成るIC化増幅器Pを示す概合図である。また、
第4図は、第3図におけるICパッケージの内部を部分
的に説明する構造図を示す。
2から成るIC化増幅器Pを示す概合図である。また、
第4図は、第3図におけるICパッケージの内部を部分
的に説明する構造図を示す。
図中、内部接続リードW1およびW2は、タイバッドD
上に接続されたICチップCの表面上に配設されたポン
ディングパッドB+5よびB2 にそれぞれ接着され、
各内部接続リードWl、W2の他端は、一本の外部接続
リートFに共通に接続されている。
上に接続されたICチップCの表面上に配設されたポン
ディングパッドB+5よびB2 にそれぞれ接着され、
各内部接続リードWl、W2の他端は、一本の外部接続
リートFに共通に接続されている。
第3図において、入力端子Iを有する前置増幅器A1は
、電源部分をICチップC上の電源端子Vに接続すると
共に、接地部分G1のポンディングパッドを介し、内部
接続リードW1を介して外部接続リードFに接続されて
いる。また、電力増幅器Atの入力は、前置増幅器A1
の出力に接続され、その出力は出力端子Oに、また電源
部分は、電源端子■に接続され、接地部分G−のボンテ
ィングバンドは、内81!接続リードW5を介して、前
記外部接続リードFに、共通に接続されている。さらに
、外部接続リー ドFの他端は、このICが使用される
ときは、プリント配線基板−1,に実装されて、金属箱
による接地配線Eに、′電気的に接続されている。
、電源部分をICチップC上の電源端子Vに接続すると
共に、接地部分G1のポンディングパッドを介し、内部
接続リードW1を介して外部接続リードFに接続されて
いる。また、電力増幅器Atの入力は、前置増幅器A1
の出力に接続され、その出力は出力端子Oに、また電源
部分は、電源端子■に接続され、接地部分G−のボンテ
ィングバンドは、内81!接続リードW5を介して、前
記外部接続リードFに、共通に接続されている。さらに
、外部接続リー ドFの他端は、このICが使用される
ときは、プリント配線基板−1,に実装されて、金属箱
による接地配線Eに、′電気的に接続されている。
(t’(東側の動作)
上記第3,4図に示す従来例の構成においては、゛市J
Q増幅器A・の接地回帰電流ipが、基板1、の接地配
線Eに至るまでに、内部接続リー トW、および外部接
続リードFを通る。
Q増幅器A・の接地回帰電流ipが、基板1、の接地配
線Eに至るまでに、内部接続リー トW、および外部接
続リードFを通る。
前記引用文献特公昭52−5228目公報に開・バされ
ていることく、内部接続り−1・wl 。
ていることく、内部接続り−1・wl 。
W・には、−、f4pに金の細線が用いられ その電気
1((抗は、例えば、直径25mmの場合、長さ]、c
m当り0.5Ωとして、約0.1Ω前後を示すことが知
られている。この抵抗値による電圧降下は、前置増幅器
A、接地側G1 と共通電流路を右する時には。
1((抗は、例えば、直径25mmの場合、長さ]、c
m当り0.5Ωとして、約0.1Ω前後を示すことが知
られている。この抵抗値による電圧降下は、前置増幅器
A、接地側G1 と共通電流路を右する時には。
11行置増幅器A、に箸しく干渉して悪影響を及ぼすこ
とがよく知られている。このため、従来は、内部接続り
−1・’W+ 、W+・は、図に示すように、各増幅
器A+ 、 A1g+、=、独X′i: L−c設げ
ていた。
とがよく知られている。このため、従来は、内部接続り
−1・’W+ 、W+・は、図に示すように、各増幅
器A+ 、 A1g+、=、独X′i: L−c設げ
ていた。
〔発明が解決し2ようと“4る問題点Jしかしながら、
第3図に小才ようなIC化増幅器Pにおいては、外部接
続リードFは、依然どし。
第3図に小才ようなIC化増幅器Pにおいては、外部接
続リードFは、依然どし。
で増幅器AI およびA2・の共通電流路とな一〕でお
り、電力増幅器Alの回帰電流ip+こよる′屯圧隆ト
■fか、前置増幅mj A l の接地回帰経路にイf
肴していることが分る。
り、電力増幅器Alの回帰電流ip+こよる′屯圧隆ト
■fか、前置増幅mj A l の接地回帰経路にイf
肴していることが分る。
一般に、内部接に、;t ’J−川・の金線に几し2で
、外部接続1月−トとなる金属リードノl/−ムは、幅
も厚ツノも、金線と比較にならぬほど人きいため、その
電気抵抗イ111も1例才ばJLJ O,B+n+n、
幅0.13mm、金線接、6部から!A部プリント配線
Eまでの長さ7mmの銅フ1/−ムの一例においては、
0.00035Ω程爪である。
、外部接続1月−トとなる金属リードノl/−ムは、幅
も厚ツノも、金線と比較にならぬほど人きいため、その
電気抵抗イ111も1例才ばJLJ O,B+n+n、
幅0.13mm、金線接、6部から!A部プリント配線
Eまでの長さ7mmの銅フ1/−ムの一例においては、
0.00035Ω程爪である。
一方、最近の大出力低周波電力増幅用IC(以7パワー
ICと略称する)の場合は、ピーク仙で7Aもの大電
流を流すものが出現し−Cおり、ごのような場合、例え
ば前述の外部接続リードFには、2.45mVp程度の
電圧降下が発生する。この増幅器が、1F圧利得50d
Bである場合の人力4辰幅は、44.3mVpとなり、
」二記2.45mVpの電圧降ドは、あたかも別偶号と
して、これに5.5%の干渉を与えることになり、歪率
悪化9回路系不安定の原因となる。このため、これら回
路を安定するために(オ、たとえ電気抵抗値か低い場合
でも、可能な限り共通′電流路を減らす必要のあること
が自明である。
ICと略称する)の場合は、ピーク仙で7Aもの大電
流を流すものが出現し−Cおり、ごのような場合、例え
ば前述の外部接続リードFには、2.45mVp程度の
電圧降下が発生する。この増幅器が、1F圧利得50d
Bである場合の人力4辰幅は、44.3mVpとなり、
」二記2.45mVpの電圧降ドは、あたかも別偶号と
して、これに5.5%の干渉を与えることになり、歪率
悪化9回路系不安定の原因となる。このため、これら回
路を安定するために(オ、たとえ電気抵抗値か低い場合
でも、可能な限り共通′電流路を減らす必要のあること
が自明である。
この発明は、以−1−のj二うな問題点にかんがみてな
されたもので、本来の目的であるICチンプと外部回路
を電気的に接続するに際して、ICパッケージ内部の外
部接続リードによるICチップ内部の回路相77″間の
干渉を極力少くすることを目的としている。
されたもので、本来の目的であるICチンプと外部回路
を電気的に接続するに際して、ICパッケージ内部の外
部接続リードによるICチップ内部の回路相77″間の
干渉を極力少くすることを目的としている。
このため、本発明においては、従来、ICの接地端子と
して用いられる外部接続リードは、一本以上の内部接続
リードを接続する一木のリードフレームであることが通
例であったのに対して、この発明においては、外部接続
リードの外部側は一木であるが、内部接続リード側は、
内部接続り・−・ドの本数に対応して少くとも2木に分
岐するよう内部接続リードの接続部分を構成することに
より、前記[1的を達成しようどするものである。
して用いられる外部接続リードは、一本以上の内部接続
リードを接続する一木のリードフレームであることが通
例であったのに対して、この発明においては、外部接続
リードの外部側は一木であるが、内部接続リード側は、
内部接続り・−・ドの本数に対応して少くとも2木に分
岐するよう内部接続リードの接続部分を構成することに
より、前記[1的を達成しようどするものである。
以トのような内部接続リードの構成によって。
複数の内部接続リードを一端子に集合きせても。
その相互間の′1−渉を極力押えることが可能となった
。
。
以トにこの発明を、実施例に基ついて説明する。第1図
ff、本発明原JyPを小ず前出従来例第3図に対応す
る説明図であり、第3図と同一・(相当)構成要素は、
同一記号を付[2、重複説明は省略する。
ff、本発明原JyPを小ず前出従来例第3図に対応す
る説明図であり、第3図と同一・(相当)構成要素は、
同一記号を付[2、重複説明は省略する。
(構成)
F+、F:・は分岐(枝別れ)した第2図における外部
接続リードFの相当部分で、第1図における通常外部導
出部分F3と一体構造をなす。このF・は電流共通流路
で、枝の根元部分であり、プリント基板十の接地配線E
に、機械的かつ電気的に接続されるが、その長さは、i
iJ及的に短くなるよう配慮されている。また、外部接
続リードの分岐(枝別れ)部分Fl、F?は、内部接続
り−1・w+、w/にそれぞれ接続される。」−述以外
の構成は、第3図と同様である。
接続リードFの相当部分で、第1図における通常外部導
出部分F3と一体構造をなす。このF・は電流共通流路
で、枝の根元部分であり、プリント基板十の接地配線E
に、機械的かつ電気的に接続されるが、その長さは、i
iJ及的に短くなるよう配慮されている。また、外部接
続リードの分岐(枝別れ)部分Fl、F?は、内部接続
り−1・w+、w/にそれぞれ接続される。」−述以外
の構成は、第3図と同様である。
第2図は、第1図の概念に基づ<tCパ・ンヶージ(外
囲器)の内部の一実施例の前出従来例第4図対応構造図
であり、第4図と回−(相当)構成要素同一記号で表わ
す。外部接続リードFの先端は2部分に分岐して、それ
ぞれ、ダイパ・ンドD上に接着されたICチップCの表
面に1¥設されたホンティングバンドBl、B、)に接
続された内部接続リードW+ 、W/ に接続Sれる
。また、外部接続リードFの他端は、他の通常の外部接
続リードと同様、ICのパンケージの外部に露出して接
地端子を形成し、最終的な使用の段階でプリ〉″ト基板
上の接地配線(図示せず)に接続される。
囲器)の内部の一実施例の前出従来例第4図対応構造図
であり、第4図と回−(相当)構成要素同一記号で表わ
す。外部接続リードFの先端は2部分に分岐して、それ
ぞれ、ダイパ・ンドD上に接着されたICチップCの表
面に1¥設されたホンティングバンドBl、B、)に接
続された内部接続リードW+ 、W/ に接続Sれる
。また、外部接続リードFの他端は、他の通常の外部接
続リードと同様、ICのパンケージの外部に露出して接
地端子を形成し、最終的な使用の段階でプリ〉″ト基板
上の接地配線(図示せず)に接続される。
(動作)
つぎに、以−ヒのような構成における動作を説明する。
第1図において、例えば電力増幅器A、からの接地回帰
電流ipは、内部接続リードW?→外部接続リードFの
分岐部Fl→共通リーす部F、→接地配線Eの経路で流
れる。このとき、前置増幅器A1の接地回帰電流は、内
部接続リードW1→外部接続リードFの分岐部分F1→
共通リード部F3→接地配線Eの経路で流れ、共通リー
ド部F噴の部分では、電力増幅器A、!側の電流と合流
する。
電流ipは、内部接続リードW?→外部接続リードFの
分岐部Fl→共通リーす部F、→接地配線Eの経路で流
れる。このとき、前置増幅器A1の接地回帰電流は、内
部接続リードW1→外部接続リードFの分岐部分F1→
共通リード部F3→接地配線Eの経路で流れ、共通リー
ド部F噴の部分では、電力増幅器A、!側の電流と合流
する。
このことは、見ブJを変えれば、前置増幅器A、の入力
端子Iと接地Eとの間に印加される入力信号に対し、接
地回帰電流ipによる電圧降−ドvfか直列に加わるこ
ととなり、換言すれば、入力信号は干渉を受けることに
なる。17かしながら、共通リード部分F3の機械的寸
法を極力短かくすることにより、従来方法に比して電圧
降下vfを大幅に低減することができるため、前記入力
信への干渉も極めて少なくすることができる。
端子Iと接地Eとの間に印加される入力信号に対し、接
地回帰電流ipによる電圧降−ドvfか直列に加わるこ
ととなり、換言すれば、入力信号は干渉を受けることに
なる。17かしながら、共通リード部分F3の機械的寸
法を極力短かくすることにより、従来方法に比して電圧
降下vfを大幅に低減することができるため、前記入力
信への干渉も極めて少なくすることができる。
(他の従来例)
以」二の実施例においては、ICの接地端子の場合につ
いて説明したが、本発明は、これのみに限定されること
なく、二つ以上の信号が合流する端子を有するICにつ
いて、広く適用することができることは明らかである。
いて説明したが、本発明は、これのみに限定されること
なく、二つ以上の信号が合流する端子を有するICにつ
いて、広く適用することができることは明らかである。
また、前記の分岐は、機械的構造上、許容し得る範囲ま
で長く形成することもでき、また要すれば、通常エポキ
シ樹脂モールドやセラミックにより形成される外囲器(
パッケージ)の外側に分岐がくるものであっても差支え
ない。
で長く形成することもでき、また要すれば、通常エポキ
シ樹脂モールドやセラミックにより形成される外囲器(
パッケージ)の外側に分岐がくるものであっても差支え
ない。
以上、実施例に基づいて説明してきたように、本発明に
よれば、従来、ICチップを搭載して、外部への接続リ
ードを有し、その一部に接地端子のような同一チップ内
の複数系統の°重極を共通にしている場合の相互の電流
干渉の悪影響を、特別な加工技術や製造コストの増加を
伴うことなく改善することができた。
よれば、従来、ICチップを搭載して、外部への接続リ
ードを有し、その一部に接地端子のような同一チップ内
の複数系統の°重極を共通にしている場合の相互の電流
干渉の悪影響を、特別な加工技術や製造コストの増加を
伴うことなく改善することができた。
第1図は、本発明原理を示すm合図、第2図はその内部
構造要部の一実施例図、第3図および第4図は、それぞ
れ従来例における前記第1図および第2図対応図である
。 C:IC(半導体集積回路)チップ D:増幅器 F:外部接続リード F+、F2:外部接続リード分岐部 F3 :電流共通リード部 E:接地
構造要部の一実施例図、第3図および第4図は、それぞ
れ従来例における前記第1図および第2図対応図である
。 C:IC(半導体集積回路)チップ D:増幅器 F:外部接続リード F+、F2:外部接続リード分岐部 F3 :電流共通リード部 E:接地
Claims (1)
- それぞれ少くとも1本の内部接続リードを接続するよ
う意図された少くとも2本に分岐された外部接続リード
接続部分を有することを特徴とする半導体装置用外部接
続リード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61020613A JPS62177954A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 半導体装置用外部接続リ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61020613A JPS62177954A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 半導体装置用外部接続リ−ド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62177954A true JPS62177954A (ja) | 1987-08-04 |
Family
ID=12032107
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61020613A Pending JPS62177954A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 半導体装置用外部接続リ−ド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62177954A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4979016A (en) * | 1988-05-16 | 1990-12-18 | Dallas Semiconductor Corporation | Split lead package |
-
1986
- 1986-01-30 JP JP61020613A patent/JPS62177954A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4979016A (en) * | 1988-05-16 | 1990-12-18 | Dallas Semiconductor Corporation | Split lead package |
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