JPS62164291A - イオン注入方式バブル転送路 - Google Patents
イオン注入方式バブル転送路Info
- Publication number
- JPS62164291A JPS62164291A JP61005093A JP509386A JPS62164291A JP S62164291 A JPS62164291 A JP S62164291A JP 61005093 A JP61005093 A JP 61005093A JP 509386 A JP509386 A JP 509386A JP S62164291 A JPS62164291 A JP S62164291A
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- JP
- Japan
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- bubble
- line
- transfer path
- cusp
- pattern
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
イオン注入方式のバブル転送路であって、バブルの転送
方向に沿って転送路の幅を変える場合、その変化部をカ
スプ部より少し離れたティップ部近傍とすることにより
転送特性の改善を可能とする。
方向に沿って転送路の幅を変える場合、その変化部をカ
スプ部より少し離れたティップ部近傍とすることにより
転送特性の改善を可能とする。
本発明はイオン注入磁気バブルメモリ素子におけるバブ
ル転送路に関するものである。
ル転送路に関するものである。
磁気バブルメモリ素子は、従来そのバブル転送路として
パーマロイ等の軟磁性薄膜パターンが用いられて来たが
、最近では記憶密度の高度化に伴ってパターンが微細化
し、その形成が光りソグラフィでは困難となって来てい
る。このためパターン間にギャップを必要としないイオ
ン注入方式によるバブル転送路が注目されている。
パーマロイ等の軟磁性薄膜パターンが用いられて来たが
、最近では記憶密度の高度化に伴ってパターンが微細化
し、その形成が光りソグラフィでは困難となって来てい
る。このためパターン間にギャップを必要としないイオ
ン注入方式によるバブル転送路が注目されている。
このイオン注入方式のバブルメモリ素子では直線伝搬部
以外のところを構成する場合、例えばバブル発生部ある
いはバブル検出部あるいはゲート近傍等では、しばしば
直線伝搬部の転送路よりも太いパターン幅をもった転送
路が必要とされる。
以外のところを構成する場合、例えばバブル発生部ある
いはバブル検出部あるいはゲート近傍等では、しばしば
直線伝搬部の転送路よりも太いパターン幅をもった転送
路が必要とされる。
従来のバブル発生部のパターン形状を第5図に、ゲート
近傍のパターン形状を第6図にそれぞれ示す。両図にお
いて符号1はイオン注入領域、2はバブル転送路、3は
コンダクタパターン、4はバブルであり、矢印a、bは
バブルの転送方向を示している。
近傍のパターン形状を第6図にそれぞれ示す。両図にお
いて符号1はイオン注入領域、2はバブル転送路、3は
コンダクタパターン、4はバブルであり、矢印a、bは
バブルの転送方向を示している。
上記、従来例では、それぞれ領域A及びBにパターン幅
が太い部分から細い部分へ移るつなぎがある。そして両
者ともにパターン幅の変化が転送路のカスブ(凹部)に
生じているため、このつなぎ部のマージンがカスブトラ
ップにより駆動磁界が増大するという欠点があった。
が太い部分から細い部分へ移るつなぎがある。そして両
者ともにパターン幅の変化が転送路のカスブ(凹部)に
生じているため、このつなぎ部のマージンがカスブトラ
ップにより駆動磁界が増大するという欠点があった。
本発明はこのような点に鑑みて案出されたもので、パタ
ーン幅の太い部分から細い部分へのつなぎ部分のマージ
ンを改善したイオン注入方式のバブル転送路を擢供する
ことを目的としている。
ーン幅の太い部分から細い部分へのつなぎ部分のマージ
ンを改善したイオン注入方式のバブル転送路を擢供する
ことを目的としている。
を問題点を解決するための手段〕
このため本発明においては、イオン注入法によって形成
されるバブル転送路において、その転送方向に沿って幅
の太い転送路から幅の細い転送路へと変化する場合、そ
の太さの変化が転送にかかわるカスブ部ではなく、カス
ブ部より少し離れたティップ部近傍で生じていることを
特徴としている。
されるバブル転送路において、その転送方向に沿って幅
の太い転送路から幅の細い転送路へと変化する場合、そ
の太さの変化が転送にかかわるカスブ部ではなく、カス
ブ部より少し離れたティップ部近傍で生じていることを
特徴としている。
幅の太い転送路から幅の細い転送路へ変化するつなぎの
部分をティップ部近傍に配置することにより、つなぎ部
分から始まる幅の細い転送路の最初のカスブのバブルト
ラップ力が弱くなるため、カスブからのバブルの引出し
が容易となり、マージンの改善が可能となる。
部分をティップ部近傍に配置することにより、つなぎ部
分から始まる幅の細い転送路の最初のカスブのバブルト
ラップ力が弱くなるため、カスブからのバブルの引出し
が容易となり、マージンの改善が可能となる。
第1図及び第2図は本発明の実施例を示す図であり、第
1図はバブル発生部付近のパターン、第2図はゲート近
傍のパターンをそれぞれ示している。同図において、1
0はイオン注入領域、11はイオン注入転送路、12は
コンダクタパターンである。
1図はバブル発生部付近のパターン、第2図はゲート近
傍のパターンをそれぞれ示している。同図において、1
0はイオン注入領域、11はイオン注入転送路、12は
コンダクタパターンである。
本実施例は第1図、第2図に示すように、バブル転送路
11の矢印a、bで示すバブル転送方向に沿って太い部
分から細い部分に変化する位置PがカスブCではなくテ
ィップTの近傍に位置するように形成したものである。
11の矢印a、bで示すバブル転送方向に沿って太い部
分から細い部分に変化する位置PがカスブCではなくテ
ィップTの近傍に位置するように形成したものである。
このように構成された本実施例の転送路の太い部分から
細い部分に移る部分のマージンは第3図の特性図に曲線
Aで示す如くなり、曲線Bで示す従来例に比してマージ
ンの最小駆動力は大きく改善される。
細い部分に移る部分のマージンは第3図の特性図に曲線
Aで示す如くなり、曲線Bで示す従来例に比してマージ
ンの最小駆動力は大きく改善される。
このマージン改善の理由を第4図により説明する。同図
は外径8μmのパターンaと、外径8μm、内径4μm
(幅2μm)のパターンbと外径8μm、内径6μm(
幅1μm)のパターンCの各パターンについてバブル(
0,6μψ)をトラップしたときのポテンシャルを測定
したもので、横軸には駆動磁界の角度、縦軸にはポテン
シャルをとり、曲iAでパターンaの、曲線Bではパタ
ーンbの、曲線CでパターンCのポテンシャルを示して
いる。
は外径8μmのパターンaと、外径8μm、内径4μm
(幅2μm)のパターンbと外径8μm、内径6μm(
幅1μm)のパターンCの各パターンについてバブル(
0,6μψ)をトラップしたときのポテンシャルを測定
したもので、横軸には駆動磁界の角度、縦軸にはポテン
シャルをとり、曲iAでパターンaの、曲線Bではパタ
ーンbの、曲線CでパターンCのポテンシャルを示して
いる。
図から分かるようにパターン幅とバブルをトランブする
力とは相関性があり、パターン幅を太くするにつれてト
ラップ力は増大する。従って従来技術におけるバブルト
ラップのエラーはパターン幅の太いカスブからパターン
幅の細いティップへ引出すために生じたものと考えられ
る。従って本発明においてはカスブからバブルを引出す
側の辺のみ太いパターンとし、ティップからカスブへは
強い駆動力を必要としないことからティップ部近傍でパ
ターン幅を細くしたのである。
力とは相関性があり、パターン幅を太くするにつれてト
ラップ力は増大する。従って従来技術におけるバブルト
ラップのエラーはパターン幅の太いカスブからパターン
幅の細いティップへ引出すために生じたものと考えられ
る。従って本発明においてはカスブからバブルを引出す
側の辺のみ太いパターンとし、ティップからカスブへは
強い駆動力を必要としないことからティップ部近傍でパ
ターン幅を細くしたのである。
以上述べてきたように、本発明によれば、イオン注入磁
気バブルメモリ素子のバブル転送路において、幅の太い
部分から細い部分へ変化する位置をティップ部近傍とす
ることにより、核部でのマージンの改善をすることがで
き、実用的には極めて有用である。
気バブルメモリ素子のバブル転送路において、幅の太い
部分から細い部分へ変化する位置をティップ部近傍とす
ることにより、核部でのマージンの改善をすることがで
き、実用的には極めて有用である。
第1図は本発明の実施例のバブル発生部付近のパターン
を示す図、 第2図は本発明の実施例のゲート付近のパターンを示す
閏、 第3図は本発明の実施例のマージンを従来例と比較して
示した図、 第4図はパターン幅によるポテンシャルの違いを示した
図、 第5図及び第6図はイオン注入方式バブル転送路の従来
例を示す図である。 第1図、第2図において、 10はイオン注入領域、 11はバブル転送路、 12はコンダクタパターン、 Cはカスブ、 Tはティップである。 本発明の実施例のバブル発生部 付近のパターンを示す図 第1図 10・・・イオン注入領域 11 ・・・バブル転送路 12・・・コンダクタノやターン 本発明の実施例のダート付近の パターンを示す図 第2図 10・・・イオン注入領域 11 ・・・バブル転送路 12・・・ コンダクタノやターン 駆動磁界(○e) 本発明の実施例のマージンを従来例 と比較して示した図 第3図 駆動磁界の角度(’) パターン幅によるポテンシャルの違いを示した図 第4図 従来のバブル発生部伺近の ・9ターン形状を示す図 3・・・ コンダクタノやターン 4・・・ パズル
を示す図、 第2図は本発明の実施例のゲート付近のパターンを示す
閏、 第3図は本発明の実施例のマージンを従来例と比較して
示した図、 第4図はパターン幅によるポテンシャルの違いを示した
図、 第5図及び第6図はイオン注入方式バブル転送路の従来
例を示す図である。 第1図、第2図において、 10はイオン注入領域、 11はバブル転送路、 12はコンダクタパターン、 Cはカスブ、 Tはティップである。 本発明の実施例のバブル発生部 付近のパターンを示す図 第1図 10・・・イオン注入領域 11 ・・・バブル転送路 12・・・コンダクタノやターン 本発明の実施例のダート付近の パターンを示す図 第2図 10・・・イオン注入領域 11 ・・・バブル転送路 12・・・ コンダクタノやターン 駆動磁界(○e) 本発明の実施例のマージンを従来例 と比較して示した図 第3図 駆動磁界の角度(’) パターン幅によるポテンシャルの違いを示した図 第4図 従来のバブル発生部伺近の ・9ターン形状を示す図 3・・・ コンダクタノやターン 4・・・ パズル
Claims (1)
- 1、イオン注入法によって形成されるバブル転送路にお
いて、その転送方向に沿って、幅の太い転送路から幅の
細い転送路へと変化する場合、その太さの変化が転送に
かかわるカスプ部ではなく、カスプ部より少し離れたテ
ィップ部近傍で生じていることを特徴とするイオン注入
方式バブル転送路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61005093A JPS62164291A (ja) | 1986-01-16 | 1986-01-16 | イオン注入方式バブル転送路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61005093A JPS62164291A (ja) | 1986-01-16 | 1986-01-16 | イオン注入方式バブル転送路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62164291A true JPS62164291A (ja) | 1987-07-20 |
Family
ID=11601774
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61005093A Pending JPS62164291A (ja) | 1986-01-16 | 1986-01-16 | イオン注入方式バブル転送路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62164291A (ja) |
-
1986
- 1986-01-16 JP JP61005093A patent/JPS62164291A/ja active Pending
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