JPS62137552A - 合金メツキ付着量計 - Google Patents
合金メツキ付着量計Info
- Publication number
- JPS62137552A JPS62137552A JP27829885A JP27829885A JPS62137552A JP S62137552 A JPS62137552 A JP S62137552A JP 27829885 A JP27829885 A JP 27829885A JP 27829885 A JP27829885 A JP 27829885A JP S62137552 A JPS62137552 A JP S62137552A
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- JP
- Japan
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- ray
- amount
- intensity
- film
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- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は２成分系のメッキ処理品のメッキ付着看及び金
属成分量を螢光Ｘ線にて測定する装置に関するものであ
る。
属成分量を螢光Ｘ線にて測定する装置に関するものであ
る。
本発明は、鋼板上の亜鉛−鉄合金皮膜の付着量及び成分
量を測定する方法において、鉄及び亜鉛のＬｊｒＸ線の
強度を測定し、両測定値から計測するもので、ＦｅＬｃ
ｔＸ線とＺｎＬαＸ線の比より、含有率を決定し、Ｚｎ
Ｋαχ線の強度により被膜付着量を決定するものである
。
量を測定する方法において、鉄及び亜鉛のＬｊｒＸ線の
強度を測定し、両測定値から計測するもので、ＦｅＬｃ
ｔＸ線とＺｎＬαＸ線の比より、含有率を決定し、Ｚｎ
Ｋαχ線の強度により被膜付着量を決定するものである
。
他の亜鉛−鉄合金被膜の付着量と成分量を測定する方法
には、 ■メッキ層を溶解し、その溶液を化学分析あるいは機器
により定量する方法。
には、 ■メッキ層を溶解し、その溶液を化学分析あるいは機器
により定量する方法。
■イオンやグロー放電により表面をスパッタリングして
放出される二次イオンや光を測定して定量する方法があ
る。
放出される二次イオンや光を測定して定量する方法があ
る。
上記いずれの方法も破壊検査でありかつ迅速性にも乏し
い。
い。
又、例えば、鋼板上のＦｅ−Ｚｎ合金被膜の付着量及び
金属成分量を夫々のにαＸ線で測定する螢光Ｘ線分析法
では下地鋼板成分のＦｅＫαＸ線の重なりによって決定
するのは困難である。
金属成分量を夫々のにαＸ線で測定する螢光Ｘ線分析法
では下地鋼板成分のＦｅＫαＸ線の重なりによって決定
するのは困難である。
本発明では、重なりに問題のあるにαＸ線を測定せず、
エネルギー的にも小さく極表面層の情報をもたらす夫々
のしαＸ線を測定することにより、Ｆ ｅ ＬｃｔＸ線
とＺｎＬαχ線の比を求め含有率を決定し、更にはＺｎ
ＫｏｔＸ線の強度を測定することによって被膜付着量を
決定するものであり、Ｘ線のエネルギーにより物質を通
過する際の吸収割合の違いを利用することに基づく。
エネルギー的にも小さく極表面層の情報をもたらす夫々
のしαＸ線を測定することにより、Ｆ ｅ ＬｃｔＸ線
とＺｎＬαχ線の比を求め含有率を決定し、更にはＺｎ
ＫｏｔＸ線の強度を測定することによって被膜付着量を
決定するものであり、Ｘ線のエネルギーにより物質を通
過する際の吸収割合の違いを利用することに基づく。
鋼板上のＦｅ−Ｚｎ合金の単層メッキを螢光Ｘ線分析す
る場合、ＦｅＬαＸ線（Ｘ線エネルギーＥ ＋ ”’０
．７０４ ＫｅＶ）及びＺｎＬαＸ線（Ｅ！＝１． Ｏ
Ｏ９ＫｅＶ）のエスケープ能力は１〜２μｍであり、Ｚ
ｎＫαＸ線ＣＥｓ ＝８．６４ ＫｅＶ）のそれは数十
μｍあり、前者は表面層の情報を精度良く出すことから
合金化度の測定に利用し、後者は被膜全てからの情報を
与えることからトータル被膜付着量の測定に利用できる
。
る場合、ＦｅＬαＸ線（Ｘ線エネルギーＥ ＋ ”’０
．７０４ ＫｅＶ）及びＺｎＬαＸ線（Ｅ！＝１． Ｏ
Ｏ９ＫｅＶ）のエスケープ能力は１〜２μｍであり、Ｚ
ｎＫαＸ線ＣＥｓ ＝８．６４ ＫｅＶ）のそれは数十
μｍあり、前者は表面層の情報を精度良く出すことから
合金化度の測定に利用し、後者は被膜全てからの情報を
与えることからトータル被膜付着量の測定に利用できる
。
実際の測定においては、第１図に示した実施例により行
うが、励起源としては軟Ｘ ′！ＬｆＡ励起用のＸ線管
球（例えばＳｃターゲット）を用い、測定室を真空にす
る必要があり、更に測定対象が鋼板の場合、大面積照射
が望まれるため、分光結晶としては平板結晶を用いるの
が好ましい。
うが、励起源としては軟Ｘ ′！ＬｆＡ励起用のＸ線管
球（例えばＳｃターゲット）を用い、測定室を真空にす
る必要があり、更に測定対象が鋼板の場合、大面積照射
が望まれるため、分光結晶としては平板結晶を用いるの
が好ましい。
又、本実施例では波長分散方式を示したがエネルギー分
解能の優れた半導体検出器で、検出窓の厚みを極めて薄
いものとするならばエネルギー分散方式の採用も可能で
ある。
解能の優れた半導体検出器で、検出窓の厚みを極めて薄
いものとするならばエネルギー分散方式の採用も可能で
ある。
又、本発明は表面層の情報を効率良く得ることができる
ことから、Ｆｅ−Ｚｎ系以外の二成分単層合金メッキに
て全て適用可能である。
ことから、Ｆｅ−Ｚｎ系以外の二成分単層合金メッキに
て全て適用可能である。
本発明の螢光Ｘ線分析法では二成分系の単層メッキのト
ータル付着量と金属成分量を迅速、非破壊分析できる効
果を有する。
ータル付着量と金属成分量を迅速、非破壊分析できる効
果を有する。
図は本発明の実施例のブロック図である。
Claims (1)
- 鋼板上の亜鉛−鉄合金皮膜の付着量及び金属成分量を測
定する方法において、夫々のＬαＸ線強度を測定し、両
測定値に基づき所定の連立方程式を解くことにより、前
記金属皮膜の付着量及び前記金属成分量を求めることを
特徴とする合金メッキ付着量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27829885A JPS62137552A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 合金メツキ付着量計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27829885A JPS62137552A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 合金メツキ付着量計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62137552A true JPS62137552A (ja) | 1987-06-20 |
Family
ID=17595400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27829885A Pending JPS62137552A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 合金メツキ付着量計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62137552A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1076222A1 (en) * | 1999-08-10 | 2001-02-14 | Corus Aluminium Walzprodukte GmbH | X-ray fluorescence measurement of aluminium sheet thickness |
| DE19931298B4 (de) * | 1998-07-16 | 2007-05-03 | Panalytical B.V. | Verfahren zur Analyse dünner Schichten mit Röntgenfluoreszenz |
-
1985
- 1985-12-11 JP JP27829885A patent/JPS62137552A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19931298B4 (de) * | 1998-07-16 | 2007-05-03 | Panalytical B.V. | Verfahren zur Analyse dünner Schichten mit Röntgenfluoreszenz |
| EP1076222A1 (en) * | 1999-08-10 | 2001-02-14 | Corus Aluminium Walzprodukte GmbH | X-ray fluorescence measurement of aluminium sheet thickness |
| WO2001011316A1 (en) * | 1999-08-10 | 2001-02-15 | Corus Aluminium Walzprodukte Gmbh | X-ray fluorescence sensor for measurement of metal sheet thickness |
| US6512810B1 (en) | 1999-08-10 | 2003-01-28 | Corus Aluminium Walzprodukte Gmbh | Method of analyzing a specimen comprising a compound material by x-ray fluorescence analysis |
| US6631177B1 (en) | 1999-08-10 | 2003-10-07 | Corus Aluminium Walzprodukte Gmbh | Device for measurement of metal sheet thickness and clad layer thickness and method of use thereof |
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