JPS62123756A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
- Publication number
- JPS62123756A JPS62123756A JP26294985A JP26294985A JPS62123756A JP S62123756 A JPS62123756 A JP S62123756A JP 26294985 A JP26294985 A JP 26294985A JP 26294985 A JP26294985 A JP 26294985A JP S62123756 A JPS62123756 A JP S62123756A
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- JP
- Japan
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- terminals
- output
- inputted
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- Pending
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体集積回路装置の回路構成に関し、特に
複数の論理回路群によって構成された論理機能モジュー
ルの試験を容易にした半導体集積回路装置に関するもの
である。
複数の論理回路群によって構成された論理機能モジュー
ルの試験を容易にした半導体集積回路装置に関するもの
である。
従来、この種の論理機能モジュールの試験回路は、この
論理機能モジュールを構成する論理回路群の全機能全動
作させる回路構成になっており、試験を容易にするため
、この論理回路群に追加する回路構成になっている。
論理機能モジュールを構成する論理回路群の全機能全動
作させる回路構成になっており、試験を容易にするため
、この論理回路群に追加する回路構成になっている。
上述した従来の半導体集積回路装置は、試験回路を追加
するので、部品数が増加し、装置としての信頼度が低下
し、価格増大をまねくうえ、この論理機能モジュール全
体の試験は試、験回路を付加しても試験用パターンデー
タが膨大になり、試験パターン作成工数と試験時間に多
大な費用全発生するなどの問題がちった。
するので、部品数が増加し、装置としての信頼度が低下
し、価格増大をまねくうえ、この論理機能モジュール全
体の試験は試、験回路を付加しても試験用パターンデー
タが膨大になり、試験パターン作成工数と試験時間に多
大な費用全発生するなどの問題がちった。
この発明に係る半導体集積回路装置はパッケージ端子間
と論理回路群とを選択的に接続・分離可能な制御手段を
設けたものである。
と論理回路群とを選択的に接続・分離可能な制御手段を
設けたものである。
この発明は論理回路群を選択的にスルー回路にすること
ができるので、論理機能モジュールの試験を容易にする
ことができる。
ができるので、論理機能モジュールの試験を容易にする
ことができる。
図はこの発明に係る半導体集積回路装置の一実施例を示
すブロック図である。同図において、1a〜1dはパッ
ケージ端子であるデータ入力端子、2はセレクタ信号が
入力するセレクタ制御端子、3a〜3eは入力バッファ
、4は入力端子4a=4dおよび出力端子4e〜4hを
備えた論理回路群、58〜5dはそれぞれ入力抱子6a
〜6c、出力端子6dt−備えたセレクタ回路、7a−
Tdは出力バッファ、8a〜8dハパツケージ端子であ
る出力端子である。
すブロック図である。同図において、1a〜1dはパッ
ケージ端子であるデータ入力端子、2はセレクタ信号が
入力するセレクタ制御端子、3a〜3eは入力バッファ
、4は入力端子4a=4dおよび出力端子4e〜4hを
備えた論理回路群、58〜5dはそれぞれ入力抱子6a
〜6c、出力端子6dt−備えたセレクタ回路、7a−
Tdは出力バッファ、8a〜8dハパツケージ端子であ
る出力端子である。
次に、上記横取による半導体集積回踏装置の動作につい
て説明する。tず、データ入力端子1a〜1dに入力し
た入力信号はそれぞれ人力バッファ3a〜3dを介して
論理回路群4の入力端子48〜4dに入力すると共にセ
レクタ回路5a〜5dの入力端子6bに入力する。一方
、論理回路群4の出力端子4e〜4hから出力される出
力信号はそれぞれセレクタ回路5a〜5dの入力端子6
aに入力する。また、セレクタ$制御端子2に入力した
セレクタ信号は入力バッファ3et”介してセレクタ回
路5a−5dの入力端子6゜に入力する。したがって、
通常動作時は論理回路群4の出力端子4e〜4hからの
出力信号はそれぞれセレクタ回路5a〜5dおよび出力
パツ7ア7.〜7dを介して出力端子8a〜8dに出力
される。次に、試験モード時にはデータ入力端子1a〜
1dに入力した入力信号はそれぞれ人力バッファ3a−
%、セレクタ回路5a=5dの入力端子6b’出力端子
6d、出力バツファ7a−7d’を介して出力端子8a
〜8dに出力される。この結果、論理回路群4を介さず
、入カダ、■子1a〜1dから出力端子8a〜8dに直
接信号送受を可能にすることができる。
て説明する。tず、データ入力端子1a〜1dに入力し
た入力信号はそれぞれ人力バッファ3a〜3dを介して
論理回路群4の入力端子48〜4dに入力すると共にセ
レクタ回路5a〜5dの入力端子6bに入力する。一方
、論理回路群4の出力端子4e〜4hから出力される出
力信号はそれぞれセレクタ回路5a〜5dの入力端子6
aに入力する。また、セレクタ$制御端子2に入力した
セレクタ信号は入力バッファ3et”介してセレクタ回
路5a−5dの入力端子6゜に入力する。したがって、
通常動作時は論理回路群4の出力端子4e〜4hからの
出力信号はそれぞれセレクタ回路5a〜5dおよび出力
パツ7ア7.〜7dを介して出力端子8a〜8dに出力
される。次に、試験モード時にはデータ入力端子1a〜
1dに入力した入力信号はそれぞれ人力バッファ3a−
%、セレクタ回路5a=5dの入力端子6b’出力端子
6d、出力バツファ7a−7d’を介して出力端子8a
〜8dに出力される。この結果、論理回路群4を介さず
、入カダ、■子1a〜1dから出力端子8a〜8dに直
接信号送受を可能にすることができる。
以上詳細(で説明したように、この発明に係る半導体集
積回踏装置によれば、入力端子から論理回路群を介さず
、出力端子に直接信号送受を可能にすることにより、論
理回路群(dスルー回路になり、論理機能モジュールの
試験が容易になり、試験用パターンの設計工数が低減で
き、試験時間も短縮できる。さらに、部品敷金増加させ
る試験回路が不要となり、安価になるなどの効果がある
。
積回踏装置によれば、入力端子から論理回路群を介さず
、出力端子に直接信号送受を可能にすることにより、論
理回路群(dスルー回路になり、論理機能モジュールの
試験が容易になり、試験用パターンの設計工数が低減で
き、試験時間も短縮できる。さらに、部品敷金増加させ
る試験回路が不要となり、安価になるなどの効果がある
。
図はこの発明に係る半導体集積回路装置の一実施例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
Claims (1)
- パッケージ端子と電気的に接続された論理回路群を複数
備えた半導体集積回路装置において、前記パッケージ端
子と前記論理回路群とを選択的に接続・分離する制御手
段を設けたことを特徴とする半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26294985A JPS62123756A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26294985A JPS62123756A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62123756A true JPS62123756A (ja) | 1987-06-05 |
Family
ID=17382791
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26294985A Pending JPS62123756A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62123756A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010125338A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Dyson Technology Ltd | 表面処理用電気器具 |
US8051531B2 (en) | 2008-11-28 | 2011-11-08 | Dyson Technology Limited | Cleaning appliance |
-
1985
- 1985-11-22 JP JP26294985A patent/JPS62123756A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010125338A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Dyson Technology Ltd | 表面処理用電気器具 |
US8051531B2 (en) | 2008-11-28 | 2011-11-08 | Dyson Technology Limited | Cleaning appliance |
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