JPS62123735A - ウエ−ハカセツト - Google Patents
ウエ−ハカセツトInfo
- Publication number
- JPS62123735A JPS62123735A JP60263511A JP26351185A JPS62123735A JP S62123735 A JPS62123735 A JP S62123735A JP 60263511 A JP60263511 A JP 60263511A JP 26351185 A JP26351185 A JP 26351185A JP S62123735 A JPS62123735 A JP S62123735A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- data
- wafer cassette
- read
- write
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/06—Apparatus for monitoring, sorting, marking, testing or measuring
- H10P72/0618—Apparatus for monitoring, sorting, marking, testing or measuring using identification means, e.g. labels on substrates or labels on containers
Landscapes
- Packaging Frangible Articles (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体製造工程において用いるウェーハカ
セットに関するものである。
セットに関するものである。
従来のウェーハカセットでは、工程表をカセットと一緒
に運搬することにより、工程進捗管理を行っていた。
に運搬することにより、工程進捗管理を行っていた。
また、ICカードを用いた場合でも、ウエーノ・カセッ
ト;tこICカード差し込み口を設けて、ICカードを
差し込んでいた。
ト;tこICカード差し込み口を設けて、ICカードを
差し込んでいた。
工程表を用いたカセット運搬は、ウエーノ・に印でれて
いるロット’fD号を調べて工程表と照らし合わせて行
っていた。また、ロット番号を調べるときは、ウェーハ
をピンセットでつまみ上げて見なければならないので、
そのときにウェーハに空埃が付着するおそれがあるなど
の問題があったOICカードを用いた場合では、カセッ
トを交換するたびに、ICカードをカセットからカセッ
トへと移し換える必要があった0また、そのときICカ
ードの抜き差しから摩耗による発塵も考えられ、カセッ
トのクリーン度が保たれなくなったり、ICカードをカ
セットからカセットへ移すための移換え装置が必要とな
るなどの問題点があった0 本発明は、上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、工程表によらないICカードの表示による運
搬ができるとともに、工Cカードを使用することによる
ウェーハカセットのクリーン度低下を防ぎ、また、IC
カード移換え装置が必要でないウェーハカセットを得る
ことを目的とするO 〔問題点を解決するだめの手段〕 この発明に係るウェーハカセットは、ICカードをウェ
ーハカセットと一体成形でモールドし、ICカード部に
データの表示部、読出し、書込み端子を付加したもので
ある。
いるロット’fD号を調べて工程表と照らし合わせて行
っていた。また、ロット番号を調べるときは、ウェーハ
をピンセットでつまみ上げて見なければならないので、
そのときにウェーハに空埃が付着するおそれがあるなど
の問題があったOICカードを用いた場合では、カセッ
トを交換するたびに、ICカードをカセットからカセッ
トへと移し換える必要があった0また、そのときICカ
ードの抜き差しから摩耗による発塵も考えられ、カセッ
トのクリーン度が保たれなくなったり、ICカードをカ
セットからカセットへ移すための移換え装置が必要とな
るなどの問題点があった0 本発明は、上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、工程表によらないICカードの表示による運
搬ができるとともに、工Cカードを使用することによる
ウェーハカセットのクリーン度低下を防ぎ、また、IC
カード移換え装置が必要でないウェーハカセットを得る
ことを目的とするO 〔問題点を解決するだめの手段〕 この発明に係るウェーハカセットは、ICカードをウェ
ーハカセットと一体成形でモールドし、ICカード部に
データの表示部、読出し、書込み端子を付加したもので
ある。
この発明におけるウェーハカセットはICカードを一体
にモールドし、これに所要のデータを記録できるように
し、そのための書込み端子、及び読出し端子金設け、か
つ、表示部に所望データを表示するようにしたので、I
Cカードの差し換えなしで工程管理ができる。
にモールドし、これに所要のデータを記録できるように
し、そのための書込み端子、及び読出し端子金設け、か
つ、表示部に所望データを表示するようにしたので、I
Cカードの差し換えなしで工程管理ができる。
図はこの発明の一実施例を示す斜視図である。
図において、(1)はウェーハカセット本体で、(2)
はIC3力−ド部である。(3)はデータ読出し端子で
、工Cカード(2)の持つデータは、この端子(3)を
通してICカード読書き装置に送られる。(4)はデー
タの書込み端子でICカード読書き装置(図示せず)内
のデータは、この端子(4)を通してICカード(2)
内に記録される。(5)はデータ表示部で、ここに次の
工程コードやロット番号等が表示される。次の工程への
運搬は、この表示部(5)によって行うことになるQ この様な機能を待ったウェーハカセット(1)を使用し
、従来工程表に記入しながら作業工程の管理を行ってい
たのをICカード読書装置を介してデータの読出し、書
込みを行いICカード(2)の表示部(5)の工程コー
ド、ロフト番号等によシ作業工程の管理を行う。また、
ICカード読書装置を介してデータの読出し、書込みを
行うので、ICカードの抜き差しの必要がなくなる。。
はIC3力−ド部である。(3)はデータ読出し端子で
、工Cカード(2)の持つデータは、この端子(3)を
通してICカード読書き装置に送られる。(4)はデー
タの書込み端子でICカード読書き装置(図示せず)内
のデータは、この端子(4)を通してICカード(2)
内に記録される。(5)はデータ表示部で、ここに次の
工程コードやロット番号等が表示される。次の工程への
運搬は、この表示部(5)によって行うことになるQ この様な機能を待ったウェーハカセット(1)を使用し
、従来工程表に記入しながら作業工程の管理を行ってい
たのをICカード読書装置を介してデータの読出し、書
込みを行いICカード(2)の表示部(5)の工程コー
ド、ロフト番号等によシ作業工程の管理を行う。また、
ICカード読書装置を介してデータの読出し、書込みを
行うので、ICカードの抜き差しの必要がなくなる。。
以上のよう(にの発明に係るウェーハカセットではIC
カードを一体に組込み、このICカードに書き込み、読
出し端子を設け、任意に所要データの書込み、読出しが
できるようにしたので、これによってロット番号の確認
、工程管理が可能で、工(、’J−)”(7)交換は不
必要で効率がよいのみでなく、ICカードの抜き差しに
よる発塵などの問題も回避できる。
カードを一体に組込み、このICカードに書き込み、読
出し端子を設け、任意に所要データの書込み、読出しが
できるようにしたので、これによってロット番号の確認
、工程管理が可能で、工(、’J−)”(7)交換は不
必要で効率がよいのみでなく、ICカードの抜き差しに
よる発塵などの問題も回避できる。
図はこの発明の一実施例の構成を示す斜視図である。
図+/cおいて、(1)はウェーハカセット、(2)は
工Cカード、(3)は読出し端子、(4)は書込み端子
、(5)は表示部である。
工Cカード、(3)は読出し端子、(4)は書込み端子
、(5)は表示部である。
Claims (3)
- (1)半導体装置の製造工程で用いられ半導体ウェーハ
を収容するものにおいて、上記製造工程に必要なデータ
を記録できるICカードを一体にモールドしたことを特
徴とするウェーハカセット。 - (2)ICカードには所望のデータを表示できる表示部
を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
ウェーハカセット。 - (3)ICカードにはデータの書込み端子及び読出し端
子を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第1項また
は第2項記載のウェーハカセット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60263511A JPS62123735A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | ウエ−ハカセツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60263511A JPS62123735A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | ウエ−ハカセツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62123735A true JPS62123735A (ja) | 1987-06-05 |
Family
ID=17390543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60263511A Pending JPS62123735A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | ウエ−ハカセツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62123735A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01125949A (ja) * | 1987-11-11 | 1989-05-18 | Tokyo Electron Ltd | 検査方法 |
| JPH0295245U (ja) * | 1989-01-17 | 1990-07-30 | ||
| JPH03173454A (ja) * | 1989-12-02 | 1991-07-26 | Dainichi Shoji Kk | 基板収納用容器及びその容器の成形法 |
| JPH0379436U (ja) * | 1989-12-01 | 1991-08-13 | ||
| JPH03116041U (ja) * | 1990-03-14 | 1991-12-02 | ||
| US5399531A (en) * | 1990-12-17 | 1995-03-21 | United Micrpelectronics Corporation | Single semiconductor wafer transfer method and plural processing station manufacturing system |
| US5651798A (en) * | 1994-05-23 | 1997-07-29 | Advanced Micro Devices, Inc. | Workpiece monitoring process using a workpiece carrier having an identification code |
| WO2011055781A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | 株式会社ニコン | 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法 |
| JP2011098809A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Nikon Corp | 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法 |
| JP2011098808A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Nikon Corp | 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法 |
-
1985
- 1985-11-22 JP JP60263511A patent/JPS62123735A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01125949A (ja) * | 1987-11-11 | 1989-05-18 | Tokyo Electron Ltd | 検査方法 |
| JPH0295245U (ja) * | 1989-01-17 | 1990-07-30 | ||
| JPH0379436U (ja) * | 1989-12-01 | 1991-08-13 | ||
| JPH03173454A (ja) * | 1989-12-02 | 1991-07-26 | Dainichi Shoji Kk | 基板収納用容器及びその容器の成形法 |
| JPH03116041U (ja) * | 1990-03-14 | 1991-12-02 | ||
| US5399531A (en) * | 1990-12-17 | 1995-03-21 | United Micrpelectronics Corporation | Single semiconductor wafer transfer method and plural processing station manufacturing system |
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| WO2011055781A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | 株式会社ニコン | 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法 |
| JP2011098809A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Nikon Corp | 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法 |
| JP2011098808A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Nikon Corp | 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法 |
| CN102574659B (zh) * | 2009-11-05 | 2016-02-24 | 株式会社尼康 | 基板筒、基板处理装置、基板处理系统、基板处理方法、控制装置及显示元件的制造方法 |
| US9379339B2 (en) | 2009-11-05 | 2016-06-28 | Nikon Corporation | Substrate cartridge, substrate-processing apparatus, substrate-processing system, substrate-processing method, control apparatus, and method of manufacturing display element |
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