JPS6187369A - 電荷結合装置の駆動回路 - Google Patents
電荷結合装置の駆動回路Info
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- JPS6187369A JPS6187369A JP20817184A JP20817184A JPS6187369A JP S6187369 A JPS6187369 A JP S6187369A JP 20817184 A JP20817184 A JP 20817184A JP 20817184 A JP20817184 A JP 20817184A JP S6187369 A JPS6187369 A JP S6187369A
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- coupled device
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- potential
- charge coupled
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は低電圧駆動に適した電荷結合装置の駆動回路に
関する。
関する。
従来の電荷結合装置は低電圧駆動が困難であった。以下
、そのことについて図面を用いて詳して説明する。
、そのことについて図面を用いて詳して説明する。
第2図(α)は従来における電荷結合素子の縦方向断面
と駆動回路とを示す模式図、第5図は電荷結合素子の駆
動パルス波形を示す波形図、第2図(b)、 (c)、
(d)、 (g)はそれぞれ第5図に示す時刻t、+
t2 + ’3 p t4における電荷結合素子の内
部電位図である。尚、第2図(α)に示す従来例は、2
相構造、2相駆動の例である。
と駆動回路とを示す模式図、第5図は電荷結合素子の駆
動パルス波形を示す波形図、第2図(b)、 (c)、
(d)、 (g)はそれぞれ第5図に示す時刻t、+
t2 + ’3 p t4における電荷結合素子の内
部電位図である。尚、第2図(α)に示す従来例は、2
相構造、2相駆動の例である。
第2図(α)において、1はP型基板、2はNu埋め込
みチャンネル、5は電荷逆流防止用電位障壁形成のため
のP型不純物理め込み層、4は出力浮遊拡散層、5は出
力リセット用ドレイン拡散層、6は入力拡散層、7は入
力サンプリングゲート、8は入力用基準ゲート、9α〜
15αは ・それぞれ転送ゲート、9h〜15bは
それぞれ蓄積ゲート、16は出力ゲート、17はリセッ
トゲート、18は入力信号源、19は入力バイアス用定
電圧源、20 、21はそれぞれ定電圧源、22はクロ
ック入力端子、25はパルスタイミング発生回路、24
〜27はそれぞれゲート駆動素子、28はサンプルホー
ルド回路、VDDは電源電圧、である。また、ゲート駆
動素子24〜27の各出カッくルス波形はそれぞれ第5
図に示す駆動ノくルス波形p、 l p21 pS、1
島である。尚、第3図に示す各ノくルス波形のLつレベ
ルは接地電位となっている。
みチャンネル、5は電荷逆流防止用電位障壁形成のため
のP型不純物理め込み層、4は出力浮遊拡散層、5は出
力リセット用ドレイン拡散層、6は入力拡散層、7は入
力サンプリングゲート、8は入力用基準ゲート、9α〜
15αは ・それぞれ転送ゲート、9h〜15bは
それぞれ蓄積ゲート、16は出力ゲート、17はリセッ
トゲート、18は入力信号源、19は入力バイアス用定
電圧源、20 、21はそれぞれ定電圧源、22はクロ
ック入力端子、25はパルスタイミング発生回路、24
〜27はそれぞれゲート駆動素子、28はサンプルホー
ルド回路、VDDは電源電圧、である。また、ゲート駆
動素子24〜27の各出カッくルス波形はそれぞれ第5
図に示す駆動ノくルス波形p、 l p21 pS、1
島である。尚、第3図に示す各ノくルス波形のLつレベ
ルは接地電位となっている。
では、第2図、第5図を用いて電荷結合装置の動作を説
明する。
明する。
第5図に示す様に、時刻1=1.において、サンプリン
グパルスPsがHiyhのため、第2図(α)に示す入
力拡散層6と入力基準ゲート8下のチャンネルは導通し
、ゲート8下の電位の井戸は、第2図(b)に示す様に
、入力拡散層6の電位VINまで、電荷(この場合は電
子)で満たされる。
グパルスPsがHiyhのため、第2図(α)に示す入
力拡散層6と入力基準ゲート8下のチャンネルは導通し
、ゲート8下の電位の井戸は、第2図(b)に示す様に
、入力拡散層6の電位VINまで、電荷(この場合は電
子)で満たされる。
又、電荷転送部では、最も電位の高い蓄積ゲー) IQ
b、 12A 、 14.6下にそれぞれ電荷が転送蓄
積される。又、出力部では、出力浮遊拡散層4に供給さ
れた電荷が接合容量で電圧に変換される。
b、 12A 、 14.6下にそれぞれ電荷が転送蓄
積される。又、出力部では、出力浮遊拡散層4に供給さ
れた電荷が接合容量で電圧に変換される。
次に時刻1=12について説明する。時刻t=t2では
、第5図(ロ)に示す様に、サンプリングパルスPsが
LOWとなるので、第2図(α)に示すサンプリングゲ
ート7下の電位が低くなって、入力拡散層6と基準ゲー
トB下のチャンネルは第2図(c)に示す様に非導通と
なり、基準ゲート8下に電荷かたくわえられる。ここで
、電荷の存在しない時のゲート8下の電位をφj”tf
r空乏層容量をCとすると、たくわえられた電荷Qは
C(φrgf −VIN )と表わせ、入力拡散層6の
電位VINに比例する。又、転送部では、第5図(ロ)
に示す様に駆動パルスP2がり。Wのため、電位の低い
状態に電荷は存在し、第2図(C)に示す如くになる。
、第5図(ロ)に示す様に、サンプリングパルスPsが
LOWとなるので、第2図(α)に示すサンプリングゲ
ート7下の電位が低くなって、入力拡散層6と基準ゲー
トB下のチャンネルは第2図(c)に示す様に非導通と
なり、基準ゲート8下に電荷かたくわえられる。ここで
、電荷の存在しない時のゲート8下の電位をφj”tf
r空乏層容量をCとすると、たくわえられた電荷Qは
C(φrgf −VIN )と表わせ、入力拡散層6の
電位VINに比例する。又、転送部では、第5図(ロ)
に示す様に駆動パルスP2がり。Wのため、電位の低い
状態に電荷は存在し、第2図(C)に示す如くになる。
次に時刻1=1.の状態について説明する。時刻1=1
.では、第5図(イ)に示す様に、駆動パルスP)がH
すhになるため、ゲート9,11.見、15下の電位は
高くなり、ゲー)、 B 、 10b 、 12.1!
l 。
.では、第5図(イ)に示す様に、駆動パルスP)がH
すhになるため、ゲート9,11.見、15下の電位は
高くなり、ゲー)、 B 、 10b 、 12.1!
l 。
14b下に存在していた電荷は、第2図(d)に示す様
にそれぞれゲー)9b、 11b 、 15b 、 1
sb下へ転送される。又、出力部では、第5図(ハ)に
示す様にリセットパルスPRがHi 、phのため、出
力浮遊拡散層4とドレイン拡散層5が導通し、出力浮遊
拡散層4の電位は、ドレイン拡散層5の電位、すなわち
電源電圧VDDにリセットされる。
にそれぞれゲー)9b、 11b 、 15b 、 1
sb下へ転送される。又、出力部では、第5図(ハ)に
示す様にリセットパルスPRがHi 、phのため、出
力浮遊拡散層4とドレイン拡散層5が導通し、出力浮遊
拡散層4の電位は、ドレイン拡散層5の電位、すなわち
電源電圧VDDにリセットされる。
次に時刻1=1.について述べる。時刻1=14では、
駆動パルスP1が第5図(イ)K示す様にLOWになる
ので、転送部では、ゲー)9,11,15゜下の電位が
低くなり、電荷は第2図(#)に示す様に電位の低い状
態に存在することになる。又、出力部では、第5図(ハ
)に示す様に、リセットパルスPRもLow Kなりて
いるので、出力浮遊拡散層4はリセ・ソトドレイン拡散
層5と切り離されている。さらに、又、ゲート15下の
電位も低くなるので、ゲート15下に存在していた電荷
は、出力浮遊拡散層4に転送され、ここで、接合容量で
電圧として取り出される。以下、同様にして、第2図(
b) 、 (C) 、 (d) 、 (g)に示した動
作がくり返される。
駆動パルスP1が第5図(イ)K示す様にLOWになる
ので、転送部では、ゲー)9,11,15゜下の電位が
低くなり、電荷は第2図(#)に示す様に電位の低い状
態に存在することになる。又、出力部では、第5図(ハ
)に示す様に、リセットパルスPRもLow Kなりて
いるので、出力浮遊拡散層4はリセ・ソトドレイン拡散
層5と切り離されている。さらに、又、ゲート15下の
電位も低くなるので、ゲート15下に存在していた電荷
は、出力浮遊拡散層4に転送され、ここで、接合容量で
電圧として取り出される。以下、同様にして、第2図(
b) 、 (C) 、 (d) 、 (g)に示した動
作がくり返される。
さて、次に、電源電圧VDDの下限について考えてみる
。
。
今、駆動パルスP1がLowレベル(即ち、接地電位)
の時の蓄積ゲー) 15.6下の電位をl1lso 。
の時の蓄積ゲー) 15.6下の電位をl1lso 。
出力電圧のダイナミックレンジを−DRl ’FL荷を
転送するための最低電位勾配な−Eとすると(第2図C
h)参照)、電源電圧VDDは下式を満足する必要があ
る。
転送するための最低電位勾配な−Eとすると(第2図C
h)参照)、電源電圧VDDは下式を満足する必要があ
る。
VDD≧φso+φE + 16DR・・・・・・・・
・・・・(1)したがって、一定の出力電圧のダイナミ
ックレンジ−〇Rと、周波数特性とを確保して、かつ電
源電圧VDDを下げるためには、式(1)におけるφS
Oを小さくする必要がある。しかし、φSOが小さくな
ると転送効率が劣化するという問題がある。
・・・・(1)したがって、一定の出力電圧のダイナミ
ックレンジ−〇Rと、周波数特性とを確保して、かつ電
源電圧VDDを下げるためには、式(1)におけるφS
Oを小さくする必要がある。しかし、φSOが小さくな
ると転送効率が劣化するという問題がある。
すなわち、駆動パルスP1. P2が共にLowレベル
の時(第2図(C)参照)における電荷の存在する井戸
の電位φQが、ある値より小さくなると、転送効率が劣
化するからである。原因としては、トラップによる電荷
の捕獲が考えられる。一つの蓄積ゲート下の井戸におけ
るトラップの影響は小さいが、転送段数が多くなると、
周波数特性の劣化や波形歪となって現われる。実験によ
ると、16Qの下限は4V程度であるため、転送電荷に
よる電圧ドロヴブ分を考慮するとφSOは6V程度とな
る。又、−Eは実験によると1V程度なので、出力ダイ
ナミックレンジφDRを2Vとるためには電源電圧VD
Dの下限は9vとなり、これ以下にするのは困難である
。
の時(第2図(C)参照)における電荷の存在する井戸
の電位φQが、ある値より小さくなると、転送効率が劣
化するからである。原因としては、トラップによる電荷
の捕獲が考えられる。一つの蓄積ゲート下の井戸におけ
るトラップの影響は小さいが、転送段数が多くなると、
周波数特性の劣化や波形歪となって現われる。実験によ
ると、16Qの下限は4V程度であるため、転送電荷に
よる電圧ドロヴブ分を考慮するとφSOは6V程度とな
る。又、−Eは実験によると1V程度なので、出力ダイ
ナミックレンジφDRを2Vとるためには電源電圧VD
Dの下限は9vとなり、これ以下にするのは困難である
。
この様K、従来においては、電荷結合装置の低電圧駆動
が困難であるという欠点があった。
が困難であるという欠点があった。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除去し、電
荷結合装置の低電圧駆動が可能となる電荷結合装置の駆
動回路を提供することにある。
荷結合装置の低電圧駆動が可能となる電荷結合装置の駆
動回路を提供することにある。
本発明では、転送部を駆動する駆動パルスのLowレベ
ルを高くし、16soの小さい電荷結合素子でもトラッ
プの影響を受けないようにし、又、出力ゲー)K隣接す
るゲートに印加される駆動パルスのLowレベルは従来
通り接地電位とすることにより、φSOの小さい電荷結
合素子を用いて、電源電圧の低電圧化をはかる様にした
。尚、転送部を駆動する駆動パルスのLowレベルを高
くする1手段として、ゲート駆動素子をダイオードを介
して接地する様にした。
ルを高くし、16soの小さい電荷結合素子でもトラッ
プの影響を受けないようにし、又、出力ゲー)K隣接す
るゲートに印加される駆動パルスのLowレベルは従来
通り接地電位とすることにより、φSOの小さい電荷結
合素子を用いて、電源電圧の低電圧化をはかる様にした
。尚、転送部を駆動する駆動パルスのLowレベルを高
くする1手段として、ゲート駆動素子をダイオードを介
して接地する様にした。
第1図(α)は本発明の一実施例を示す模式図である。
第1図(α)において第2図(α)と同一符号のものは
同一機能を有するものとする。本実施例における第2図
(α)との相違点は、転送部のゲート駆動素子24と2
5の低電圧側端子をダイオード51゜52を介して接地
し、出力ゲート16に隣接するゲート15α、15bを
駆動する駆動素子50を独立させている点である。尚、
抵抗55は、ダイオード51.52Ki干17)Ill
−ML、常時2 Vng (VBE:ダイオードの順方
向電圧)の電圧を発生させ駆動素子24 、25の仮想
接地電位の安定化をはかるものである。コンデンサ54
は平滑用コンデンサである。又、第4図は本発明におけ
る電荷結合素子の駆動パルス波形を示す波形図であり、
パルス波形p、 l p21 ps l PRl pu
sはそれぞれ第1図(α)に示す駆動素子24〜27、
および50の出力パルス波形である。
同一機能を有するものとする。本実施例における第2図
(α)との相違点は、転送部のゲート駆動素子24と2
5の低電圧側端子をダイオード51゜52を介して接地
し、出力ゲート16に隣接するゲート15α、15bを
駆動する駆動素子50を独立させている点である。尚、
抵抗55は、ダイオード51.52Ki干17)Ill
−ML、常時2 Vng (VBE:ダイオードの順方
向電圧)の電圧を発生させ駆動素子24 、25の仮想
接地電位の安定化をはかるものである。コンデンサ54
は平滑用コンデンサである。又、第4図は本発明におけ
る電荷結合素子の駆動パルス波形を示す波形図であり、
パルス波形p、 l p21 ps l PRl pu
sはそれぞれ第1図(α)に示す駆動素子24〜27、
および50の出力パルス波形である。
さらに、又、第1図(hl〜(11はそれぞれ第4図に
示す時刻t1〜t4における電荷結合素子の内部電位図
である。
示す時刻t1〜t4における電荷結合素子の内部電位図
である。
尚、本実施例における動作原理は従来と同様なので説明
は省略する。
は省略する。
本実施例では、転送部のゲート駆動素子24゜250低
電圧側端子をダイオード51 、52を介して接地する
ことにより、第4図(イ)、(ロ)に示す様に、ゲート
駆動素子24 、25の各出力パルスP、 、 P2の
Lowレベルを接地電位より2 VBE高くするととも
に、出力ゲート16に隣接するゲート15α、15hを
駆動する駆動素子50を独立させることにより、第4図
(イ)に示す様にゲート15α、 15bに印加される
駆動パルス(駆動素子50の出力パルス)P、5のLo
wレベルを従来例と同様接地電位となるようにしている
。
電圧側端子をダイオード51 、52を介して接地する
ことにより、第4図(イ)、(ロ)に示す様に、ゲート
駆動素子24 、25の各出力パルスP、 、 P2の
Lowレベルを接地電位より2 VBE高くするととも
に、出力ゲート16に隣接するゲート15α、15hを
駆動する駆動素子50を独立させることにより、第4図
(イ)に示す様にゲート15α、 15bに印加される
駆動パルス(駆動素子50の出力パルス)P、5のLo
wレベルを従来例と同様接地電位となるようにしている
。
以上の様にすることにより、第1図(b) 、 (C1
に示す様に、従来よりもφSOの値が小さくなるよう構
成した電荷結合素子を用いても、従来と同等のφQを得
ることができ、トラップの影響を受けないようにするこ
とができる。
に示す様に、従来よりもφSOの値が小さくなるよう構
成した電荷結合素子を用いても、従来と同等のφQを得
ることができ、トラップの影響を受けないようにするこ
とができる。
又、この様にφSOが小さくなったことにより、電源電
圧VDDが同じであるなら、本実施例の方が従来圧比べ
出力におけるダイナミックレンジφDRを大きくとるこ
とができる。このことは同等のダイナミックレンジφD
Rであるなら、電源電圧VDDをその分下げられること
を意味する。
圧VDDが同じであるなら、本実施例の方が従来圧比べ
出力におけるダイナミックレンジφDRを大きくとるこ
とができる。このことは同等のダイナミックレンジφD
Rであるなら、電源電圧VDDをその分下げられること
を意味する。
実際の値としては、駆動パルスPL、P2のLowレベ
ル持ち上げ電圧の8割程度が得られる。第1図(α)に
示すダイオード2個分の場合には1■程度の余裕が得ら
れる。
ル持ち上げ電圧の8割程度が得られる。第1図(α)に
示すダイオード2個分の場合には1■程度の余裕が得ら
れる。
ここで、本実施例において、転送ノ(ルス(駆動パルス
p4. p2の振幅値の減小による転送効率の劣化と、
ゲー) 15(Z 、 15A下に電荷が存在する場合
のトラップの影響について考えておく必要がある。
p4. p2の振幅値の減小による転送効率の劣化と、
ゲー) 15(Z 、 15A下に電荷が存在する場合
のトラップの影響について考えておく必要がある。
転送パルスのレベルに関しては、クロック周波数1oへ
4Hz、すなわち通過帯域4■h程度のjil、パルス
レベルs Vppで実績がある。又、ゲート15α、1
5h下のトラップの影響に関しては、井戸−ケ所分なの
で影響を受けても特性の劣化はほとんどない。
4Hz、すなわち通過帯域4■h程度のjil、パルス
レベルs Vppで実績がある。又、ゲート15α、1
5h下のトラップの影響に関しては、井戸−ケ所分なの
で影響を受けても特性の劣化はほとんどない。
では、次に、本実施例においズ、どの程度まで電源電圧
VDDを下げることができるかを検討してみる。
VDDを下げることができるかを検討してみる。
今、転送パルスレベルの最小値を5■PP、ゲート電圧
(ゲートに印加される電圧)の変化に対する内部電位の
変化の割合を0.8.)ラップの影響を受ける電位なP
TRP を転送部における転送可1荷の電圧変化分をΔ
φQ、とすると、転送部でトラップの影響を受けない条
件は φTRP <φSo + (VDD −5)−0,8−
ΔφQ ・(2)である。又、出力部におけるダイナミ
ックレンジの関係は前述した(1)式で示される。
(ゲートに印加される電圧)の変化に対する内部電位の
変化の割合を0.8.)ラップの影響を受ける電位なP
TRP を転送部における転送可1荷の電圧変化分をΔ
φQ、とすると、転送部でトラップの影響を受けない条
件は φTRP <φSo + (VDD −5)−0,8−
ΔφQ ・(2)である。又、出力部におけるダイナミ
ックレンジの関係は前述した(1)式で示される。
ココテ、16TRP =4 V l Δl’Q =2
V y −Z ” 1■、φDR: 2 Vとすると
、従来例では、前述した如く、電源電圧VDDは9■で
あるのに対し、本発明では(1) 、 (2)式より7
.2Vとなり、約2■の低電圧化が可能となる。また、
転送パルスレベルを5 vppよりさらに下げることに
より、さらに消費電力の低減が可能になる。
V y −Z ” 1■、φDR: 2 Vとすると
、従来例では、前述した如く、電源電圧VDDは9■で
あるのに対し、本発明では(1) 、 (2)式より7
.2Vとなり、約2■の低電圧化が可能となる。また、
転送パルスレベルを5 vppよりさらに下げることに
より、さらに消費電力の低減が可能になる。
尚、本実施例では、ダイオードでゲタ電圧をはがせたが
、インピーダンスが低ければどのようなものでもよい。
、インピーダンスが低ければどのようなものでもよい。
また、ダイオードの場合その個数も、特性との関係で任
意であるのは言うまでもない。
意であるのは言うまでもない。
次に、第5図は第1図(α)に示す実施例を集積化した
場合の具体例を示す構成図である。
場合の具体例を示す構成図である。
第5図において、第1図(α)と同一機能を有するもの
は同一符号を付しである。その他、54゜55はそれぞ
れ集積回路(IC)の外部端子、56は電荷結合素子(
CCD)、である。尚、説明の都合上、不要な部分につ
いては省略しである。
は同一符号を付しである。その他、54゜55はそれぞ
れ集積回路(IC)の外部端子、56は電荷結合素子(
CCD)、である。尚、説明の都合上、不要な部分につ
いては省略しである。
第5図に示す様に、外部端子54は、仮想接地電位の端
子でダイオード51 、50を介して接地されている。
子でダイオード51 、50を介して接地されている。
又、外部端子55は、集積回路全体の接地端子である。
尚、第1図(α)に示す抵抗55は集積回路内素子で簡
単に構成できる。またICの外部端子54 、55はプ
リント基板のライン抵抗の低減のため、隣接ピンとする
のが望ましい。
単に構成できる。またICの外部端子54 、55はプ
リント基板のライン抵抗の低減のため、隣接ピンとする
のが望ましい。
また、第5図に示すダイオード50 、51はIC内に
集積することも可能である。その例を第6図に示す。
集積することも可能である。その例を第6図に示す。
第6図は第5図のダイオードを集積した場合の具体例を
示す構成図である。
示す構成図である。
第6図において、57はN−VbLL層でPMO8FE
Tを製造する際のN−Wat層と同一のものである。5
8はPfi拡散層でPM08F’ETのドレインおよび
ソース領域を形成する工程と同一の工程できる。すなわ
ち、57と58とでダイオードを構成できる。第6図の
例では、N −Wgtt層とP散拡散層とで構成したが
、プロセス工程の変更で他のダイオードで構成してもよ
い。
Tを製造する際のN−Wat層と同一のものである。5
8はPfi拡散層でPM08F’ETのドレインおよび
ソース領域を形成する工程と同一の工程できる。すなわ
ち、57と58とでダイオードを構成できる。第6図の
例では、N −Wgtt層とP散拡散層とで構成したが
、プロセス工程の変更で他のダイオードで構成してもよ
い。
本発明によれば、ll’soの小さい電荷結合素子でも
トラップの影響を受けないようにすることができるので
、電源電圧を約2■低下させることができ、電荷結合装
置の低電圧駆動が可能となるという効果がある。
トラップの影響を受けないようにすることができるので
、電源電圧を約2■低下させることができ、電荷結合装
置の低電圧駆動が可能となるという効果がある。
第1図(α)は本発明の一実施例を示す模式図、同図(
5)乃至(t)はそれぞれ同図(α)の電荷結合素子の
所定時刻における内部電位図、第2図(α)は従来にお
ける電荷結合素子の縦方向断面と駆動回路とを示す模式
図、同図(h)乃至(g)はそれぞれ同(α)の電荷結
合素子の所定時刻における内部TL位図、第3図は第2
図(d)の電荷結合素子の駆動パルス波形を示す波形図
、第4図は第1図(cL)の電荷結合素子の駆動パルス
波形を示す波形図、第5図は第1図(α)の実施例を集
積化した場合の具体例を示す構成図、第6図は第5図の
ダイオードを集積化した場合の具体例を示す構成図、で
ある。 24〜27 、50・・・ゲート駆動素子、51.52
・・・ダイオード、見・・・抵抗、54・・・コンデン
サ。 梢 1 乙 第 2 口 6
ゝ1吊 3 口 第4図 1+ 亡2 τ3 τ4 第 ′5 口 第 6 図
5)乃至(t)はそれぞれ同図(α)の電荷結合素子の
所定時刻における内部電位図、第2図(α)は従来にお
ける電荷結合素子の縦方向断面と駆動回路とを示す模式
図、同図(h)乃至(g)はそれぞれ同(α)の電荷結
合素子の所定時刻における内部TL位図、第3図は第2
図(d)の電荷結合素子の駆動パルス波形を示す波形図
、第4図は第1図(cL)の電荷結合素子の駆動パルス
波形を示す波形図、第5図は第1図(α)の実施例を集
積化した場合の具体例を示す構成図、第6図は第5図の
ダイオードを集積化した場合の具体例を示す構成図、で
ある。 24〜27 、50・・・ゲート駆動素子、51.52
・・・ダイオード、見・・・抵抗、54・・・コンデン
サ。 梢 1 乙 第 2 口 6
ゝ1吊 3 口 第4図 1+ 亡2 τ3 τ4 第 ′5 口 第 6 図
Claims (1)
- 1)電荷結合装置の電荷を転送、蓄積するためのゲート
に接続されて、該ゲートに駆動パルスを供給する駆動素
子を含み、該素子の低電圧側端子の電位が、前記電荷結
合装置の接地電位より高いことを特徴とする電荷結合装
置の駆動回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20817184A JPS6187369A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | 電荷結合装置の駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20817184A JPS6187369A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | 電荷結合装置の駆動回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6187369A true JPS6187369A (ja) | 1986-05-02 |
Family
ID=16551832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20817184A Pending JPS6187369A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | 電荷結合装置の駆動回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6187369A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH025474A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-01-10 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
-
1984
- 1984-10-05 JP JP20817184A patent/JPS6187369A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH025474A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-01-10 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
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