JPS6180840A - 光電子装置 - Google Patents

光電子装置

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Publication number
JPS6180840A
JPS6180840A JP59201753A JP20175384A JPS6180840A JP S6180840 A JPS6180840 A JP S6180840A JP 59201753 A JP59201753 A JP 59201753A JP 20175384 A JP20175384 A JP 20175384A JP S6180840 A JPS6180840 A JP S6180840A
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JP
Japan
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cap
semiconductor laser
glass plate
glass
glass sheet
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Pending
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JP59201753A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Hirashima
平嶋 賢治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS6180840A publication Critical patent/JPS6180840A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers

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  • Led Devices (AREA)
  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野] 本発明は光電子装置、たとえば、キャンプの窓を介して
レーザ光を外部に放出する半導体レーザ装置等の光電子
装置に関する。
〔背景技術〕
ディジタル・オーディオ・ディスク(DAD)、ビディ
オ・ディスク(VD)等の情報処理用の発光源あるいは
光通信用の発光源として、半導体レーザ装置が使用され
ている。
DADプレーヤの発光源となる半導体レーザ装置として
は、たとえば、日経マグロウヒル社発行「日経メカニカ
ルJ 1982年7月5日号、P68に記載されている
ように、GaAlAs系の材質で形成されたレーザチッ
プをガラス窓を有するキャップで被う構造が知られてい
る。
この半導体レーザ装置はレーザチップ(半導体レーザ素
子)の共振器端面の劣化防止、レーザ光をモニターする
受光素子のアルミニラJ、からなる配線層の酸化防止等
のために、キャンプとステムで形成される封止空間(パ
ンケージ空間)は窒素ガス等の不活性ガスによって置換
されるとともに、パッケージはハーメチックシール構造
となっている。また、前述のように、パンケージを形成
するキャンプの天井部には孔が設けられるとともに、こ
の孔は透明なガラス板で塞がれている。前記ガラス板は
その周縁部分が低融点ガラスによってキャンプの内面の
孔周縁に接合されている。
ところで、このような構造の半導体レーザ装置における
キャップにあっては、下記のような理由からガラス板の
接合部分の気密が損傷され易いということが本発明者に
よってあきらかとされた。
すなわち、ガラス板はキャンプ対応面周縁あるいはその
周面が低融点ガラスでキャップに接合されるが、ガラス
接合部分はその剥離方向の強度が低いため、前者の場合
にあっては、キャップの下部が掴まれた際発生する半径
方向の外力(衝撃)に対する強度は比較的大きいが、ガ
ラス仮に垂直に加わる外力(衝撃)に対する強度は低い
。また、後者の場合にあっては、前者とは逆にガラス板
に垂直に作用する外力に対して強度は比較的強いが、半
径方向の外力に対する強度は小さい。
このため、キャップの取扱時に接合部分にクラックが入
り易く、気密封止の信頬度が低くなり易い。
〔発明の目的〕
本発明の目的は衝撃等の外力に対する接合強度が高いキ
ャップを有する光電子装置を提供することにある。
本発明の他の目的は気密封止性が高い信頼性の高い光電
子装置を提供することにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明のキャン封止型の半導体レーザ装置は
、キャップの天井部に穿たれた孔を塞ぐガラス板は低融
点ガラスでキャップに固定されているが、このキャップ
のガラス板支持部の外周部分は弾力的に変形する応力吸
収部を形成しているため、キャンプに外力が加わった場
合、前記応力吸収部が外力を吸収し、キャップの接合部
分の破損を防止するため、気密封止状態が常に維持でき
、高信頬度が達成できるものである。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例による半扉体レーザ    
      1装置の断面図である。
この半導体レーザ装置はGaAlAs系の半導体レーザ
素子(レーザチップ)を組み込んだ可視光半導体レーザ
装置である。
この半導体レーザ装置は、矩形の銅製のステム −1の
主面(上面)の略中央部にfI製のヒートブロック2を
鑞材で固定した構造となっている。ヒートブロック2の
一側面にはサブマウント3を介して半導体レーザ素子(
レーザチップ)4が固定されている。このレーザチップ
4はその上下端からそれぞれレーザ光5を出射するよう
になっている。
なお、図示しないがレーザチップ4の出射面は劣化防止
のために保護1模が設けられている。上方に向かうレー
ザ光5はDADプレーヤ等の発光源として使用され、下
方に向かうレーザ光5は光強度の検出用に用いられる。
前記レーザ光5の光強度を検出するための検出素子(受
光素子)6は、前記ステム1の主面に固定されている。
なお、前記レーザチップ4および受光素子6はソルダー
によってそれぞれ固定されている。
一方、前記ステム1には3木のり−ド7が取付けられて
いる。2本のり−ド7はステムlを貫通しかつガラスの
ような絶縁体(図示せず)を介してステム1に固定され
ている。これらのり−ド7の上端はレーザチップ4ある
いは受光素子6の各電極にワイヤ8を介して電気的に固
定されている。
また、残りのリード7はステムlの裏面に機械的かつ電
気的に接続されている。
他方、前記ステム1の主面にはキャンプ9が溶接によっ
て気密的に取付けられている。前記キャップ9は中央が
高い鍔付きの輯子型となっているとともに、その天井部
分の中央には孔(窓)10が穿たれている。また、前記
キャップ9の内側には前記孔10を塞ぐように透明なガ
ラス板11が低融点ガラス12によって気密的に取付け
られている。このガラス仮11はキャンプ9の天井内壁
面に対応する面の周縁部分と、ガラス板11の周面部分
がそれぞれ低融点ガラス12によって固定されている。
また、前記キャンプ9の内側には孔10に沿ってガラス
板11を取付けるためのリング状のリング部13が設け
られている。したがって、ガラス板11の固定時、溶け
た低融点ガラス12はガラス板11の周面と前記リング
部13とによって形成された隙間全域に侵入し、ガラス
板11を気密的にキャンプ9に固定する。
さらに、前記キャップ9の天井部にあって、キャップ9
の上部外周部と前記リング部13との間は数mmの長さ
となり、弾力的に変形する応力吸収部14となっている
なお、前記キャップ9は薄い金属板の絞り成型によって
形成され、その天井部内側にはリング部13が鑞材等を
介して取付けられる。
つぎに、このような半導体レーザ装置の組立方法につい
て簡単に説明する。
半導体レーザ装置の組立にあっては、最初にヒートフロ
ック2が取付けられたステムlが用意すれる。その後、
ヒートブロック2の側面にはレーザチップ4がナブマウ
ント3を介して固定されるとともに、ステム1の主面に
は受光素子6が固定される。
つぎに〜前記レーザチップ4および受光素子6の図示し
ない電極とリード7の上部とがワイヤ8によって電気的
に接続される。
一方、別の場所で組立られたキャンプ9が用意される。
この;1−やノブ9は絞り成型後の取付は作業によって
リング部13が取付けられているとともに、前記リング
部13の内側のキャップ9の天井部分にはガラス板11
が低融点ガラス12によって気密的に取付けられている
そこで、前記ステムlの主面に固定されたレーザチップ
4.受光素子6等を被うようにしてギャップ9がステム
1の主面に重ね合わされ、溶接が行われることによって
キャンプ9はステムlに気密的に固定される。
このような半導体レーザ装置は、キャップ9やガラス板
11に外力(その外力は通常半導体レーザ装置あるいは
キャップ9を取り扱う際に加わる程度の外力あるいはそ
れよりもやや大きな力であって、故意に加える大きな力
はこの外力の範略に入、4い、)ヵ4加ゎ9.も、。0
外カを吸収オお          1応力吸収部14
が前記キャップ9におけるガラス板11の支持部の外側
に設けられているため、低融点ガラス12部分(接合部
分)にクラックが発生したり、あるいはガラス板11が
キャップ9から脱落したりすることがなくなる。
〔効果〕
(1)本発明の半導体レーザ装置におけるキャンプ9に
あっては、孔lOを塞ぐガラス板11を支持する部分の
外側には、応力吸収部14が設けられていることから、
半導体レーザ装置自体は勿論のこと、その製造時にあっ
ても、キャップ9に外力が加わっても、その外力によっ
てガラス板11がキャンプ9から外れたり、あるいはガ
ラス板11をキャップ9に気密的に取付ける低融点ガラ
ス12内にクラックが入らない。この結果、半導体レー
ザ装置の製造歩留りが向上するという効果が得られる。
(2)上記(11から、本発明によれば、半導体レーザ
装置の製造における歩留りが向上するため、コストが軽
減できるという効果が得られる。
(3)上記(2)から、本発明によれば、半ぷ体レーザ
装置における気密性が向上するため、キャップに被われ
たレーザチップや受光素子の劣化が生じ難(なり、信頼
度が高くなるという効果が得られる。
(4)上記(1)〜(3)により、本発明によれば衝撃
に強く、かつ信頼度の高い半導体レーザ装置を安価に提
供することができるという相乗効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない、たとえば、第2図および
第3図で示されるように、低融点ガラス12が付着する
リング部13は、キャンプ9の絞り成型時に成型によっ
て同時に形成すれば、キャンプ9の製造コストが安価と
なるとともに、応力吸収部14は薄くかつ凸状あるいは
凹状に曲がって成型されていることから応力吸収作用が
さらに向上するという効果が得られるシまた、前記第2
図で示される半導体レーザ装置はガラス板11はキャッ
プ9の外面に取付けられ、前記第3図で示される半導体
レーザ装置はガラス板11はキャップ9の内面に取付け
られている例を示すものである。また、これらの実施例
では、ガラス板11はその周面でのみキャップ9に低融
点ガラス12を介して取付られ、ガラス板11の一平坦
面は直接キャップ9の平坦な取付面に固定されているた
め、ガラス板11のキャップ9に対する位置精度、換言
するならば、レーザチップ4およびステム1に対する位
置精度(寸法精度)が高くなり、半導体レーザ装置の取
付は時にガラス板11の外面を基準としても高い精度で
取付けることができるという効果が得られる。
〔利用分野〕
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるGaAlAs系の半
導体レーザ素子を組み込んだ可視光半導体レーザ装置の
製造技術に適用した場合について説明したが、それに限
定されるものではな(、たとえば、InGaAsP系の
半導体レーザ素子を組み込んだ長波長半導体レーザ装置
の製造技術、あるいは発光ダイオードや受光素子を組み
込んだ同様な構造の光電子装置の製造技術などに適用で
きる。
本発明は少なくとも光の授受が行われるガラス板を取付
けた窓を有する製品には適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による半導体レーザ装置の断
面図、 第2図は本発明の他の実施例による半導体レーザ装置の
断面図、 第3図は本発明の他の実施例による半導体レーザ装置の
断面図である。 1・・・ステム、2・・・ヒートブロック、3・・・サ
ブマウント、4・・・レーザチップ、5・・・レーザ光
、6・・・受光素子、7・・・リード、8・・・ワイヤ
、9・・・キャップ、10鵞 ・・・孔、11・・・ガラス板、12・・・低融点ガラ
ス、13・・・リング部、14・・・応力吸収部。 第   1  図 第  2  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、キャップと、このキャップの天井部分に穿たれた孔
    を低融点ガラスによって気密的に塞ぐ透明なガラス板と
    、を有する光電子装置であって、前記ガラス板を支持す
    るキャップの天井部円周には応力吸収部が設けられてい
    ることを特徴とする光電子装置。
JP59201753A 1984-09-28 1984-09-28 光電子装置 Pending JPS6180840A (ja)

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JP59201753A JPS6180840A (ja) 1984-09-28 1984-09-28 光電子装置

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JP59201753A JPS6180840A (ja) 1984-09-28 1984-09-28 光電子装置

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JPS6180840A true JPS6180840A (ja) 1986-04-24

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ID=16446362

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