JPS617723A - 入力回路 - Google Patents
入力回路Info
- Publication number
- JPS617723A JPS617723A JP59128743A JP12874384A JPS617723A JP S617723 A JPS617723 A JP S617723A JP 59128743 A JP59128743 A JP 59128743A JP 12874384 A JP12874384 A JP 12874384A JP S617723 A JPS617723 A JP S617723A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inverter
- channel
- transistor
- input circuit
- source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明はMO8構造の集積回路に係シ、特に高速動作
に適した入力回路に関する。
に適した入力回路に関する。
トランジスタロジックによるコンパチブル入力回路にお
いて、MO8構造のものは、電源電圧が5.OV、高レ
ベル入力電圧が2.5V以上、低レベル入力電圧がO,
S V以下程度の電気的特性が要求される。このため、
入力側の初段は、1.5V程度の回路スレッシュホール
ド電圧を設定しなければなら々い。従来の入力回路は、
第2図に示すように、インバータ11.12を2段直列
に設けている。この回路では、回路のスレッシュホール
ド電圧(1,5V)を得るのに、入力段では、Pチャン
ネルMO8)ランジスタとNチャンネルMO8)ランジ
スタの大きさ、つまJ&リシリコングート幅(W)に7
倍程度の比を持たせて実現している。
いて、MO8構造のものは、電源電圧が5.OV、高レ
ベル入力電圧が2.5V以上、低レベル入力電圧がO,
S V以下程度の電気的特性が要求される。このため、
入力側の初段は、1.5V程度の回路スレッシュホール
ド電圧を設定しなければなら々い。従来の入力回路は、
第2図に示すように、インバータ11.12を2段直列
に設けている。この回路では、回路のスレッシュホール
ド電圧(1,5V)を得るのに、入力段では、Pチャン
ネルMO8)ランジスタとNチャンネルMO8)ランジ
スタの大きさ、つまJ&リシリコングート幅(W)に7
倍程度の比を持たせて実現している。
今、第2図のコンパチブル入力回路において、1段目の
インバータ11を構成するPチャンネルMO8トランジ
スタのディメンシロン(ポリシリコンゲート幅対ポリシ
リコンゲート長XW/L)を80/4、NチャンネルM
OSトランジスタのディメンシロン(W/’I、)を5
60/3.2.2段目のインバータ12を構成するPチ
ャンネルMO8)ランジスタのディメンシロン(W/1
.)を800/4、NチヤンネルMO3,)ランジスタ
のディメンジョンを180/3.2とする。
インバータ11を構成するPチャンネルMO8トランジ
スタのディメンシロン(ポリシリコンゲート幅対ポリシ
リコンゲート長XW/L)を80/4、NチャンネルM
OSトランジスタのディメンシロン(W/’I、)を5
60/3.2.2段目のインバータ12を構成するPチ
ャンネルMO8)ランジスタのディメンシロン(W/1
.)を800/4、NチヤンネルMO3,)ランジスタ
のディメンジョンを180/3.2とする。
上記のディメンジョンにおいて、1段目のインバータ1
ノの動作速度を計算してみる。なお電源電圧は5Vとす
る。
ノの動作速度を計算してみる。なお電源電圧は5Vとす
る。
まず、2段目のインバータ12のダート容量、coを求
めておく。
めておく。
εox ’酸化膜の誘電率
W; トランジスタのポリシリコンダート幅L; トラ
ンジスタのIリシリコンダート長tox ;酸化膜の厚
さ 上記の式から =1.86[PF〕 次に、1段目のインバータIII/Cおけるトランジス
タのドレインの拡散容量CDハ、CD=(WxDw+2
・xj(W+Dw))・c。
ンジスタのIリシリコンダート長tox ;酸化膜の厚
さ 上記の式から =1.86[PF〕 次に、1段目のインバータIII/Cおけるトランジス
タのドレインの拡散容量CDハ、CD=(WxDw+2
・xj(W+Dw))・c。
Dw;コンタクトをとるためのドレイン幅xj;拡散の
深さ Co;単位面積浩りの容量 であられされる。
深さ Co;単位面積浩りの容量 であられされる。
P十チャンネルとNチャンネルサブストレート間(7)
容量C8は、2.5 V ハ(7ス時に0.67X10
’ 。
容量C8は、2.5 V ハ(7ス時に0.67X10
’ 。
rチャンネルとPチャンネルサブストレート間の容量C
8は2.5 Vバイアス時に1.51X 10−’程度
であるので、Pチャンネルドレインの拡散容量CDPは
、 CDP=(80X16+2X0.8(80+16)lX
0.67X10−’=010〔p゛F〕 一方Nチャンネルドレインの拡散容量C□は、CDN=
(280X22+2X0.8(280−+−22))X
l、51X10−’次にPチャンネルトランジスタのミ
ラー容量CMPは・ Nチャンネルトランジスタ0ミラー容・′jilcMN
は、 インバータ1ノの立ち上がシ時間(Tr)と立ち下がシ
時間(Tf)は、 RoN25×(co+cDP十cDN+cMP+cMN
)テ近似される。但し、RoN25は、ダートのフルバ
イアス状態で、ソース・ドレイン間電圧VD、=2.5
V時でのオン抵抗である。
8は2.5 Vバイアス時に1.51X 10−’程度
であるので、Pチャンネルドレインの拡散容量CDPは
、 CDP=(80X16+2X0.8(80+16)lX
0.67X10−’=010〔p゛F〕 一方Nチャンネルドレインの拡散容量C□は、CDN=
(280X22+2X0.8(280−+−22))X
l、51X10−’次にPチャンネルトランジスタのミ
ラー容量CMPは・ Nチャンネルトランジスタ0ミラー容・′jilcMN
は、 インバータ1ノの立ち上がシ時間(Tr)と立ち下がシ
時間(Tf)は、 RoN25×(co+cDP十cDN+cMP+cMN
)テ近似される。但し、RoN25は、ダートのフルバ
イアス状態で、ソース・ドレイン間電圧VD、=2.5
V時でのオン抵抗である。
トランジスタの飽和電流工は、
である。従って、PチャンネルトランジスタのRON2
・5は1 =1337[”Ω〕 NチャンネルトランジスタのR8N2.5 ハ、=30
9[Ω〕 である。
・5は1 =1337[”Ω〕 NチャンネルトランジスタのR8N2.5 ハ、=30
9[Ω〕 である。
これよシ、立ち上がシ時間Tは、
Tr=1337X(1,86+0.1+1.00+0.
03+0.1)XIO−12=4.1 [n5ecl 立ち上がシ時間Tfは、 T、=309X(1,86+0.1+1.OO+0.0
3+0.1 )Xi O”= 1.0 (nsec) となる。
03+0.1)XIO−12=4.1 [n5ecl 立ち上がシ時間Tfは、 T、=309X(1,86+0.1+1.OO+0.0
3+0.1 )Xi O”= 1.0 (nsec) となる。
上記した従来の回路では、1段目のインパータ11の立
ち上がシ時間と立ち下がシ時間とが異々る。この結果、
入力から出力までの立ち上がシ時の伝達時間tPLHと
、立ち下がシ時の伝達時間tPHLが異なることになる
。さらにまた、回路のスレッシュホールド電圧1.5v
を得るために、Nチャンネル、Pチャンネル各トランジ
スタのディメンジョンの比で実現している。この結果、
拡散容素とミラー容量が増加し、初段インバータの出力
に影響する容量全体の40チ近くしめており、高速動作
を得るのに支障となっている。
ち上がシ時間と立ち下がシ時間とが異々る。この結果、
入力から出力までの立ち上がシ時の伝達時間tPLHと
、立ち下がシ時の伝達時間tPHLが異なることになる
。さらにまた、回路のスレッシュホールド電圧1.5v
を得るために、Nチャンネル、Pチャンネル各トランジ
スタのディメンジョンの比で実現している。この結果、
拡散容素とミラー容量が増加し、初段インバータの出力
に影響する容量全体の40チ近くしめており、高速動作
を得るのに支障となっている。
〔発明の目的〕
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、高速動
作が得られる入力回路を提供することを目的とする。
作が得られる入力回路を提供することを目的とする。
この発明では、第1のインバータが、第1゜第2の電源
間にソース・ドレイン電流路を形成し、第2のインバー
タが第1のインバータの出力部と第2の電源間にソース
・ドレイン電流路を形成するものである。そして、第1
.第2のインバータのダート入力を共通の入力部とし、
第2のインバータの出力を次段の回路に供給するもので
ある。
間にソース・ドレイン電流路を形成し、第2のインバー
タが第1のインバータの出力部と第2の電源間にソース
・ドレイン電流路を形成するものである。そして、第1
.第2のインバータのダート入力を共通の入力部とし、
第2のインバータの出力を次段の回路に供給するもので
ある。
以下この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図はこの発明の一実施例であシ、入力は、第1のP
チャンネルMO8)ランジスタ21、第1のNチャンネ
ルMO8)ランジスタ22、第2のPチャンネルMO8
)ランジスタ23、第2のNチャンネルMO8)ランジ
スタ24の各ダートに共通に与えられる。
チャンネルMO8)ランジスタ21、第1のNチャンネ
ルMO8)ランジスタ22、第2のPチャンネルMO8
)ランジスタ23、第2のNチャンネルMO8)ランジ
スタ24の各ダートに共通に与えられる。
ここで、第1のPチャンネル及びNチャンネルMOSト
ランジスタ21.22は、第1の電源(正電源)20m
と第2の電源(接地電位)20m間にソース・ドレイン
電流路を形成し、第1のインバータ25を構成している
。次に第2のPチャンネル及びNチャンネルMO8)ラ
ンジスタ23.24は、第1のインバータ25の出力端
27と第2の電源間にソース・ドレイン電流路を形成し
、第2のインバータ26を構成している。そして、との
第2のインバータ27の出力が次段のインバータ28に
与えられる。
ランジスタ21.22は、第1の電源(正電源)20m
と第2の電源(接地電位)20m間にソース・ドレイン
電流路を形成し、第1のインバータ25を構成している
。次に第2のPチャンネル及びNチャンネルMO8)ラ
ンジスタ23.24は、第1のインバータ25の出力端
27と第2の電源間にソース・ドレイン電流路を形成し
、第2のインバータ26を構成している。そして、との
第2のインバータ27の出力が次段のインバータ28に
与えられる。
インバータ28の構造は、第2図のものと同じである。
この実施例によれば、第1のインバータ25は、第1.
第2の電源電圧間にソース・ドレイン電流路を直列接続
したPチャンネルMO8)ランジスタ21、Nチャンネ
ルMO8)ランシスタ22で構成されるが、第2のイン
バータ26は、第1のイ°ンバータ25の出力端と第2
の電源電圧間に、PチャンネルMO8トランジスタ23
とNチャンネルMO8)ランジスタ24で構成されてい
る。このため、第2のインバータ26は、低い電源電圧
で動作させられることになる。
第2の電源電圧間にソース・ドレイン電流路を直列接続
したPチャンネルMO8)ランジスタ21、Nチャンネ
ルMO8)ランシスタ22で構成されるが、第2のイン
バータ26は、第1のイ°ンバータ25の出力端と第2
の電源電圧間に、PチャンネルMO8トランジスタ23
とNチャンネルMO8)ランジスタ24で構成されてい
る。このため、第2のインバータ26は、低い電源電圧
で動作させられることになる。
次に上記の回路を解析するに、まず、従来のインバータ
において、その出力が2.5 V (電源電圧の約A)
になるときの入力電圧vinと、このときにインバータ
に流れる電流工を計算してみる。
において、その出力が2.5 V (電源電圧の約A)
になるときの入力電圧vinと、このときにインバータ
に流れる電流工を計算してみる。
(L P=L、、fNのとき)
ff
V :NチャンネルMO8)ランジスタのスhN
レッシュホールド電圧
v、hP;PチャンネルMO8)ランジスタのスレッシ
ュホールド電圧 vDD;電源電圧 μPDPチャンネル移動度 庫;Nチャンネル移動度 であるから =1.37[V] となる。このとき、インバータに流れる電流■は、 = 1.324 (mA:) である。
ュホールド電圧 vDD;電源電圧 μPDPチャンネル移動度 庫;Nチャンネル移動度 であるから =1.37[V] となる。このとき、インバータに流れる電流■は、 = 1.324 (mA:) である。
上記の条隼出力2.5 〔V) 、 V、 =1.3
7 (V) 。
7 (V) 。
n
I = 1.324 [:mA]が得られるようにする
には、次のように設計すればよい。
には、次のように設計すればよい。
今、第1図の各部に示す電流をI r = 1.524
(mA] 、 I z =0.2 (mA] 、 I
n =1.324(mA)とし、第1のインバータ25
の出力端の電圧を4〔v〕とする。
(mA] 、 I z =0.2 (mA] 、 I
n =1.324(mA)とし、第1のインバータ25
の出力端の電圧を4〔v〕とする。
PチャンネルMO3)ランジス21は、入力に1.5v
があったとき、■o−Vth>VD、テあルノで、非飽
和状態である。よって、 X((3,5−0,6)−−xlt )よシ、W=17
6.1[μm〕となる。
があったとき、■o−Vth>VD、テあルノで、非飽
和状態である。よって、 X((3,5−0,6)−−xlt )よシ、W=17
6.1[μm〕となる。
また、NチャンネルMO8)ランジスタ22は、このと
きV。−Vth<VD8 であるので、飽和状態であ
る。
きV。−Vth<VD8 であるので、飽和状態であ
る。
X −X(1,5−0,6>2
2.46
[Iz =0.2X10″″3〕
より、W=61.6[μm〕となる。
一方、PチャンネルMO8)ランジスタ23は、ソース
が4vであシ、Nチャンネルサブストレートは5vであ
るから、1vでパックダートバイアスを受けることにな
る。
が4vであシ、Nチャンネルサブストレートは5vであ
るから、1vでパックダートバイアスを受けることにな
る。
パックゲートバイアスされたときのスレッシ−二ホール
ド電圧vth、は、パックゲートバイアスをvBoとす
ると、 φMS;仕事関数 Q88;表面電荷Co;
単位面積あたシの容量=但 ox NA;サブストレートの濃度 NB;ドレイン拡散の濃度 NDキサブストレートの濃度 一方、通常のスレッシュホールド電圧vthは、である
から、バックゲートバイアスによるスレッシュホールド
電圧の増加分ΔVTは、O となる。
ド電圧vth、は、パックゲートバイアスをvBoとす
ると、 φMS;仕事関数 Q88;表面電荷Co;
単位面積あたシの容量=但 ox NA;サブストレートの濃度 NB;ドレイン拡散の濃度 NDキサブストレートの濃度 一方、通常のスレッシュホールド電圧vthは、である
から、バックゲートバイアスによるスレッシュホールド
電圧の増加分ΔVTは、O となる。
今、vBoが1.Ovであるとすると、=0.23(V
) となる。
) となる。
第2のPチャンネルMOSトランジスタ23は、vo−
vth>VD8 であるので、非飽和状態であるから
、 から、W ” 26 ’6.0 Cμm :]となる。
vth>VD8 であるので、非飽和状態であるから
、 から、W ” 26 ’6.0 Cμm :]となる。
また第2のNチャンネルMOS )ランジスタ24は、
”G ’th>vns であるので、飽和状態である
から、 から、W= 408.0 (μm)となる。
”G ’th>vns であるので、飽和状態である
から、 から、W= 408.0 (μm)となる。
上記したように、本回路によると、
PチャンネルMO8)ランジスタ21のWは、1761
〔μm〕 NチャンネルMOS )ランジスタ22のWけ、61.
6Cμm〕 PチャンネルMO8トランジスタ23のWは、266.
0〔μm〕 NチャンネルMOSトランジスタ24のWは、408.
0Cμm〕 となる。またバックダートバイアスによるスレッシュホ
ールド電圧増加分が0.23 〔V)となる。
〔μm〕 NチャンネルMOS )ランジスタ22のWけ、61.
6Cμm〕 PチャンネルMO8トランジスタ23のWは、266.
0〔μm〕 NチャンネルMOSトランジスタ24のWは、408.
0Cμm〕 となる。またバックダートバイアスによるスレッシュホ
ールド電圧増加分が0.23 〔V)となる。
次に本回路の動作速度を計算してみる。この回路の立ち
上がシ時間Trは、中間゛ドレインを含む全ての寄生容
量を、PチャンネルMO8)ランジスタ2′1のR8N
2.5で駆動した状態で考えることができる。同様に立
ち下がシ時間T、も中間ドレインを含む全ての寄生容量
を、NチャンネルMOS )ランジスタ24とNチャン
ネルMOS トラ・ンジスタ22のR8N2,5で駆動
した状態で考えることができる。RoN25は、ダート
のフルバイアス状態で、ソース・ドレイン間電圧vDs
= 2.5 V時でのオン抵抗である。
上がシ時間Trは、中間゛ドレインを含む全ての寄生容
量を、PチャンネルMO8)ランジスタ2′1のR8N
2.5で駆動した状態で考えることができる。同様に立
ち下がシ時間T、も中間ドレインを含む全ての寄生容量
を、NチャンネルMOS )ランジスタ24とNチャン
ネルMOS トラ・ンジスタ22のR8N2,5で駆動
した状態で考えることができる。RoN25は、ダート
のフルバイアス状態で、ソース・ドレイン間電圧vDs
= 2.5 V時でのオン抵抗である。
次段のインバータ28のダート容量は、従来と同様であ
るので、Co=1.86 (pF )である。
るので、Co=1.86 (pF )である。
PチャンネルMOSトランジスタ21のドレイ牛0.1
4 (pF) PチャンネルMOSトランジスタ23のソース□及びド
レイン容量は、 =0.21 [pF :] NチャンネルMOS トランジスタ22のドレイン容量
は、 CDN、=(62X16+2X0.8(62+16月X
l0− ” Xl、51刈0−4=0.16(pF〕 NチャンネルMOS )ランジスタ24のドレイン容量
は、 =0.73 CPF 〕 よって、全容量CDは、 CD−CD2.十CDP2×2+CDN、+CDN2=
1,45〔pF〕となる。
4 (pF) PチャンネルMOSトランジスタ23のソース□及びド
レイン容量は、 =0.21 [pF :] NチャンネルMOS トランジスタ22のドレイン容量
は、 CDN、=(62X16+2X0.8(62+16月X
l0− ” Xl、51刈0−4=0.16(pF〕 NチャンネルMOS )ランジスタ24のドレイン容量
は、 =0.73 CPF 〕 よって、全容量CDは、 CD−CD2.十CDP2×2+CDN、+CDN2=
1,45〔pF〕となる。
一方、Pチャンネs MOS )ランジスタ21のミラ
ー容量は、 PチャンネルMO8)ランジスタ23のミラー容量は、 NチャンネルMOS トランジスタ22のミラー容。
ー容量は、 PチャンネルMO8)ランジスタ23のミラー容量は、 NチャンネルMOS トランジスタ22のミラー容。
量は、
NチャンネルMOSトランジスタ24のミラー容量は、
よりて、ミラー容量CM;CMP、+CMP2×2十〇
MN、+”MN2 = O−35Cヤ゛F〕 と々る。
MN、+”MN2 = O−35Cヤ゛F〕 と々る。
PチャンネルMOSトランジスタ21のR8N2.5は
、 =608[Ω〕 とカシ、立ち上が少時間Trは、 T =608X(186’+1.45+0.35)XI
F12= 2.2 Cn5ea)となる。
、 =608[Ω〕 とカシ、立ち上が少時間Trは、 T =608X(186’+1.45+0.35)XI
F12= 2.2 Cn5ea)となる。
またNチャンネルMO8)ランジヌタ22のRoN25
は、 =2.788(kΩ〕 Nチャ、ネゆMOS トランジスタ24のR8N2.5
は、 =424CΩ〕 となる。したがって、NチャンネルのR6N2.5は、
となシ、立ち下がヤ時間Tfは、 T、=368X(1,86+4.45+0.35)XI
O−= 1.4 Cn@ee〕 となる。
は、 =2.788(kΩ〕 Nチャ、ネゆMOS トランジスタ24のR8N2.5
は、 =424CΩ〕 となる。したがって、NチャンネルのR6N2.5は、
となシ、立ち下がヤ時間Tfは、 T、=368X(1,86+4.45+0.35)XI
O−= 1.4 Cn@ee〕 となる。
すなわち本実施例によれば立ち上が少時間Trを2.2
[:r++sec]とすることができ、従来の4.1
〔n8ec〕に比較して大幅に高速化できる。また立ち
下が少時間T、は1.4 (nsee)となシ、Trと
Tfとの差を0.8 (r+1Iec)と小さくするこ
とができる。
[:r++sec]とすることができ、従来の4.1
〔n8ec〕に比較して大幅に高速化できる。また立ち
下が少時間T、は1.4 (nsee)となシ、Trと
Tfとの差を0.8 (r+1Iec)と小さくするこ
とができる。
上記したように、この発明によると、立ち上が少時間を
高速化できる。さらに、立ち上がυ時間と立ち下が少時
間のばらつきを小さくすることができ、動作上の信頼性
も得る。
高速化できる。さらに、立ち上がυ時間と立ち下が少時
間のばらつきを小さくすることができ、動作上の信頼性
も得る。
第1図はこの発明の一実施例を示す回路図、第2図は従
来の入力回路の説明図である。 21.23・・・PチャンネルMOSトランジスタ、2
2.24・・・NチャンネルMO8)ランジスタ、25
.26・・インバータ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図
来の入力回路の説明図である。 21.23・・・PチャンネルMOSトランジスタ、2
2.24・・・NチャンネルMO8)ランジスタ、25
.26・・インバータ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図
Claims (1)
- MOSトランジスタ集積回路において、第1の電源と第
2の電源間にソース・ドレイン電流路を形成した第1の
インバータと、この第1のインバータの出力部と前記第
2の電源間にソース・ドレイン電流路を形成した第2の
インバータを設け、前記第2のインバータの出力を次段
の回路へ入力させ、前記第1、第2のインバータのゲー
ト入力を共通の入力部として構成したことを特徴とする
入力回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59128743A JPS617723A (ja) | 1984-06-22 | 1984-06-22 | 入力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59128743A JPS617723A (ja) | 1984-06-22 | 1984-06-22 | 入力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS617723A true JPS617723A (ja) | 1986-01-14 |
Family
ID=14992355
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59128743A Pending JPS617723A (ja) | 1984-06-22 | 1984-06-22 | 入力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS617723A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63300623A (ja) * | 1987-05-26 | 1988-12-07 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 半導体バツフア回路 |
CN1114623C (zh) * | 1996-12-26 | 2003-07-16 | 智索公司 | 除去残留单体的方法和设备 |
-
1984
- 1984-06-22 JP JP59128743A patent/JPS617723A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63300623A (ja) * | 1987-05-26 | 1988-12-07 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 半導体バツフア回路 |
CN1114623C (zh) * | 1996-12-26 | 2003-07-16 | 智索公司 | 除去残留单体的方法和设备 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9076509B2 (en) | Methods and apparatus for varying a supply voltage or reference voltage using independent control of diode voltage in asymmetrical double-gate devices | |
US5644266A (en) | Dynamic threshold voltage scheme for low voltage CMOS inverter | |
US7554379B2 (en) | High-speed, low-power level shifter for mixed signal-level environments | |
JP2939086B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP3107545B2 (ja) | 低電力cmos回路 | |
JP3463269B2 (ja) | Mosfet回路 | |
US20040090820A1 (en) | Low standby power SRAM | |
JPH06203576A (ja) | センス回路 | |
US8947122B2 (en) | Non-volatile latch structures with small area for FPGA | |
JPH05347550A (ja) | 半導体集積回路 | |
KR940004402B1 (ko) | 센스 앰프를 구비한 반도체 기억장치 | |
JPH0786917A (ja) | インバータ回路 | |
JPH0884062A (ja) | 半導体装置 | |
JPS617723A (ja) | 入力回路 | |
US6229405B1 (en) | Low-voltage oscillation amplifying circuit | |
US7876146B2 (en) | Method and apparatus for powering down analog integrated circuits | |
JP2002124866A (ja) | 半導体集積回路 | |
JP4115358B2 (ja) | 出力回路およびレベルシフト回路 | |
US6891419B2 (en) | Methods and apparatus for employing feedback body control in cross-coupled inverters | |
JPH06326593A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
Choi | Applications of impact-ionization metal–oxide-semiconductor (I-MOS) devices to circuit design | |
JP2937592B2 (ja) | 基板バイアス発生回路 | |
JP2000278098A (ja) | レシオ回路、ラッチ回路及びmosトランジスタ | |
JP2923506B1 (ja) | 単一電子素子の集積回路装置 | |
JPH0682808B2 (ja) | Mos型半導体集積回路装置 |