JPS617656A - マルチチップパッケ−ジ - Google Patents

マルチチップパッケ−ジ

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JPS617656A
JPS617656A JP59128918A JP12891884A JPS617656A JP S617656 A JPS617656 A JP S617656A JP 59128918 A JP59128918 A JP 59128918A JP 12891884 A JP12891884 A JP 12891884A JP S617656 A JPS617656 A JP S617656A
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chip
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野、］ 本発明はハイブリッドＩＣにおいて、チップ部品と埋込
配線との接続替えを容易に行なえるマルチチップパッケ
ージに関する。
［発明の技術的背景とその問題点］ 電子機器の小型化、軽量化が進むにつれ、電子部品の高
密度実装化が一段と強く要請されるようになってきてい
る。
このような背景のもとで、ハイブリッドＩＣは、モノリ
シックＩＣでは実現が困難な大電力・高電圧分野や、多
品種少量生産あるいは多機能化に好適するところから、
その応用分野は急速に拡大してきている。
第２図はハイブリッドＩＣの一例を示すもので、埋込配
線１を多層埋設したセラミック多層基板２上に、埋込配
ｆｌ；Ａ１に導通するボンディングパッド３ａ〜３「が
形成されており、セラミック多層基板２上に配置したＩ
Ｃチップその他のチップ部品４８〜４Ｃの端子はボンド
線５８〜５「を介して所定のボンディングパッド３８〜
３ｔに接続されている。
このようなハイブリッドＩＣは、客先ニーズに応じて開
発設計され、試作品を評価して必要な修正を行ない、所
期の機能が発揮されることを確認した後、製品生産に入
るのが一般的であるが、最近では開発設計から生産まで
の時間的余裕が少ないことが多いため、特に少量製品で
は、試年品の試作評価と製品の生産とを平行して進行さ
せる必要を生ずる場合が少なくない。
このような場合、ＩＣチップ４８〜４Ｃ間、あるいはＩ
Ｃチップと入出力回路間の埋込配線１を追加、削除する
必要が生じた際には、従来はセラミツク多層基板２自体
を作り直していたが、これに要する工数と時間およびパ
ターンマスクや金型等の開発設計費を節減するため、第
３図に示すハイブリッドＩＣの変更方法が−考えられて
いる。
即ち、第２図の構成のハイブリッドＩＣを評価した結果
、例えば、ＩＣチップ４ａと埋込配線１との導通を解き
、代りにＩＣチップ４ａと４ｂの端子間を導通させる必
要があることが判明した場合には、第３図に示すように
、セラミック多層基板２上の配線替えを行なうＩＣ・チ
ップ４ａの端子近傍位置に追加パッド６を取付け、ボン
ド線５ｂの一端をボンディングパッド３ｂから取外して
追加パッド６上に接続した後、追加パッド６とボンディ
ングパッド３ｄの間に追加配線７を配線する。
このようにすれば、原設計のセラミック多層基板を用い
ながら、ＩＣチップ間の接続を容易に変更することがで
き、セラミック多層基板やそれに取付けたＩＣチップを
そのまま利用することができるので、ロスや時間を大幅
に減少させることが可能となる。
また、ボンド線と追加配線の接続は追加パッドを中継し
て行なわれるので、ボンディングは確実に行なわれ、信
頼性が低下することはない。
しかしながら、上述したハイブリッドＩＣの変更方法に
は次のような問題がある。
即ち、マルチチップパッケージにおいては、通常、セラ
ミック多層基板上に金属キャップを固着してチップ部品
を気密に封止するが、この金属キャップの取付は用とし
て基板上にシールリングパターンが設けられているため
、このシールリングパターンをま光いて追加配線を設け
ることはできない。
このため、システム側の変更により、Ｉ１０リードから
の配線を接続替えする場合には適用することができない
。
さらに基板の製造工程で、例えば第１図のＡの部分・が
オープンとなった場合（符号２１．２２が薇来はない）
Ｉ１０シードと接続するにはシーリングパターンを跨い
で追加配線を設けねばならぬため変更不可能であった。
［発明の目的］ 本発明は背景技術における上述の如き問題点を解決すべ
くなされたもので、ハイブリッドＩＣの配線変更を更に
容易に行なえるようにしたマルチチップパッケージを提
供することを目的とするものである。
［発明の概要］ 本発明のマルチチップパッケージは、埋込配線を配設し
た基板上に°複数個のチップ部品を搭載し、その近傍に
前記埋込配線に導通するボンディング゛パッドを形成し
、さらにこれらを囲んでシールリングパターンを形成す
るとともに、前記チップ部品とボンディングパッドとの
間をボンド線で連結し、かつ前記シールリングパターン
上にキャップを封着してなるハイブリッドＩＣにおいて
、前記基板上のシールリングパターンの内側位置に接続
替え用のボンディングパッドを設け、このボンディング
パッドと前記埋込配線とを分岐配線により接続したこと
を特徴とするものである。
［発明の実施例］ 次に、第１図を参照して本発明の詳細な説明する。
同図において、セラミック多層基板１０内には多数の埋
込配線１１が配設されている。
埋込配線１１にはその用途に応じて多くの種類があるが
、これがデータバスであるとすると、その一端は基板の
周縁部に設けたＩ１０バッド１２を介してＩ１０リード
１３に連結されている。１４はＩ１０パッド１２とマル
チチップパッケージ１３を接続する銀ろう層を示す。
セラミック多層基板１０の表面上に設けた接地または電
源電位のダイパッド１５上には、ハンダまたは導電性接
着剤１６を介してＩＣチップその他のチップ部品１７が
固着されている。また、基板１０上にはその周縁部より
やや内側にシールリングパターン１８が枠状に形成され
ており、金属キャップ１９の下端はハンダ層２ｏにより
シールリングパターン１８に気密に接続されている。
埋込配線１１はシールリングパターン１８よりやや内側
位置に設けた分岐配線２０を介して、基板１０上に配設
した小径の接続替え用ボンディングパッド２１に接続さ
れている。また、埋込配線１１から分岐する分岐配線２
２に導通にするボンディングパッド２３とチップ部品１
７の端子の間、および他の配線２４に導通するボンディ
ングパッド２５とチップ部品１７の端子の間はそれぞれ
ボンド線２６．２７でボンディングされている。
上述のように構成した本発明のマルチチップパッケージ
において、例えばチップ部品１７とボンディングパッド
２５との間のボンド線２６をボンディングパッド２１側
に接続替えすることが必要になったような場合には、ボ
ンディングパッド２５側のボンド線２６をボンディング
パッド２１側に接続替えすればよい。
［発明の効果］ 上述しノ〔ように本発明のマルチチップパッケージでは
基板上に、埋込配線に導通する接続替え用のボンディン
グパッドを設けであるから、ボンド線を接続替えするだ
けで簡単に変更要求に応することができる。
また、接続替え用のボンディングパッド２１はシールリ
ングパターン１８の内側に設けられているので、第１図
のＡの部分がオーブンである場合もボンド線や追加配線
をシールリングパターンを跨いで配設する必要がなく、
キャップ内の気密性を低下させるようなことはない。
【図面の簡単な説明】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）埋込配線を配設した基板上に複数個のチップ部品
    を搭載し、その近傍に前記埋込配線に導通するボンディ
    ングパッドを形成し、さらにこれらを囲んでシールリン
    グパターンを形成するとともに、前記チップ部品とボン
    ディングパッドとの間をボンド線で連結し、かつ前記シ
    ールリングパターン上にキャップを封着してなるハイブ
    リッドＩＣにおいて、前記基板上のシールリングパター
    ンの内側位置に接続替え用のボンディングパッドを設け
    、このボンディングパッドと前記埋込配線とを分岐配線
    により接続したことを特徴とするマルチチップパッケー
    ジ。
  2. （２）各埋込配線には接続替え用のボンディングパッド
    が複数ずつ接続されていることを特徴とする特許請求の
    範囲第１項記載のマルチチップパッケージ。
JP59128918A 1984-06-22 1984-06-22 マルチチップパッケ−ジ Granted JPS617656A (ja)

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JPS617656A true JPS617656A (ja) 1986-01-14
JPH0365662B2 JPH0365662B2 (ja) 1991-10-14

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JPH0365662B2 (ja) 1991-10-14

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