JPS6156383A - アクテイブマトリクス表示装置用基板 - Google Patents

アクテイブマトリクス表示装置用基板

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JPS6156383A
JPS6156383A JP59179052A JP17905284A JPS6156383A JP S6156383 A JPS6156383 A JP S6156383A JP 59179052 A JP59179052 A JP 59179052A JP 17905284 A JP17905284 A JP 17905284A JP S6156383 A JPS6156383 A JP S6156383A
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JP
Japan
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electrode
film
insulating film
substrate
active matrix
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JP59179052A
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物袋 俊一
新保 雅文
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Seiko Instruments Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、アクティブマトリクス液晶表示装置における
薄膜トランジスタ基板に関するものである。
〔従来の技術〕
従来のアクティブマトリクス液晶表示装置の単位画素の
例全第2図に示す。第2図(a)は、単位画素構造例の
平面図を示し、第2図(1))、(C)は、第2図(a
)のA’−B、C−Dに沿つIC断面図である。ガラス
等の透明絶縁基板1上には、ITO等の透明導電膜であ
る画素電極2が設けられ、前記画素電極2と二酸化シリ
コン、チツ化シリコン等の絶縁膜6と前段のゲート電極
4′とで電荷保持用容量が形成されている。絶縁膜6止
には、ゲート電極4が設けられ、行電極として延在して
いる。前段のゲート[極4′も図示している。ゲート電
極4上には、ゲート絶縁膜5、アモルファスシリコン(
a−sl)等の半導体膜6が設けられ、半導体膜6上に
は列電極としてのドレイン′?i!:極7、ンース電弥
8が配され、ソース電極8と画素電極2が接続されてい
る。さらに、図示していないが遮光膜やパッシベーショ
ン膜等も形成される場合がある。第2図(a)、(bJ
及び(C)の構造例では、絶縁膜の工数が多いので製造
工数が多く、従って製造歩留pの向上、製造コストに問
題がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
第2図(aL(bJ及び(C)の例から分るように、従
来は画素電極を形成後、電荷保持−月容量絶縁膜を形成
し、その後ゲート電極全形成し、ゲート絶縁膜、半導体
膜全形成していて、工数が多いのと、ドレイン電極と画
素電極の、コンタクト部が絶縁膜21曽分の段差がある
ため、断切れ等の断線が画素欠陥として生じやすかった
本発明は、上記問題点を解決するもので、痛歩留りのア
クティブマトリクス表示装置のための単位画素構造を提
供し、低コストの表示装置の提供をl1iT能にするも
のでめる、 〔問題点全解決するための手段〕 本発明では、ゲート電極全形成し、ゲート絶縁膜と電荷
保持用容量の絶縁膜全同時に形成し、半導体膜全電荷保
持用容量部にも形成し、画素電極の一部とによって電荷
保持用容量全構成することによって、工数の減少とコン
タクト部の断線防止、耐圧不良防止をするものでおる。
〔作 用〕
上記のようVC構成すると、電荷保持用容量の絶縁膜?
ゲート絶縁膜と同時に形成するので、絶縁膜の作成が1
回少なくなり工数か減り、かつ画素1!極とソースを極
コンタクト部での断線がなくなる。″また、電荷保持用
容量部に半纏体膜を用いるので、電荷保持用容量の絶縁
膜に半導体バターニング時損傷を与えず、艮好な絶縁耐
圧が得らnる。
〔実施例」 以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第1
図(a) 、 (b)及び(CIは、本発明の足位画素
の構造例を示す、l第1図(bJAC)u、第11Ql
Ca)のA−B、C−Dに沿った断面図である。ガラス
等の透明絶縁基板1上には、AI、 Or、 Mo等の
ゲート電極4が毛けらn1行電祢として延在している。
前段のゲート電極4′も図示されている。ゲート電、!
極4上には、二酸化シリコン(a−3i) 等O半4体
膜6が形成されている。前段のゲート電極4′上には、
前記ゲート絶縁膜9、半導体膜6と同時に形成された絶
縁膜10、半導体膜11が形成され、ITO等の透明導
電膜である画素電極2の一部とによって電荷保持用容量
が構成されている。半導体膜6上には、列電極としての
ドレイン電極7、ソース電イに8が配され、ソース電極
8と画素電極2が接続されている。ざらに、遮光膜やパ
ッシベーション11!!等が必要な場合もあるが、本発
明に直接関係ないので省略する。
単位画素tこのような構成にした場合は、電荷保持用容
量の絶、縁JI笈10を、ゲート絶縁膜9と同時に形成
しているので、絶縁膜の形成が1回少なくなる。−!た
、電荷保持用容量部に半纏体膜11があるので、トラン
ジスタ部の半導体膜乙のパターニング時、エッチャント
等による損傷が絶縁膜10に起きないので、絶縁耐圧不
良が発生しにくくなる。ブだ、ンース゛r江極8と画素
電極2との舛続部に絶縁膜等の段差かなく、断線の起き
にぐい構造になっている。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明したように、単位画素全行列状に配置
するアクティ1フ1122表示装置の製造工数の低減と
、画素部の断線防止、電荷保持用容量の耐圧不良防止が
できることから、低コストのアクティブマドIJクス液
晶表示装置における薄膜トランジスタ基板全提供できる
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 (b)及び(CJは本発明による単
位画素構造列であり、第1図(b)、(cJは第1図(
a)の平面図のA−B、0−DK:沿つ1cH面図であ
る。第2図(aL(b)及び(C)は従来の単位画素構
造例であり、第2図(bl、(c)は第2図(a)の平
面図のA−E、C−Dに沿った断面図である。 1・・・基板、2・・・画素電極、6・・・絶線膜。 4.4′・・・ゲート電極、5.9・・・ゲート絶縁膜
。 6.11・・・半導体膜、7・・・ドレイン電極。 8・・・ソース電極、1G・・電荷保持用容量の砲は膜
以  上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  少なくともゲート電極と、ゲート絶縁膜と、半導体膜
    と、透明電極からなる画素電極と、電荷保持用容量とを
    具備する単位画素を、絶縁性基板上にマトリクス状に配
    置したアクティブマトリクス表示装置用基板において、
    前記電荷保持用容量は、少なくとも前段のゲート電極と
    ゲート絶縁膜と半導体膜と画素電極の一部とによつて構
    成されたことを特徴とするアクティブマトリクス表示装
    置用基板。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62290170A (ja) * 1986-06-07 1987-12-17 Canon Inc 光電変換装置
JPS632377A (ja) * 1986-06-23 1988-01-07 Canon Inc 光電変換装置

Citations (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5660480A (en) * 1979-10-23 1981-05-25 Canon Kk Display unit
JPS599941A (ja) * 1982-07-08 1984-01-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜半導体装置の製造方法
JPS5974586A (ja) * 1982-10-21 1984-04-27 セイコーインスツルメンツ株式会社 液晶表示パネル

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