JPS6152709A - プラント異常検出方式 - Google Patents

プラント異常検出方式

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JPS6152709A
JPS6152709A JP59173320A JP17332084A JPS6152709A JP S6152709 A JPS6152709 A JP S6152709A JP 59173320 A JP59173320 A JP 59173320A JP 17332084 A JP17332084 A JP 17332084A JP S6152709 A JPS6152709 A JP S6152709A
Authority
JP
Japan
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plant
time constant
processing
data
response
Prior art date
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Pending
Application number
JP59173320A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeru Fujita
茂 藤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6152709A publication Critical patent/JPS6152709A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0224Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
    • G05B23/0227Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
    • G05B23/0235Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0259Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
    • G05B23/0267Fault communication, e.g. human machine interface [HMI]
    • G05B23/027Alarm generation, e.g. communication protocol; Forms of alarm

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプラントの劣下、故障、破壊等の異常を検出す
るプラント異常検出方式に関する。
〔発明の背景〕
従来、プラントプロセスに異常が有るか否かはプロセス
から入力したデータを変換することにより直接監視して
いたが、近年のプラントの大形化や複雑化に伴い、必要
とする入力装置の数も膨大となる傾向にある、このため
、プラントを監視、制御する計算機システムの入力に対
する負荷が増大してきている。これに対し、計算機シス
テムを分散階層構成にし、負荷軽減を図る方式がとられ
ている。
また、近年の原子カプラントでは、入力装置から直接デ
ータを取シ込むことが困難な箇所が増えてきている。従
って、入力装置を増大し、これを監視することによって
プラントの大型化、プロセスの複雑化に対応する従来方
式では、経済的、計算機システムの処理性の両面で問題
がある。これに対し、特開昭58−31606号公報で
は、プロセス制御に対する応動の誤差の自己相関関数を
用いて監視する方式が提案されている。ところがこの方
式は、計算に時間がかかる上に直観的に異常が把握でき
ないという問題がある。iた、特開昭58−24802
号公報では応動モデルとして応動の予測計算式を準備し
ておき、予測値との誤差を監視する方式をとる方式が提
案されている。しかし、この式では各プラントの制御対
象毎に、応−動モデルを予め準備しなければならないと
いう問題点がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、少い入力装置で短時間のうちにプラン
トプロセスの異常の有無を検出することができるプラン
ト異常検出方式を提供することにある。
〔冗明の概要〕
本発明は、各プロセスにおける制ta <または制1i
i1:jlt)に対する応動の時定数は固有で正常時に
はほぼ一定してい)ことに着目し、この時定数を監睨す
ることによっての有無を検出するようにしたものである
すなわち、本発明では制御量と応動量を定常系列と考え
、各々のイノペーション系列の相互相関関数を求める。
このイノペーション系列の相互相関「51数は、その相
関の最も近い距離にインパルス的な値をとる。この値を
監視することは容易である。従って、応動の時定数を設
定値として与えることにより、制御対象によらず異常の
有無が監視可能となる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図から第8図に基づいて
説明する。
第1図において、計算機システム1は入力装置#2を介
して、プラント3のプロセス状態を入力する。
本発明の適用例の1つとして、第2図の容器4内の温度
を一定化する制御を行っている場合について説明する。
温度を上昇させる装置5とその制御量を計測する入力装
置6.8器内の一度を計測する入力装置7から構成され
る装置7で入力した温度に対応した計測信号をフィード
バックさせ容器内温度を一定化制御するものとする。
この例では、外的条件が一定であれば、容器4の構造、
材質および内容物の材質によシ、制御量に対するその応
動量即ち温度変化の時間的相関は一定となる。    
                    lこのこと
を利用し、制御量と応動量の時間的相関関係を監視する
ことによシ、容器4の劣化、破壊などの異常を監視する
ことが可能である。
以下、時間的相関関係をmt n機システムで監視する
場合について詳しく説明する。
第2図のプロセス制御における制御量工(8)と応動量
T(9)の温度上昇過程のグラフの一例を第3図に示す
この制つ中量■(8)と工゛6動量T(9)の相互相関
関数几1210は第4図のようなグラフとなる。一般−
に第4図のような相互相関関数から時定数(相関距離)
τ11を一意的に定め計算機に把握させることは困難で
ある。
そこで本発明では、下記に示すイノベーゾヨン系列の相
互相関関数を計算し、時定数τ11を求めている。
定常系列X、に対する最良予測値を交、とし、その2乗
平均誤差をe^ とすると、誤差ペルトルε、は X1l−X、=ε、        ・・・・・・・・
(1)eO=くε6〉         ・・・・・・
・・・(2)と表すことができる。ここで、 n11=ε、 7 e 6        ”・−−(
3)とおいて誤差ベクトルε。をe、)で規格化し次確
率変数η6を定義し、これをイノベーノヨン系列と呼ぶ
今、X aのスペクトル表現を X a f ”e” ’ dZ (/()      
  −・−・−・(4)−π とすると、イノベーション系列l。ば と表すことが°できる。但し、Q(e−’A)はX”の
スペクトルS (A)=IG (e−”)12を満足す
する。
ここで、2つの時系列X% 、xiがあり、相互に相関
があるとじでイノベーション系列の相互相関関数を計算
する。 Xt、XKのスペクトル表現は、 X−=f    e””dZ’  (A)      
    、、、−、、、・ (6)−π Xミー1□e11AdZ2(lI)・・・・・・・・・
(7)XX、X−のイノベーション系列をη−1η吃と
とすると、 但し、 Si2(Δ)−1G’  (e−”)I2−・−−−−
−−<10)S22(/1)=IG2<e−”) I2
−・・−・−・(11)イノペーション系列ηl、、η
憔の相互相関関数R1,2は / (G’ (e−”) ・G2(e−”) )  −
°°(12)ところで、 の関係があるから上記第([2)式は、・・・(14ン と表すことができる。
この第(14)式はX ’a + X %のスペクトル
から容易に計算でさ、図5に示すようなインパルス的な
相互間関数として得られる。
この相互間関数の時定数τ712は容易に求めることか
でき、第6図に示すように上限値14、下限値15を設
定して時定数τη13を監視することにより、システム
異常を検出できる。
次に本方式を計算機7ステムによって実現した場合のプ
ログラム構成を第7図に示し、以下に説明する。
プラン)16の状態を信号17としてこれを変換器18
を介して計算機19に入力し、データ人力処理20でデ
ータ加工を行い、プラントデータ21に格納する。時定
数計算処理22はプラントデータベース21からデータ
を取り込み、時定数を計算し、プラントデータベース2
1に入力する。     1これを上下限値監視処理2
3で監視し、さらに状変検出処理24で本状変を検出し
た場合に疑報処理25を介して、警報出力様器26を介
して異常の有無を運転員に通報する。
第8図に第7図の時定数計算処理22の概略70−チャ
ートを示し、以下に説明する。まず、ブロック28で時
系列データの自己相関関数を求め、次いでブロック29
で時系列データの相互相関関数を求める。さらに、ブロ
ック30で時系列データのスペクトルを求め、ブロック
31で時系列データのイノペーション系列の相互相関関
数を求める。最後にブロック32で時定数を求める。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなよつに本発明によれば、プラン
トに対する制御の応動までの時間誤差を監視するだけの
センナがあれば十分であり、従来のように1プロセス毎
に複数のセンサーを設ける必要はなくな)、経済的であ
るとともに、計算機システムの負荷を軽減できる。
また、原子カプラントのように直接センナでデータを監
視できない場合、あるいは、センサー寿命が短かい場合
に対しても、1制御に対する応動が、倹、出できれば異
常検出が可能となる。
さらに、プロセス毎に設定するのは、制#量に対する時
定数の上、下限値のみでよいため、各種プロセスへの適
用が極めて容易である。特に、相互相関関数を求めたう
えで制御に対する応動の時定数を求めるものであるため
、計算時間は短くて済むという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すプラントシステムの全
体ブロック図、第2図は温度制御プロセスに本発明を適
用した場合の一例を示す図、第3図は第2図のプロセス
における制御量と応動量との変化過程を示す図、第4図
および第5図は相互相関関数の一例を示す図、第6図は
時定数と上。 下限値の関係を示す図、第7図は一監視システムの一例
を示す図、第8図は時定数計算処理プログラムの一例を
示すフローチャートである。 1・・・計算機システム、2・・・入力装置群、3・・
・プラント、■・・・制御量、T・・・応動量、τ・・
・時定数。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、プラントのプロセス状態を取り込む入力装置を有す
    るプラントシステムにおいて、プラントプロセスへの制
    御量とこれに対するプラントプロセスの応動量の相互相
    関関数から応動時定数を求め、この応動時定数の監視に
    よりプラントの異常を検出することを特徴とするプラン
    ト異常検出方式。
JP59173320A 1984-08-22 1984-08-22 プラント異常検出方式 Pending JPS6152709A (ja)

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JP59173320A JPS6152709A (ja) 1984-08-22 1984-08-22 プラント異常検出方式

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JPS6152709A true JPS6152709A (ja) 1986-03-15

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