JPS642203B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS642203B2 JPS642203B2 JP1311482A JP1311482A JPS642203B2 JP S642203 B2 JPS642203 B2 JP S642203B2 JP 1311482 A JP1311482 A JP 1311482A JP 1311482 A JP1311482 A JP 1311482A JP S642203 B2 JPS642203 B2 JP S642203B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- output
- average value
- circuit
- detectors
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- Expired
Links
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D1/00—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はオンラインで検出器の異常を診断する
検出器異常診断装置に関する。
検出器異常診断装置に関する。
一般にプラント等においてはプラント内の各変
量を常時検出器により計測し、その計測値と予め
設定された設定値とを比較し、その比較結果の大
小等によりプラント内の異常の有無を検出するこ
とが行なわれている。この場合各変量を計測する
検出器が破損等により異常状態となるとその計測
値が正常時の計測値と異なる値となり、そのため
プラント内の異常の有無が誤つて検出されること
となる。従つてこのような不都合を除去するため
に常時各検出器の異常の有無を診断する必要があ
る。しかしながら従来のプラントにおいては各検
出器の異常の有無を特にオンラインで検知するよ
うにしたものが知られてなかつた。
量を常時検出器により計測し、その計測値と予め
設定された設定値とを比較し、その比較結果の大
小等によりプラント内の異常の有無を検出するこ
とが行なわれている。この場合各変量を計測する
検出器が破損等により異常状態となるとその計測
値が正常時の計測値と異なる値となり、そのため
プラント内の異常の有無が誤つて検出されること
となる。従つてこのような不都合を除去するため
に常時各検出器の異常の有無を診断する必要があ
る。しかしながら従来のプラントにおいては各検
出器の異常の有無を特にオンラインで検知するよ
うにしたものが知られてなかつた。
本発明は上記の事情に鑑みて提案されたもの
で、オンラインで検出器の時定数変化や出力変化
を検出して検出器の異常を診断する診断装置を提
供することを目的とし、プラントの同一可変量を
同一箇所で各別に計測する少なくとも３個の同一
機能の検出器、同検出器のそれぞれの所定時間内
の出力を各別に記憶する同検出器に対応した記録
器、同記録器の一の出力を受けてその平均値を算
出する第１の演算回路及び同第１の演算回路のそ
れぞれに連絡しその平均値出力を相互に比較し平
均値出力の偏差を求め、その偏差の大小から同検
出器の異常の有無を判断する比較回路を有してな
ることを特徴とする。
で、オンラインで検出器の時定数変化や出力変化
を検出して検出器の異常を診断する診断装置を提
供することを目的とし、プラントの同一可変量を
同一箇所で各別に計測する少なくとも３個の同一
機能の検出器、同検出器のそれぞれの所定時間内
の出力を各別に記憶する同検出器に対応した記録
器、同記録器の一の出力を受けてその平均値を算
出する第１の演算回路及び同第１の演算回路のそ
れぞれに連絡しその平均値出力を相互に比較し平
均値出力の偏差を求め、その偏差の大小から同検
出器の異常の有無を判断する比較回路を有してな
ることを特徴とする。
本発明の一実施例を図面について説明すると、
第１図はその回路構成を示すブロツク線図、第２
図は第１図の検出器の出力を示す線図、第３図は
第１図の残差回路の出力を示す線図、第４図は第
１図の比較回路を示す部分拡大図、第５図は第１
図の検出器のステツプ入力に対する応答を示す線
図である。
第１図はその回路構成を示すブロツク線図、第２
図は第１図の検出器の出力を示す線図、第３図は
第１図の残差回路の出力を示す線図、第４図は第
１図の比較回路を示す部分拡大図、第５図は第１
図の検出器のステツプ入力に対する応答を示す線
図である。
上図において、１，２，３はそれぞれプロセス
内の同一変量を計測する３台以上の検出器、４，
５，６はそれぞれ検出器１，２，３に接続された
データ収録装置、１１，１３，１５はそれぞれデ
ータ収録装置４，５，６の出力からそれぞれ平均
値を差引いた値を増巾する残差演算回路、１２，
１４，１６はそれぞれデータ収録装置４，５，６
に記憶された各データの平均値m1、m2、m3を
求める平均値演算回路、２１，２２，２３はそれ
ぞれ残差演算回路１１，１３，１６の出力より後
記するように、プロセスの時定数を求めその大小
によつて異常の有無を診断する雑音解析回路、３
１は平均値演算回路１２，１４，１６の出力m1、
m2、m3を相互に比較して第４図に示す論理によ
り検出器１，２，３の異常の有無を検出し警報を
発する比較回路である。
内の同一変量を計測する３台以上の検出器、４，
５，６はそれぞれ検出器１，２，３に接続された
データ収録装置、１１，１３，１５はそれぞれデ
ータ収録装置４，５，６の出力からそれぞれ平均
値を差引いた値を増巾する残差演算回路、１２，
１４，１６はそれぞれデータ収録装置４，５，６
に記憶された各データの平均値m1、m2、m3を
求める平均値演算回路、２１，２２，２３はそれ
ぞれ残差演算回路１１，１３，１６の出力より後
記するように、プロセスの時定数を求めその大小
によつて異常の有無を診断する雑音解析回路、３
１は平均値演算回路１２，１４，１６の出力m1、
m2、m3を相互に比較して第４図に示す論理によ
り検出器１，２，３の異常の有無を検出し警報を
発する比較回路である。
このような装置において、データ収録装置４，
５，６は各検出器１，２，３の出力をあらかじめ
設定されたサンプリング間隔Δtで必要な時間記
憶する。検出器１，２，３の出力はプロセスに重
畳されているノイズのため、第２図に示すよう
に、不規則な値となつている。そこで平均値演算
回路１２，１４，１６はデータ収録装置４，５，
６に記憶されたデータの各々の平均値m1、m2、
m3を求める。残差演算回路１１，１３，１５は、
第３図に示すように、検出器１，２，３の出力の
値から平均値を差引いた値を求めこれを増巾す
る。
５，６は各検出器１，２，３の出力をあらかじめ
設定されたサンプリング間隔Δtで必要な時間記
憶する。検出器１，２，３の出力はプロセスに重
畳されているノイズのため、第２図に示すよう
に、不規則な値となつている。そこで平均値演算
回路１２，１４，１６はデータ収録装置４，５，
６に記憶されたデータの各々の平均値m1、m2、
m3を求める。残差演算回路１１，１３，１５は、
第３図に示すように、検出器１，２，３の出力の
値から平均値を差引いた値を求めこれを増巾す
る。
雑音解析回路２１は、残差演算回路１１の出力
を解析し、(1)式に示す自己回帰式を作成する。
を解析し、(1)式に示す自己回帰式を作成する。
ｘ(k)＝n
〓i=1
aiｘ（ｋ−１）＋ｅ(k) …(1)
ここでｘ(k)は時刻ｋでの残差、ｅ(k)は白色ノイ
ズ、ai（ｉ＝１、…、ｍ）は定係数であり、ｍは
適宜決定されるものである。
ズ、ai（ｉ＝１、…、ｍ）は定係数であり、ｍは
適宜決定されるものである。
(1)式をＺ変換すれば、伝達関数Ｇ（Ｚ）は、(2)
式 となる。これより、Ｚに関し、(2)式の分母＝０の
根を求め、この根をZ1、Z2、…Znとすると、伝
達関数時定数は、 となる。
式 となる。これより、Ｚに関し、(2)式の分母＝０の
根を求め、この根をZ1、Z2、…Znとすると、伝
達関数時定数は、 となる。
ここでZi *はZiの共役複素数、ｊ＝√−１であ
る。
る。
雑音解析回路２１は、上式で得られた時定数Ti
（ｉ＝１、…、ｍ）のなかから、あらかじめ正常
な検出器の時定数Tsに基づいて決定されたTnax、
Tnio（Tnio＜Ts＜Tnax）を用いて、 Tnio＜Ti＜Tnax …(3) となるTiを選別する。
（ｉ＝１、…、ｍ）のなかから、あらかじめ正常
な検出器の時定数Tsに基づいて決定されたTnax、
Tnio（Tnio＜Ts＜Tnax）を用いて、 Tnio＜Ti＜Tnax …(3) となるTiを選別する。
もし(3)式を満足するTiがあれば、それが検出器
の時定数と推定されるが、もし(3)式を満足する時
定数が存在しなければ、検出器の時定数が大巾に
変化したこととなり、このとき、雑音解析回路２
１は検出器１の時定数が異常であるとして、警報
を発する。雑音解析回路２２，２３の機能は雑音
解析回路２１と同じである。
の時定数と推定されるが、もし(3)式を満足する時
定数が存在しなければ、検出器の時定数が大巾に
変化したこととなり、このとき、雑音解析回路２
１は検出器１の時定数が異常であるとして、警報
を発する。雑音解析回路２２，２３の機能は雑音
解析回路２１と同じである。
比較回路３１は、検出器１，２，３の平均値
m1、m2、m3を相互に比較し、第４図に示す論
理により検出器の異常を検知し警報を発する。こ
こで、第４図のεはあらかじめ設定された値であ
る。
m1、m2、m3を相互に比較し、第４図に示す論
理により検出器の異常を検知し警報を発する。こ
こで、第４図のεはあらかじめ設定された値であ
る。
このような装置によれば、検出器の時定数変化
（例えば、差圧式検出器では検出配管内の流体が
流れにくくなると、時定数が大きくなる）や、検
出器の破損等による出力の大巾な変化を検出して
プロセスの運転員に警報を発することができる。
（例えば、差圧式検出器では検出配管内の流体が
流れにくくなると、時定数が大きくなる）や、検
出器の破損等による出力の大巾な変化を検出して
プロセスの運転員に警報を発することができる。
要するに本発明によれば、オンラインで検出器
等の異常を診断する異常診断装置を得るから、本
発明は産業上極めて有益なものである。
等の異常を診断する異常診断装置を得るから、本
発明は産業上極めて有益なものである。
第１図は本発明の一実施例の回路構成を示すブ
ロツク線図、第２図は第１図の検出器の出力を示
す線図、第３図は第１図の残差回路の出力を示す
線図、第４図は第１図の比較回路を示す部分拡大
図、第５図は第１図の検出器のステツプ入力に対
する応答を示す線図である。 １，２，３……検出器、４，５，６……データ
収録装置、１１，１３，１５……残差演算回路、
１２，１４，１６……平均値演算回路、２１，２
２，２３……雑音解析回路、３１……比較回路。
ロツク線図、第２図は第１図の検出器の出力を示
す線図、第３図は第１図の残差回路の出力を示す
線図、第４図は第１図の比較回路を示す部分拡大
図、第５図は第１図の検出器のステツプ入力に対
する応答を示す線図である。 １，２，３……検出器、４，５，６……データ
収録装置、１１，１３，１５……残差演算回路、
１２，１４，１６……平均値演算回路、２１，２
２，２３……雑音解析回路、３１……比較回路。
Claims (1)
- １ プラントの同一可変量を同一箇所で各別に計
測する少くとも３個の同一機能の検出器、同検出
器のそれぞれの所定時間内の出力を各別に記憶す
る同検出器に対応した記録器、同記録器の一の出
力を受けてその平均値を算出する第１の演算回路
及び同第１の演算回路のそれぞれに連絡しその平
均値出力を相互に比較し平均値出力の偏差を求
め、その偏差の大小から同検出器の異常の有無を
判断する比較回路を有してなることを特徴とする
検出器異常診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311482A JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311482A JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129316A JPS58129316A (ja) | 1983-08-02 |
| JPS642203B2 true JPS642203B2 (ja) | 1989-01-17 |
Family
ID=11824124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1311482A Granted JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129316A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10115534A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Yamatake Honeywell Co Ltd | センサ診断方法及び装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4772445A (en) * | 1985-12-23 | 1988-09-20 | Electric Power Research Institute | System for determining DC drift and noise level using parity-space validation |
| US6859755B2 (en) | 2001-05-14 | 2005-02-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for industrial process control and measurement systems |
| US7771113B2 (en) * | 2007-06-29 | 2010-08-10 | Cummins Filtration Ip, Inc | Sensor rationality diagnostic |
| US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
| US9207129B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with EMF detection and correction |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54160262A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measured value display device |
| JPS559105A (en) * | 1978-07-05 | 1980-01-23 | Nippon Steel Corp | Temperature measuring method |
| JPS5567607A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hajime Sangyo Kk | Pattern discrimination method |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP1311482A patent/JPS58129316A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10115534A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Yamatake Honeywell Co Ltd | センサ診断方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58129316A (ja) | 1983-08-02 |
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