JPS58129316A - 検出器異常診断装置 - Google Patents
検出器異常診断装置Info
- Publication number
- JPS58129316A JPS58129316A JP1311482A JP1311482A JPS58129316A JP S58129316 A JPS58129316 A JP S58129316A JP 1311482 A JP1311482 A JP 1311482A JP 1311482 A JP1311482 A JP 1311482A JP S58129316 A JPS58129316 A JP S58129316A
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- JP
- Japan
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- detector
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D1/00—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はオンツインで検出器の異常を診断する検出器異
常診断装置に関する・ 一般にプラント等ＫｓＩ−いてはプラント内の各賓量を
常時検出器によ〉計欄し、その計測値と予め設定され九
設定値とを比較し、その比較結果の大小等によりプラン
ト内の異常Ｏ有無を検出することが行なわれている。こ
の場金各変量を針側する検出器が破損勢によｐ異常状態
となるとその計測値が正常時の計測値と異なる値となり
、そのためプラント内Ｏ異常の有無が娯りて検出される
こととなる。従つてこのような不都合を除去するために
常時番検出−の異ｔｏ有無を診断する必賛がある・しか
し竜から従来リプラントにおいては各検出器の異常の有
無を特にオンツインで検知するようにし九４Ｃ）が知ら
れてなかつ丸。
常診断装置に関する・ 一般にプラント等ＫｓＩ−いてはプラント内の各賓量を
常時検出器によ〉計欄し、その計測値と予め設定され九
設定値とを比較し、その比較結果の大小等によりプラン
ト内の異常Ｏ有無を検出することが行なわれている。こ
の場金各変量を針側する検出器が破損勢によｐ異常状態
となるとその計測値が正常時の計測値と異なる値となり
、そのためプラント内Ｏ異常の有無が娯りて検出される
こととなる。従つてこのような不都合を除去するために
常時番検出−の異ｔｏ有無を診断する必賛がある・しか
し竜から従来リプラントにおいては各検出器の異常の有
無を特にオンツインで検知するようにし九４Ｃ）が知ら
れてなかつ丸。
本発明は上記の事情Ｋｌｉみて提案され九もので、オン
ツインで検出１１０時定数変化中出力変化を検出して検
出器Ｏ異常を診断すゐ診断装置を提供す為ことを目的と
し、プラントの可変量を針側する検出器、量検出ｌＩＯ
所定時間内の出力を記憶する記録器、同記鍮器の出力を
受けて七の平均値を算出する第１０演算回路、同第１Ｏ
演算關賂の出力と前記記録器の出力とを受けて残差を算
出すゐ第２０演算回路及び同第１０演算回路の出力を受
けゐ雑音解析回路を有してなるととを峙黴とする。
ツインで検出１１０時定数変化中出力変化を検出して検
出器Ｏ異常を診断すゐ診断装置を提供す為ことを目的と
し、プラントの可変量を針側する検出器、量検出ｌＩＯ
所定時間内の出力を記憶する記録器、同記鍮器の出力を
受けて七の平均値を算出する第１０演算回路、同第１Ｏ
演算關賂の出力と前記記録器の出力とを受けて残差を算
出すゐ第２０演算回路及び同第１０演算回路の出力を受
けゐ雑音解析回路を有してなるととを峙黴とする。
本弗明の一実施例を図面について説明すると、第１図は
その囲路構成を示すブロック線図、第２ａＡＦｉ第１図
の検出器の出力を示す線図、第３凶は縞１図の残差回路
の出力を示す線図、嬉４Ｉ！！！ｇは第１１の比較回路
を示す部分拡大図、第５図は第１図の検出器のステ、ｆ
入力に対する応答を示す線図である・ 上図において、１．１．１はそれぞれｆロセス内の同一
変量を計測する３８以上の検出器、４９６．６はそれぞ
れ検出器Ｊ ＃ ｘ 、Ｊ Ｋ接続されたデータ収録装
置、ＪＪ、ＪＪ、ＪＪはそれぞれデータ収録装置４．５
．６の出力からそれぞれ平均値を差引いた値を増巾する
残差演算回路、１２．ＪＪ、Ｊｇはそれぞれデータ収録
装置４，５．ｇに記憶された各データの平均値０１ Ｊ
ｅ １！ｌ ２ ＊ ｍ Ｊを求める平均値演算回路
、ｘｉ、ｘｘ、ｘｘはそれぞれ残差演算回路Ｊハ１Ｂ、
１ＭＯ出力よシ後記するように、プロセスの時定数を求
めその大小によって異常の有無を＃ｌ１ｌｈする雑音解
析回路、ＪＪは平均値演算回路１１，１４．１６の出力
ｍＪｓｍＪｓｍｊを相互に比較して第４図に示す論ｆｆ
１Ｋよ）検出器Ｊ＊ｊｓＪの異常の有無を検出し警報を
発する比較回路である。
その囲路構成を示すブロック線図、第２ａＡＦｉ第１図
の検出器の出力を示す線図、第３凶は縞１図の残差回路
の出力を示す線図、嬉４Ｉ！！！ｇは第１１の比較回路
を示す部分拡大図、第５図は第１図の検出器のステ、ｆ
入力に対する応答を示す線図である・ 上図において、１．１．１はそれぞれｆロセス内の同一
変量を計測する３８以上の検出器、４９６．６はそれぞ
れ検出器Ｊ ＃ ｘ 、Ｊ Ｋ接続されたデータ収録装
置、ＪＪ、ＪＪ、ＪＪはそれぞれデータ収録装置４．５
．６の出力からそれぞれ平均値を差引いた値を増巾する
残差演算回路、１２．ＪＪ、Ｊｇはそれぞれデータ収録
装置４，５．ｇに記憶された各データの平均値０１ Ｊ
ｅ １！ｌ ２ ＊ ｍ Ｊを求める平均値演算回路
、ｘｉ、ｘｘ、ｘｘはそれぞれ残差演算回路Ｊハ１Ｂ、
１ＭＯ出力よシ後記するように、プロセスの時定数を求
めその大小によって異常の有無を＃ｌ１ｌｈする雑音解
析回路、ＪＪは平均値演算回路１１，１４．１６の出力
ｍＪｓｍＪｓｍｊを相互に比較して第４図に示す論ｆｆ
１Ｋよ）検出器Ｊ＊ｊｓＪの異常の有無を検出し警報を
発する比較回路である。
このような装置において、データ収録装置４゜５．６は
各検出器Ｊ、Ｊ、Ｊの出力音あらかじめ設定されたサン
プリング間隔Δｔで必要な時間記憶する。検出器Ｊ、ｘ
、１の出力はプロセスに重畳されているノイＪｅＯため
、第２図に示すように１不規則な値となっている。そこ
で平均値演算回路Ｊ１．Ｊ４．ＪｇＢデータ収鎌装置４
、 収録、 １に記憶されたデータの各々の平均値ｍ
ＪｅｍＪｓｍＪを求める。！！＆差演算回路１１゜ＪＪ
、ＪＪは、第３図に示すように、検出器１゜２．３の出
力の値から平均値を差引い友値を求めこれを増巾する。
各検出器Ｊ、Ｊ、Ｊの出力音あらかじめ設定されたサン
プリング間隔Δｔで必要な時間記憶する。検出器Ｊ、ｘ
、１の出力はプロセスに重畳されているノイＪｅＯため
、第２図に示すように１不規則な値となっている。そこ
で平均値演算回路Ｊ１．Ｊ４．ＪｇＢデータ収鎌装置４
、 収録、 １に記憶されたデータの各々の平均値ｍ
ＪｅｍＪｓｍＪを求める。！！＆差演算回路１１゜ＪＪ
、ＪＪは、第３図に示すように、検出器１゜２．３の出
力の値から平均値を差引い友値を求めこれを増巾する。
雑音解析回路１１は、残差演算回路１１の出力を解析し
、（１）弐に示す自己回帰式を作成する。
、（１）弐に示す自己回帰式を作成する。
χ（す＝、ＩＱ、χ（ｉｔ−１）十（：Ｃリ °′す１
区１ ここでＸ（＆）は時刻蚤での残差、・面は白色ノイズ、
ａｌ（１ｇ＝１．・・・１ｍ）は定係数であり、ｍは適
宜決定されるものである。
区１ ここでＸ（＆）は時刻蚤での残差、・面は白色ノイズ、
ａｌ（１ｇ＝１．・・・１ｍ）は定係数であり、ｍは適
宜決定されるものである。
（１）式をｚ費換すれば、伝達関数Ｇ＠は、（２）式と
なる、これより、ｚＫ関し、（２）式の分母＝０の根を
求め、この根を２１ ＊ ２２ ｒ８０．Ｚ−とすると
、伝達関数時定数は、 （１＝１．・・・、ｍ） となる。
なる、これより、ｚＫ関し、（２）式の分母＝０の根を
求め、この根を２１ ＊ ２２ ｒ８０．Ｚ−とすると
、伝達関数時定数は、 （１＝１．・・・、ｍ） となる。
ここで２−はＺｌの共役複素数、ｊ＝Ｊ］−である。
雑音解析回路２ノは、上式で得られた時定数Ｔ１（１”
１．・・・、ｍ）のなかから、あらかじめ正常な検出器
の時定数Ｔ、に基づいて決定され九Ｔ、ｎ□。
１．・・・、ｍ）のなかから、あらかじめ正常な検出器
の時定数Ｔ、に基づいて決定され九Ｔ、ｎ□。
Ｔｎａｌｎ （Ｔｍ１ｎ＜Ｔ＠ ＜Ｔｍａｘ） ｔ−
用いて、Ｔｗｉｎ ＜〒１〈Ｔ１□ ・・−
・・・・・・・・・・・・（３）となるＴゑを選別する
。
用いて、Ｔｗｉｎ ＜〒１〈Ｔ１□ ・・−
・・・・・・・・・・・・（３）となるＴゑを選別する
。
もしく３）式を満足するＴＩがあれば、それが検出器の
時定数と推定されるが、もしく３）式を満足する時定数
が存在しなければ、検出器の時定数が大巾に変化したこ
ととなり、このとき、雑音解析回路２１は検出器１の時
定数が異常であるとして、警報を発する。雑音解析回路
ｘｚ、ｚｓの機能は雑音解析回路２１と同じである。
時定数と推定されるが、もしく３）式を満足する時定数
が存在しなければ、検出器の時定数が大巾に変化したこ
ととなり、このとき、雑音解析回路２１は検出器１の時
定数が異常であるとして、警報を発する。雑音解析回路
ｘｚ、ｚｓの機能は雑音解析回路２１と同じである。
比較回路３ノは、検出器１，２．３の平均値ｍ １ ｒ
ｍ Ｊ ＠ ｍ ３を相互に比較し、第４図に示す論
理によシ検出器の異常を検知し警報を発する。ここで、
第４゛図のＣはあらかじめ設定された値である。
ｍ Ｊ ＠ ｍ ３を相互に比較し、第４図に示す論
理によシ検出器の異常を検知し警報を発する。ここで、
第４゛図のＣはあらかじめ設定された値である。
このような装置によれば、検出器の時定数変化（例えば
、差圧式検出器では検出配管内の流体が流れＫ＜くなる
と、時定数が大きくなる）や、検出器の破損等による出
力の大巾な変化を検出してプロセスの運転員に警報を発
することができる。
、差圧式検出器では検出配管内の流体が流れＫ＜くなる
と、時定数が大きくなる）や、検出器の破損等による出
力の大巾な変化を検出してプロセスの運転員に警報を発
することができる。
要するに本発明によれば、プラントの可変量を針側する
検出器、同検出器の所定時間内の出力を記憶する記碌器
、同記録器の出力を受けてその平均値を算出するＩｌｌ
の演算回路、同第１Ｏ演算回路の出力と前記記鍮器の出
力とを受けて残差を算出する第２の演算回路及びｔＷｌ
第２０演算回路の出力を受ける雑音解析回路を有してな
ることによシ、オンツインで検出器等の異常を診断する
異常診断装置を得るから、本発明は産業上極めて有益な
ものである拳
検出器、同検出器の所定時間内の出力を記憶する記碌器
、同記録器の出力を受けてその平均値を算出するＩｌｌ
の演算回路、同第１Ｏ演算回路の出力と前記記鍮器の出
力とを受けて残差を算出する第２の演算回路及びｔＷｌ
第２０演算回路の出力を受ける雑音解析回路を有してな
ることによシ、オンツインで検出器等の異常を診断する
異常診断装置を得るから、本発明は産業上極めて有益な
ものである拳
第１図は本発明の一実施偶の回路構成を示すプロ、り線
図、第２＠は第１図の検出器の出力を示すＩｌｌ園、第
３図は第１図の残差回路の出力を示す線図、第４図は第
１図の比較回路を示す部分拡大図、第５図線第１図の検
出器のステツブ入力に対する応答を示す線図である。 Ｊ、２．２１・・・検出器、４．６．６・・・データ収
録装置、１１．１１．１Ｍ・・・残差演算回路、１Ｍ、
１４．１１ｊ・・・平均値演算回路、２１゜ｘｘ、ｚｓ
・・・雑音解析回路、３ノ・・・比較回路。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１１Ｉｌ 第２＠ ｓ１ 箇３■
図、第２＠は第１図の検出器の出力を示すＩｌｌ園、第
３図は第１図の残差回路の出力を示す線図、第４図は第
１図の比較回路を示す部分拡大図、第５図線第１図の検
出器のステツブ入力に対する応答を示す線図である。 Ｊ、２．２１・・・検出器、４．６．６・・・データ収
録装置、１１．１１．１Ｍ・・・残差演算回路、１Ｍ、
１４．１１ｊ・・・平均値演算回路、２１゜ｘｘ、ｚｓ
・・・雑音解析回路、３ノ・・・比較回路。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１１Ｉｌ 第２＠ ｓ１ 箇３■
Claims (1)
- プラントの可変量を針側する検出器、同槍出ＩＩＯ所定
時間内の出力を記憶する記慟器、同記録１）０出力を受
けてそＯ平均値を算出すゐ第１０演算關賂、同第１０演
算回路の出力と前記記＊ｍｏ出力とを受けて残差を算出
する第２０演算ｔｍｓ及び同第２０演算回路の出力を受
ける雑音解析回路を有してなることを特徴とする検出器
異常診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311482A JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311482A JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129316A true JPS58129316A (ja) | 1983-08-02 |
| JPS642203B2 JPS642203B2 (ja) | 1989-01-17 |
Family
ID=11824124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1311482A Granted JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129316A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0227479A2 (en) * | 1985-12-23 | 1987-07-01 | Westinghouse Electric Corporation | System for determining DC drift and noise level using parity-space signal validation |
| US6859755B2 (en) | 2001-05-14 | 2005-02-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for industrial process control and measurement systems |
| JP2011506912A (ja) * | 2007-06-29 | 2011-03-03 | カミンズ フィルトレイション アイピー インク． | センサ合理性診断 |
| US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
| US9207129B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with EMF detection and correction |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10115534A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Yamatake Honeywell Co Ltd | センサ診断方法及び装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54160262A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measured value display device |
| JPS559105A (en) * | 1978-07-05 | 1980-01-23 | Nippon Steel Corp | Temperature measuring method |
| JPS5567607A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hajime Sangyo Kk | Pattern discrimination method |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP1311482A patent/JPS58129316A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54160262A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measured value display device |
| JPS559105A (en) * | 1978-07-05 | 1980-01-23 | Nippon Steel Corp | Temperature measuring method |
| JPS5567607A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hajime Sangyo Kk | Pattern discrimination method |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0227479A2 (en) * | 1985-12-23 | 1987-07-01 | Westinghouse Electric Corporation | System for determining DC drift and noise level using parity-space signal validation |
| US6859755B2 (en) | 2001-05-14 | 2005-02-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for industrial process control and measurement systems |
| JP2011506912A (ja) * | 2007-06-29 | 2011-03-03 | カミンズ フィルトレイション アイピー インク． | センサ合理性診断 |
| EP2162712A4 (en) * | 2007-06-29 | 2016-08-03 | Cummins Filtration Ip Inc | DIAGNOSIS OF SENSOR RATIONALITY |
| US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
| US9207129B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with EMF detection and correction |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS642203B2 (ja) | 1989-01-17 |
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