JPS58129316A - 検出器異常診断装置 - Google Patents
検出器異常診断装置Info
- Publication number
- JPS58129316A JPS58129316A JP1311482A JP1311482A JPS58129316A JP S58129316 A JPS58129316 A JP S58129316A JP 1311482 A JP1311482 A JP 1311482A JP 1311482 A JP1311482 A JP 1311482A JP S58129316 A JPS58129316 A JP S58129316A
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- Japan
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- detector
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D1/00—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はオンツインで検出器の異常を診断する検出器異
常診断装置に関する・ 一般にプラント等KsI−いてはプラント内の各賓量を
常時検出器によ〉計欄し、その計測値と予め設定され九
設定値とを比較し、その比較結果の大小等によりプラン
ト内の異常O有無を検出することが行なわれている。こ
の場金各変量を針側する検出器が破損勢によp異常状態
となるとその計測値が正常時の計測値と異なる値となり
、そのためプラント内O異常の有無が娯りて検出される
こととなる。従つてこのような不都合を除去するために
常時番検出−の異to有無を診断する必賛がある・しか
し竜から従来リプラントにおいては各検出器の異常の有
無を特にオンツインで検知するようにし九4C)が知ら
れてなかつ丸。
常診断装置に関する・ 一般にプラント等KsI−いてはプラント内の各賓量を
常時検出器によ〉計欄し、その計測値と予め設定され九
設定値とを比較し、その比較結果の大小等によりプラン
ト内の異常O有無を検出することが行なわれている。こ
の場金各変量を針側する検出器が破損勢によp異常状態
となるとその計測値が正常時の計測値と異なる値となり
、そのためプラント内O異常の有無が娯りて検出される
こととなる。従つてこのような不都合を除去するために
常時番検出−の異to有無を診断する必賛がある・しか
し竜から従来リプラントにおいては各検出器の異常の有
無を特にオンツインで検知するようにし九4C)が知ら
れてなかつ丸。
本発明は上記の事情Kliみて提案され九もので、オン
ツインで検出110時定数変化中出力変化を検出して検
出器O異常を診断すゐ診断装置を提供す為ことを目的と
し、プラントの可変量を針側する検出器、量検出lIO
所定時間内の出力を記憶する記録器、同記鍮器の出力を
受けて七の平均値を算出する第10演算回路、同第1O
演算關賂の出力と前記記録器の出力とを受けて残差を算
出すゐ第20演算回路及び同第10演算回路の出力を受
けゐ雑音解析回路を有してなるととを峙黴とする。
ツインで検出110時定数変化中出力変化を検出して検
出器O異常を診断すゐ診断装置を提供す為ことを目的と
し、プラントの可変量を針側する検出器、量検出lIO
所定時間内の出力を記憶する記録器、同記鍮器の出力を
受けて七の平均値を算出する第10演算回路、同第1O
演算關賂の出力と前記記録器の出力とを受けて残差を算
出すゐ第20演算回路及び同第10演算回路の出力を受
けゐ雑音解析回路を有してなるととを峙黴とする。
本弗明の一実施例を図面について説明すると、第1図は
その囲路構成を示すブロック線図、第2aAFi第1図
の検出器の出力を示す線図、第3凶は縞1図の残差回路
の出力を示す線図、嬉4I!!!gは第11の比較回路
を示す部分拡大図、第5図は第1図の検出器のステ、f
入力に対する応答を示す線図である・ 上図において、1.1.1はそれぞれfロセス内の同一
変量を計測する38以上の検出器、496.6はそれぞ
れ検出器J # x 、J K接続されたデータ収録装
置、JJ、JJ、JJはそれぞれデータ収録装置4.5
.6の出力からそれぞれ平均値を差引いた値を増巾する
残差演算回路、12.JJ、Jgはそれぞれデータ収録
装置4,5.gに記憶された各データの平均値01 J
e 1!l 2 * m Jを求める平均値演算回路
、xi、xx、xxはそれぞれ残差演算回路Jハ1B、
1MO出力よシ後記するように、プロセスの時定数を求
めその大小によって異常の有無を#l1lhする雑音解
析回路、JJは平均値演算回路11,14.16の出力
mJsmJsmjを相互に比較して第4図に示す論ff
1Kよ)検出器J*jsJの異常の有無を検出し警報を
発する比較回路である。
その囲路構成を示すブロック線図、第2aAFi第1図
の検出器の出力を示す線図、第3凶は縞1図の残差回路
の出力を示す線図、嬉4I!!!gは第11の比較回路
を示す部分拡大図、第5図は第1図の検出器のステ、f
入力に対する応答を示す線図である・ 上図において、1.1.1はそれぞれfロセス内の同一
変量を計測する38以上の検出器、496.6はそれぞ
れ検出器J # x 、J K接続されたデータ収録装
置、JJ、JJ、JJはそれぞれデータ収録装置4.5
.6の出力からそれぞれ平均値を差引いた値を増巾する
残差演算回路、12.JJ、Jgはそれぞれデータ収録
装置4,5.gに記憶された各データの平均値01 J
e 1!l 2 * m Jを求める平均値演算回路
、xi、xx、xxはそれぞれ残差演算回路Jハ1B、
1MO出力よシ後記するように、プロセスの時定数を求
めその大小によって異常の有無を#l1lhする雑音解
析回路、JJは平均値演算回路11,14.16の出力
mJsmJsmjを相互に比較して第4図に示す論ff
1Kよ)検出器J*jsJの異常の有無を検出し警報を
発する比較回路である。
このような装置において、データ収録装置4゜5.6は
各検出器J、J、Jの出力音あらかじめ設定されたサン
プリング間隔Δtで必要な時間記憶する。検出器J、x
、1の出力はプロセスに重畳されているノイJeOため
、第2図に示すように1不規則な値となっている。そこ
で平均値演算回路J1.J4.JgBデータ収鎌装置4
、 収録、 1に記憶されたデータの各々の平均値m
JemJsmJを求める。!!&差演算回路11゜JJ
、JJは、第3図に示すように、検出器1゜2.3の出
力の値から平均値を差引い友値を求めこれを増巾する。
各検出器J、J、Jの出力音あらかじめ設定されたサン
プリング間隔Δtで必要な時間記憶する。検出器J、x
、1の出力はプロセスに重畳されているノイJeOため
、第2図に示すように1不規則な値となっている。そこ
で平均値演算回路J1.J4.JgBデータ収鎌装置4
、 収録、 1に記憶されたデータの各々の平均値m
JemJsmJを求める。!!&差演算回路11゜JJ
、JJは、第3図に示すように、検出器1゜2.3の出
力の値から平均値を差引い友値を求めこれを増巾する。
雑音解析回路11は、残差演算回路11の出力を解析し
、(1)弐に示す自己回帰式を作成する。
、(1)弐に示す自己回帰式を作成する。
χ(す=、IQ、χ(it−1)十(:Cリ °′す1
区1 ここでX(&)は時刻蚤での残差、・面は白色ノイズ、
al(1g=1.・・・1m)は定係数であり、mは適
宜決定されるものである。
区1 ここでX(&)は時刻蚤での残差、・面は白色ノイズ、
al(1g=1.・・・1m)は定係数であり、mは適
宜決定されるものである。
(1)式をz費換すれば、伝達関数G@は、(2)式と
なる、これより、zK関し、(2)式の分母=0の根を
求め、この根を21 * 22 r80.Z−とすると
、伝達関数時定数は、 (1=1.・・・、m) となる。
なる、これより、zK関し、(2)式の分母=0の根を
求め、この根を21 * 22 r80.Z−とすると
、伝達関数時定数は、 (1=1.・・・、m) となる。
ここで2−はZlの共役複素数、j=J]−である。
雑音解析回路2ノは、上式で得られた時定数T1(1”
1.・・・、m)のなかから、あらかじめ正常な検出器
の時定数T、に基づいて決定され九T、n□。
1.・・・、m)のなかから、あらかじめ正常な検出器
の時定数T、に基づいて決定され九T、n□。
Tnaln (Tm1n<T@ <Tmax) t−
用いて、Twin <〒1〈T1□ ・・−
・・・・・・・・・・・・(3)となるTゑを選別する
。
用いて、Twin <〒1〈T1□ ・・−
・・・・・・・・・・・・(3)となるTゑを選別する
。
もしく3)式を満足するTIがあれば、それが検出器の
時定数と推定されるが、もしく3)式を満足する時定数
が存在しなければ、検出器の時定数が大巾に変化したこ
ととなり、このとき、雑音解析回路21は検出器1の時
定数が異常であるとして、警報を発する。雑音解析回路
xz、zsの機能は雑音解析回路21と同じである。
時定数と推定されるが、もしく3)式を満足する時定数
が存在しなければ、検出器の時定数が大巾に変化したこ
ととなり、このとき、雑音解析回路21は検出器1の時
定数が異常であるとして、警報を発する。雑音解析回路
xz、zsの機能は雑音解析回路21と同じである。
比較回路3ノは、検出器1,2.3の平均値m 1 r
m J @ m 3を相互に比較し、第4図に示す論
理によシ検出器の異常を検知し警報を発する。ここで、
第4゛図のCはあらかじめ設定された値である。
m J @ m 3を相互に比較し、第4図に示す論
理によシ検出器の異常を検知し警報を発する。ここで、
第4゛図のCはあらかじめ設定された値である。
このような装置によれば、検出器の時定数変化(例えば
、差圧式検出器では検出配管内の流体が流れK<くなる
と、時定数が大きくなる)や、検出器の破損等による出
力の大巾な変化を検出してプロセスの運転員に警報を発
することができる。
、差圧式検出器では検出配管内の流体が流れK<くなる
と、時定数が大きくなる)や、検出器の破損等による出
力の大巾な変化を検出してプロセスの運転員に警報を発
することができる。
要するに本発明によれば、プラントの可変量を針側する
検出器、同検出器の所定時間内の出力を記憶する記碌器
、同記録器の出力を受けてその平均値を算出するIll
の演算回路、同第1O演算回路の出力と前記記鍮器の出
力とを受けて残差を算出する第2の演算回路及びtWl
第20演算回路の出力を受ける雑音解析回路を有してな
ることによシ、オンツインで検出器等の異常を診断する
異常診断装置を得るから、本発明は産業上極めて有益な
ものである拳
検出器、同検出器の所定時間内の出力を記憶する記碌器
、同記録器の出力を受けてその平均値を算出するIll
の演算回路、同第1O演算回路の出力と前記記鍮器の出
力とを受けて残差を算出する第2の演算回路及びtWl
第20演算回路の出力を受ける雑音解析回路を有してな
ることによシ、オンツインで検出器等の異常を診断する
異常診断装置を得るから、本発明は産業上極めて有益な
ものである拳
第1図は本発明の一実施偶の回路構成を示すプロ、り線
図、第2@は第1図の検出器の出力を示すIll園、第
3図は第1図の残差回路の出力を示す線図、第4図は第
1図の比較回路を示す部分拡大図、第5図線第1図の検
出器のステツブ入力に対する応答を示す線図である。 J、2.21・・・検出器、4.6.6・・・データ収
録装置、11.11.1M・・・残差演算回路、1M、
14.11j・・・平均値演算回路、21゜xx、zs
・・・雑音解析回路、3ノ・・・比較回路。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第11Il 第2@ s1 箇3■
図、第2@は第1図の検出器の出力を示すIll園、第
3図は第1図の残差回路の出力を示す線図、第4図は第
1図の比較回路を示す部分拡大図、第5図線第1図の検
出器のステツブ入力に対する応答を示す線図である。 J、2.21・・・検出器、4.6.6・・・データ収
録装置、11.11.1M・・・残差演算回路、1M、
14.11j・・・平均値演算回路、21゜xx、zs
・・・雑音解析回路、3ノ・・・比較回路。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第11Il 第2@ s1 箇3■
Claims (1)
- プラントの可変量を針側する検出器、同槍出IIO所定
時間内の出力を記憶する記慟器、同記録1)0出力を受
けてそO平均値を算出すゐ第10演算關賂、同第10演
算回路の出力と前記記*mo出力とを受けて残差を算出
する第20演算tms及び同第20演算回路の出力を受
ける雑音解析回路を有してなることを特徴とする検出器
異常診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1311482A JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1311482A JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58129316A true JPS58129316A (ja) | 1983-08-02 |
JPS642203B2 JPS642203B2 (ja) | 1989-01-17 |
Family
ID=11824124
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1311482A Granted JPS58129316A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 検出器異常診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58129316A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0227479A2 (en) * | 1985-12-23 | 1987-07-01 | Westinghouse Electric Corporation | System for determining DC drift and noise level using parity-space signal validation |
US6859755B2 (en) | 2001-05-14 | 2005-02-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for industrial process control and measurement systems |
JP2011506912A (ja) * | 2007-06-29 | 2011-03-03 | カミンズ フィルトレイション アイピー インク. | センサ合理性診断 |
US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
US9207129B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with EMF detection and correction |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10115534A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Yamatake Honeywell Co Ltd | センサ診断方法及び装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54160262A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measured value display device |
JPS559105A (en) * | 1978-07-05 | 1980-01-23 | Nippon Steel Corp | Temperature measuring method |
JPS5567607A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hajime Sangyo Kk | Pattern discrimination method |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP1311482A patent/JPS58129316A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54160262A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measured value display device |
JPS559105A (en) * | 1978-07-05 | 1980-01-23 | Nippon Steel Corp | Temperature measuring method |
JPS5567607A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hajime Sangyo Kk | Pattern discrimination method |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0227479A2 (en) * | 1985-12-23 | 1987-07-01 | Westinghouse Electric Corporation | System for determining DC drift and noise level using parity-space signal validation |
US6859755B2 (en) | 2001-05-14 | 2005-02-22 | Rosemount Inc. | Diagnostics for industrial process control and measurement systems |
JP2011506912A (ja) * | 2007-06-29 | 2011-03-03 | カミンズ フィルトレイション アイピー インク. | センサ合理性診断 |
EP2162712A4 (en) * | 2007-06-29 | 2016-08-03 | Cummins Filtration Ip Inc | DIAGNOSIS OF SENSOR RATIONALITY |
US9052240B2 (en) | 2012-06-29 | 2015-06-09 | Rosemount Inc. | Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics |
US9207129B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-08 | Rosemount Inc. | Process variable transmitter with EMF detection and correction |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS642203B2 (ja) | 1989-01-17 |
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