JPS614973A - 抵抗値計測回路 - Google Patents
抵抗値計測回路Info
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- JPS614973A JPS614973A JP12721384A JP12721384A JPS614973A JP S614973 A JPS614973 A JP S614973A JP 12721384 A JP12721384 A JP 12721384A JP 12721384 A JP12721384 A JP 12721384A JP S614973 A JPS614973 A JP S614973A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）技術分野
この発明は特に許容電力や耐圧の小さい抵抗の値を計測
するのに適した抵抗値計測回路、例えば湿度センサ、温
度センサ、磁気センサ等の検出量を抵抗値の変化によっ
て測定するセンサの抵抗値計測回路に関する。
するのに適した抵抗値計測回路、例えば湿度センサ、温
度センサ、磁気センサ等の検出量を抵抗値の変化によっ
て測定するセンサの抵抗値計測回路に関する。
（ｂ）従来技術とその欠点
この種の従来の抵抗値計測回路の典型的なものは、第３
図に示すように抵抗分割により被測定抵抗ＲＸの抵抗値
変化を電圧変化に変換（７て基準電圧ＥＯと比較するよ
うにしていた。しかし、このような回路では、被測定抵
抗の許容電力や耐圧が小さい場合に抵抗ＲＡを非常に大
きく）−なければならず、その結果、被測定抵抗ＲＸの
抵抗値変化に対する電圧変化が微小になり、正確な計測
ができなくなる不都合があった。
図に示すように抵抗分割により被測定抵抗ＲＸの抵抗値
変化を電圧変化に変換（７て基準電圧ＥＯと比較するよ
うにしていた。しかし、このような回路では、被測定抵
抗の許容電力や耐圧が小さい場合に抵抗ＲＡを非常に大
きく）−なければならず、その結果、被測定抵抗ＲＸの
抵抗値変化に対する電圧変化が微小になり、正確な計測
ができなくなる不都合があった。
ＩｃＩ発明の目的
この発明の目的は、被測定抵抗に低電圧を印加するだけ
で高感度で、且つ高精度な計測を行うことのできる抵抗
値計測回路を提供することにある（ｄ１発明の構成 第１図はこの発明の構成を示すブロック図である。図に
おいて、電流変換回路ｌは外部入力端子ａ、ｂに接続さ
れた被測定抵抗ＲＸの値を電流値に変換する。端子ａ、
ｂは電流変換回路内のトランジスタのベースエミッタ間
電圧ＶＦでクランプされている。このため、被測定抵抗
ＲＸには常に０．７Ｖ程度の低電圧が印加されているこ
とになる。電流変換回路１で変換された電流１１は抵抗
Ｒ１によって電圧変換され、その変換された電圧ＶＡは
比較回路２に導かれる。また前記電流変換回路１と同じ
回路構成にある電流変換回路３が設けられ、この回路で
前記被測定抵抗ＲＸに対する基準抵抗ＲＡの値を電流値
に変換する。この変換された電流Ｉ２は抵抗Ｒ２によっ
て電圧変換され、その変換された電圧Ｖ ’Ｂは比較回
路２に導かれる。比較回路２は電圧ＶＡとＶＢとを比較
し、ＶＡ＜ＶＢ、ＶＡ＞ＶＢに対応する信号を出力回路
４に対して出力する。出力回路４は比較回路２からの出
力を受けて計測結果を外部に出力する。
で高感度で、且つ高精度な計測を行うことのできる抵抗
値計測回路を提供することにある（ｄ１発明の構成 第１図はこの発明の構成を示すブロック図である。図に
おいて、電流変換回路ｌは外部入力端子ａ、ｂに接続さ
れた被測定抵抗ＲＸの値を電流値に変換する。端子ａ、
ｂは電流変換回路内のトランジスタのベースエミッタ間
電圧ＶＦでクランプされている。このため、被測定抵抗
ＲＸには常に０．７Ｖ程度の低電圧が印加されているこ
とになる。電流変換回路１で変換された電流１１は抵抗
Ｒ１によって電圧変換され、その変換された電圧ＶＡは
比較回路２に導かれる。また前記電流変換回路１と同じ
回路構成にある電流変換回路３が設けられ、この回路で
前記被測定抵抗ＲＸに対する基準抵抗ＲＡの値を電流値
に変換する。この変換された電流Ｉ２は抵抗Ｒ２によっ
て電圧変換され、その変換された電圧Ｖ ’Ｂは比較回
路２に導かれる。比較回路２は電圧ＶＡとＶＢとを比較
し、ＶＡ＜ＶＢ、ＶＡ＞ＶＢに対応する信号を出力回路
４に対して出力する。出力回路４は比較回路２からの出
力を受けて計測結果を外部に出力する。
上記の構成において、Ｒ１＝Ｒ２とした場合、被測定抵
抗ＲＸの値が基準抵抗ＲＡＯ値と同一であれば、ＶＡ＝
ＶＢとなる。また、ＲｘくＲＡであればＶＡ＜ＶＢとな
り、ＲＸ＞ＲＡであればＶＡ＞ＶＢとなる。この場合、
被測定抵抗ＲＸおよび基準抵抗ＲＡはトランジスタのベ
ースエミッタ間電圧ＶＦでクランプされているためにそ
れらの抵抗に流れる電流が非常に小さい。このため、被
測定抵抗ＲＸの許容電力や耐圧が小さくても十分に計測
することができる。また電流変換回路１と電流変換回路
３は同じ回路構成にあるために、■Ａ＝ＶＢとすれば、
ＲＸ＝Ｒ１／Ｒ２−ＲＡとなり、Ｒ１とＲ２の比または
ＲＡを変化させることでＲＸの基準点を任意の大きさに
設定することができる。即ち、幅広い抵抗値変化にも容
易に対応することができる。
抗ＲＸの値が基準抵抗ＲＡＯ値と同一であれば、ＶＡ＝
ＶＢとなる。また、ＲｘくＲＡであればＶＡ＜ＶＢとな
り、ＲＸ＞ＲＡであればＶＡ＞ＶＢとなる。この場合、
被測定抵抗ＲＸおよび基準抵抗ＲＡはトランジスタのベ
ースエミッタ間電圧ＶＦでクランプされているためにそ
れらの抵抗に流れる電流が非常に小さい。このため、被
測定抵抗ＲＸの許容電力や耐圧が小さくても十分に計測
することができる。また電流変換回路１と電流変換回路
３は同じ回路構成にあるために、■Ａ＝ＶＢとすれば、
ＲＸ＝Ｒ１／Ｒ２−ＲＡとなり、Ｒ１とＲ２の比または
ＲＡを変化させることでＲＸの基準点を任意の大きさに
設定することができる。即ち、幅広い抵抗値変化にも容
易に対応することができる。
（ｄ１発明の効果
この発明によれば、被測定抵抗の値を電流値に変換する
電流変換回路を設けたので、被測定抵抗に印加する電圧
をベースエミッタ間電圧のような低電圧にすることがで
き、被測定抵抗の許容電力や耐圧が小さくても十分に対
応することができる。また、被測定抵抗の値を電流値に
変換する第一の電流変換回路と、基準抵抗の値を電流値
に変換し、前記第一の電流変換回路と同じ回路構成にあ
る第二の電流変換回路とを設け、さらにこれらの電流変
換回路で変換された電流値を電圧変換してそれらの値を
比較する比較回路を設けたので、基準抵抗等の大きさを
換えることによって被測定抵抗の幅広い抵抗値変化に対
して簡単に対応できる利点がある。さらに電流変換回路
や比較回路はＩＣ化することが容易であり、これらをＩ
Ｃ化した場合、二つの電流変換回路が同じ回路構成であ
るために、それらの各回路に生じるバラツキを吸収する
ことができ、それによって測定精度を著しく高めること
ができる。
電流変換回路を設けたので、被測定抵抗に印加する電圧
をベースエミッタ間電圧のような低電圧にすることがで
き、被測定抵抗の許容電力や耐圧が小さくても十分に対
応することができる。また、被測定抵抗の値を電流値に
変換する第一の電流変換回路と、基準抵抗の値を電流値
に変換し、前記第一の電流変換回路と同じ回路構成にあ
る第二の電流変換回路とを設け、さらにこれらの電流変
換回路で変換された電流値を電圧変換してそれらの値を
比較する比較回路を設けたので、基準抵抗等の大きさを
換えることによって被測定抵抗の幅広い抵抗値変化に対
して簡単に対応できる利点がある。さらに電流変換回路
や比較回路はＩＣ化することが容易であり、これらをＩ
Ｃ化した場合、二つの電流変換回路が同じ回路構成であ
るために、それらの各回路に生じるバラツキを吸収する
ことができ、それによって測定精度を著しく高めること
ができる。
（ｅｌ実施例
第２図はこの発明の実施例の抵抗値計測回路の回路図で
ある。本実施例ではすべての回路をＩＣ化している。
ある。本実施例ではすべての回路をＩＣ化している。
前記電流変換回路１は電流源ＩＯ，トランジスタＱ１〜
Ｑ５で構成される。被測定抵抗ＲＸをクランプする電圧
ＶＦは、トランジスタＱ１のベースエミッタ間電圧で与
えられる。被測定抵抗ＲＸの抵抗値の変化はトランジス
タＱ２のコレクタ電流１１の変化となって現れる。この
電流１１はトランジスタＱ３〜Ｑ５で構成されるカレン
トミラー回路で反転され、同じ大きさの電流１１’とな
って抵抗Ｒ１を流れる。
Ｑ５で構成される。被測定抵抗ＲＸをクランプする電圧
ＶＦは、トランジスタＱ１のベースエミッタ間電圧で与
えられる。被測定抵抗ＲＸの抵抗値の変化はトランジス
タＱ２のコレクタ電流１１の変化となって現れる。この
電流１１はトランジスタＱ３〜Ｑ５で構成されるカレン
トミラー回路で反転され、同じ大きさの電流１１’とな
って抵抗Ｒ１を流れる。
前記比較回路２はトランジスタＱ６〜Ｑ９で構成されて
いる。また前記電流変換回路３はトランジスタＱ１０＝
Ｑ１４．電流源１０’で構成されている。基準抵抗ＲＡ
に対してはトランジスタＱＩＯのベースエミッタ電圧Ｖ
Ｆが与えられている。トランジスタＱｌｌには基準抵抗
ＲＡＯ値に応じた電流Ｉ２が流れ、この電流Ｉ２がトラ
ンジスタＱ１２〜Ｑ１４で構成されるカレントミラー回
路によって反転され、１２’として比較回路２のトラン
ジスタＱ８のベース端子（Ｂ点）に流れる。ここで比較
回路２のトランジスタＱ６のベース（Ａ点）の電圧ＶＡ
はＶＡ’＝ＶＦ −Ｒ１／ＲＸであるため、抵抗Ｒ１の
大きさを適当に定めることによって感度を自由に調整す
ることができる。
いる。また前記電流変換回路３はトランジスタＱ１０＝
Ｑ１４．電流源１０’で構成されている。基準抵抗ＲＡ
に対してはトランジスタＱＩＯのベースエミッタ電圧Ｖ
Ｆが与えられている。トランジスタＱｌｌには基準抵抗
ＲＡＯ値に応じた電流Ｉ２が流れ、この電流Ｉ２がトラ
ンジスタＱ１２〜Ｑ１４で構成されるカレントミラー回
路によって反転され、１２’として比較回路２のトラン
ジスタＱ８のベース端子（Ｂ点）に流れる。ここで比較
回路２のトランジスタＱ６のベース（Ａ点）の電圧ＶＡ
はＶＡ’＝ＶＦ −Ｒ１／ＲＸであるため、抵抗Ｒ１の
大きさを適当に定めることによって感度を自由に調整す
ることができる。
前記出力回路４ばトランジスタＱ１５〜Ｑ２０で構成さ
れる。比較回路２はトランジスタＱ７のコレクタから出
力し、その出力はトランジスタＱ１５を作動させてカレ
ントミラー回路Ｑ１６．Ｑ１７を介してトランジスタＱ
１８を作動させる。
れる。比較回路２はトランジスタＱ７のコレクタから出
力し、その出力はトランジスタＱ１５を作動させてカレ
ントミラー回路Ｑ１６．Ｑ１７を介してトランジスタＱ
１８を作動させる。
さらにトランジスタＱ１９．Ｑ２０を作動させて出力す
る。
る。
本実施例では、上記の回路に加えてさらに回路の動作を
より安定化させるためのヒステリシス回路を備えている
。ヒステリシス回路はトランジスタＱ２１〜Ｑ２４で構
成されている。トランジスタＱ２１はＱ１５がオンして
トランジスタＱ１８（１）ベース端子（０点）に電流Ｉ
３’が流入したときにオンする。トランジスタＱ２４は
電流■２の反転した電流１２’をトランジスタＱ２３の
ベース端子またはトランジスタＱ２１に供給する。また
トランジスタＱ２３のコレクタは比較回路の一方の入力
端子Ｂ点に接続されている。
より安定化させるためのヒステリシス回路を備えている
。ヒステリシス回路はトランジスタＱ２１〜Ｑ２４で構
成されている。トランジスタＱ２１はＱ１５がオンして
トランジスタＱ１８（１）ベース端子（０点）に電流Ｉ
３’が流入したときにオンする。トランジスタＱ２４は
電流■２の反転した電流１２’をトランジスタＱ２３の
ベース端子またはトランジスタＱ２１に供給する。また
トランジスタＱ２３のコレクタは比較回路の一方の入力
端子Ｂ点に接続されている。
以上の構成において、今、被測定抵抗Ｒｘの値が基準抵
抗ＲＡの値よりも大きくなったとすると、Ａ点の電位よ
りＢ点の電位が大きくなる。すると、トランジスタＱ６
．Ｑ７がオンしてトランジスタＱ１５が動作し、電流Ｉ
３’が流れる。またこの電流１３’が０点に流れること
により、トランジスタＱ２１がオンする。するとｉ・ラ
ンジスタＱ２４によって反転された電流１２’はすべて
トランジスタＱ２１を流れるため、トランジスタＱ２３
がオフする。この結果、Ｂ点に流入する電流１２’はす
べて抵抗Ｒ２を流れる。即ち、Ｂ点の電圧ＶＢは最大の
値をとることになる。電圧ＶＢが最大の値をとると、そ
の後電圧ＶＡが多少大きくなっても、即ち被測定抵抗Ｒ
Ｘの大きさが多少小さくなるように変動しても変化は生
じない。尚、この状態のときには電流１３’によってト
ランジスタＱ１８〜２０がオンするため、出力端子は”
Ｌ”となっている。
抗ＲＡの値よりも大きくなったとすると、Ａ点の電位よ
りＢ点の電位が大きくなる。すると、トランジスタＱ６
．Ｑ７がオンしてトランジスタＱ１５が動作し、電流Ｉ
３’が流れる。またこの電流１３’が０点に流れること
により、トランジスタＱ２１がオンする。するとｉ・ラ
ンジスタＱ２４によって反転された電流１２’はすべて
トランジスタＱ２１を流れるため、トランジスタＱ２３
がオフする。この結果、Ｂ点に流入する電流１２’はす
べて抵抗Ｒ２を流れる。即ち、Ｂ点の電圧ＶＢは最大の
値をとることになる。電圧ＶＢが最大の値をとると、そ
の後電圧ＶＡが多少大きくなっても、即ち被測定抵抗Ｒ
Ｘの大きさが多少小さくなるように変動しても変化は生
じない。尚、この状態のときには電流１３’によってト
ランジスタＱ１８〜２０がオンするため、出力端子は”
Ｌ”となっている。
上記の状態で電圧ＶＡが電圧ＶＢを越える程度に被測定
抵抗ＲＸの値が変化すると、今度はＶＡ＞ＶＢであるた
めトランジスタＱＢ、Ｑ９がオンし、トランジスタＱ６
．Ｑ７はオフ状態となる。
抵抗ＲＸの値が変化すると、今度はＶＡ＞ＶＢであるた
めトランジスタＱＢ、Ｑ９がオンし、トランジスタＱ６
．Ｑ７はオフ状態となる。
このため、トランジスタＱ１５はオフしてしまい、電／
ＭＩ３′は流れなくなる。すると、ヒステリシス回路の
トランジスタＱ２１がオフし、トランジスタＱ２４を流
れる電流１２’はトランジスタＱ２２．Ｑ２３のベース
電流となる。このためトランジスタＱ２３が能動状態と
なり、Ｂ点に流入する電流１２’が抵抗Ｒ２に流れる電
流とトランジスタＱ２３に流れる電流とに分流される。
ＭＩ３′は流れなくなる。すると、ヒステリシス回路の
トランジスタＱ２１がオフし、トランジスタＱ２４を流
れる電流１２’はトランジスタＱ２２．Ｑ２３のベース
電流となる。このためトランジスタＱ２３が能動状態と
なり、Ｂ点に流入する電流１２’が抵抗Ｒ２に流れる電
流とトランジスタＱ２３に流れる電流とに分流される。
この結果、電圧ＶＢはトランジスタＱ２３に分流した電
流分に対応して減少する。この場合トラ〉・ジスタＱ２
３に流れる電流分は同トランジスタのエミッタ面積等に
よって決るが、今、仮にトランジスタＱ２３に流れる電
流と抵抗Ｒ２に流れる電流とが丁度同じになるように設
定されているとすれば、電圧ＶＢは最大重重の２に低下
する。したが−で、その後電圧ＶＡが２に低下した電圧
ＶＢ以下となる程度に被測定抵抗値ＲＸが変化しない限
りトランジスタＱ２０の出力は“Ｈ”を保持する。
流分に対応して減少する。この場合トラ〉・ジスタＱ２
３に流れる電流分は同トランジスタのエミッタ面積等に
よって決るが、今、仮にトランジスタＱ２３に流れる電
流と抵抗Ｒ２に流れる電流とが丁度同じになるように設
定されているとすれば、電圧ＶＢは最大重重の２に低下
する。したが−で、その後電圧ＶＡが２に低下した電圧
ＶＢ以下となる程度に被測定抵抗値ＲＸが変化しない限
りトランジスタＱ２０の出力は“Ｈ”を保持する。
以上の動作によって本実施例の計測回路はヒステリシス
特性を持つことができ、被測定抵抗ＲＸの大きさが何等
かの原因でフラついても、或いは入力端子ａ、ｂにノイ
ズ等が乗ってもその影響を除去することができ、さらに
本実施例をセンサ回路に適用した場合においては極度に
過敏な反応を抑えることができる。また本実施例ではす
べての回路をＩＣ化し、二つの電流変換回路を同じ回路
。
特性を持つことができ、被測定抵抗ＲＸの大きさが何等
かの原因でフラついても、或いは入力端子ａ、ｂにノイ
ズ等が乗ってもその影響を除去することができ、さらに
本実施例をセンサ回路に適用した場合においては極度に
過敏な反応を抑えることができる。また本実施例ではす
べての回路をＩＣ化し、二つの電流変換回路を同じ回路
。
構成にしているため、各素子のバラツキをキャンセルす
ることができるとともに、温度特性もフラットとなり、
さらに各素子のマツチングをとることも容易である。特
に、トランジスタＱ１およびトランジスタＱＩＯのベー
スエミッタ間電圧ＶＦのマツチングを正確にとることも
簡単であるために、測定精度が高精度となり、温度係数
が小さくなる利点がある。尚、基準抵抗ＲＡは外付けす
るようにしてもよい。このようにすることによって、Ｒ
ＡＯ値を正確に設定することができ、測定精度を一層高
めることができる。
ることができるとともに、温度特性もフラットとなり、
さらに各素子のマツチングをとることも容易である。特
に、トランジスタＱ１およびトランジスタＱＩＯのベー
スエミッタ間電圧ＶＦのマツチングを正確にとることも
簡単であるために、測定精度が高精度となり、温度係数
が小さくなる利点がある。尚、基準抵抗ＲＡは外付けす
るようにしてもよい。このようにすることによって、Ｒ
ＡＯ値を正確に設定することができ、測定精度を一層高
めることができる。
第１図はこの発明の構成を示すブロック図である。第２
図はこの発明の実施例の回路図である。 第３図は従来の回路の回路図である。 １−（第一の）電流変換回路、２−比較回路、３−（第
二の）電流変換回路、ＲＸ−被測定抵抗、Ｒ八−基準抵
抗。
図はこの発明の実施例の回路図である。 第３図は従来の回路の回路図である。 １−（第一の）電流変換回路、２−比較回路、３−（第
二の）電流変換回路、ＲＸ−被測定抵抗、Ｒ八−基準抵
抗。
Claims (4)
- （１）外部入力端子に接続された被測定抵抗の値を電流
値に変換する第一の変換回路と、基準抵抗の値を電流値
に変換し、前記第一の電流変換回路と同じ回路構成にあ
る第二の電流変換回路と、前記第一の電流変換回路の電
流値を電圧変換した値と前記第二の電流変換回路の電流
値を電圧変換した値とを比較し、その大小に応じて出力
する比較回路とを備え、前記比較回路の出力に基づいて
被測定抵抗値が所定の抵抗値以上か否かを計測すること
を特徴とする抵抗値計測回路。 - （２）前記被測定抵抗は許容電力の小さいセンサである
特許請求の範囲第１項記載の抵抗値計測回路。 - （３）前記第一の電流変換回路、第二の電流変換回路、
および前記比較回路が同一チップにＩＣ化された特許請
求の範囲第１項記載の抵抗値計測回路。 - （４）前記基準抵抗が外付けされた特許請求の範囲第３
項記載の抵抗値計測回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12721384A JPS614973A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 抵抗値計測回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12721384A JPS614973A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 抵抗値計測回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS614973A true JPS614973A (ja) | 1986-01-10 |
| JPH0511268B2 JPH0511268B2 (ja) | 1993-02-15 |
Family
ID=14954522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12721384A Granted JPS614973A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 抵抗値計測回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS614973A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6437675U (ja) * | 1987-08-27 | 1989-03-07 | ||
| JP2007506091A (ja) * | 2003-09-17 | 2007-03-15 | アナログ ディヴァイスィズ インク | 複素インピーダンス素子のインピーダンスの特性を決定してそのインピーダンスの特性付けを容易にするための測定回路および方法 |
| JP2017011263A (ja) * | 2015-06-25 | 2017-01-12 | ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィＭｉｔｓｕｂｉｓｈｉ Ｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｒ＆Ｄ Ｃｅｎｔｒｅ Ｅｕｒｏｐｅ Ｂ．Ｖ． | 電解コンデンサ状態をオンラインで監視する方法及びシステム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53102785A (en) * | 1977-02-18 | 1978-09-07 | Atago Seisakusho | Device for selecting resistance value requiring no temperature conversion |
| JPS56157871A (en) * | 1980-05-08 | 1981-12-05 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measuring equipment for resistance |
-
1984
- 1984-06-19 JP JP12721384A patent/JPS614973A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53102785A (en) * | 1977-02-18 | 1978-09-07 | Atago Seisakusho | Device for selecting resistance value requiring no temperature conversion |
| JPS56157871A (en) * | 1980-05-08 | 1981-12-05 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measuring equipment for resistance |
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| JP2007506091A (ja) * | 2003-09-17 | 2007-03-15 | アナログ ディヴァイスィズ インク | 複素インピーダンス素子のインピーダンスの特性を決定してそのインピーダンスの特性付けを容易にするための測定回路および方法 |
| JP2017011263A (ja) * | 2015-06-25 | 2017-01-12 | ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィＭｉｔｓｕｂｉｓｈｉ Ｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｒ＆Ｄ Ｃｅｎｔｒｅ Ｅｕｒｏｐｅ Ｂ．Ｖ． | 電解コンデンサ状態をオンラインで監視する方法及びシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0511268B2 (ja) | 1993-02-15 |
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