JPH0545231A - 温度測定装置 - Google Patents
温度測定装置Info
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- JPH0545231A JPH0545231A JP20283991A JP20283991A JPH0545231A JP H0545231 A JPH0545231 A JP H0545231A JP 20283991 A JP20283991 A JP 20283991A JP 20283991 A JP20283991 A JP 20283991A JP H0545231 A JPH0545231 A JP H0545231A
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- temp
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 測定温度範囲が広い場合でも温度変化に対す
るＡ／Ｄ変換値の変化量を大きくし、精度を低下させず
に温度を測定する。 【構成】 感温素子としてサーミスタ１１と主基準抵抗
１２とからなる直列回路と、Ａ／Ｄ変換手段１５と、こ
れからの信号に対応する温度データをメモリ手段１６か
ら読み出す演算手段１７と、このデータに基づいて温度
表示部２２に出力する出力手段１８と、主基準抵抗１２
にスイッチング素子１９を介して並列に接続した副基準
抵抗２０とを備え、メモリ手段１６に低温領域用と高温
領域用のデータを保有する第１，第２の温度テーブルを
設け、かつＡ／Ｄ変換手段１５から得られる信号に応じ
て、メモリ手段１６の第１，第２の温度テーブルを切り
換えるとともにスイッチング素子１９のＯＮ／ＯＦＦを
切り換える手段２１を設ける構成とする。
るＡ／Ｄ変換値の変化量を大きくし、精度を低下させず
に温度を測定する。 【構成】 感温素子としてサーミスタ１１と主基準抵抗
１２とからなる直列回路と、Ａ／Ｄ変換手段１５と、こ
れからの信号に対応する温度データをメモリ手段１６か
ら読み出す演算手段１７と、このデータに基づいて温度
表示部２２に出力する出力手段１８と、主基準抵抗１２
にスイッチング素子１９を介して並列に接続した副基準
抵抗２０とを備え、メモリ手段１６に低温領域用と高温
領域用のデータを保有する第１，第２の温度テーブルを
設け、かつＡ／Ｄ変換手段１５から得られる信号に応じ
て、メモリ手段１６の第１，第２の温度テーブルを切り
換えるとともにスイッチング素子１９のＯＮ／ＯＦＦを
切り換える手段２１を設ける構成とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、デジタル温度計などに
用いられる温度測定装置に関するものである。
用いられる温度測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、サーミスタを用いた温度測定装置
は、デジタル温度計など様々な製品に使用されている。
は、デジタル温度計など様々な製品に使用されている。
【０００３】以下に従来の温度測定装置について説明す
る。図５は従来の温度測定装置のブロック図を示すもの
であり、図６は従来の温度測定装置の温度とＡ／Ｄ変換
値の特性を示すグラフである。図５において、１は感温
素子としてのサーミスタ、２はサーミスタ１と直列に接
続する基準抵抗、３はＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧を
発生させるＶREF +電圧発生回路、４はＡ／Ｄ変換基準電
圧の下限電圧を発生させるＶREF -電圧発生回路、５はサ
ーミスタによる測定電圧をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手
段、６は温度テーブルを保有するメモリ手段、７はＡ／
Ｄ変換手段からの信号に対応する温度データをメモリ手
段から読み出す演算制御手段、８は演算制御手段からの
データに基づいて温度データを出力する出力手段、９は
温度表示部である。
る。図５は従来の温度測定装置のブロック図を示すもの
であり、図６は従来の温度測定装置の温度とＡ／Ｄ変換
値の特性を示すグラフである。図５において、１は感温
素子としてのサーミスタ、２はサーミスタ１と直列に接
続する基準抵抗、３はＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧を
発生させるＶREF +電圧発生回路、４はＡ／Ｄ変換基準電
圧の下限電圧を発生させるＶREF -電圧発生回路、５はサ
ーミスタによる測定電圧をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手
段、６は温度テーブルを保有するメモリ手段、７はＡ／
Ｄ変換手段からの信号に対応する温度データをメモリ手
段から読み出す演算制御手段、８は演算制御手段からの
データに基づいて温度データを出力する出力手段、９は
温度表示部である。
【０００４】以上のように構成された温度測定装置につ
いて、以下その動作について説明する。サーミスタ１は
周囲温度が上昇すると電気抵抗が小さくなり、周囲温度
が低下すると電気抵抗が大きくなる性質を持つ。この性
質を利用し、サーミスタ１と基準抵抗２を直列に接続し
て抵抗分割回路を構成する。サーミスタ１は、周囲温度
により電気抵抗が変動するので、サーミスタ１にかかる
電圧も変動する。この電圧をＡ／Ｄ変換手段５において
測定し、ＶREF +電圧発生回路３とＶREF -電圧発生回路４
によるＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧と下限電圧を用い
て、サーミスタ１にかかる電圧に対してＡ／Ｄ変換を行
う。Ａ／Ｄ変換値と温度は図６に示す関係があり、演算
制御手段７において、Ａ／Ｄ変換値に対する温度データ
をメモリ手段６に設けてある温度テーブルより読み出
す。この演算制御手段７からの温度データを出力手段７
を通じて温度表示部８に表示する。
いて、以下その動作について説明する。サーミスタ１は
周囲温度が上昇すると電気抵抗が小さくなり、周囲温度
が低下すると電気抵抗が大きくなる性質を持つ。この性
質を利用し、サーミスタ１と基準抵抗２を直列に接続し
て抵抗分割回路を構成する。サーミスタ１は、周囲温度
により電気抵抗が変動するので、サーミスタ１にかかる
電圧も変動する。この電圧をＡ／Ｄ変換手段５において
測定し、ＶREF +電圧発生回路３とＶREF -電圧発生回路４
によるＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧と下限電圧を用い
て、サーミスタ１にかかる電圧に対してＡ／Ｄ変換を行
う。Ａ／Ｄ変換値と温度は図６に示す関係があり、演算
制御手段７において、Ａ／Ｄ変換値に対する温度データ
をメモリ手段６に設けてある温度テーブルより読み出
す。この演算制御手段７からの温度データを出力手段７
を通じて温度表示部８に表示する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、図６に示すように測定温度範囲が広くな
ると、温度とＡ／Ｄ変換値の特性を示すカーブの傾きが
小さいため、温度変化に対するＡ／Ｄ変換値の変化量が
小さくなる。その結果、温度測定精度が低下するという
問題点を有していた。
来の構成では、図６に示すように測定温度範囲が広くな
ると、温度とＡ／Ｄ変換値の特性を示すカーブの傾きが
小さいため、温度変化に対するＡ／Ｄ変換値の変化量が
小さくなる。その結果、温度測定精度が低下するという
問題点を有していた。
【０００６】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、測定温度範囲が広い場合でも温度変化に対するＡ／
Ｄ変換値の変化量を大きくすることで測定精度を低下さ
せずに温度を測定することのできる優れた温度測定装置
を提供することを目的とする。
で、測定温度範囲が広い場合でも温度変化に対するＡ／
Ｄ変換値の変化量を大きくすることで測定精度を低下さ
せずに温度を測定することのできる優れた温度測定装置
を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の温度測定装置は、感温素子としてのサーミス
タと主基準抵抗とからなる直列回路と、前記サーミスタ
による測定電圧をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、こ
のＡ／Ｄ変換手段からの信号に対応する温度データをメ
モリ手段から読み出す演算制御手段と、この演算制御手
段からのデータに基づいて温度表示部に温度データを出
力する手段と、前記直列回路の主基準抵抗にスイッチン
グ素子を介して並列に接続した副基準抵抗とを備え、前
記メモリ手段に低温領域用と高温領域用のデータを保有
する第１，第２の温度テーブルを設け、かつ前記Ａ／Ｄ
変換手段から得られる信号に応じて前記メモリ手段の第
１，第２の温度テーブルを切り換えるとともに前記スイ
ッチング素子のＯＮ／ＯＦＦを切り換える切り換え手段
を設けている。
に本発明の温度測定装置は、感温素子としてのサーミス
タと主基準抵抗とからなる直列回路と、前記サーミスタ
による測定電圧をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、こ
のＡ／Ｄ変換手段からの信号に対応する温度データをメ
モリ手段から読み出す演算制御手段と、この演算制御手
段からのデータに基づいて温度表示部に温度データを出
力する手段と、前記直列回路の主基準抵抗にスイッチン
グ素子を介して並列に接続した副基準抵抗とを備え、前
記メモリ手段に低温領域用と高温領域用のデータを保有
する第１，第２の温度テーブルを設け、かつ前記Ａ／Ｄ
変換手段から得られる信号に応じて前記メモリ手段の第
１，第２の温度テーブルを切り換えるとともに前記スイ
ッチング素子のＯＮ／ＯＦＦを切り換える切り換え手段
を設けている。
【０００８】
【作用】この構成によって、測定温度領域に対応してサ
ーミスタから得られる測定電圧及び第１，第２の温度テ
ーブルを切り換えることにより測定温度範囲が広い場合
でも測定精度を低下させずに温度を測定することができ
る。
ーミスタから得られる測定電圧及び第１，第２の温度テ
ーブルを切り換えることにより測定温度範囲が広い場合
でも測定精度を低下させずに温度を測定することができ
る。
【０００９】
【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。図１は本発明の一実施例における温
度測定装置のブロック図を示すものであり、図２は本実
施例の動作を示すフローチャート、図３は本実施例のメ
モリ手段に設けられた第１，第２の温度テーブルの構造
図、図４は本実施例の温度とＡ／Ｄ変換値の特性を示す
グラフである。図１において、１１はサーミスタ、１２
は主基準抵抗、１３はＶREF +電圧発生回路、１４はＶ
REF -電圧発生回路、１５はＡ／Ｄ変換手段、１６はメモ
リ手段、１７は演算制御手段、１８は出力手段、１９は
トランジスタによるスイッチング素子、２０は副基準抵
抗、２１は切り換え手段、２２は温度表示部である。メ
モリ手段１６には、温度変化に対するＡ／Ｄ変換値の変
化量を大きくするために、測定温度範囲の全域を２分割
して、基準抵抗を主基準抵抗１２とする低温領域用と、
基準抵抗を主基準抵抗１２と副基準抵抗２０の並列抵抗
とする高温領域用のデータを保有する第１，第２の温度
テーブルを設ける。第１，第２の温度テーブルの構造は
図３に示す通りである。
しながら説明する。図１は本発明の一実施例における温
度測定装置のブロック図を示すものであり、図２は本実
施例の動作を示すフローチャート、図３は本実施例のメ
モリ手段に設けられた第１，第２の温度テーブルの構造
図、図４は本実施例の温度とＡ／Ｄ変換値の特性を示す
グラフである。図１において、１１はサーミスタ、１２
は主基準抵抗、１３はＶREF +電圧発生回路、１４はＶ
REF -電圧発生回路、１５はＡ／Ｄ変換手段、１６はメモ
リ手段、１７は演算制御手段、１８は出力手段、１９は
トランジスタによるスイッチング素子、２０は副基準抵
抗、２１は切り換え手段、２２は温度表示部である。メ
モリ手段１６には、温度変化に対するＡ／Ｄ変換値の変
化量を大きくするために、測定温度範囲の全域を２分割
して、基準抵抗を主基準抵抗１２とする低温領域用と、
基準抵抗を主基準抵抗１２と副基準抵抗２０の並列抵抗
とする高温領域用のデータを保有する第１，第２の温度
テーブルを設ける。第１，第２の温度テーブルの構造は
図３に示す通りである。
【００１０】以上のように構成された温度測定装置につ
いて、図１，図２を用いてその動作を説明する。まず、
低温領域設定でサーミスタ１１にかかる電圧測定を行
う。低温領域設定での測定時は、切り換え手段２１によ
ってメモリ手段１６に設けられている温度テーブルを低
温領域用である第１の温度テーブルを設定するととも
に、スイッチング素子１９をＯＦＦ状態にする。スイッ
チング素子１９がＯＦＦ状態であるため副基準抵抗２０
には電流が流れない。従って低温領域測定時には、サー
ミスタ１１と主基準抵抗１２からなる直列回路としてサ
ーミスタ１１にかかる電圧測定を行うことができる。
いて、図１，図２を用いてその動作を説明する。まず、
低温領域設定でサーミスタ１１にかかる電圧測定を行
う。低温領域設定での測定時は、切り換え手段２１によ
ってメモリ手段１６に設けられている温度テーブルを低
温領域用である第１の温度テーブルを設定するととも
に、スイッチング素子１９をＯＦＦ状態にする。スイッ
チング素子１９がＯＦＦ状態であるため副基準抵抗２０
には電流が流れない。従って低温領域測定時には、サー
ミスタ１１と主基準抵抗１２からなる直列回路としてサ
ーミスタ１１にかかる電圧測定を行うことができる。
【００１１】この測定結果に対して、Ａ／Ｄ変換手段１
５において、ＶREF +電圧発生回路１３とＶREF -電圧発生
回路１４によるＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧と下限電
圧を用いてＡ／Ｄ変換を行う。そして、演算制御手段１
７においてＡ／Ｄ変換手段１５からの信号とメモリ手段
１６に設定されている第１の温度テーブルデータとの比
較を行い、Ａ／Ｄ変換値が低温領域であるかを判断す
る。判断結果が低温領域であればＡ／Ｄ変換値に対応す
る温度データを第１の温度テーブルより読み出し、出力
手段１８を用いて温度表示部２２へ温度データを出力し
表示する。演算制御手段１７においてＡ／Ｄ変換値が低
温領域でないと判断した場合は高温領域設定でサーミス
タ１１にかかる電圧測定を行う。
５において、ＶREF +電圧発生回路１３とＶREF -電圧発生
回路１４によるＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧と下限電
圧を用いてＡ／Ｄ変換を行う。そして、演算制御手段１
７においてＡ／Ｄ変換手段１５からの信号とメモリ手段
１６に設定されている第１の温度テーブルデータとの比
較を行い、Ａ／Ｄ変換値が低温領域であるかを判断す
る。判断結果が低温領域であればＡ／Ｄ変換値に対応す
る温度データを第１の温度テーブルより読み出し、出力
手段１８を用いて温度表示部２２へ温度データを出力し
表示する。演算制御手段１７においてＡ／Ｄ変換値が低
温領域でないと判断した場合は高温領域設定でサーミス
タ１１にかかる電圧測定を行う。
【００１２】高温領域設定での測定時は、切り換え手段
２１によってメモリ手段１６に設けられている温度テー
ブルを高温領域用である第２の温度テーブルと設定する
とともに、スイッチング素子１９をＯＮ状態にする。ス
イッチング素子１９がＯＮ状態であるため副基準抵抗２
０に電流が流れる。従って高温領域測定時の基準抵抗値
は、主基準抵抗１２と副基準抵抗２０の並列抵抗値とな
り、サーミスタ１１とこれらの並列抵抗値との直列回路
としてサーミスタ１１にかかる電圧測定を行うことがで
きる。
２１によってメモリ手段１６に設けられている温度テー
ブルを高温領域用である第２の温度テーブルと設定する
とともに、スイッチング素子１９をＯＮ状態にする。ス
イッチング素子１９がＯＮ状態であるため副基準抵抗２
０に電流が流れる。従って高温領域測定時の基準抵抗値
は、主基準抵抗１２と副基準抵抗２０の並列抵抗値とな
り、サーミスタ１１とこれらの並列抵抗値との直列回路
としてサーミスタ１１にかかる電圧測定を行うことがで
きる。
【００１３】この測定結果に対して、Ａ／Ｄ変換手段１
５においてＶREF +電圧発生回路１３とＶREF -電圧発生回
路１４によるＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧と下限電圧
を用いてＡ／Ｄ変換を行う。そして、演算制御手段１７
においてＡ／Ｄ変換値に対応する温度データを第１の温
度テーブルより読み出し、出力手段１８を用いて温度表
示部２２へ温度データを出力し表示する。
５においてＶREF +電圧発生回路１３とＶREF -電圧発生回
路１４によるＡ／Ｄ変換基準電圧の上限電圧と下限電圧
を用いてＡ／Ｄ変換を行う。そして、演算制御手段１７
においてＡ／Ｄ変換値に対応する温度データを第１の温
度テーブルより読み出し、出力手段１８を用いて温度表
示部２２へ温度データを出力し表示する。
【００１４】以上のように、本実施例によればサーミス
タと主基準抵抗とからなる直列回路の主基準抵抗にスイ
ッチング素子を介して並列に接続した副基準抵抗とを備
え、メモリ手段に低温領域用と高温領域用のデータを保
有する第１，第２の温度テーブルを設け、かつ前記Ａ／
Ｄ変換手段から得られる信号に応じて前記メモリ手段の
第１，第２の温度テーブルを切り換えるとともに前記ス
イッチング素子のＯＮ／ＯＦＦを切り換える切り換え手
段を設け、測定温度領域に対応して前記サーミスタから
得られる測定電圧及び第１，第２の温度テーブルを切り
換えることにより、図４に示すように温度変化に対する
Ａ／Ｄ変換値の変化量を従来例の約２倍から３倍大きく
することができ、これにより測定温度範囲が広い場合で
も測定精度を低下させずに温度を測定することができ
る。なお、本実施例における、Ａ／Ｄ変換手段１５，メ
モリ手段１６，演算制御手段１７，出力手段１８、およ
び切り換え手段２１は、ワンチップマイクロコンピュー
タの機能を利用して実現することもできる。
タと主基準抵抗とからなる直列回路の主基準抵抗にスイ
ッチング素子を介して並列に接続した副基準抵抗とを備
え、メモリ手段に低温領域用と高温領域用のデータを保
有する第１，第２の温度テーブルを設け、かつ前記Ａ／
Ｄ変換手段から得られる信号に応じて前記メモリ手段の
第１，第２の温度テーブルを切り換えるとともに前記ス
イッチング素子のＯＮ／ＯＦＦを切り換える切り換え手
段を設け、測定温度領域に対応して前記サーミスタから
得られる測定電圧及び第１，第２の温度テーブルを切り
換えることにより、図４に示すように温度変化に対する
Ａ／Ｄ変換値の変化量を従来例の約２倍から３倍大きく
することができ、これにより測定温度範囲が広い場合で
も測定精度を低下させずに温度を測定することができ
る。なお、本実施例における、Ａ／Ｄ変換手段１５，メ
モリ手段１６，演算制御手段１７，出力手段１８、およ
び切り換え手段２１は、ワンチップマイクロコンピュー
タの機能を利用して実現することもできる。
【００１５】
【発明の効果】以上のように本発明は、サーミスタと主
基準抵抗とからなる直列回路の主基準抵抗にスイッチン
グ素子を介して並列に接続した副基準抵抗とを備え、メ
モリ手段に低温領域用と高温領域用のデータを保有する
第１，第２の温度テーブルを設け、かつ前記Ａ／Ｄ変換
手段から得られる信号に応じて前記メモリ手段の第１，
第２の温度テーブルを切り換えるとともに前記スイッチ
ング素子のＯＮ／ＯＦＦを切り換える切り換え手段を設
け、測定温度領域に対応して前記サーミスタから得られ
る測定電圧及び第１，第２の温度テーブルを切り換える
ことにより、測定温度範囲が広い場合でも測定精度を低
下させずに温度を測定することができる優れた温度測定
装置を実現するものである。
基準抵抗とからなる直列回路の主基準抵抗にスイッチン
グ素子を介して並列に接続した副基準抵抗とを備え、メ
モリ手段に低温領域用と高温領域用のデータを保有する
第１，第２の温度テーブルを設け、かつ前記Ａ／Ｄ変換
手段から得られる信号に応じて前記メモリ手段の第１，
第２の温度テーブルを切り換えるとともに前記スイッチ
ング素子のＯＮ／ＯＦＦを切り換える切り換え手段を設
け、測定温度領域に対応して前記サーミスタから得られ
る測定電圧及び第１，第２の温度テーブルを切り換える
ことにより、測定温度範囲が広い場合でも測定精度を低
下させずに温度を測定することができる優れた温度測定
装置を実現するものである。
【図１】本発明の一実施例における温度測定装置のブロ
ック図
ック図
【図２】同温度測定装置の動作説明のためのフローチャ
ート
ート
【図３】同温度測定装置のメモリ手段に設けられた第
１，第２の温度テーブルの構造図
１，第２の温度テーブルの構造図
【図４】同温度測定装置の温度とＡ／Ｄ変換値の特性を
示す特性図
示す特性図
【図５】従来の温度測定装置のブロック図
【図６】従来の温度測定装置の温度とＡ／Ｄ変換値の特
性を示す特性図
性を示す特性図
１１ サーミスタ １２ 主基準抵抗 １３ ＶREF +電圧発生回路 １４ ＶREF -電圧発生回路 １５ Ａ／Ｄ変換手段 １６ メモリ手段 １７ 演算制御手段 １８ 出力手段 １９ スイッチング素子 ２０ 副基準抵抗 ２１ 切り換え手段 ２２ 温度表示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉川 嘉一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】感温素子としてのサーミスタと主基準抵抗
とからなる直列回路と、前記サーミスタによる測定電圧
をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、このＡ／Ｄ変換手
段からの信号に対応する温度データをメモリ手段から読
み出す演算制御手段と、この演算制御手段からのデータ
に基づいて温度表示部に温度データを出力する手段と、
前記直列回路の主基準抵抗にスイッチング素子を介して
並列に接続した副基準抵抗とを備え、前記メモリ手段に
低温領域用と高温領域用のデータを保有する第１，第２
の温度テーブルを設け、かつ前記Ａ／Ｄ変換手段から得
られる信号に応じて前記メモリ手段の第１，第２の温度
テーブルを切り換えるとともに前記スイッチング素子の
ＯＮ／ＯＦＦを切り換える切り換え手段を設け、測定温
度領域に対応して前記サーミスタから得られる測定電圧
及び第１，第２の温度テーブルを切り換える温度測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20283991A JPH0545231A (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | 温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20283991A JPH0545231A (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | 温度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0545231A true JPH0545231A (ja) | 1993-02-23 |
Family
ID=16464047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20283991A Pending JPH0545231A (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | 温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0545231A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100250307B1 (ko) * | 1995-11-29 | 2000-04-01 | 정몽규 | 테이퍼 롤러 베어링 |
| FR2890168A1 (fr) * | 2005-08-31 | 2007-03-02 | Ngk Spark Plug Co | Dispositif de commande de capteur de temperature. |
| JP2007093592A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-04-12 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 温度センサ制御装置 |
| JP2009053890A (ja) * | 2007-08-27 | 2009-03-12 | Nohmi Bosai Ltd | 熱感知器 |
| JP2009121825A (ja) * | 2007-11-12 | 2009-06-04 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | 温度検出回路 |
| CN103090989A (zh) * | 2013-01-18 | 2013-05-08 | 北京瑞恒超高压电器研究所(普通合伙) | 一种接触式转子测温的方法及装置 |
| US10309841B2 (en) | 2014-11-11 | 2019-06-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Temperature detecting apparatus |
| WO2023085045A1 (ja) * | 2021-11-10 | 2023-05-19 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 温度検知装置、温度検知方法及びコンピュータプログラム |
-
1991
- 1991-08-13 JP JP20283991A patent/JPH0545231A/ja active Pending
Cited By (10)
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