JP2002286808A - 負荷駆動回路 - Google Patents

負荷駆動回路

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JP2002286808A
JP2002286808A JP2001091976A JP2001091976A JP2002286808A JP 2002286808 A JP2002286808 A JP 2002286808A JP 2001091976 A JP2001091976 A JP 2001091976A JP 2001091976 A JP2001091976 A JP 2001091976A JP 2002286808 A JP2002286808 A JP 2002286808A
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Yosuke Kobayashi
陽介 小林
Hiroshi Mizota
浩志 溝田
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】被測定半導体の入力容量、パスコンや出力ケー
ブルによって帰還系が不安定になるのを防止するために
積分回路を用いているが、この積分回路の時定数が固定
であったために必要以上の時定数を設定しなければなら
なかったために、応答が遅くなってしまうという課題を
解決する。 【解決手段】積分回路の等価的な入力抵抗を可変にし
て、負荷に応じてこの入力抵抗を変化させるようにし
た。また、この等価的な入力抵抗を可変にするために、
入力電流と設定値の積の電流を出力するマルチプライン
グDA変換器を用いるようにした。負荷に応じて最適の
時定数を設定することができるので、応答が必要以上に
遅くなることがなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、負荷に一定電圧
を印可する負荷駆動回路に関し、特に半導体検査装置の
電圧印可電流測定モジュールに用いて好適な負荷駆動回
路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体検査装置では、被測定半導体であ
る負荷を電圧印可電流測定モジュールで駆動して、そこ
に流れる電流を測定することによってその良否を判定す
る。このような半導体検査装置では、被測定半導体(負
荷)の入力容量やパスコン、あるいは検査装置から被測
定半導体に至る出力ケーブルの容量などによって帰還系
が不安定になることがあるので、積分回路を挿入して安
定を図っている。
【0003】このような半導体検査装置の電圧印可電流
測定モジュールに用いる負荷駆動回路を図4に示す。図
4において、負荷6に印可する電圧の設定値はDA変換
器41に設定され、この設定電圧は抵抗42を介して増
幅器45に入力される。また、負荷6の電圧はバッファ
44,抵抗43を介して増幅器45に入力される。すな
わち、増幅器45の出力はDA変換器41が出力する設
定電圧と負荷6両端の電圧の差である誤差電圧になる。
【0004】この誤差電圧は抵抗51によって誤差電流
errに変換され、増幅器52およびコンデンサ53
で構成される積分回路に入力される。すなわち、コンデ
ンサ53は誤差電流ierrによって充放電される。こ
の積分回路の出力はバッファ54、抵抗55を介して負
荷6に印可される。このようにして、負荷6にはDA変
換器41に設定された設定電圧が印可される。このとき
の応答の早さは、抵抗51の抵抗値Rとコンデンサ53
の容量Cによって決まる時定数に依存する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな負荷駆動回路には、次のような課題があった。
【0006】前述したように、積分回路を入れる目的は
被測定半導体の入力容量やパスコン、出力ケーブルの容
量成分によって帰還系が不安定になることを防ぐためで
ある。従って、積分回路の時定数の最適値はこれらの容
量成分によって異なる。しかしながら、時定数を決める
抵抗51の抵抗値Rやコンデンサ53の容量Cは固定値
なので、負荷の状態によって可変することができないと
いう課題があった。
【0007】そのため、想定される全負荷で帰還系を安
定にするために、必要以上に大きな時定数を設定しなけ
ればならず、必要以上に応答が遅くなってしまうという
課題もあった。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、本発明のうち請求項1記載の発明は、設定値
と負荷の電圧の差電圧に関連する電流を積分回路に入力
し、この積分回路の出力で差電圧に関連する電流を積分
して、この積分回路の出力により前記負荷を駆動する負
荷駆動回路において、この積分回路の時定数を前記負荷
の状態によって変化させるようにしたものである。その
負荷に最適の時定数を設定することができる。
【0009】請求項2記載の発明は、設定値と負荷にか
かる電圧の差電圧を求める誤差電圧検出部と、この誤差
電圧検出部の出力が入力されるDA変換器と、このDA
変換器の出力が入力される積分回路を有し、この積分回
路の出力によって前記負荷を駆動するようにして、この
DA変換器に入力するデジタル入力値を前記負荷の状態
によって変化させるようにしたものである。設定するデ
ジタル入力値によって積分回路の時定数を変えることが
できる。
【0010】請求項3記載の発明は、請求項2記載の発
明において、DA変換器の出力をバッファに入力し、こ
のバッファの出力を積分回路に入力するようにしたもの
である。DA変換器のラダー抵抗分の影響を除去するこ
とができる。
【0011】請求項4記載の発明は、請求項1ないし請
求項3記載の発明において、積分回路の出力を半導体に
入力し、この半導体をテストするようにしたものであ
る。半導体のテスト時間を短縮することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下に、図に基づいて本発明を詳
細に説明する。図1は本発明に係る負荷駆動回路の概念
を示す構成図である。なお、図4と同じ要素には同一符
号を付し、説明を省略する。図1において、1は積分定
数可変回路であり、この図では可変抵抗で表されてい
る。積分定数可変回路1は抵抗51を置き換えるもので
あり、外部から設定値を与えてその抵抗値を変化させ
る。
【0013】積分定数可変回路1の抵抗値によってコン
デンサ53を充放電する電流が変化するので、この抵抗
値を変えることによって積分回路の時定数を変化させる
ことができる。負荷6の状態によって最適な時定数にな
るように積分定数可変回路1の抵抗値を調整することに
より、応答が必要以上に遅くなることがなくなり、また
より広い範囲の負荷の状態に対応することができる。
【0014】図2に他の実施例を示す。この実施例は積
分定数可変回路にDA変換器を用いたものである。な
お、図1と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略す
る。図2において、2は積分定数可変回路であり、抵抗
21およびR−2Rラダー型のマルチプライングDA変
換器22で構成されている。
【0015】抵抗21はRの抵抗値を有し、その一端は
増幅器45の出力端子に接続される。この抵抗21によ
り増幅器45の出力電圧はirefの電流値に変換さ
れ、DA変換器22にリファレンス電流として入力され
る。このDA変換器22にはまたデジタルの設定値DA
TAが入力される。DA変換器22はリファレンス電流
refと設定値DATAの積に相当する電流を出力端
子Ioutから出力する。この電流により積分回路のコ
ンデンサ53が充放電される。
【0016】すなわち、DA変換器22のフルスケール
をFSとすると、積分定数可変回路2の見かけ上の抵抗
値Rは下記(1)式で表すことができる。 R=R×FS/DATA ・・・・・・・・・ (1) なお、Rは抵抗21の抵抗値、DATAはDA変換器2
2の設定値である。
【0017】従って、コンデンサ53と増幅器52で構
成される積分回路の時定数T1は、下記(2)式にな
る。 T1=C×R×FS/DATA ・・・・・・・ (2) この(2)式からわかるように、DA変換器22の設定
値DATAを選択することにより、任意の時定数を得る
ことができる。
【0018】図2実施例は、DA変換器22内のR−2
Rラダー抵抗の抵抗分が影響して前記(1)式の見かけ
上の抵抗値Rを十分小さくすることができず、時定数
T1の可変範囲が制限されるという問題がある。図3実
施例はこの問題を解決したものである。なお、図2と同
じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。また、理
解を妨げない範囲で、構成部品を省略してある。
【0019】図3において、3は積分定数可変回路であ
り、抵抗31,34、DA変換器32およびバッファ3
3から構成されている。抵抗31は増幅器45の出力電
圧を電流値に変換する。DA変換器32はR−2Rラダ
ー型マルチプライングDA変換器であり、図2のDA変
換器22と同様の構成を有している。33はバッファで
ある。
【0020】増幅器45の出力電圧は抵抗31によって
電流に変換され、DA変換器32にリファレンス電流と
して入力される。バッファ33にはDA変換器32の出
力電流が入力され、この電流値に比例する電圧V’を
出力する。この電圧V’は抵抗34によって再び電流
に変換され、コンデンサ53,増幅器52とで構成され
る積分回路に入力される。
【0021】この実施例では、DA変換器32の出力電
流をバッファ33で低出力インピーダンスの電圧信号に
変換してから積分回路に入力するようにしている。その
ため、DA変換器32のラダー抵抗分が積分時定数に影
響することがなくなるので、時定数の可変範囲を広く取
ることができる。
【0022】なお、図3実施例ではDA変換器32の出
力電流をバッファ33で電圧信号に変換するように構成
したが、直接電流信号に変換するようにしてもよい。こ
の場合は抵抗34が不要になる。また、バッファ33は
DA変換器32とは別個に設けるようにしたが、出力バ
ッファが内蔵されたDA変換器を用いるようにしてもよ
い。
【0023】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば、次の効果が期待できる。 請求項1の
発明によれば、設定値と負荷の電圧の差電圧に関連する
電流を積分回路に入力し、この積分回路で差電圧に関連
する電流を積分して、この積分回路の出力により前記負
荷を駆動する負荷駆動回路において、この積分回路の時
定数を前記負荷の状態によって変化させるようにした。
負荷に応じて最適の時定数を設定することができるの
で、必要以上に応答性が悪くなることがなくなるという
効果がある。
【0024】請求項2記載の発明によれば、設定値と負
荷にかかる電圧の差電圧を求める誤差電圧検出部と、こ
の誤差電圧検出部の出力が入力されるDA変換器と、こ
のDA変換器の出力が入力される積分回路を有し、この
積分回路の出力によって前記負荷を駆動するようにし
て、このDA変換器に入力するデジタル入力値を前記負
荷の状態によって変化させるようにした。負荷の状態に
応じた最適な時定数が設定できるので、必要以上に応答
性が悪くなることがなくなるという効果がある。
【0025】また、デジタル値で時定数を設定できるの
で簡単かつ正確に時定数を設定でき、かつコンピュータ
制御との親和性が高いという効果もある。
【0026】請求項3記載の発明は、請求項2記載の発
明において、DA変換器の出力をバッファに入力し、こ
のバッファの出力を積分回路に入力するようにした。D
A変換器内部の抵抗分の影響がなくなるために時定数の
設定範囲が広くなり、また設定精度が向上するという効
果がある。
【0027】請求項4記載の発明によれば、請求項1な
いし請求項3記載の発明において、積分回路の出力を被
測定半導体に入力し、この半導体をテストするようにし
た。半導体のテスト時間を短縮することができ、生産性
の向上を図ることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図2】本発明の他の実施例を示す構成図である。
【図3】本発明の他の実施例を示す構成図である。
【図4】従来の負荷駆動回路の構成図である。
【符号の説明】
1,2,3 積分定数可変回路 21,31,34 抵抗 33 バッファ 22,32 DA変換器

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】設定値と負荷の電圧の差電圧に関連する電
    流を積分回路に入力し、この積分回路の出力により前記
    負荷を駆動する負荷駆動回路において、前記積分回路の
    時定数を前記負荷の状態によって変化させるようにした
    ことを特徴とする負荷駆動回路。
  2. 【請求項2】設定値と負荷の電圧の差電圧を求める誤差
    電圧検出部と、この誤差電圧検出部の出力が入力される
    DA変換器と、このDA変換器の出力が入力される積分
    回路とを有し、この積分回路の出力によって前記負荷を
    駆動すると共に、前記DA変換器に入力するデジタル入
    力値を前記負荷の状態によって変化させるようにしたこ
    とを特徴とする負荷駆動回路。
  3. 【請求項3】DA変換器の出力が入力されるバッファを
    具備し、このバッファの出力を積分回路に入力するよう
    にしたことを特徴とする請求項2記載の負荷駆動回路。
  4. 【請求項4】積分回路の出力を被測定半導体に入力し、
    この被測定半導体をテストするようにしたことを特徴と
    する請求項1ないし請求項3記載の負荷駆動回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007003368A (ja) * 2005-06-24 2007-01-11 Yokogawa Electric Corp 電圧印加装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP4581865B2 (ja) * 2005-06-24 2010-11-17 横河電機株式会社 電圧印加装置

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