JPS6134734A - 光学式デイスクプレ−ヤ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ディスクの信号記録面に光ビームを入射せし
め、ディスクで反射されて戻る光ビームを検出して電気
信号を発生するとともに、ディスクに入射する光ビーム
の集束位置を、フォーカス引込み制御手段を伴ったフォ
ーカス制御機構で調整するようにした光学式ディスクプ
レーヤに関する。

従来の技術 記録トランクが形成される信号記録面を有する光学ディ
スクから、レーザ光ビームを用いてその記録トランクに
記録された信号を再生する、もしくは、光学ディスクに
レーザ光ビームを用いて情報を記録する光学式ディスク
プレーヤにあっては、光学ディスクを回転させ、レーザ
光ビームを回転する光学ディスクの信号記録面に適正な
フォーカス状態で入射せしめるためのフォーカス・サー
ボコントロールが行われる。このフォーカス・サーボコ
ントロールはフォーカス制御機構が設けられて行われ、
それによって、例えば、レーザ光ビームを光学ディスク
の信号記録面に入射せしめる対物レンズの、光学ディス
クの信号記録面に直交する方向における位置が制御され
て、この対物レンズから信号記録面までの距離が、レー
ザ光ビ了ムの集束位置が光学ディスクの信号記録面上に
適正に置かれるように保たれる。

ところで、斯かるフォーカス・サーボコントロールが正
しく行われる状態となるためには、その直前において、
対物レンズが光学ディスクの信号記録面に対して一定距
離内の範囲に位置せしめられ、光学ディスクに入射する
レーザ光ビームの集束位置が、光学ディスクの信号記録
面上を中心とした一定の引込み範囲内に置かれることが
必要となる。このような、適正なフォーカス・サーボコ
ントロールが開始されるために要求される状態をつくる
べく、光学式ディスクプレーヤに設けられるフォーカス
制御機構には、フォーカス引込み制御手段が伴わしめら
れる。そして、このフォーカス引込み制御手段による、
光学ディスクへ入射するレーザ光ビームの集束位置が、
信号記録面に対してジャスト・フォーカス状態もしくは
それに比較的近い状態になる位置、即ち、光学ディスク
の信号記録面上を中心とした一定の引込み範囲内におか
れるようになされるフォーカス引込み動作が行われた後
、フォーカス・サーボコントロールが行われる状態がと
られるのである。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上述の如くのフォーカス引込み動作状態
からフォーカス・サーボコントロール状態への移行は、
光学ディスクへの入射レーザ光ビームが光学ディスクで
反射されて得られる反射レーザ光ビームの状況にもとす
いて行われるので、光学ディスクが、通常、書込みがで
きる光学ディスクと称される、ユーザーが信号を光学的
に記録することができるようにされたものであって、光
反射率が比較的高い螺旋状のランド部とこのランド部に
挾まれた光反射率が比較的低い螺旋状のグループ部とが
形成され、グループ部の底面が信号記録面とされたもの
のような場合には、光学ディスクへ入射するレーザ光ビ
ームの集束位置が信号記録面上を中心とした一定の引込
み範囲内におかれる状態がとられないうちに、フォーカ
ス・サーボコントロール状態への移行がなされてしまう
、あるいは、光学ディスクへ入射するレーザ光ビームの
集束位置が引込み範囲内におかれたにもかかわらず、フ
ォーカス・サーボコントロール状態に移行しないという
不都合が生じる虞れがある。

即ち、斯かる書込みができる光学ディスクが用いられる
場合には、入射レーザ光ビームに対する信号記録面の反
射率とこの信号記録面が形成された透明基体もしくはこ
れを覆う透明保護層の外表面の反射率との差が小となり
、そのため、フォーカス引込み制御手段による上述した
フォーカス引込み動作時において、入射レーザ光ビーム
が光学ディスクの入射側の透明保護層の外表面上に集束
する状態と光学ディスクの信号記録面上に集束する状態
との判別が困難となり、入射レーザ光ビームの集束位置
が光学ディスクの入射側の外表面上を中心とする一定の
範囲内におかれたとき、フォーカス・サーボコントロー
ル状態への移行がなされてしまう、あるいは、斯かる事
態を回避せんとする設定がなされる結果、入射レーザ光
ビームの集束位置が適正な引込み範囲内におかれたとき
にも、その検出がなされず、フォーカス・サーボコント
ロール状態への移行が行われないことになってしまうと
いう不都合が生じるのである。

斯かる問題点を解決すべく本発明は、書込みができる光
学ディスク等のように信号記録面の光反射率が比較的低
いものとされた光学ディスクが使用される場合に、適正
なフォーカス引込み動作を確実になすことができ、その
結果、正しいフォーカス・サーボコントロールを行うこ
とができるようにされたフォーカス制御機構を備えた光
学式ディスクプレーヤを提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 上述の如くの目的を達成すべく、本発明に係る光学式デ
ィスクプレーヤは、螺旋状等に形成された高光反射率部
で区分されて形成された信号記録面を有する光学ディス
クにレーザ光ビーム等の光ビームを入射せしめるレンズ
手段と、光学ディスクで反射された光ビームを検出して
出力信号及び光学ディスクに入射する光ビームの集束状
態を示すフォーカス・エラー信号を得る信号形成回路と
、このフォーカス・エラー信号にもとずいて、光学ディ
スクへ入射する光ビームの集束位置を調整するフォーカ
ス制御手段と、上述のレンズ手段を光学ディスクに入射
する光ビームの光軸方向に移動させて光学ディスクに次
第に接近させるフォーカス引込み制御手段と、光学ディ
スクに入射し信号記録面へ到達する光ビームを高光反射
率部を横切る方向に移動させるトラバース手段と、上述
の出力信号とフォーカス・エラー信号とにもとずいて、
光学ディスクへ入射する光ビー、ムの集束位置が信号記
録面もしくはその近傍、即ち、高光反射率部を含む所定
の引込み範囲にもたらされたことを検出する検出部とを
備えて構成され、フォーカス引込み制御手段によるフォ
ーカス引込み動作により、光学ディスクに入射する光ビ
ームの集束位置が引込み範囲にもたらされたとき、フォ
ーカス制御手段による光学ディスクに入射する光ビーム
の集束位置の調整が行われる状態への切換えが行われる
ものとされる。

作用 このように構成される本発明に係る光学式ディスクプレ
ーヤにおいては、フォーカス制御手段によりフォーカス
・エラー信号に応答して行われるフォーカス・サーボコ
ントロールに先立ち、フォーカス引込み制御手段により
レンズ手段が光学ディスクへ次第に接近せしめられて、
光学ディスクに入射する光ビームの集束位置が光学ディ
スクの信号記録面もしくはその近傍、即ち、信号記録面
を区分する高光反射率部を含む所定の引込み範囲にもた
らされるフォーカス引込み動作が行われ、このフォーカ
ス引込み動作中に、トラバース手段が光学ディスクに入
射し信号記録面へ到達する光ビームを高光反射率部を横
切る方向に移動させる。

従って、フォーカス引込み動作中には、光学ディスクに
入射し信号記録面へ到達する光ビームは、高光反射率部
を横切る方向に移動せしめられつつ、その集束位置が引
込み範囲内にもたらされることになる。このため、光学
ディスクからの反射光ビームを検出して出力信号及びフ
ォーカス・エラー信号を得る信号形成回路では、信号記
録面からの反射光ビームのみならず高光反射率部からの
反射光ビームも検出され、光学ディスクに入射する光ビ
ームの集束位置が高光反射率部上にもたらされたとき、
信号形成回路から、光学ディスクに入射する光ビームの
集束位置が、信号記録面及び高光反射率部が形成された
透明基体もしくはこれらを覆う透明保護層の外表面上を
含む他の位置にもたらされたときとは明瞭に区別される
、例えば、高レベルの出力信号が得られ、検出部は、こ
の高レベルの出力信号とそのとき得られるフォーカス・
エラー信号とにもとずいて、光学ディスクに入射する光
ビームの集束位置が高光反射率部上を含む引込み範囲、
換言すれば、信号記録面もしくはその近傍にもたらされ
たことを検出する。そして、検出部による斯かる検出が
なされると、フォーカス引込み動作状態からフォーカス
・サーボコントロール状態への切換えがなされる。

このため、本発明に係る光学式ディスクプレーヤにあっ
ては、フォーカス引込み動作時において、光学ディスク
に入射する光ビームの集束位置が信号記録面もしくはそ
の近傍、即ち、所定の引込み範囲にもたらされたことの
確実な検出がなされ、それにもとずいて、フォーカス引
込み動作状態からフォーカス・サーボコントロール状態
への適切な切換えがなされる。

実施例 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。

第１図は本発明に係る光学式ディスクプレーヤの−例の
要部を示す。第１図の例において用いられる光学ディス
ク１は、例えば、第２図に示される如く、透明基体５０
の一方の面に、螺旋状もしくは同心円状に形成された光
反射率が比較的高い、高光反射率部であるランド部５１
と、このランド部５１によって区分され、全体として螺
旋状もしくは同心円状に形成された光反射率が比較的低
いグループ部５２とを有しており、グループ部５２が、
ユーザーが信号を光学的に記録することができる、もし
くは、既に信号が記録された信号記録面とされている。

また、ランド部５１及びグループ部５２上には、透明保
護層５３が配されている。

そして、レーザ光ビームが透明基体５０を介して信号記
録面に到達するようにされており、その信号記録面にお
ける入射レーザ光ビームの反射率は、比較的低くて入射
側の透明基体５０の外表面における入射レーザ光ビーム
の反射率と同等もしくはそれより高いがその差が小であ
るものとされている。この光学ディスク１は所定の回転
速度で回動される。

２はレーザ光源で、例えば、半導体レーザが用いられ、
このレーザ光源２からのレーザ光ビームはコリメーク・
レンズ３を介してビームスプリンタ４及び５に入る。こ
れらビームスプリンタ４及び５を通過したレーザ光ビー
ムは、１７４波長板６を介して対物レンズ７に入り、こ
の対物レンズ７により集束されて光学ディスク１に、そ
の透明基体５０の外表面を介して入射せしめられる。こ
の例では、ビームスブリック５．１／４波長板６及び対
物レンズ７が、後述するレンズ系８及び受光部９ととも
に一体化されて光学ヘッド１０を形成するものとされ、
この光学ヘッド１．０が、トラッキング調整用駆動コイ
ル１１及びフォーカス調整用駆動コイル１２により、例
えば、光学ディスク１に入射するレーザ光ビームが光学
ディスク１のグループ部５２が形成する信号記録面を横
切る方向に移動するように、及び、光学ディスク１に近
接あるいは光学ディスク１から離隔する方向に位置制御
され得るようになされている。光学ディスク１への入射
レーザ光ビームは、信号記録面で変調を受けて反射され
、再び対物レンズ７に入り、１７４波長板６を経てビー
ムスプリッタ５に入る。そして、その一部がビームスプ
リッタ５で図において右方に屈折せしめられ、また、他
の一部がビームスプリンタ５を通過してビームスプリッ
タ４に入り、図において右方に屈折せしめられる。

ビームスプリンタ５で右方に屈折せしめられた反射レー
ザ光ビームは、レンズ系８を介して受光部９に到達し、
光学ディスク１への入射レーザ光ビームの光学ディスク
１における到達位置のグループ部５２が形成する信号記
録面の中央に対するずれ、即ち、トラッキングエラーの
検出に用いられ、さらに、ビームスプリンタ４で右方に
屈折せしめられた反射レーザ光ビームは、レンズ系１３
を介して受光部１４に到達し、光学ディスク１への入射
レーザ光ビームの信号記録面上での非集束状態、即ち、
フォーカスエラーの検出及び信号再生に用いられる。受
光部９及び１４を構成する光検出器′は、夫々ビームス
プリッタ５及び４からの反射レーザ光ビームを受けて、
それらの変化に応じた電気信号を発生する。これらレー
ザ光源２から受光部１４までの各部が光学系１５を構成
しており、この光学系１５全体が、光学ディスク１の径
方向に一体的に移動することができるようにされている
。

受光部９及び１４からの電気信号は、夫々、信号形成回
路２０及び信号形成回路３０に供給され、信号形成回路
３０からは、光学ディスク１のグループ部５２が形成す
る信号記録面の中央に対する入射レーザ光ビームの到達
位置に応じたトラッキング・エラー信号Ｓｔが得られ、
また、信号形成回路２０からは、光学ディスク１に記録
された情報の読取り信号成分である出力信号Ｓｓ及び光
学ディスク１の信号記録面に対する入射レーザ光ビーム
のフォーカス状態に応じたフォーカス・エラー信号Ｓｆ
とが得られる。

ここで、フォーカス・エラー信号Ｓｆは、例えば、入射
レーザ光ビームの集束位置が、光学ディスク１の信号記
録面上に置かれる状態、いわゆる、ジャスト・フォーカ
ス状態において零となり、入射レーザ光ビームの集束位
置が、入射側から見て、信号記録面より近くなる状態、
いわゆる、オーバー・フォーカス状態ではその程度に応
じた正の値をとって、入射レーザ光ビームの集束位置が
、入射側から見て、信号記録面より遠くなる状態、いわ
ゆる、アンダー・フォーカス状態ではその程度に応じた
負の値をとる、３字カーブ状のレベル変化を有するもの
となる。また、出力信号Ｓｓは、信号記録面についての
オーバー・フォーカス状態もしくはアンダー・フォーカ
ス状態では比較的低いレベルをとり、ジャスト・フォー
カス状態及びジャスト・フォーカス状態に比較的近い状
態では高いレベルをとるものとなる。

出力信号Ｓｓは、端子２１に導出されて図示されない復
調回路を含む再生信号処理回路系に供給されるとともに
、エンベロープ検波回路２２に供給される。エンベロー
プ検波回路２２からは、出力信号Ｓｓのエンベロープ・
レベルに対応したレベルを有する信号Ｓｓｅが得られ、
これがレベル比較回路２３の比較入力端に供給される。

レベル比較回路２３の基準入力端に゛は、電圧源２５か
ら、入射レーザ光ビームが光学ディスク１における比較
的反射率の高いランド部５１、即ち、高光反射率部に集
束するとき、即ち、ランド部５１に関してジャスト・フ
ォーカス状態もしくはジャスト・フォーカス状態に比較
的近い状態における信号Ｓｓｅのレベルのみが越え得る
所定のレベルｖｒ１の基準電圧、及び、入射レーザ光ビ
ームが光学ディスク１における比較的反射率が低いグル
ープ部５２、即ち、信号記録面に集束するとき、即ち、
信号記録面に関してジャスト・フォーカス状態もしくは
ジャスト・フォーカス状態に比較的近い状態における信
号ＳＳｅのレベルより低い所定のレベルＶｒｚの基準電
圧が、スイッチ２４を介して選択的に供給されるように
なされており、レベル比較回路２３の出力端には、信号
ＳｓｅのレベルがレベルＶｒ＋　もしく□はレベルＶｒ
、を越えるとき一定の高レベルをとり、レベルＶｒ＋　
もしくはレベルＶｒ、以下のとき一定の低レベルをとる
比較出力Ｃｃが得られる。

一方、信号形成回路２０からのフォーカス・エラー信号
Ｓｆは、零クロス検出回路２Ｇに供給され、その出力端
に、フォーカス・エラー（ｉ号ｓｆの零クロス点に対応
して生じる、高レベルをとるパルスＰＯが得られる。こ
のパルスＰＯ及びレベル比較回路２３からの比較出力Ｃ
ｃがアンドゲート２７に供給され、アンドゲート２７か
らは、比較出力Ｃｃが高レベルをとる状態でパルスＰｏ
が得られるときのみ生じるパルスＰｓが得られて、Ｒ−
Ｓフリップ・フロップ２９のセント端子Ｓに供給される
。ここで、第１図における符号２２〜２７が付されて示
される部分が光学ディスク１への入射レーザ光ビームの
集束が光学ディスク１のランド部５１、即ち、高光反射
率部もしくはグループ部５２、即ち、信号記録面、換言
すれば、信号記録面もしくはその近傍にもたらされたこ
とを検出する検出部を構成している。

Ｒ−Ｓフリップ・フロップ２９のリセット端子Ｒには、
レベル比較回路２３からの比較出力Ｃｃが立下り検出回
路２Ｂに供給されて、その出力端に得られる比較出力Ｃ
ｃの高レベルから低レベルへの立下りに応じて生じる立
下りパルスＰｒが供給される。そして、Ｒ−Ｓフリップ
・フロップ２９の出力端子Ｑからは、例えば、セットか
らリセットまでの期間に一定の高レベルをとり他の期間
一定の低レベルをとる出力Ｓｗが得られ、この出力Ｓｗ
は、オアゲート４５の一方の入力端に供給されるととも
に、遅延回路３１を介してオアゲート４７及びオアゲー
ト４８の夫々の一方の入力端に供給される。

一方、フォーカス引込み動作指令信号発生部４２からの
フォーカス引込み動作指令信号ＰｈがＲ−Ｓフリップ・
フロップ４３のセント端子Ｓに供給され、また、このＲ
−Ｓフリップ・フロップ４３のジャスト端子Ｒにはアン
ドゲート２７からのパルスＰｓが供給されて、Ｒ−Ｓフ
リップ・フロップ４３の出力端子Ｑからは、例えば、セ
ントからジャストまでの期間に一定の高レベルをとる信
号ｓｈが得られる。この信号ｓｈは、インバータ４４を
介してオアゲート４５の他方の入力端に供給され、また
、遅延回路３６及びインバータ４６を介してオアゲート
４７及び４８の夫々の他方の入力端に供給される。そし
て、オアゲート４５゜４７及び４８の夫々の出力端から
は制御信号Ｃｒ。

Ｃｆ及びＣｔが得られ、制御信号Ｃｒはスイッチ２４の
制御端に、制御信号Ｃｆはスイッチ３２の制御端に、ま
た、制御信号Ｃｔはスイッチ３７の制御端に夫々供給さ
れる。

スイッチ３２の一対の選択接点３２ｂ及び３２Ｃには、
夫々、Ｒ−Ｓフリップ・フロップ４３からの信号ｓｈが
遅延回路３６を介して動作制御信号として供給されるフ
ォーカス引込み電圧発生部３３からのフォーカス引込み
電圧Ｖｆｏ、及び、フォーカス・エラー信号Ｓｆが供給
される位相補償回路３４の出力が供給され、その固定接
点３２ａには、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏもしくはフ
ォーカス・エラー信号Ｓｆが位相補償回路３４に供給さ
れて得られる信号が選択的に導出されて、これが駆動制
御回路３５に供給される。駆動制御回路３５は、フォー
カス引込み電圧Ｖｆｏもしくは位相補償回路３４からの
信号に応じた駆動信号をフォーカス調整用駆動コイル１
２に供給して、フォーカス調整用駆動コイル１２を作動
せしめる。

ここで、フォーカス引込み電圧発生部３３．スイッチ３
２．駆動制御回路３５．フォーカス調整用駆動コイル１
２及びスイッチ３２に対する制御部により、フォーカス
引込み制御部が構成されていることになる。

また、スイッチ３７の一対の選択接点３７ｂ及び３７ｃ
には、夫々、トラバース信号発生部３８からの、例えば
、周波数４００Ｈｚの正弦波信号とされたトラバース信
号Ｔｔ及びトラッキング・エラー信号Ｓｔが供給される
位相補償回路３９の出力が供給され、その固定接点３７
ａには、トラバース信号Ｔｔもしくはトラッキング・エ
ラー信号Ｓｔが位相補償回路３９に供給されて得られる
信号が選択的に導出されて、これがスイッチ４１を介し
て駆動制御回路４０に供給される。このスイッチ４１は
、その制御端にフォーカス引込み電圧発生部３３から所
定のレベル変化をもって出力される信号ｐｔが供給され
、フォーカス引込み動作が行われる期間にオン状態とさ
れるものとなされている。駆動制御回路４０は、トラバ
ース信号Ｔｔもしくは位相補償回路３９からの信号に応
じた駆動信号をトラッキング調整用駆動コイル１１に供
給し、トラッキング調整用駆動コイル１１を作動せしめ
る。ここで、トラバース信号発生部３８゜スイッチ３７
及び４１．駆動制御回路４０．トラッキング調整用駆動
コイル１１、及び、スイ・ノブ３７及び４１に対する制
御部により、トラバース制御が構成されていることにな
る。

このような構成のもとにフォーカス・サーボコントロー
ルが行われるに際しては、先ず、フォーカス引込み動作
指令信号発生部４２からパルス状のフォーカス引込み動
作指令信号ｐｈが出力され、これによりＲ−３フリツプ
・フロップ４３がセ・ノドされて、Ｒ−Ｓフリップ・フ
ロ・ノブ４３の出力端子Ｑから所定の高レベルをとる信
号ｓｈが得られる。この信号ｓｈは、インバータ４４に
よりそのレベルを高レベルから低レベルに反転されてオ
アゲート４５の他方の入力端に供給され、このときＲ−
Ｓフリップ・フロップ２９はセント状態になく、その出
力端子Ｑからの出力ＳＷは低レベルにあるので、オアゲ
ート４５からは所定の低レベルをとる制御信号Ｃｒが得
られて、スイッチ２４の制御端に供給される。これによ
り、スイ・ノブ２４の選択接点２４ｂが固定接点２４ａ
に接続される状態がとられて、レベル比較回路２３の基
準入力端には電圧源２５からレベルＶｒ、を有した基準
電圧が供給される。

また、信号ｓｈは遅延回路３６にも供給され、レベル比
較回路２３の基準入力端にレベルＶｒ。

の基準電圧が供給された後、遅延回路３６から出力され
てフォーカス引込み電圧発生部３３に供給されるととも
に、インバータ４６によりそのレベルを高レベルから低
レベルに反転されてオアゲ三ト４７及び４８に供給され
る。このため、フォーカス引込み電圧発生部３３がフォ
ーカス引込み電圧Ｖｆｏを発生する状態とされ、また、
このときＲ−Ｓフリップ・フロップ２９からの出力ＳＷ
は低レベルにあるので、オアゲート４７及び４８の夫々
の出力端からは、所定の低レベルをとる制ｊＢ信号Ｃｆ
及びＣｔが得られて、夫々、スイッチ３２の制御端及び
スイッチ３７の制御端に供給される。これにより、スイ
ッチ３２においては、選択接点３２ｂがその固定接点３
２ａに接続され、フォーカス調整用駆動コイルＩ２を駆
動する駆動制御回路３５には、フォーカス引込み電圧発
生部３３からのフォーカス引込み電圧Ｖｒｏが供給され
る。

このフォーカス引込み電圧Ｖｆｏは、例えば、第４図Ａ
に示される如くの、零レベルから始まり、一旦急速に負
のレベル−ＥＩまで降下した後、次第に上昇して零レベ
ルを越え、正のレベル十Ｅ２に漸近して、その後零レベ
ルに戻るようなレベル変化を有するものとされる。斯か
るレベル変化を伴うフォーカス引込み電圧Ｖｆｏが駆動
制御回路３５に供給され、フォーカス制御用駆動コイル
１２がフォーカス引込み電圧Ｖｆｏにもとすいて動作せ
しめられて、フォーカス引込み制御部によるフォーカス
引込み動作が開始され、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏの
零レベルから負のレベル−Ｅｌへ降下する変化に応じて
、光学ヘッド１０における対物レンズ７が一旦光学ディ
スク１から遠ざけられ、次に、フォーカス引込み電圧Ｖ
ｆｏの負のレベル−Ｅｌから正のレベル→−Ｅ２へ向う
変化に応じて、対物レンズ７が第３図Ａにおいてαで示
される状態からγもしくはδで示される状態となる如く
に、その先軸方向に沿って光学ディスク１に接近せしめ
られ、それに伴って、光学ディスク１への入射レーザ光
ビームの集束位置が、光学ディスク１の信号記録面（グ
ループ部５２ンより対物レンズ７側に離れた位置から信
号記録面に近付いていくように変化せしめられる。

一方、これと同時に、スイッチ３７においては、選択接
点３７ｂがその固定接点３７ａに接続されて、トラッキ
ング調整用駆動コイル１１を駆動する駆動制御回路４０
には、スイッチ４１を介してトラバース信号発生部３８
からの、例えば、周波数４００Ｈｚの正弦波信号である
トラバース信号Ｔｔが供給される。このとき、フォーカ
ス引込み電圧発生部３３からは、例えば、第４図Ｂに示
される如くの、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏにもとすく
各フォーカス引込み動作期間Ｊには一定の高レベルをと
り、１回のフォーカス引込み動作の終了時点から次の回
のフォーカス引込み動作の開始時点までの期ＦＪＪ　Ｊ
　’　には一定の低レベルとなる信号ｐｔが得られ、こ
の信号ｐｔがスイッチ４１の制御端に供給されて、信号
ｐｔが高レベルとなる期間Ｊにスイッチ４１がオン状態
とされ、低レベルとなる期間Ｊ′にはスイッチ４１がオ
フ状態とされる。これにより、第４図Ｃに示される如く
、トラバース信号Ｔｔは、フォーカス引込み動作が行わ
れている期間Ｊにおいてのみ、駆動制御回路４０に供給
されることになる。

このトラバース信号１’ｔが駆動制御回路４０に供給さ
れることにより、トラッキング調整用駆動コイル１１が
トラバース信号Ｔｔにもとすいて動作せしめられて、ト
ラバース動作が行われ、光学ヘッド１０における対物レ
ンズ７が、トラバース信号Ｔｔに応じて光学ディスク１
のランド部５１及びグループ部５２を横切るようにして
、トラバース信号Ｔｔの振幅に応じて定まる一定の範囲
内で往復移動せしめられ、第３図Ｂに示される如く、光
学ディスク１の信号記録面（グループ部５２）へ到達す
る入射レーザ光ビームが高光反射率部（ランド部５１）
を横切る方向に往復移動せしめられて、入射レーザ光ビ
ームの信号記録面（グループ部５２）及び高光反射率部
（ランド部５１）上におけるスボントＢｓは、蛇行する
軌跡を描くものとなる。

このようにフォーカス引込み動作及びトラバース動作が
行われることにより、光学ディスク１への入射レーザ光
ビームの集束位置は、光学ディスク１のランド部５Ｉ及
びグループ部５２を横切る方向に往復移動しつつ、ラン
ド部５工及びグループ部５２から対物レンズ７側に離隔
した位置から次第にランド部５１及びグループ部５２に
近接していく。そして、入射レーザ光ビームの集束位置
が、第３図Ａにおいてαで示される如くに、光学ディス
ク１の対物レンズ７側、即ち、入射側の外表面よりさら
に対物レンズ７側にある状態においては、レベル比較回
路２３の比較入力端に供給される信号Ｓｓｅは、第５図
Ａに示される如く、低レベル部Ｌ＋を維持する。この低
レベル部Ｌ＋　はレベル比較回路２３の基準入力端に電
圧源２５がら供給される基準電圧のレベルＶｒ、より低
いものとなるので、レベル比較回路２３から得られる比
較出力Ｃｃは、第５１ＦＢに示される如く、低レベルを
とり、低し−・ル部を生じる。

次に、入射レーザ光ビームの集束位置が、第３図Ａにお
いてβで示される如くに、光学ディスク１の入射側の外
表面上におかれる状態がとられるとき、信号Ｓｓｅのレ
ベルは、第５図Ａに示されル如＜、レベル増加部Ｌ２を
生じるが、このレベル増加部Ｌ２は基準電圧のレベルＶ
ｒ、を越えないものとなる。そして、入射レーザ光ビー
ムの集束位置がさらに光学ディスク１の内部側に進み、
第３図Ａにおいてγで示される如く、高光反射率部であ
るランド部５１にもたらされるとき、即ち、入射レーザ
光ビームのランド部５１に関してのジャスト・フォーカ
ス状態が得られるとき、第５図Ａに示される如く、信号
Ｓｓｅはそのレベルが上昇して基準電圧のレベルＶｒ、
を越える高レベル部Ｌ３を形成する。これにより、レベ
ル比較回路２３からの比較出力Ｃｃは、第５図Ｂに示さ
れる如＜、信号ＳｓｅのレベルがレベルＶｒ、を越える
と同時に高レベルとなり、高レベルをとる比較出力Ｃｃ
がアンドゲート２７の一方の入力端に供給される。

このとき、零クロス検出回路２６に供給されるフォーカ
ス・エラー信号Ｓｆは、入射レーザ光ビームの光学ディ
スク１のランド部５１に対してのフォーカス状態が、オ
ーバー・フォーカス状態からジャスト・フォーカス状態
へ移行するにともなって、例えば、第５図Ｃに示される
如く、正レベルから零レベルへと変化する。そして、フ
ォーカス・エラー信号Ｓｆが零レベルをとるとき、零ク
ロス検出回路２６から、第５図りに示される如くのパル
スＰｏが得られて、このパルスＰａがアンドゲート２７
の他方の入力端に供給される。これにより、アンドゲー
ト２７からパルスＰＯに相当するパルスＰｓが得られて
、このパルスＰＯによりＲ−Ｓフリップ・フロップ２９
がセットされ、その出力端子Ｑからの出力Ｓ’ｗが高レ
ベルとされて、オアゲート４５に供給されるとともに、
遅延回路３１を介してオアゲート４７及び４８の夫々の
一方の入力端に供給される。これにより、オアゲート４
５，４７及び４８からスイッチ２４，３２及び３７の制
御端に供給される制御信号Ｃｒ。

Ｃｆ及びＣｔが、夫々高レベルをとるものとなる。

このため、スイッチ２４においては、その固定接点２４
ａが選択接点２４Ｃに接続される状態とされ、これによ
り、電圧源２５からレベル比較回路２３の基準入力端に
供給される基準電圧のレベルが、第５図Ａに示される如
く、レベルｖｒＩから、入射レーザ光ビームが光学ディ
スク１の信号記録面であるグループ部５２に関してジャ
スト・フォーカス状態、もしくは、ジャスト・フォーカ
ス状態に近い状態にあるとき得られる信号Ｓｓｅのレベ
ルより低い所定のレベルＶｒ２に変更される。また、ス
イッチ３７においては、レベル比較回路２３の基準入力
端に供給される基準電圧のレベルがＶＦ６に変更された
後、その固定接点３７ａが選択接点３７ｃに接続される
状態とされ、トラバース信号Ｔｔに代わり、トラッキン
グ・エラー信号Ｓｔが位相補償回路３９に供給されて得
られる信号が駆動制御回路４０に供給されるようになる
。また、スイッチ３２においては、同じくレベル比較回
路２３の基準入力端に供給される基準電圧のレベルがＶ
Ｆ６に変更された後、その固定接点３２ａが選択接点３
２ｃに接続される状態とされ、フォーカス引込み電圧Ｖ
ｆｏに代わり、フォーカス・エラー信号Ｓｆが位相補償
回路３４に供給されて得られる信号が駆動制御回路３５
に供給されるようになる。その結果、トラッキング調整
用駆動コイル１１がトラッキング・エラー信号Ｓｔにも
とすいて動作せしめられ、入射レーザ光ビームが光学デ
ィスク１の信号記録面であるグループ部５２を正しく走
査する状態を維持するように１−１？卸されるトラッキ
ング・サーボコントロールが行われるとともに、フォー
カス調整用駆動コイル１２がフォーカス・エラー信号Ｓ
ｆにもとすいて動作せしめられ、第３図Ａにおいてδで
示される如くに、入射レーザ光ビームが、光学ディスク
１の信号記録面であるグループ部５２に対してジャスト
・フォーカス状態を維持するものとなるよウニ、光学ヘ
ッド１０の対物レンズ７の位置が制御されるフォーカス
・サーボコントロールが行われる。

このようにして、入射レーザ光ビームが光学ディスク１
のランド部５１に対してジャスト・フォーカス状態とな
るとき、検出部により、入射レーザ光ビームの集束位置
が光学ディスク１の信号記録面であるグループ部５２の
近傍、即ち、ランド部５１を含む所定の引込み範囲にも
たらされたことが検出され、フォーカス引込み動作状態
から、フォーカス・エラー信号Ｓｆに応じて入射レーザ
光ビームの集束位置が調整されるフォーカス・サーボコ
ントロール状態に切り換えられるのである。

即ち、入射レーザ光ビームが光学ディスク１の高光反射
率部であるランド部５１に対してジャスｌ−・フォーカ
ス状態となるとき、フォーカス引込み動作が完了し、フ
ォーカス・サーボコントロール状態へと移行するのであ
る。

フォーカス引込み動作からフォーカス・サーボコントロ
ール状態に移行した後には、エンヘロープ検波回路２２
からの信号Ｓｓｅは、第５図Ａに示される如く、例えば
、さらに一度、高レベル部Ｌ３を形成した後、入射レー
ザ光ビームが光学ディスク１の信号記録面であるグルー
プ部５２に対してジャスト・フォーカス状態とされるこ
とにより得られる、レベル増加部Ｌ４を維持するものと
なる。このレベル増加部Ｌ４のレベルは、電圧源２５か
らの基準電圧のレベルＶｒ、とＶｒｚとの間にあるもの
となるが、このとき、レベル比較回路２３の基準入力端
に供給される基準電圧はレベル■ｒｚを有するものとさ
れているので、レベル比較回路２３から得られる比較出
力Ｃｃは、第５図Ｂに示される如く高レベルを維持する
ものとなる。

そして、フォーカス・サーボコントロールが行われてい
る状態で、なんらかの原因で入射レーザ光ビームの集束
位置がフォーカス・サーボコントロールが正しく行われ
得る範囲からはずれると、エンヘロープ検波回路２２か
らの信号Ｓｓｅのし゛ヘルが、レベル比較回路部２３の
基準入力端に供給されている、基準電圧のレベルＶｒｚ
より低くなる。これにより、レベル比較回路２３からの
比較出力Ｃｃが、信号ＳｓｅのレベルがレベルＶｒ２よ
り低くなる時点で、高レベルから低レベルへと立ち下が
る。この比較出力ＣＣの立下りが立下り検出回路２８で
検出され、その出力端にパルスｐｒが得られて、このパ
ルスＰｒによりＲ−Ｓフリップ・フロップ２９がリセッ
トされ、その出力端子Ｑからの出力Ｓｗが低レベルをと
るものとなる。これにより、スイッチ２４は再びレベル
Ｖｒ１の基準電圧をレベル比較回路２３の基準入力端に
供給する状態とされ、また、スイッチ３２及び３７は、
夫々、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏを駆動制御回路３５
に供給する状態、及び、トラバース信号Ｔｔを駆動制御
回路４０に供給する状態とされる。その結果、再度上述
したフォーカス引込み動作とトラバース動作とが行われ
る状態とされる。

上述の如くのトラバース動作により、フォーカス引込み
動作状態において、入射レーザ光ビームが光学ディスク
１の高光反射率部であるランド部５１を横切る状態をと
るようにされるので、入射レーザ光ビームのランド部５
１に対するジャスト・フォーカス状態がとられ、これが
検出部により確実に検出される。従って、検出部により
、入射レーザ光ビームの集束位置が光学ディスク１の信
号記録面であるグループ部５２の近傍、即ち、ランド部
５１を含む所定の引込み範囲にもたらされたことが確実
に検出されることになり、適正なフォーカス引込み動作
が行われるとともに、適切な時点でのフォーカス引込み
動作状態からフォーカス・サーボコントロール状態への
切換えがなされることになる。

発明の効果 以上の説明から明らかな如く、本発明に係る光学式ディ
スクプレーヤによれば、書込みができる光学ディスク等
のように、螺旋状もしくは同心円状に形成された高光反
射率部により区分されて形成された、光反射率が比較的
低いものとされた信号記録面を有する光学ディスクが使
用される場合に、フォーカス引込み動作時においてトラ
バース動作が行われることにより、フォーカス引込み動
作中における光学ディスクに入射する光ビームの集束位
置が信号記録面もしくはその近傍にもたらされたことを
確実に検出でき、従って、適正なフォーカス引込み動作
を確実に行えるとともに、フォーカス引込み動作状態か
ら、フォーカス・エラー信号にもとすいて光学ディスク
に入射する光ビームの集束位置が調整されるフォーカス
・サーボコントロール状態への切り換えを、適切なタイ
ミングで行うことができる。その結果、比較的光反射率
が低い信号記録面を有する光学ディスクに対しても、正
しいフォーカス・サーボコントロールを行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光学式ディスクプレーヤの一例の
要部を示す構成図、第２図は第１図に示される例に用い
得る光学ディスクの説明に供される部分斜視図、第３図
Ａ及びＢは第１図に示される例におけるフォーカス引込
み動作及びトラバース動作の説明に供される図、第４図
Ａ−Ｃ及び第５図Ａ−Ｄは第１図に示される例の動作説
明に供される波形図である。 図中、■は光学ディスク、７は対物レンズ、１０は光学
ヘッド、１１はトラッキング調整用駆動コイル、１２は
フォーカス調整用駆動コイル、２０及び３０は信号形成
回路、２３はレベル比較回路、２４．３２及び３７はス
イッチ、２５は電圧源、２６は零クロス検出回路、２７
はアンドゲート、２９及び４３はＲ−Ｓフリップ・フロ
ップ、３３はフォーカス引込み電圧発生部、３８はトラ
バース信号発生部、４２はフォーカス引込み動作指令信
号発生部である。 第２図 第３図 第４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 螺旋状もしくは同心円状に形成された高光反射率部で区
   分された信号記録面を有するディスクに光ビームを入射
   せしめるレンズ手段と、上記ディスクで反射された光ビ
   ームを検出して出力信号及びフォーカス・エラー信号を
   得る信号形成回路と、上記フォーカス・エラー信号にも
   とずいて、上記ディスクへ入射する光ビームの集束位置
   を調整するフォーカス制御手段と、上記レンズ手段を上
   記ディスクに入射する光ビームの光軸方向に移動させて
   上記ディスクに次第に接近させるフォーカス引込み制御
   手段と、上記ディスクに入射し上記信号記録面へ到達す
   る光ビームを上記高光反射率部を横切る方向に移動させ
   るトラバース手段と、上記出力信号とフォーカス・エラ
   ー信号とにもとずいて、上記ディスクへ入射する光ビー
   ムの集束位置が上記信号記録面もしくはその近傍にもた
   らされたことを検出する検出部とを備え、上記フォーカ
   ス引込み制御手段の作動により上記ディスクに入射する
   光ビームの集束位置が上記信号記録面もしくはその近傍
   にもたらされたとき、上記フォーカス制御手段による上
   記ディスクへ入射する光ビームの集束位置の調整が行わ
   れる状態に切り換えられるようにされた光学式ディスク
   プレーヤ。