JPS60226029A

JPS60226029A - 光学式デイスク・プレ−ヤ

Info

Publication number: JPS60226029A
Application number: JP8254684A
Authority: JP
Inventors: Mitsutoshi Magai; 光俊真貝; Hitoshi Okada; 均岡田
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1984-04-24
Filing date: 1984-04-24
Publication date: 1985-11-11
Also published as: JPH0444808B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】、産業上の利用分野本発明は、ディスクの信号記録面に光ビームを入射せし
め、ディスクで反射されて戻り光ビームを検出して電気
信号を発生するとともに、ディスクに入射する光ビーム
の集束位置を、フォーカス引込み手段を伴ったフォーカ
ス制御機構で調整するようにした光学式ディスク・プレ
ーヤに関する。

背景技術とその問題点記録トラックが形成された信号記録面を有する光学ディ
スクから、光ビームを用いてその記録トラックに記録さ
れた信号を再生する、もしくは、光学ディスクに光ビー
ムを用いて情報を記録する光学式ディスク・プレーヤに
あっては、光学ディスフを回転させ、光ビームを回転す
る光学ディスクの信号記録面に適正なフォーカス状態で
入射せしめるためのフォーカス・サーボコントロールが
行われる。このフォーカス・サーボコントロールはフォ
ーカス制御機構が設けられて行われ、それによって、例
えば、光ビームを光学ディスクの信号記録面に入射せし
める対物レンズの、光学ディスクの記録トランクが形成
された信号記録面に垂直な方向における位置が制御され
て、この対物レンズから信号記録面までの距離が、光ビ
ームの集束位置が光学ディスクの信号記録面上に適正に
置かれるように保たれる。

しかしながら、斯かるフォーカス・サーボコントロール
が正しく行われる状態となるためには、その直前におい
て、対物レンズが光学ディスクの信号記録面に対して一
定距離内の範囲に位置せしめられ、光学ディスクに入射
する光ビームの集束位置が、光学ディスクの信号記録面
上を中心とした一定の引込み範囲内に置かれることが必
要となる。そして、このような適正なフォーカス・サー
ボコントロールが開始されるために要求される状態を作
るべく、フォーカス制御機構には、フォーカス引込み回
路が設けられる。

第１図は、フォーカス引込み回路を伴ったフォーカス制
御機構を具備する従来の光学式ディスク・プレーヤの要
部を示す。第１図において、１は光学ディスクで、透明
基体上に、例えば、テレビジョン信号等の情報信号が記
録されたピットの配列で成る記録トランクが形成され、
アルミニウム等で成る光反射層が施された信号記録面を
有し、さらにその上に透明保護層が配されて形成されて
おり、定角速度で回転せしめられる。２はレーザ光源で
、例えば、半導体レーザが用いられ、このレーザ光源２
からのレーザ光ビームが、回折格子板３及びコリメータ
・レンズ４を介して偏向ビームスプリンタ５に入る。偏
向ビームスプリッタ５を通過したレーザ光ビームは、１
７４波長板６を介して光学ヘッドを構成する対物レンズ
７に入り、この対物レンズ７により集束されて光学ディ
スク１の信号記録面に、透明基体を介して入射せしめら
れる。対物レンズ７は、フォーカス・サーボコントロー
ルが行われるようにすべく、フォーカス制御用駆動手段
８により、光学ディスク１の信号記録面に近接あるいは
離隔する方向に、位置制御され得るようになされている
。光学ディスクｌの信号記録面に入射する入射レーザ光
ビームは、記録トラックで変調を受けた状態で信号記録
面において反射され、再び対物レンズ７に入り、１／４
波長板６を経て偏向ビームスプリンタ５に入るように戻
る。そして、この戻すレーザ光ビームは、偏向ビームス
プリッタ５で図において右方に屈折せしめられ、レンズ
系９を介して受光部１０に到達する。そして受光部１０
を構成する光検出器により、光学ヘッドを構成する対物
レンズ７からの光学ディスク１で変調を受けた戻りレー
ザ光ビーム、即ち、読取り光ビームが検知されて、その
変化が電気信号として取り出される。これらレーザ光源
２から受光部１０までの各部が光学式ピックアップ１１
を構成しており、この光学式ピックアツプ１１全体が一
体的に移動することができるようにされている。

受光部１０からの電気信号が、信号形成回路１２に供給
され、信号形成回路１２からは、光学ディスク１に記録
された情報信号成分である出力信号Ｓｓ及び光学ディス
ク１に対する入射レーザ光ビームのフォーカス状態に応
じたフォーカス・エラー信号Ｓｆが得られる。このフォ
ーカス・エラー信号Ｓｆは、例えば、入射レーザ光ビー
ムの集束位置が、光学ディスク１の反射面とされた信号
記録面上に置かれる状態、いわゆる、ジャスト・フォー
カス状態において零となり、入射レーザ光ビームの集束
位置が、入射側からみて、信号記録面より近くなる状態
、いわゆる、オーバー・フォーカス状態ではその程度に
応じた負の値をとって、入射レーザ光ビームの集束位置
が、入射側からみて、信号記録面より遠くなる状態、い
わゆるアンダー・フォーカス状態ではその程度に応じた
正の値をとる、８字カーブ状のレベル変化を有するもの
となる。また、出力信号Ｓｓは、オーバー・フォーカス
状態もしくはアンダー・フォーカス状態では比較的低い
レベルをとり、ジャスト・フォーカス状態及びジャスト
・フォーカス状態に近い状態で高いレベルをとるものと
なる。

出力信号Ｓｓは、端子１３に導出されて図示されない復
調回路等を含む再生信号処理回路系に供給されるととも
に、エンベロープ検波回路１４に供給される。エンベロ
ープ検波回路１４からは、出力信号Ｓｓのエンベロープ
・レベルに対応したレベルを有する信号Ｓｓｅが得られ
、これがレベル比較回路１５の比較入力端に供給される
。レベル比較回路１５の基準入力端には、電圧源１６か
ら、ジャスト・フォーカス状態及びジャスト・フォーカ
ス状態に比較的近い状態における信号Ｓｓｅのレベルの
みが越える所定のレベルＶｒの基準電圧が供給されてお
り、レベル比較回路１５の出力端には、信号Ｓｓｅのレ
ベルがレベルＶｒを越えるとき一定の高レベルをとり、
レベルＶｒ以下のとき一定の低レベルをとる比較出力Ｃ
が得られる。

一方、信号形成回路１２からのフォーカス・エラー信号
Ｓｆは、零クロス検出回路１７に供給され、その出力端
に、フォーカス・エラー信号Ｓｆの零クロス点に対応し
て生じる、高レベルをとるパルスＰｏが得られる。この
パルスＰＯ及びレベル比較回路１５からの比較出力Ｃが
アンド・ゲート１８に供給され、アンド・ゲート１８か
らは、比較出力Ｃが高レベルをとる状態でパルスＰｏが
得られるときのみ生じるパルスＰｓが得られて、Ｓ−Ｒ
フリップ・フロップ１９のセント端子Ｓに供給される。

Ｓ−Ｒフリップ・フロップ１９のリセット端子Ｒには、
レベル比較回路１５からノ比較出力Ｃが立下り検出回路
２ｏに供給されて、その出力端に得られる、比較出力Ｃ
の高レベルから低レベルへの立下りに応じて生じる立下
りパルスＰｒが供給される。そして、Ｓ−Ｒフリップ・
フロップ１９の出力端子Ｑからは、例えば、セットから
゛リセットまでの期間に一定の高レベルをとり他の期間
一定の低レベルをとる出力Ｓｗが得られ、スイッチ２１
の制御端に供給される。

スイッチ２１の一対の切換接点２１ａ及び２１ｂには、
夫々、フォーカス引込み電圧発生部２２からのフォーカ
ス引込み電圧Ｖｆｏ及びフォーカス・エラー信号Ｓｆが
供給され、その固定接点２１Ｃには、フォーカス引込み
電圧Ｖｆｏもしくはフォーカス・エラー信号Ｓｆが選択
的に得られて、これが、駆動制御回路２３に供給される
。駆動制御回路２３は、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏも
しくはフォーカス・エラー信号Ｓｆに応じた駆動信号を
フォーカス制御用駆動手段８に供給して、フォーカス制
御用駆動手段８を動作せしめる。これにより、光学式ピ
ックアップ１１の対物レンズ７の位置が制御されて、入
射レーザ光ビームのフォーカス状態が調整される。ここ
で、第１図における符号１４〜２２が付されて示される
部分が、フォーカス引込み回路を構成している。

このような構成のもとにフォーカス・サーボコントロー
ルが行われるときには、まず、スイッチ２１が、その切
換接点２１ａが固定接点２１Ｃに接続される状態とされ
て、フォーカス引込み電圧発生部２２からのフォーカス
引込み電圧Ｖｆｏが駆動制御回路２３に供給される。こ
れにより、フォーカス制御用駆動手段８がフォーカス引
込み電圧Ｖｆｏにもとすいて動作せしめられ、対物レン
ズ７がその光軸方向に移動されて、光学ディスク１への
入射レーザ光ビームの集束位置が、光学ディスク１の信
号記録面より対物レンズ７側に離れた位置から信号記録
面に近付いていくように変化せしめられる。即ち、オー
バー・フォーカス状態からジャスト・フォーカス状態に
向かっていく。

そして、ジャスト・フォーカス状態に比較的近い状態と
なると、エンベロープ検波回路１４からの信号Ｓｓｅの
レベルが電圧源１６からの基準電圧のレベルＶｒを越え
て、レベル比較回路１５からの比較出力Ｃが高レベルを
とる。その後、ジャスト・フォーカス状態になるとフォ
ーカス・エラー信号Ｓｆのレベルが零となって、零クロ
ス検出回路１７からのパルスＰｏが得られる。これによ
り、アンド・ゲート１８からパルスＰｓが得られて、Ｓ
−Ｒフリップ・フロップ１９がセントされ、その出力端
子Ｑからの出力Ｓｗが高レベルとなる。

Ｓ−Ｒフリップ・フロップ１９の出力Ｓｗが高レベルと
なることにより、スイッチ２１が切り換えられて、その
切換接点２１ｂが固定接点２１ｃに接続される状態とさ
れ、フォーカス引込み電圧■ｆＯに代わり、フォーカス
・エラー信号Ｓｆが駆動制御回路２３に供給されるよう
になる。その結果、フォーカス制御用駆動手段８がフォ
ーカス・エラー信号３ｆにもとすいて動作せしめられ、
入射レーザ光ビームがジャスト・フォーカス状態を維持
するように制御されるフォーカス・サーボコントロール
が行われることになる。そして、その後、入射レーザ光
ビームの集束位置がフォーカス・サーボコントロールが
行われ得る範囲からはずれると、レベル比較回路１５か
らの比較出力Ｃが高レベルから低レベルへ立下り、この
立下りに応じた立下りパルスＰｒが立下り検出回路２０
から得られて、Ｓ−Ｒフリップ・フロップ１９がリセフ
トされ、その出力Ｓｗは低レベルをとるものとなる。こ
のため、スイッチ２１は、再び、フォーカス引込み電圧
Ｖｆｏを駆動制御回路２３に供給する状態にされる。

このようにして、フォーカス引込み回路により、光学デ
ィスクｌへの入射レーザ光ビームの集束位置が、ジャス
ト・フォーカス状態もしくはそれに比較的近い状態にな
る位置、即ち、光学ディスク１の信号記録面上を中心と
した一定の引込み範囲内に置かれた後、フォーカス・サ
ーボコントロールが行われる状態とされるのである。斯
かる場合、光学ディスク１への入射レーザ光ビームは、
光学ディスク１の入射側の透明基体の外表面においても
反射を生じるが、上述の例の如く、信号記録面にアルミ
ニウム等で成る反射層が施されていて、入射レーザ光ビ
ームの信号記録面での反射率が光学ディスク１の透明基
体の外表面における反射率より著しく高いときには、入
射レーザ光ビームの光学ディスク１の透明基体の外表面
における反射は無視できる。

しかしながら光学ディスク１が、その信号記録面におけ
る入射レーザ光ビームの反射率が比較的低くなるような
ものである場合には、入射レーザ光ビームの信号記録面
での反射率と光学ディスク１の透明基体の外表面での反
射率との差が小となり、第２図において実線で示される
如くの、光学ディスク１への入射レーザ光ビーム４０の
集束位置が、光学ディスクｌの信号記録面４１上になる
ジャスト・フォーカス状態と、第２図において破線で示
される如くの、入射レーザ光ビーム４０の集束位置が、
光学ディスクｌの入射側の透明基体の外表面４２上にな
る状態との夫々における、信号形成回路１２から得られ
る出力信号ＳｓＯ差及びフォーカス・エラー信号ＳｆＯ
差が夫々小となってしまう。このため、上述の如くのフ
ォーカス引込み回路で、ジャスト・フォーカス状態にお
いてアンド・ゲート１８からパルスＰｓが得られ、Ｓ−
Ｒフリップ・フロップ１９がセットされるように、電圧
源１６からの基準電圧のレベル等が選定されると、入射
レーザ光ビーム４０の集束位置が光学ディスク１の入射
側の透明基体の外表面上になる状態においてもアンド・
ゲート１８からパルスＰｓが得られてしまい、このパル
スＰｓによってＳ−Ｒフリップ・フロップ１９がセット
されて、スイッチ２１が、フォーカス引込み電圧ＶｆＯ
に代えて、フォーカス・エラー電圧を駆動制御回路２３
に供給する状態に切り換えられることになって、適正な
フォーカス引込み動作がなされなくなり、その結果、正
しいフォーカス・サーボコントロールが行われなくなる
という不都合を生じる處れがある。

発明の目的斯かる点に鑑み本発明は、対向する一対の外表面間に信
号記録面が形成されて、入射する光ビームの信号記録面
での反射率と外表面での反射率との差が小であるような
光学ディスクが使用される場合に、適正なフォーカス引
込み動作を確実になすことができ、その結果、正しいフ
ォーカス・サーボコントロールを行うことができるよう
にされたフォーカス制御機構を備えた光学式ディスク・
プレーヤを提供することを目的とする。

発明の概要本発明に係る光学式ディスク・プレーヤは、ディスクに
光ビームを入射せしめるレンズ手段と、ディスクで反射
された光ビームを検出して電気信号を発生する手段と、
この電気信号にもとすいて出力信号及びフォーカス・エ
ラー信号を得る信号形成回路と、フォーカス・エラー信
号にもとすいて、ディスクへの入射光ビームの集束位置
を調整するフォーカス制御手段と、上述のレンズ手段を
ディスクの近傍位置から、入射光ビームの光軸に沿う方
向に、ディスクより次第に離隔させて、入射光ビームの
集束位置をディスクの信号記録面に接近させるフォーカ
ス引込み制御手段と、上述の出力信号のレベルを検出す
るレベル検出部とを備えて構成され、フォーカス引込み
制御手段によるフォーカス引込み動作状態において、レ
ベル検出部で検出される出力信号のレベルが所定値を越
えるものとなった後、フォーカス制御手段によるフォー
カス・エラー信号にもとずいての入射光ビームの集束位
置の調整が行われる状態に切り換えられるようにされる
。

このようにされることにより、フォーカス引込み制御手
段によるフォーカス引込み動作状態において、ディスク
への入射光ビームの集束位置がディスクの信号記録面上
もしくはその近傍となった状態を確実に検出でき、従っ
てディスクへの入射光ビームの集束位置を確実にディス
クの信号記録面上もしくはその近傍に到達せしめた後に
、フォーカス制御手段によるフォーカス・エラー信号に
もとずいたディスクへの入射光ビームの集束位置の調整
が行われる状態に切り換えられる、適正なフォーカス引
込み動作を行うことができることになる。

実施例第３図は本発明に係る光学式ディスク・プレーヤの一例
の要部を示し、この第３図において、第１図に示される
光学式ディスク・プレーヤにおける各部に対応する部分
は、第１図と共通の符号が付されて示されており、それ
らについての詳細説明は省略される。

この例で使用される光学ディスク１は、透明基体の一方
の面に信号記録面が形成され、さらに信号記録面上に、
例えば透明な、保護層が配された構成を有して、入射レ
ーザ光ビームが透明基体を介して信号記録面に到達する
ようにされており、その信号記録面での入射レーザ光ビ
ームの反射率が比較的低く、従って、入射レーザ光ビー
ムの信号記録面での反射率が、透明基体の信号記録面と
は反対側の面である、入射側のディスク外表面での反射
率より高いが、その差が小であるか、もしくは、入射側
のディスク外表面での反射率より低いものとされている
。

斯かる光学ディスク１からの情報信号の再生にあたって
、フォーカス・サーボコントロールが行われるときには
、まず、スイッチ２１が、その切換接点２１ａが固定接
点２１Ｃに接続される状態とされて、フォーカス引込み
電圧発生部３０からのフォーカス引込み電圧Ｖｆｏ”が
駆動制御回路２３に供給される。このフォーカス引込み
電圧Ｖｆｏ’　は、例えば、第４図に示される如く、零
レベルから始まり、一旦急速に正のレベル十Ｅ、まで上
昇した後、次第に降下して零レベルを越え、負のレヘル
ーＥ２に漸近するように変化するものとされる。斯かる
レベル変化を伴うフォーカス引込み電圧Ｖｆｏ’が駆動
制御回路２３に供給されて、フォーカス制御用駆動手段
８がフォーカス引込み電圧Ｖｆｏ’　にもとすいて動作
せしめられ、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏ’　の零レベ
ルから正のレベル十Ｅ、へ上昇する変化の冒頭の時点か
ら、フォーカス引込み動作が開始される。

このフォーカス引込み動作においては、まず、フォーカ
ス引込み電圧Ｖｆｏ’　の零レベルがら正のレベル十Ｅ
、へ急速に上昇する変化にもとすいて、光学式ピンクア
ップ１１の対物レンズ７が光学ディスク１に接近する方
向に急速に移動せしめられる。この際、光学ディスク１
が、例えば、これを回転させるためのスピンドルに設け
られたクランプ部への装着に伴われた不備により、その
回転時に入射レーザ光ビームの光軸方向における上下動
を生じる場合には、それに伴う信号記録面の上下動によ
り、フォーカス引込み動作中における入射レーザ光ビー
ムの信号記録面での集束位置検出が難しくなるので、光
学式ピンクアップ１１の対物レンズ７は、斯かる信号記
録面の上下動が小となる位置、即ち、第５図に示される
如く、スピンドル５０に設けられて光学ディスク１を支
持するクランプ部５１にできるだけ近い、光学ディスク
１の内周側部分に対向する位置に置かれるのがよい。そ
して、このとき、光学ディスク１に急速に近接せしめら
れた対物レンズ７が光学ディスク１と接触しないだけの
距離を保つように、第５図に示される如くの、対物レン
ズ７に対する、例えば、機構的なストッパ５２が予め配
設されているのが望ましい。

このようにフォーカス引込み動作の初期において、対物
レンズ７が、第６図にて破線で示される如く、光学ディ
スク１に近接せしめられ、光学ディスク１の近傍位置を
とるものとされる結果、第６図にて破線で示される如く
、光学ディスク１への入射レーザ光ビーム４０′の集束
位置が、入射側からみて、光学ディスク１の信号記録面
４１を挟んで入射側の透明基体の外表面４２に対向する
保護層の外表面４３より遠い位置となるようにされる。

即ち、光学ディスク１の信号記録面４１は勿論のこと入
射側とは反対側の保護層の外表面４３に関してもアンダ
ー・フォーカスの状態とされるのである。次に、フォー
カス引込み電圧Ｖｆ。

′の正のレベル十Ｅ１から次第に降下し、零レベルを越
えて負のレベル−Ｅ２に漸近する変化にもとずいて、対
物レンズ７が光学ディスク１の近傍位置から、光学ディ
スク１より離れる方向に比較的緩やかに移動せしめられ
、それに伴って、光学ディスク１への入射レーザ光ビー
ム４０゛の集束位置が、入射側からみて、光学ディスク
１の信号記録面４１より遠い位置から信号記録面４１に
次第に接近する状態がとられる。斯かる状態において、
入射レーザ光ビーム４０′の集束位置が、入射側からみ
て、光学ディスク１の入射側とは反対側の保護層の外表
面４３の後方から信号記録面４１上へと移動する間、レ
ベル比較回路１５の比較入力端に供給される信号Ｓｓｅ
は、第７図Ａに示される如く、低レベル部り、を維持す
る。この低レベル部り、はレベル比較回路１５の基準入
力端に供給される電圧源１６からの基準電圧のレベルＶ
ｒより低いものとなるので、レベル比較回路１５から得
られる比較出力Ｃは、第７図Ｂに示される如く、低レベ
ルをとり、低レベル部２．を生じる。

この間に、入射レーザ光ビーム４０”の集束位置が光学
ディスク１の入射側とは反対側の保護層の外表面４３上
に置か”れる状態がとられるが、保護層の外表面４３で
の反射率は低いので、このとき、信号Ｓｓｅのレベルは
、第７図Ａに示される如く、無視できる程度の小なるレ
ベル増加部Ｌ１“を生じるにすぎない。

そして、入射レーザ光ビーム４０′の集束位置が信号記
録面４１に接近すると、信号Ｓｓｅは、第７図Ａに示さ
れる如（の、レベルＶｒを越えるレベルに上昇し、その
後、第６図にて実線で示される如くに、入射レーザ光ビ
ーム４０゛　の集束位置が信号記録面４１に達すると、
即ち、信号記録面４１に関してジャスト・フォーカス状
態となると、高レベル部り、の前縁部分を生じる。これ
により、レベル比較回路１５からの比較出力Ｃは、第７
図Ｂに示される如く、信号ＳＳｅのレベルがレベルＶｒ
以下のときには低レベルであったものが、レベルＶｒを
越えると同時に高レベルとなり、高レベル部１２あ前縁
部を生じる。

このとき、信号ＳｓｅのレベルがレベルＶｒを越えた直
後に、信号記録面に関してジャスト・フォーカス状態と
なって、零クロス検出回路１７からパルスＰａが得られ
るので、このパルスＰｏの発生に伴って、アンド・ゲー
ト１８からパルスＰＳが得られ、Ｓ−Ｒフリップ・フロ
ップ１９がこのパルスＰｓによりセントされる。従って
、Ｓ−Ｒフリップ・フロップ１９の出力Ｓｗが高レベル
をとるものとされ、これにより、スイッチ２１が切り換
えられて、信号形成回路１２からフォーカス・エラー信
号Ｓｆが供給される切換接点２１ｂが固定接点２ＩＣに
接続される状態とされ、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏ’
　に代わり、フォーカス・エラー信号Ｓｆが駆動制御回
路２３に供給されるようになり、フォーカス引込み動作
からフォーカス・サーボコントロール動作への移行がな
される。

このようにして、光学ディスク１への入射レーザ光ビー
ムの集束位置が光学ディスク１の信号記録面上になる状
態、即ち、信号記録面に関してのジャスト・フォーカス
状態が確実に検出され、その時点において、フォーカス
・サーボコントロール動作が開始されるようにされるフ
ォーカス引込み動作が行われるのである。そして、その
後、フォーカス制御用駆動手段８がフォーカス・エラー
信号Ｓｆにもとすいて動作せしめられ、入射レーザ光ビ
ームが光学ディスク１の信号記録面上でのジャスト・フ
ォーカス状態を維持するように制御される正しいフォー
カス・サーボコントロールが行われることになる。

フォーカス・サーボコントロールが正しく行われている
状態では、エンベロープ検波回路１４からの信号Ｓｓｅ
はレベルＶｒを越える高レベルを保ち、第７図Ａに示さ
れる如く、継続的に高レベル部Ｌｘを形成するが、何等
かの原因で、入射レーザ光ビームの集束位置がフォーカ
ス・サーボコントロールが正しく行われ得る範囲からは
ずれると、信号Ｓｓｅのレベルは高レベルからレベル■
ｒ以下に低下する。これにより、レベル比較回路１５か
らの比較出力Ｃが、第７図Ｂに示される如く、信号Ｓｓ
ｅのレベルがレベルＶｒ以下になる時点で、高レベル部
Ｉ１２の後縁を形成して立下る。

これに伴って、比較出力Ｃの高レベル部１２の後縁を形
成する立下りが、立下り検出回路２０で検出されて、そ
の出力端に立下りパルスＰｒが得られて、Ｓ−Ｒフリッ
プ・フロップ１９がリセットされ、その出力Ｓｗは低レ
ベルをとるものとなる。

このため、スイッチ２１は、再び、フォーカス引込み電
圧Ｖｆｏ’　を駆動制御回路２３に供給し得る状態にさ
れ、必要に応じて、フォーカス引込み電圧Ｖｆｏ’　の
零レベルから正のレベル＋ＥＩへ上昇する変化の冒頭の
時点からフォーカス引込み動作が開始される。

上述の例においては、フォーカス引込み動作によって、
入射レーザ光ビームの集束位置が光学ディスクの信号記
録面の近傍に至らしめられ、信号Ｓｓｅのレベルがレベ
ルＶｒを越えるものとされた後、さらに、入射レーザ光
ビームの集束位置が信号記録面上に到達したとき、フォ
ーカス引込み動作状態から、フォーカス制御用駆動手段
にフォーカス・エラー信号が供給されて入射レーザ光ビ
ームの集束位置の調整が行われるフォーカス・サーボコ
ントロール状態に切り換えられるようにされているが、
フォーカス引込み動作によって、入射レーザ光ビームの
集束位置が光学ディスクの信号記録面の近傍に達し、信
号５ｓｅのレベルがレベルＶｒを越えるものとなったと
き、フォーカス引込み動作状態からフォーカス・サーボ
コントロール状態に切り換えられるようにされてもよい
。

発明の効果以上の説明から明らかな如く、本発明に係る光学式ディ
スク・プレーヤによれば、例えば、透明基体の一方の面
側Ｑこ信号記録面が形成され、さらに信号記録面一１−
に、例えば、透明な、保護層が配された構成を有して、
入射する光ビームが透明基体を介して信号記録面に到達
するようにされており、その信号記録面での光ビームの
反射率が比較的低く、従って、光ビームの信号記録面で
の反射率が、入射側の透明基体の外表面での反射率より
大であるが、その差が小であるか、もしくは、入射側の
透明基体の外表面での反射率が信号記録面での反射率よ
り高いものとされた光学ディスクに対して光ビームが入
射せしめられる状況において、フォーカス引込み制御手
段によるフォーカス引込み動作が行われているとき、光
学ディスクへの入射光ビームの集束位置が、信号記録面
もしくはその近傍にある状態を、入射側の透明基体の外
表面に影響されることな（確実に検出でき、従って、確
実に光学ディスクへの入射光ビームの集束位置が信号記
録面もしくはその近傍にある状態とされた後、フォーカ
ス制御用駆動手段にフォーカス・エラー信号が供給され
て、光学ディスクへの人１・ｊ光ビートの集束位置の調
整が行われる状態に切り換えられるようになす適正な）
λ−カス引込み動作を、正確に行うことができ、その結
果、常時、正しいフォーカス・サーボコントロールを行
なえることになる。

【図面の簡単な説明】

第１図はフォーカス制御機構を具備する従来の光学式デ
ィスク・プレーヤの一例の要部を示す構成図、第２図は
光学ディスクに対する光ビームの集束状態の説明に供さ
れる図、第３図は本発明に係る光学式ディスク・プレー
ヤの一例の要部を示す構成図、第４図は第３図に示され
る例の動作説明に供される波形図、第５図は本発明に係
る光学式ディスク・プレーヤの一例の細部を示す図、第
６図は第３図に示される例における、光学ディスクに対
する光ビームの集束状態の説明に供される図、第７図Ａ
及びＢは第３図に示される例の動作説明に供される波形
図である。

Claims

【特許請求の範囲】

ディスクに光ビームを入射せしめるレンズ手段と、上記
ディスクで反射された光ビームを検出して電気信号を発
生する手段と、上記電気信号にもとすいて出力信号及び
フォーカス・エラー信号を得る信号形成回路と、上記フ
ォーカス・エラー信号にもとすいて、上記ディスクへ入
射する光ビームの集束位置を調整するフォーカス制御手
段と、上記レンズ手段を上記ディスクの近傍位置から、
上記ディスクへ入射する光ビームの光軸方向に、上記デ
ィスクより次第に離隔せしめ、上記ディスクへ入射する
光ビームの集束位置を上記ディスクの信号記録面に接近
させるフォーカス引込み制御手段と、上記出力信号のレ
ベルを検出するレベル検出部とを備え、上記フォーカス
引込み制御手段によるフォーカス引込み動作状態におい
て、上記レベル検出部から上記出力信号のレベルが所定
値を越えるものであることを示す出力が得られた後、上
記フォーカス制御手段による上記フォーカス・エラー信
号にもとすいた上記ディスクへ入射する光ビームの集束
位置の調整が行われる状態に切り換えられるようにされ
た光学式ディスク・プレーヤ。