JPH0444808B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、デイスクの信号記録面に光ビームを
入射せしめ、デイスクで反射されて戻り光ビーム
を検出して電気信号を発生するとともに、デイス
クに入射する光ビームの集束位置を、フオーカス
引込み手段を伴つたフオーカス制御機構で調整す
るようにした光学式デイスク・プレーヤに関す
る。

背景技術とその問題点 記録トラツクが形成された信号記録面を有する
光学デイスクから、光ビームを用いてその記録ト
ラツクに記録された信号を再生する、もしくは、
光学デイスクに光ビームを用いて情報を記録する
光学式デイスク・プレーヤにあつては、光学デイ
スクを回転させ、光ビームを回転する光学デイス
クの信号記録面に適正なフオーカス状態で入射せ
しめるためのフオーカス・サーボコントロールが
行われる。このフオーカス・サーボコントロール
はフオーカス制御機構が設けられて行われ、それ
によつて、例えば、光ビームを光学デイスクの信
号記録面に入射せしめる対物レンズの、光学デイ
スクの記録トラツクが形成された信号記録面に垂
直な方向における位置が制御されて、この対物レ
ンズから信号記録面までの距離が、光ビームの集
束位置が光学デイスクの信号記録面上に適正に置
かれるように保たれる。

しかしながら、斯かるフオーカス・サーボコン
トロールが正しく行われる状態となるためには、
その直前において、対物レンズが光学デイスクの
信号記録面に対して一定距離内の範囲に位置せし
められ、光学デイスクに入射する光ビームの集束
位置が、光学デイスクの信号記録面上を中心とし
た一定の引込み範囲内に置かれることが必要とな
る。そして、このような適正なフオーカス・サー
ボコントロールが開始されるために要求される状
態を作るべく、フオーカス制御機構には、フオー
カス引込み回路が設けられる。

第１図は、フオーカス引込み回路を伴つたフオ
ーカス制御機構を具備する従来の光学式デイス
ク・プレーヤの要部を示す。第１図において、１
は光学デイスクで、透明基体上に、例えば、テレ
ビジヨン信号等の情報信号が記録されたピツトの
配列で成る記録トラツクが形成され、アルミニウ
ム等で成る光反射層が施された信号記録面を有
し、さらにその上に透明保護層が配されて形成さ
れており、定角速度で回転せしめられる。２はレ
ーザ光源で、例えば、半導体レーザが用いられ、
このレーザ光源２からのレーザ光ビームが、回折
格子板３及びコリメータ・レンズ４を介して偏向
ビームスプリツタ５に入る。偏向ビームスプリツ
タ５を通過したレーザ光ビームは、1/4波長板６
を介して光学ヘツドを構成する対物レンズ７に入
り、この対物レンズ７により集束されて光学デイ
スク１の信号記録面に、透明基体を介して入射せ
しめられる。対物レンズ７は、フオーカス・サー
ボコントロールが行われるようにすべく、フオー
カス制御用駆動手段８により、光学デイスク１の
信号記録面に近接あるいは離隔する方向に、位置
制御され得るようになされている。光学デイスク
１の信号記録面に入射する入射レーザ光ビーム
は、記録トラツクで変調を受けて状態で信号記録
面において反射され、再び対物レンズ７に入り、
１／４波長板６を経て偏向ビームスプリツタ５に入
るように戻る。そして、この戻りレーザ光ビーム
は、偏向ビームスプリツタ５で図において右方に
屈折せしめられ、レンズ系９を介して受光部１０
に到達する。そして受光部１０を構成する光検出
器により、光学ヘツドを構成する対物レンズ７か
らの光学デイスク１で変調を受けた戻りレーザ光
ビーム、即ち、読取り光ビームが検知されて、そ
の変化が電気信号として取り出される。これらレ
ーザ光源２から受光部１０までの各部が光学式ピ
ツクアツプ１１を構成しており、この光学式ピツ
クアツプ１１全体が一体的に移動することができ
るようにされている。

受光部１０からの電気信号が、信号形成回路１
２に供給され、信号形成回路１２からは、光学デ
イスク１に記録された情報信号成分である出力信
号Ss及び光学デイスク１に対する入射レーザ光
ビームのフオーカス状態に応じたフオーカス・エ
ラー信号Sfが得られる。このフオーカス・エラー
信号Sfは、例えば、入射レーザ光ビームの集束位
置が、光学デイスク１の反射面とされた信号記録
面上に置かれる状態、いわゆる、ジヤスト・フオ
ーカス状態において零となり、入射レーザ光ビー
ムの集束位置が、入射側からみて、信号記録面よ
り近くなる状態、いわゆる、オーバー・フオーカ
ス状態ではその程度に応じた負の値をとつて、入
射レーザ光ビームの集束位置が、入射側からみ
て、信号記録面より遠くなる状態、いわゆるアン
ダー・フオーカス状態ではその程度に応じた正の
値をとる、Ｓ字カーブ状のレベル変化を有するも
のとなる。また、出力信号Ssは、オーバー・フ
オーカス状態もしくはアンダー・フオーカス状態
では比較的低いレベルをとり、ジヤスト・フオー
カス状態及びジヤスト・フオーカス状態に近い状
態で高いレベルをとるものとなる。

出力信号Ssは、端子１３に導出されて図示さ
れない復調回路等を含む再生信号処理回路系に供
給されるとともに、エンベロープ検波回路１４に
供給される。エンベロープ検波回路１４からは、
出力信号Ssのエンベロープ・レベルに対応した
レベルを有する信号Sseが得られ、これがレベル
比較回路１５の比較入力端に供給される。レベル
比較回路１５の基準入力端には、電圧源１６か
ら、ジヤスト・フオーカス状態及びジヤスト・フ
オーカス状態に比較的近い状態における信号Sse
のレベルのみが越える所定のレベルVrの基準電
圧が供給されており、レベル比較回路１５の出力
端には、信号SseのレベルがレベルVrを越えると
き一定の高レベルをとり、レベルVr以下のとき
一定の低レベルをとる比較出力ｃが得られる。

一方、信号形成回路１２からのフオーカス・エ
ラー信号Sfは、零クロス検出回路１７に供給さ
れ、その出力端に、フオーカス・エラー信号Sfの
零クロス点に対応して生じる、高レベルをとるパ
ルスPoが得られる。このパルスPo及びレベル比
較回路１５からの比較出力ｃがアンド・ゲート１
８に供給され、アンド・ゲート１８からは、比較
出力ｃが高レベルをとる状態でパルスPoが得ら
れるときのみ生じるパルスPsが得られて、Ｓ−
Ｒフリツプ・フロツプ１９のセツト端子Ｓに供給
される。Ｓ−Ｒフリツプ・フロツプ１９のリセツ
ト端子Ｒには、レベル比較回路１５からの比較出
力ｃが立下り検出回路２０に供給されて、その出
力端に得られる、比較出力ｃの高レベルから低レ
ベルへの立下りに応じて生じる立下りパルスPr
が供給される。そして、Ｓ−Ｒフリツプ・フロツ
プ１９の出力端子Ｑからは、例えば、セツトから
リセツトまでの期間に一定の高レベルをとり他の
期間一定の低レベルをとる出力Swが得られ、ス
イツチ２１の制御端に供給される。

スイツチ２１の一対の切換接点２１ａ及び２１
ｂには、夫々、フオーカス引込み電圧発生部２２
からのフオーカス引込み電圧Vfo及びフオーカ
ス・エラー信号Sfが供給され、その固定接点２１
ｃには、フオーカス引込み電圧Vfoもしくはフオ
ーカス・エラー信号Sfが選択的に得られて、これ
が、駆動制御回路２３に供給される。駆動制御回
路２３は、フオーカス引込み電圧Vfoもしくはフ
オーカス・エラー信号Sfに応じた駆動信号をフオ
ーカス制御用駆動手段８に供給して、フオーカス
制御用駆動手段８を動作せしめる。これにより、
光学式ピツクアツプ１１の対物レンズ７の位置が
制御されて、入射レーザ光ビームのフオーカス状
態が調整される。ここで、第１図における符号１
４〜２２が付されて示される部分が、フオーカス
引込み回路を構成している。

このような構成のもとにフオーカス・サーボコ
ントロールが行われるときには、まず、スイツチ
２１が、その切換接点２１ａが固定接点２１ｃに
接続される状態とされて、フオーカス引込み電圧
発生部２２からのフオーカス引込み電圧Vfoが駆
動制御回路２３に供給される。これにより、フオ
ーカス制御用駆動手段８がフオーカス引込み電圧
Vfoにもとずいて動作せしめられ、対物レンズ７
がその光軸方向に移動されて、光学デイスク１へ
の入射レーザ光ビームの集束位置が、光学デイス
ク１の信号記録面より対物レンズ７側に離れた位
置から信号記録面に近付いていくように変化せし
められる。即ち、オーバー・フオーカス状態から
ジヤスト・フオーカス状態に向かつていく。そし
て、ジヤスト・フオーカス状態に比較的近い状態
となると、エンベロープ検波回路１４からの信号
Sseのレベルが電圧源１６からの基準電圧のレベ
ルVrを越えて、レベル比較回路１５からの比較
出力ｃが高レベルをとる。その後、ジヤスト・フ
オーカス状態になるとフオーカス・エラー信号Sf
のレベルが零となつて、零クロス検出回路１７か
らのパルスPoが得られる。これにより、アン
ド・ゲート１８からパルスPsが得られて、Ｓ−
Ｒフリツプ・フロツプ１９がセツトされ、その出
力端子Ｑからの出力Swが高レベルとなる。Ｓ−
Ｒフリツプ・フロツプ１９の出力Swが高レベル
となることにより、スイツチ２１が切り換えられ
て、その切換接点２１ｂが固定接点２１ｃに接続
される状態とされ、フオーカス引込み電圧Vfoに
代わり、フオーカス・エラー信号Sfが駆動制御回
路２３に供給されるようになる。その結果、フオ
ーカス制御用駆動手段８がフオーカス・エラー信
号Sfにもとずいて動作せしめられ、入射レーザ光
ビームがジヤスト・フオーカス状態を維持するよ
うに制御されるフオーカス・サーボコントロール
が行われることになる。そして、その後、入射レ
ーザ光ビームの集束位置がフオーカス・サーボコ
ントロールが行われ得る範囲からはずれると、レ
ベル比較回路１５からの比較出力ｃが高レベルか
ら低レベルへ立下り、この立下りに応じた立下り
パルスPrが立下り検出回路２０から得られて、
Ｓ−Ｒフリツプ・フロツプ１９がリセツトされ、
その出力Swは低レベルをとるものとなる。この
ため、スイツチ２１は、再び、フオーカス引込み
電圧Vfoを駆動制御回路２３に供給する状態にさ
れる。

このようにして、フオーカス引込み回路によ
り、光学デイスク１への入射レーザ光ビームの集
束位置が、ジヤスト・フオーカス状態もしくはそ
れに比較的近い状態になる位置、即ち、光学デイ
スク１の信号記録面上を中心とした一定の引込み
範囲内に置かれた後、フオーカス・サーボコント
ロールが行われる状態とされるのである。斯かる
場合、光学デイスク１への入射レーザ光ビーム
は、光学デイスク１の入射側の透明基体の外表面
においても反射を生じるが、上述の例の如く、信
号記録面にアルミニウム等で成る反射層が施され
ていて、入射レーザ光ビームの信号記録面での反
射率が光学デイスク１の透明基体の外表面におけ
る反射率より著しく高いときには、入射レーザ光
ビームの光学デイスク１の透明基体の外表面にお
ける反射は無視できる。

しかしながら光学デイスク１が、その信号記録
面における入射レーザ光ビームの反射率が比較的
低くなるようなものである場合には、入射レーザ
光ビームの信号記録面での反射率と光学デイスク
１の透明基体の外表面での反射率との差が小とな
り、第２図において実線で示される如くの、光学
デイスク１への入射レーザ光ビーム４０の集束位
置が、光学デイスク１の信号記録面４１上になる
ジヤスト・フオーカス状態と、第２図において破
線で示される如くの、入射レーザ光ビーム４０の
集束位置が、光学デイスク１の入射側の透明基体
の外表面４２上になる状態との夫々における、信
号形成回路１２から得られる出力信号Ssの差及
びフオーカス・エラー信号Sfの差が夫々小となつ
てしまう。このため、上述の如くのフオーカス引
込み回路で、ジヤスト・フオーカス状態において
アンド・ゲート１８からパルスPsが得られ、Ｓ
−Ｒフリツプ・フロツプ１９がセツトされるよう
に、電圧源１６からの基準電圧のレベル等が選定
されると、入射レーザ光ビーム４０の集束位置が
光学デイスク１の入射側の透明基体の外表面上に
なる状態においてもアンド・ゲート１８からパル
スPsが得られてしまい、このパルスPsによつて
Ｓ−Ｒフリツプ・フロツプ１９がセツトされて、
スイツチ２１が、フオーカス引込み電圧Vfoに代
えて、フオーカス・エラー電圧を駆動制御回路２
３に供給する状態に切り換えられることになつ
て、適正なフオーカス引込み動作がなされなくな
り、その結果、正しいフオーカス・サーボコント
ロールが行われなくなるという不都合を生じる虞
れがある。

発明の目的 斯かる点に鑑み本発明は、対向する一対の外表
面間に信号記録面が形成されて、入射する光ビー
ムの信号記録面での反射率と外表面での反射率と
の差が小であるような光学デイスクが使用される
場合に、適正なフオーカス引込み動作を確実にな
すことができ、その結果、正しいフオーカス・サ
ーボコントロールを行うことができるようにされ
たフオーカス制御機構を備えた光学式デイスク・
プレーヤを提供することを目的とする。

発明の概要 本発明に係る光学式デイスク・プレーヤは、デ
イスクに光ビームを入射せしめるレンズ手段と、
デイスクで反射された光ビームを検出して電気信
号を発生する手段と、この電気信号にもとずいて
出力信号及びフオーカス・エラー信号を得る信号
形成回路と、フオーカス・エラー信号にもとずい
て、デイスクへの入射光ビームの集束位置を調整
するフオーカス制御手段と、上述のレンズ手段を
デイスクの近傍位置から、入射光ビームの光軸に
沿う方向に、デイスクより次第に離隔させて、入
射光ビームの集束位置をデイスクの信号記録面に
接近させるフオーカス引込み制御手段と、上述の
出力信号のレベルを検出するレベル検出部とを備
えて構成され、フオーカス引込み制御手段による
フオーカス引込み動作状態において、レベル検出
部で検出される出力信号のレベルが所定値を越え
るものとなつた後、フオーカス制御手段によるフ
オーカス・エラー信号にもとずいての入射光ビー
ムの集束位置の調整が行われる状態に切り換えら
れるようにされる。

このようにされることにより、フオーカス引込
み制御手段によるフオーカス引込み動作状態にお
いて、デイスクへの入射光ビームの集束位置がデ
イスクの信号記録面上もしくはその近傍となつた
状態を確実に検出でき、従つてデイスクへの入射
光ビームの集束位置を確実にデイスクの信号記録
面上もしくはその近傍に到達せしめた後に、フオ
ーカス制御手段によるフオーカス・エラー信号に
もとずいたデイスクへの入射光ビームの集束位置
の調整が行われる状態に切り換えられる、適正な
フオーカス引込み動作を行うことができることに
なる。

実施例 第３図は本発明に係る光学式デイスク・プレー
ヤの一例の要部を示し、この第３図において、第
１図に示される光学式デイスク・プレーヤにおけ
る各部に対応する部分は、第１図と共通の符号が
付されて示されており、それらについての詳細説
明は省略される。

この例で使用される光学デイスク１は、透明基
体の一方の面に信号記録面が形成され、さらに信
号記録面上に、例えば透明な、保護層が配された
構成を有して、入射レーザ光ビームが透明基体を
介して信号記録面に到達するようにされており、
その信号記録面での入射レーザ光ビームの反射率
が比較的低く、従つて、入射レーザ光ビームの信
号記録面での反射率が、透明基体の信号記録面と
は反対側の面である、入射側のデイスク外表面で
の反射率より高いが、その差が小であるか、もし
くは、入射側のデイスク外表面での反射率より低
いものとされている。

斯かる光学デイスク１からの情報信号の再生に
あたつて、フオーカス・サーボコントロールが行
われるときには、まず、スイツチ２１が、その切
換接点２１ａが固定接点２１ｃに接続される状態
とされて、フオーカス引込み電圧発生部３０から
のフオーカス引込み電圧Vfo′が駆動制御回路２
３に供給される。このフオーカス引込み電圧
Vfo′は、例えば、第４図に示される如く、零レ
ベルから始まり、一旦急速に正のレベル＋E₁ま
で上昇した後、次第に降下して零レベルを越え、
負のレベル−E₂に漸近するように変化するもの
とされる。斯かるレベル変化を伴うフオーカス引
込み電圧Vfo′が駆動制御回路２３に供給されて、
フオーカス制御用駆動手段８がフオーカス引込み
電圧Vfo′にもとずいて動作せしめられ、フオー
カス引込み電圧Vfo′の零レベルから正のレベル
＋E₁へ上昇する変化の冒頭の時点から、フオー
カス引込み動作が開始される。

このフオーカス引込み動作においては、まず、
フオーカス引込み電圧Vfo′の零レベルから正の
レベル＋E₁へ急速に上昇する変化にもとずいて、
光学式ピツクアツプ１１の対物レンズ７が光学デ
イスク１に接近する方向に急速に移動せしめられ
る。この際、光学デイスク１が、例えば、これを
回転させるためのスピンドルに設けられたクラン
プ部への装着に伴われた不備により、その回転時
に入射レーザ光ビームの光軸方向における上下動
を生じる場合には、それに伴う信号記録面の上下
動により、フオーカス引込み動作中における入射
レーザ光ビームの信号記録面での集束位置検出が
難しくなるので、光学式ピツクアツプ１１の対物
レンズ７は、斯かる信号記録面の上下動が小とな
る位置、即ち、第５図に示される如く、スピンド
ル５０に設けられて光学デイスク１を支持するク
ランプ部５１にできるだけ近い、光学デイスク１
の内周側部分に対向する位置に置かれるのがよ
い。そして、このとき、光学デイスク１に急速に
近接せしめられた対物レンズ７が光学デイスク１
と接触しないだけの距離を保つように、第５図に
示される如くの、対物レンズ７に対する、例え
ば、機構的なストツパ５２が予め配設されている
のが望ましい。

このようにフオーカス引込み動作の初期におい
て、対物レンズ７が、第６図にて破線で示される
如く、光学デイスク１に近接せしめられ、光学デ
イスク１の近傍位置をとるものとされる結果、第
６図にて破線で示される如く、光学デイスク１へ
の入射レーザ光ビーム４０′の集束位置が、入射
側からみて、光学デイスク１の信号記録面４１を
挟んで入射側の透明基体の外表面４２に対向する
保護層の外表面４３より遠い位置となるようにさ
れる。即ち、光学デイスク１の信号記録面４１は
勿論のこと入射側とは反対側の保護層の外表面４
３に関してもアンダー・フオーカスの状態とされ
るのである。次に、フオーカス引込み電圧
Vfo′の正のレベル＋E₁から次第に降下し、零レ
ベルを越えて負のレベル−E₂に漸近する変化に
もとずいて、対物レンズ７が光学デイスク１の近
傍位置から、光学デイスク１より離れる方向に比
較的緩やかに移動せしめられ、それに伴つて、光
学デイスク１への入射レーザ光ビーム４０′の集
束位置が、入射側からみて、光学デイスク１の信
号記録面４１より遠い位置から信号記録面４１に
次第に接近する状態がとられる。斯かる状態にお
いて、入射レーザ光ビーム４０′の集束位置が、
入射側からみて、光学デイスク１の入射側とは反
対側の保護層の外表面４３の後方から信号記録面
４１上へと移動する間、レベル比較回路１５の比
較入力端に供給される信号Sseは、第７図Ａに示
される如く、低レベル部L₁を維持する。この低
レベル部L₁はレベル比較回路１５の基準入力端
に供給される電圧源１６からの基準電圧のレベル
Vrより低いものとなるので、レベル比較回路１
５から得られる比較出力ｃは、第７図Ｂに示され
る如く、低レベルをとり、低レベル部l₁を生じ
る。

この間に、入射レーザ光ビーム４０′の集束位
置が光学デイスク１の入射側とは反対側の保護層
の外表面４３上に置かれる状態がとられるが、保
護層の外表面４３での反射率は低いので、このと
き、信号Sseのレベルは、第７図Ａに示される如
く、無視できる程度の小なるレベル増加部L₁′を
生じるにすぎない。

そして、入射レーザ光ビーム４０′の集束位置
が信号記録面４１に接近すると、信号Sseは、第
７図Ａに示される如くの、レベルVrを越えるレ
ベルに上昇し、その後、第６図にて実線で示され
る如くに、入射レーザ光ビーム４０′の集束位置
が信号記録面４１に達すると、即ち、信号記録面
４１に関してジヤスト・フオーカス状態となる
と、高レベル部L₂の前縁部分を生じる。これに
より、レベル比較回路１５からの比較出力ｃは、
第７図Ｂに示される如く、信号Sseのレベルがレ
ベルVr以下のときには低レベルであつたものが、
レベルVrを越えると同時に高レベルとなり、高
レベル部l₂の前縁部を生じる。

このとき、信号SseのレベルがレベルVrを越え
た直後に、信号記録面に関してジヤスト・フオー
カス状態となつて、零クロス検出回路１７からパ
ルスPoが得られるので、このパルスPoの発生に
伴つて、アンド・ゲート１８からパルスPsが得
られ、Ｓ−Ｒフリツプ・フロツプ１９がこのパル
スPsによりセツトされる。従つて、Ｓ−Ｒフリ
ツプ・フロツプ１９の出力Swが高レベルをとる
ものとされ、これにより、スイツチ２１が切り換
えられて、信号形成回路１２からフオーカス・エ
ラー信号Sfが供給される切換接点２１ｂが固定接
点２１ｃに接続される状態とされ、フオーカス引
込み電圧Vfo′に代わり、フオーカス・エラー信
号Sfが駆動制御回路２３に供給されるようにな
り、フオーカス引込み動作からフオーカス・サー
ボコントロール動作への移行がなされる。

このようにして、光学デイスク１への入射レー
ザ光ビームの集束位置が光学デイスク１の信号記
録面上になる状態、即ち、信号記録面に関しての
ジヤスト・フオーカス状態が確実に検出され、そ
の時点において、フオーカス・サーボコントロー
ル動作が開始されるようにされるフオーカス引込
み動作が行われるのである。そして、その後、フ
オーカス制御用駆動手段８がフオーカス・エラー
信号Sfにもとずいて動作せしめられ、入射レーザ
光ビームが光学デイスク１の信号記録面上でのジ
ヤスト・フオーカス状態を維持するように制御さ
れる正しいフオーカス・サーボコントロールが行
われることになる。

フオーカス・サーボコントロールが正しく行わ
れている状態では、エンベロープ検波回路１４か
らの信号SseはレベルVrを越える高レベルを保
ち、第７図Ａに示される如く、継続的に高レベル
部L₂を形成するが、何等かの原因で、入射レー
ザ光ビームの集束位置がフオーカス・サーボコン
トロールが正しく行われ得る範囲からはずれる
と、信号Sseのレベルは高レベルからレベルVr以
下に低下する。これにより、レベル比較回路１５
からの比較出力ｃが、第７図Ｂに示される如く、
信号SseのレベルがレベルVr以下になる時点で、
高レベル部l₂の後縁を形成して立下る。これに伴
つて、比較出力ｃの高レベル部l₂の後縁を形成す
る立下りが、立下り検出回路２０で検出されて、
その出力端に立下りパルスPrが得られて、Ｓ−
Ｒフリツプ・フロツプ１９がリセツトされ、その
出力Swは低レベルをとるものとなる。このため、
スイツチ２１は、再び、フオーカス引込み電圧
Vfo′を駆動制御回路２３に供給し得る状態にさ
れ、必要に応じて、フオーカス引込み電圧
Vfo′の零レベルから正のレベル＋E₁へ上昇する
変化の冒頭の時点からフオーカス引込み動作が開
始される。

上述の例においては、フオーカス引込み動作に
よつて、入射レーザ光ビームの集束位置が光学デ
イスクの信号記録面の近傍に至らしめられ、信号
SseのレベルがレベルVrを越えるものとされた
後、さらに、入射レーザ光ビームの集束位置が信
号記録面上に到達したとき、フオーカス引込み動
作状態から、フオーカス制御用駆動手段にフオー
カス・エラー信号が供給されて入射レーザ光ビー
ムの集束位置の調整が行われるフオーカス・サー
ボコントロール状態に切り換えられるようにされ
ているが、フオーカス引込み動作によつて、入射
レーザ光ビームの集束位置が光学デイスクの信号
記録面の近傍に達し、信号Sseのレベルがレベル
Vrを越えるものとなつたとき、フオーカス引込
み動作状態からフオーカス・サーボコントロール
状態に切り換えられるようにされてもよい。

発明の効果 以上の説明から明らかな如く、本発明に係る光
学式デイスク・プレーヤによれば、例えば、透明
基体の一方の面側に信号記録面が形成され、さら
に信号記録面上に、例えば、透明な、保護層が配
された構成を有して、入射する光ビームが透明基
体を介して信号記録面に到達するようにされてお
り、その信号記録面での光ビームの反射率が比較
的低く、従つて、光ビームの信号記録面での反射
率が、入射側の透明基体の外表面での反射率より
大であるが、その差が小であるか、もしくは、入
射側の透明基体の外表面での反射率が信号記録面
での反射率より高いものとされた光学デイスクに
対して光ビームが入射せしめられる状況におい
て、フオーカス引込み制御手段によるフオーカス
引込み動作が行われているとき、光学デイスクへ
の入射光ビームの集束位置が、信号記録面もしく
はその近傍にある状態を、入射側の透明基体の外
表面に影響されることなく確実に検出でき、従つ
て、確実に光学デイスクへの入射光ビームの集束
位置が信号記録面もしくはその近傍にある状態と
された後、フオーカス制御用駆動手段にフオーカ
ス・エラー信号が供給されて、光学デイスクへの
入射光ビームの集束位置の調整が行われる状態に
切り換えられるようになす適正なフオーカス引込
み動作を、正確に行うことができ、その結果、常
時、正しいフオーカス・サーボコントロールを行
なえることになる。

【図面の簡単な説明】

第１図はフオーカス制御機構を具備する従来の
光学式デイスク・プレーヤの一例の要部を示す構
成図、第２図は光学デイスクに対する光ビームの
集束状態の説明に供される図、第３図は本発明に
係る光学式デイスク・プレーヤの一例の要部を示
す構成図、第４図は第３図に示される例の動作説
明に供される波形図、第５図は本発明に係る光学
式デイスク・プレーヤの一例の細部を示す図、第
６図は第３図に示される例における、光学デイス
クに対する光ビームの集束状態の説明に供される
図、第７図Ａ及びＢは第３図に示される例の動作
説明に供される波形図である。 図中、１は光学デイスク、７は対物レンズ、８
はフオーカス制御用駆動手段、１０は受光部、１
１は光学式ピツクアツプ、１２は信号形成回路、
１４はエンベロープ検波回路、１５はレベル比較
回路、１７は零クロス検出回路、２１はスイツ
チ、２３は駆動制御回路、３０はフオーカス引込
み電圧発生部である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ デイスクに光ビームを入射せしめるレンズ手
   段と、上記デイスクで反射された光ビームを検出
   して電気信号を発生する手段と、上記電気信号に
   もとずいて出力信号及びフオーカス・エラー信号
   を得る信号形成回路と、上記フオーカス・エラー
   信号にもとずいて、上記デイスクへ入射する光ビ
   ームの集束位置を調整するフオーカス制御手段
   と、上記レンズ手段を上記デイスクの近傍位置か
   ら、上記デイスクへ入射する光ビームの光軸方向
   に、上記デイスクより次第に離隔せしめ、上記デ
   イスクへ入射する光ビームの集束位置を上記デイ
   スクの信号記録面に接近させるフオーカス引込み
   制御手段と、上記出力信号のレベルを検出するレ
   ベル検出部とを備え、上記フオーカス引込み制御
   手段によるフオーカス引込み動作状態において、
   上記レベル検出部から上記出力信号のレベルが所
   定値を越えるものであることを示す出力が得られ
   た後、上記フオーカス制御手段による上記フオー
   カス・エラー信号にもとずいた上記デイスクへ入
   射する光ビームの集束位置の調整が行われる状態
   に切り換えられるようにされた光学式デイスク・
   プレーヤ。