JPS61295565A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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JPS61295565A
JPS61295565A JP13821285A JP13821285A JPS61295565A JP S61295565 A JPS61295565 A JP S61295565A JP 13821285 A JP13821285 A JP 13821285A JP 13821285 A JP13821285 A JP 13821285A JP S61295565 A JPS61295565 A JP S61295565A
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microcrystalline silicon
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明 三城
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Wataru Mitani
渉 三谷
Mariko Yamamoto
山本 万里子
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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    • G03G5/02Charge-receiving layers
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    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、電子写真感光体等に使用され、帯電特性、
光感度特性及び耐環境性等が優れた光導電性部材に関す
る。
[発明の技術的背景とその問題点コ 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO1Se、、5e−Te若しくはアモル
ファスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカル
バゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(
TNF)等の有機材料が使用されている。しかしながら
、これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性
上、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システム
の特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの
材料を使い分けている。
例えば、Se及びCdSは、人体に対して存寄な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残本等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン(以下、a −S iと略
す)は、近時、光導電変換材料として注目されており、
太陽電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応
用が活発になされている。このa−3tの応用の一環と
して、a−8iを電子写真感光体の光導電性材料として
使用する試みがなされており、a−8tを使用した感光
体は、無公害の材料であるから回収処理の必要がないこ
と、他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を有す
ること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れて
いること等の利点を有する。
このa−3iは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層型の
構造にすることにより、このような要求を満足させてい
る。
ところで、a−3Lは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
Si膜中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気的
及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−St膜に
侵入する水素の量が多くなると、光学的バンドギャップ
が大きくなり、a−5tの抵抗が高くなるが、それにと
もない、長波長光に対する光感度が低下してしまうので
、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプリン
タに使用することが困難である。また、a −Si膜中
の水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって、(S
 I H2)。及びS iH2等の結合構造ををするも
のが膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうする
と、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増
加するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体とし
て使用不能になる。逆に、a−8i中に侵入する水素の
量が低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、
その抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増
加する。しかし、水素量を量が少ないと、シリコンダン
グリングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が
少なくなる。このため、発生するキャリアの移動度が低
下し、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してし
まい、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンG e Hi、とを混合し、グロー
放電分解することにより、光学的バンドギャップが狭い
膜を生成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとG
 e H4とでは、最適基板温度が異なるため、生成し
た膜は構造欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることが
できない。また、G e H4の廃ガスは酸化されると
有毒ガスとなるので、廃ガス処理も複雑である。従って
、このような技術は実用性がない。
[発明の目的] この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が侵れており、残留電位が低く、広波長領域に
亘って感度が高く、基板との密着性が良く、耐環境性が
優れた光導電性部材を提供することを目的とする。
[発明の概要] この発明に係る光導電性部材は、導電性支持体と、この
導電性支持体の上に形成された障壁層と、この障壁層の
上に形成された光導電層と、を有する光導電性部材にお
いて、前記光導電層は、その少なくとも一部が水素を含
有するマイクロクリスタリンシリコンで形成されており
、このマイクロクリスタリンシリコンの平均粒径が層厚
方向で変化していることを特徴とする。
この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した光導
電性部材を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を重
ねた結果、マイクロクリスタリンシリコン(以下、μ・
C−5iと略す)を光導電性部材の少なくとも一部に使
用することにより、この目的を達成することができるこ
とに想到して、この発明を完成させたものである。
[発明の実施例] 以下、この発明について具体的に説明する。この発明の
特徴は、従来のa−Siの替りにμC−8iを使用した
ことにある。つまり、光導電層の全ての領域又は一部の
領域がマイクロクリスタリンシリコン(μC−3i)で
形成されているか、マイクロクリスタリンシリコンとア
モルファスシリコン(a−SL)との混合体で形成され
ているか、又はマイクロクリスタリンシリコンとアモル
ファスシリコンとの積層体で形成されている。また、機
能分離型の光導電性部材においては、電荷発生層にμC
−3iを使用している。
μC−3iは、以下のような物性上の特徴により、a−
8i及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−3iは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μC−5iは
、2θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パター
ンを示す。また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が
106Ω・印であるのに対し、μC−3iは1011Ω
・印以上の暗抵抗を有する。このμC−5iは粒径が約
数十オングストローム以上である微結晶が集合して形成
されている。
μC−3iとa−8tとの混合体とは、μC−3tの結
晶領域がa−5i中に混在していて、μC−8i及びa
−Siが同程度の体積比で存在するものをいう。また、
μC−3tとa−3iとの積層体とは、大部分がa−3
iからなる層と、μC−3iが充填された層とが積層さ
れているものをいう。
このようなμC−8tを有する光導電層は、a−3iと
同様に、高周波グロー放電分解法により、シランガスを
原料として、導電性支持体上にμC−3tを堆積させる
ことにより製造することができる。この場合に、支持体
の温度をa−3tを形成する場合よりも高く設定し、高
周波電力もa −3iの場合よりも高く設定すると、μ
C−5iを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高
周波電力を高くすることにより、シランガスなどの原料
ガスの流量を増大させることができ、その結果、成膜速
度を早くすることができる。また、原料ガスのSiH及
びS L 2 He等の高次のシランガスを水素で希釈
したガスを使用することにより、μC−3Lを一層高効
率で形成することができる。
第1図は、この発明に係る光導電性部材を製造する装置
を示す図である。ガスボンベ1,2.3゜4には、例え
ば、夫々S i H、B  H* H2。
4   2  G CH4等の原料ガスが収容されている。これらのカスボ
ンベ1.2.3.4内のガスは、流ffi調整用のバル
ブ6及び配管7を介して混合器8に供給されるようにな
っている。各ボンベには、圧力計5が設置されており、
この圧力計5を監視しつつ、バルブ6を調整することに
より、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合比
を調節することができる。混合器8にて混合されたガス
は反応容器9に供給される。反応容器9の底部11には
、回転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけら
れており、この回転軸10の上端に、円板状の支持台1
2がその面を回転軸10に垂直にして固定されている。
反応容器9内には、円筒状の電極13がその軸中心を回
転軸10の軸中心と一致させて底部11上に設置されて
いる。感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸
中心を回転軸10の軸中心と一致させて載置されており
、このドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用の
ヒータ15が配設されている。電極13とドラム基体1
4との間には、高周波電源16が接続されており、電極
13及びドラム基体14間に高周波電流が供給されるよ
うになっている。回転軸10はモータ18により回転駆
動される。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監
視され、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空
ポンプ等の適宜の排気手段に連結されている。   ゛
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(To r r)の圧力以下に排気する。次いで、ボン
ベ1,2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で
混合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容
器9内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0
.1乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ
18を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ1
5によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、
高周波電源16により電極13とドラム基体14との間
に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成す
る。これにより、ドラム基体14上にマイクロクリスタ
リンシリコン(μC−3t)が堆積する。なお、原料ガ
ス中にN  O,NH、NH、No  、N  、CH
4゜CH、Oガス等を使用することにより、これらの元
素をμC−5i中に含有させることができる。
このように、この発明に係る光導電性部材は従来のa−
5tを使用したものと・同様に、クローズドシステムの
製造装置で製造することができるため、人体に対して安
全である。また、この光導電性部材は、耐熱性、耐湿性
及び耐摩耗性が優れているため、長期に直り繰り返し使
用しても劣化が少なく、寿命が長いという利点がある。
さらに、G e H4等の長波長増感用ガスが不要であ
るので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生
産性が著しく高い。
μC−3iには、水素を0.1乃至30原子%含有させ
ることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが調
和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μC−
5i層への水素のドニピングは、例えば、グロー放電分
解法による場合は、S iH4及びSi2H6等のシラ
ン系の原料ガスと、水素等のキャリアガスとを反応容器
内に導入してグロー放電放電させるか、S iF 4及
びS iC14等のハロゲン化ケイ素と、水素ガスとの
混合ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガスと、
ハロゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい。更
に、グロー放電分解法によらず、スパッタリング等の物
理的な方法によってもμC−8i層を形成することがで
きる。なお、μC−5iを含む光導電層は、光導電特性
上、1乃至80μmの膜厚を有することが好ましく、更
に膜厚を5乃至50μmにすることが望ましい。
光導電層は、実質的に全ての領域をμC−5iで形成し
てもよいし、a−SiとμC−5iとの混合体又は積層
体で形成してもよい。帯電能は、積層体の方が高く、光
感度は、その体積比にもよるが、赤外領域の長波長領域
では混合体の方が高く、可視光領域では両者はほとんど
同一である。
このため、感光体の用途により、実質的に全ての領域を
μC−5iにするか、又は混合体若しくは積層体で構成
すればよい。
μC−3iに、窒素N1炭素C及び酸素Oから選択され
た少なくとも1種の元素をドーピングすることが好まし
い。これにより、μC−5iの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
これらの元素はμC−5iの粒界に析出し、またシリコ
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制米中に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。
この発明においては、導電性支持体と光導電層との間に
、障壁層を配設する。この障壁層は、導電性支持体と、
光導電層との間のキャリアの流れを抑制することにより
、光導電性部材の表面におけるキャリアの保持機能を高
め、光導電性部材の帯電能を高める。カールソン方式に
おいては、感光体表面に正帯電させる場合には、支持体
側から光導電層へ電子が注入されることを防止するため
に、障壁層をp型にする。一方、感光体表面に負帯電さ
せる場合には、支持体側から光導電層へ正孔が注入され
ることを防止するために、障壁層をn型にする。また、
障壁層として、絶縁性の膜を支持体の上に形成すること
も可能である。障壁層はμC−3iを使用して形成して
もよいし、a−3iを使用して障壁層を構成することも
可能である。
μC−5i及びa−Stをp型にするためには、周期律
表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B5アルミニ
ウムAI、ガリウムG a sインジウムIn、及びタ
リウムT1等をドーピングすることが好ましく、μC−
3i層をn型にするためには、周期律表の第V族に属す
る元素、例えば、窒AN、リンP1ヒ素As1アンチモ
ンSb1及びビスマス81等をドーピングすることが好
ましい。
このp型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。
光導電層のμC−5tは、その屈折率が3乃至4と比較
的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよう
な光反射が生じると、光導電層に吸収される光量の割合
いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層を
設け゛て反射を防止することが好ましい。また、表面層
を設けることにより、光導電層が損傷から保護される。
さらに、表面層を形成することにより、帯電能が向上し
、表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成する
+4料としては、St  N  5siO5sic。
A 1 0  s a  S i N ; Hs a−
3t O; Hs及びa−SiC;H等の無機化合物及
びポリ塩化ビニル及びポリアミド等の有機材料がある。
電子写真感光体に適用される光導電性部材としては、上
述のごとく、支持体上に障壁層を形成し、この障壁層上
に光導電層を形成し、この光導電層の上に表面層を形成
したものに限らず、支持体の上に電荷輸送層(CTL)
を形成し、電荷輸送層の上に電荷発生層(CG L)を
形成した機能分離型の形態に構成することもてきる。こ
の場合(7、電荷輸送層と、支持体との間に、障壁層を
設けてもよい。電荷発生層は、光の照射によりキャリア
を発生する。この電荷発生層は、層の一部又は全部がマ
イクロクリスタリンシリコンμC−3tでできており、
その厚さは0.1乃至10μmにすることが好ましい。
電荷輸送層は電荷発生層で発生したキャリアを高効率で
支持体側に到達させる層であり、このため、キャリアの
寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いことが必要で
ある。電荷輸送層はa−5tで形成してもよく、またμ
C−3iで形成してもよい。暗抵抗を高めて帯電能を向
上させるために、周期律表の第■族又は第V族のいずれ
か一方に属する元素をライトドーピングすることが好ま
しい。また、帯電能を一層向上させ、電荷輸送層と電荷
発生層との両機能を持たせるために、C,N、Oの元素
のうち、いずれか1種以上を含有させてもよい。電荷輸
送層は、その膜厚が薄過ぎる場合及び厚過ぎる場合はそ
の機能を充分に発揮しない。このため、電荷輸送層の厚
さは3乃至80μmであることが好ましい。障壁層を設
けることにより、電荷輸送層と電荷発生層とを有する機
能分離型の光導電性部材においても、その電荷保持機能
を高め、帯電能を向上させることができる。なお、障壁
層をp型にするか、又はn型にするかは、その帯電特性
に応じて決定される。この障壁層は、a−5iで形成し
てもよく、またμC−3iで形成してもよい。
この出願に係る発明の特徴は、光導電層の少なくとも一
部かμC−5iで形成されており、その平均粒径が層厚
方向について変化していることにある。第2図及び第3
図は、この発明を具体化した光導電性部材の断面図であ
り、第2図においては、導電性支持体21上に障壁層2
2が形成され、障壁層22上に光導電層23が形成され
ている。
一方、第3図においては、導電性支持体21の上に障壁
層22が形成され、障壁層22の上に、光導電層23及
び表面層24がこの順に積層されている。光導電層23
は、少なくともその一部がμC−5iからなる。
障壁層は、μC−8i又はa−Siで形成することがで
きる。この障壁層22には、周期律表第■族又は第V族
に属する元素がドーピングされており、これにより障壁
層22がp型又はn型の半導体になっている。その含有
量は、10−3乃至10原子%であることが好ましい。
また、障壁層22に、C,0,Nのうち少なくとも1種
以上の元素を、0.1乃至20原子%の範囲で含有させ
ると、電荷ブロッキング能が一層向上するので、電子写
真特性上、好ましい。
光導電層は主としてμC−5iで形成されているが、μ
C−3i自体は、若干、n型である。このため、このμ
C−3i層に周期律表の第■族に属する元素をライトド
ープ(10−7乃至10−3原子%)することが好まし
い。これにより、光導電層23は、i型(真性)半導体
になり、暗抵抗が高くなり、SN比と帯電能が向上する
。また、光導電層23には、C,O,Nから選択された
少なくとも一種の元素を、0.1乃至10原子%の範囲
で含有させることが好ましい。これにより、帯電能を向
上させることができる。更に、光導電層は、3乃至80
μmの膜厚を有することが好ましく、更に好ましくは、
10乃至40μmである。
μC−3t中に水素を含有させることが、光導電特性を
向上させる上で好ましい。この場合に、水素はマイクロ
クリスタリンシリコンの粒子間の境界に存在するアモル
ファスシリコン中に、又はμC−5iの粒子の周囲を取
りまいて存在しており、Si原子と結合していると考え
られる。この水素量は、通常、0.1乃至30原子96
、好ましくは、1乃至10原子%である。
また、光導電層23の上に形成された表面層24は、C
,O,Nのうち、少なくとも1種以上の元素を含有する
a−8iで形成されている。これにより、光導電層の表
面が保護され、耐環境性が向上すると共に、帯電能が向
上する。このC90゜Nの含有量は、10乃至50原子
%であることが好ましい。更に、表面層24及び障壁層
22の膜厚は、0.01乃至10μmであることが好ま
しく、更に好ましくは、0.1乃至2μmである。
この発明においては、光導電層23を形成しているμC
−3iの平均粒径が層厚方向で変化していることを特徴
とする。μC−5iは暗抵抗がa−3iに比して若干低
く、光吸収係数が可視光で小さく赤外光で大きいという
性質を有する。一方、μC,−8tは結晶粒径が大きい
程、結晶としての性質、即ちμC−3iに特有の性質が
強くなり、結晶粒径が小さい程、アモルファスとしての
性質、即ちa−3iに持合の性質が強くなる。このため
、μC−3iの結晶化度を層厚方向について変化させる
こ゛とにより、光導電層23の抵抗を高めて帯電能を向
上させると共に、可視光から近赤外領域(例えば、半導
体レーザの発振波長である790nm付近)までの高範
囲に亘って、高感度化することができる。これにより、
PPC(普通紙複写機)及びレーザプリンタの双方にこ
の光導電性部材を使用することが可能になる。
μC−8iの平均粒径は10から400オングストロー
ムの範囲内で変化することが好ましく、更に一層暗抵抗
を高くして光感度を高めるためには、平均粒径を20乃
至100オングストロームの範囲で変化させることが好
ましい。平均粒径は層厚方向について、支持体21側か
ら表面層24に向けて低下させてもよいし、逆に、高く
してもよい。しかし、支持体21側で平均粒径が大きく
、表面にいくに従って平均粒径が小さくなるノくターン
の場合は、長波長感度が高くなるので、特に、半導体レ
ーザプリンタに使用する際に有効である。
なお、このように平均粒径を変化させて成膜するだめに
は、S +、 H4等のシラン系ガスと水素ガスとの混
合ガスを使用して高周波グロー放電分解し、徐々に水素
ガスの流量を減少させていくか、又は高周波電力を減少
させていけばよい。
次に、この発明の実施例について説明する。
実施例1 導電性基板としてのAl製ドラムを洗浄し乾燥させた後
、反応容器内を拡散ポンプで排気しつつ、350℃に加
熱した。約1時間後、反応容器内の真空度が3×10−
5トルに達し、ドラム温度が安定した。次いで、300
SCCMの流量のSiHガス、このS I H4ガス流
量に対する流量比が5X10−’のBHガス、60SC
CMのCH4ガス、及び2003CCMのアルゴンガス
を混合して反応容器に供給した。13.56MHzで2
00ワツトの高周波電力を印加してグロー放電させ、障
壁層21を形成した。このときの反応容器内圧力は約0
,8トルであり、得られた層厚は1.5μmであった。
次に、全てのガスを停止させてガスパージを15分間実
施した。その後、S iH4の流量を600SCCM、
水素ガスの流量を500 SCCM、B2H6のS t
 H4に対する流量比をgxio”−8になるように設
定し、反応圧力が115トル、高周波電力が450ワツ
トで15分間成膜した。次いで、高周波電力を0にして
水素ガスの流量を4008CCMに下げ、他のガスと共
に5分間流した。ガスの流量が安定してから、高周波電
力を450ワツトにして、反応圧力が1,4トルの状態
で15分間成膜した。
その後、高周波電力をOにし、水素ガスの流量を400
SCCMに低下させて5分間保持した。流量が安定して
反応圧力が1.4トルになったところで、高周波電力を
450ワツト印加して15分間成膜した。次いで、高周
波電力を0にして水素ガスを3003CCMに低下させ
、5分間保持した。流量が安定した後、450ワツトの
高周波電力を印加して15分間成膜した。このときの反
応圧力は]、、351−ルであった。その後、高周波電
力を0にして水素ガスの流量を2003CCMに下げ、
5分間保持した。次いで、高周波電力を印加し、反応圧
力が1.2トルで30分間成膜した。
このようにして得られた光導電層においては、X線回折
により、28.3°の回折角に現れる(111)面のピ
ークの半値幅から平均粒径を計算すると、平均粒径が、
支持体側から表面に向けて、75.60,35.28オ
ングストロームで変化していることが判明した。先導電
層の層厚は25μmであった。次いで、全てのガスを停
止し、15分間パージした後、11005CCのSiH
4ガスと、400SCCMのN2ガスを流し、反応圧力
0.71−ル及び高周波電力200ワツトという条件で
表面層を成膜した。このようにして成膜した感光体に対
し、790nmの発光波長の半導体レーザを搭載したレ
ーザプリンタで画像を形成したところ、解像度が高く、
濃度及びかぶり共に欠点がない鮮明な画像を形成するこ
とができた。
また、電子写真特性も半減露光量が8erg/cシと極
めて良好であった。
実施例2 導電性基板としてのAl製ドラムを洗浄し乾燥させた後
、反応容器内を拡散ポンプで排気しつつ、300℃に加
熱した。約1時間後、反応容器内の真空度が3X10−
51−ルに達し、ドラム温度が安定した。次いで、30
0SCCMの流量のSiHガス、このS i H4ガス
流量に対する流量比が5X10−’のBHガス、60S
CCMB のN2ガス、及び200SCCMのアルゴンガスを混合
して反応容器に供給した。13.56MHzで200ワ
ツトの高周波電力を印加してグロー放電させ、障壁層2
1を形成した。このときの反応容器内圧力は約0.8ト
ルであり、得られた層厚は1.2μmであった。次に、
全てのガスを停止させてガスバージを15分間実施した
。その後、S I H4の流量を6003CCM、水素
ガスの流量を500SCCM%B2H6のS iH4に
対する流(5)比を8X10−8になるように設定し、
反応圧力が1.5トル、高周波電力が400ワツトで5
0分間成膜した。次いで、高周波電力を0にして水素ガ
スの流量を3003CCMに下げ、他のガスと」1ミに
5分間流した。ガスの流量が安定してから、高周波電力
を400ワツトにして、反応圧力が1..35)ルの状
態で30分間成膜した。
その後、高周波電力を0にし、水素ガスを停止し、替り
に、アルゴンガスを500SCCMで流し、流量が安定
してから反応圧力が1.5トルになったところで、高周
波電力を400ワツト印加して20分間成膜した。この
ようにして得られた光導電層をX線回折したところ、支
持体21側から順ニ、平均粒径が、60.32オンゲス
、トロームであり、表面側は測定不能であった。光導電
層の層厚は32μmであった。このようにして成膜した
感光体に対し、790nmの発光波長の半導体レーザを
搭載したレーザプリンタで画像を形成したところ、解像
度が高く、濃度及びかぶり共に欠点がない鮮明な画像を
形成することができた。また、電子写真特性も790n
mでの半減露光量が9゜5erg/cvtと極めて良好
であった。
[発明の効果] この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光感度特性を有し
、製造が容易であり、実用性が高い光導電性部材を得る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る光導電性部材の製造装置を示す
図、第2図及び第3図はこの発明の実施例に係る光導電
性部材を示す断面図である。 1.2.3.4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8;混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;支持体、22;
障壁層、23;光導電層、24;表面層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 ]d 第1図 第2図 第3図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
    れた障壁層と、この障壁層の上に形成された光導電層と
    、を有する光導電性部材において、前記光導電層は、そ
    の少なくとも一部が水素を含有するマイクロクリスタリ
    ンシリコンで形成されており、このマイクロクリスタリ
    ンシリコンの平均粒径が層厚方向で変化していることを
    特徴とする光導電性部材。
  2. (2)前記光導電層は、ハロゲン元素を含有することを
    特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光導電性部材
  3. (3)前記光導電層は、周期律表の第III族又は第V族
    に属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項又は第2項に記載の光導電性部材。
  4. (4)前記光導電層は、炭素、酸素及び窒素から選択さ
    れた少なくとも一種の元素を含有することを特徴とする
    特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか1項に記載
    の光導電性部材。
  5. (5)前記光導電層は、マイクロクリスタリンシリコン
    の領域とアモルファスシリコンの領域とが混在している
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項のい
    ずれか1項に記載の光導電性部材。
  6. (6)前記光導電層は、マイクロクリスタリンシリコン
    の層とアモルファスシリコンの層とが積層されているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項のいず
    れか1項に記載の光導電性部材。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54109762A (en) * 1978-02-16 1979-08-28 Sony Corp Semiconductor device
JPS55154781A (en) * 1979-05-22 1980-12-02 Shunpei Yamazaki Semiconductor device
JPS59121050A (ja) * 1982-12-28 1984-07-12 Toshiba Corp 電子写真感光体

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