JPS6343160A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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JPS6343160A
JPS6343160A JP18831986A JP18831986A JPS6343160A JP S6343160 A JPS6343160 A JP S6343160A JP 18831986 A JP18831986 A JP 18831986A JP 18831986 A JP18831986 A JP 18831986A JP S6343160 A JPS6343160 A JP S6343160A
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JP
Japan
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layer
photoconductive
electrophotographic photoreceptor
gas
layers
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Pending
Application number
JP18831986A
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English (en)
Inventor
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
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Priority to DE19873726686 priority patent/DE3726686A1/de
Publication of JPS6343160A publication Critical patent/JPS6343160A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08264Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/24Deposition of silicon only

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐
環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
(従来の技術) 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO,Se、5e−Te。
As2Se3若しくはアモルファスシリコン等の無機材
料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVCz)若し
くはトリニトロフルオレノン(TNF)等の有機材料が
使用されている。しかしながら、これらの従来の光導電
性材料においては、光導電特性上、又は製造工種々の問
題点があり、感光体システムの特性をある程度犠牲にし
て使用目的に応じてこれらの材料を使い分けている。
例えば、5eSAs及びCdSは、人体に対して角°害
な材料であり、その製造に際しては、安全対策上、特別
の配慮が必要である。従って、製造装置複雑になるため
製造コストが高いと共に、特に、5eSAsは回収する
必要があるため回収コストが付加されるという問題点が
ある。また、Se又は5e−Te系においては、結晶化
温度が65℃と低いため、複写を繰返している間に結晶
化し、残留電位等により光導電特性上の問題が生じ、こ
のため、寿命が短いので実用性が低い。
さらに、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気
の影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いとい
う問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン(以下、a−Si:Hと略
す)は、近時、光導電変換材料として注目されており、
太陽電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応
用が活発になされている。このa−Si:Hの応用の一
環として、a−Si:Hを電子写真感光体の光導電性材
料として使用する試みがなされており、a−Si:Hを
使用した感光体は、無公害の材料であるから回収処理の
必要がないこと、他の材料に比して可視光領域で高い分
光感度を有すること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝
撃性が優れていること等の利点を有する。
このa−St:Hは、カールソン方式に基づく感光体と
して検討が進められているが、この場合に、感光体特性
として抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかし
ながら、この両特性を単一層の感光体で満足させること
が困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障
壁層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
型の構造にすることにより、このような要求を満足させ
ている。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、a−3t:Hは、通常、シラン系ガスを使用
したグロー放電分解法により形成されるが、この際に、
a−3i:H膜中に水素が取り込まれ、水素量の差によ
り電気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−
5i:H膜に侵入する水素の口が多くなると、光学的バ
ンドギャップが大きくなり、a−3i:Hの抵抗が高く
なるが、それにともない、長波長光に対する光感度が低
下してしまうので、例えば、半導体レーザを搭載したレ
ーザビームプリンタに使用することが困難である。また
、a−Si:H膜中の水素の含有量が多い場合は、成膜
条件によって(9iH2)rL及びSiH2等の結合構
造を有するものが膜中で大部分の領域を占める場合があ
る。そうすると、ボイドが増加し、シリコンダングリン
グボンドが増加するため、光導電特性が劣化し、電子写
真感光体として使用不能になる。逆に、a−5t:H中
に侵入する水素の量が低下すると、光学的バンドギャッ
プが小さくなり、その抵抗が小さくなるが、長波長光に
対する光感度が増加する。しかし、通常の成膜条件で作
成した従来のa−St:Hにおいては、水素量(fi&
が少ないと、シリコンダングリングボンドと結合してこ
れを減少させるべき水素が少なくなる。このため、発生
するキャリアの移動度が低下し、寿命が短くなると共に
、光導電特性が劣化してしまい、電子写真感光体として
使用し難いものとなる。
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH4とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH4
とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構造
欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。
また、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなる
ので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような技
術は実用性がない。
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された画像形成層とを有する
電子写真感光体において、前記画像形成層は光導電層を
有し、この光導電層は、その少なくとも一部が、珪素を
母体とした非晶質層と炭素を含有しその一部又は全部が
微結晶化した半導体層とが交互に積層する積層体により
構成され、この積層体を構成する各々の層の層厚が30
乃至500人であることを特徴とする。
(作用) この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を
重ねた結果、光導電層の全ての領域又はその一部の領域
を超格子構造にすることにより、この目的を達成するこ
とができることに想到して、この発明を完成させたもの
である。
この場合に、この超格子構造は、その厚みが30乃至5
00人と極めて薄い半導体層であって、珪素を母体とす
る非晶質層と炭素を含有しその少なくとも一部が微結晶
化した半導体層とを交互に積層することにより得ること
ができる。
(実施例) 以下、添付図面を参照してこの発明の実施例について具
体的に説明する。第1図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体の断面図、第2図は同じく他の実施例に係る
電子写真感光体の断面図である。第1図においては、導
電性支持体21上に障壁層22が形成され、障壁層22
の上に光導電層23が形成されている。光導電層23の
上には表面層24が形成されている。第2図に示す感光
体は光導電層が電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能
分離型のものであって、障壁層22の上に電荷輸送層2
5が形成されており、この電荷輸送層25の1−には電
荷発生層26が形成されている。更に、この電荷発生層
26の上には表面層24が形成されている。光導電層2
3は光の入射により、キャリアを発生し、このキャリヤ
は一方の極性のものが感光体表面の帯電電荷と中和し、
他h゛のものが光導電層23を導電性支持体21まで走
行する。また、機能分離型の感光体(第2図)において
は、光の入射により、電荷発生層26にてキャリヤが発
生し、このキャリヤの一方は電荷輸送層25を走行して
導電性支持体21まで到達する。
この実施例においては、光導電性層23及び電荷発生層
26は、第3図にその断面図を拡大して示すように、薄
層31及び32を交互に積層して構成されている。薄層
31,32は、光学バンドギャップが相違し、夫々、厚
みが30乃至500人の範囲にある。第4図は横軸に厚
み方向をとり、縦軸に光学的バンドギャップをとって示
す超格子構造のエネルギバンド図である。この実施例に
おいては、薄層31,32を夫々水素を含をするマイク
ロクリスタリンシリコン(以下、μc−Si:Hと略す
)に炭素Cを含有させたもの(以下、μc−3iC:H
と略す)、及び、水素を含有するアモルファスシリコン
(以下、a−Si:Hと略す)により構成する。第4図
に示すように、a−Si:Hの光学的バンドギャップが
1.75eVでμc−SiCの光学的バンドギャップが
1.6eVであるから、a−Si:Hがポテンシャルの
バリアとなり、μc−SiC:Hかポテンシャルの井戸
となる。このため、μc−5iC:Hの薄層とa−Si
:Hの薄層とを交互に積層することによって周期的なポ
テンシャルの井戸を形成することができる。このように
、光学的バンドギャップが相互にことなる薄層を積層す
ることによって、光学的バンドギャップの大きさ自体に
拘りなく、光学的バンドギャップの小さい層を基準にし
て光学的バンドギャップが大きな層がバリアとなる周期
的なポテンシャルバリアををする超格子構造が形成され
る。この超格子構造においては、光の入射により発生す
るキャリアの数が多い。従って、光感度が高い。なお、
超格子構造の薄層のバンドギャップと層厚とを変更する
ことにより、ペテロ接合超格子構造を有する層のみかけ
のバンドギャップを自由に調整することができる。
上述のように、μc−St:HにCを含有させることに
より、暗抵抗を高くして光導電特性を高めることができ
る。Cはシリコンダングリングボンドのターミネータと
して作用して、バンド間の票制帯中に存在する状態密度
を減少させ、これにより、暗抵抗が高くなると考えられ
る。
a−5i:H及びμc−9i:Hには、水素Hを0.0
1乃至30原子%好ましくは1乃至25原子96含自°
させる。これにより、シリコンのダングリングボンドが
補償され、暗抵抗と明抵抗が調和のとれたものとなり、
光導電特性が向上する。
薄層をグロー放電分解法により成膜する場合には、原料
としてSiH4及びSi2H6等のシラン類ガスを反応
室に導入し、高周波によりグロー放電することにより薄
層中にHを添加することができる。また、薄層中にCを
添加する場合には、導入ガス中にCH,等の炭化水素ガ
スを含有させる。
μc−3i:Hは、支持体の温度をa−Si:Hを形成
する場合よりも高く設定し、高周波電力もa−Si:H
の場合よりも高く設定すると、形成されやすくなる。ま
た、支持体温度及び高周波電力を高くすることにより、
シランガス等の原料ガスの流量を増大させることができ
、その結果成膜速度を速くすることができる。また、原
料ガスのSiH4及びSi2H6等の高次のシランガス
を水素で希釈したガスを使用することにより、μc−3
t:Hを一層高効率で形成することができる。
ところで、μc−3i:Hは、以下のような物性−にの
特徴により、a−3i:H及びポリクリスタリンシリコ
ン(多結晶シリコン)から明確に区別される。即ち、X
回折装置においては、a −3i :Hは無定形である
ため、ハローのみが現れ、晶回折パターンを示す。また
、ポリクリスタリン粒径が約数十オングストローム以上
である微結晶と非晶質の混合相により形成されている。
μc−5i:H及びa−Si;Hをp型にするためには
、周期律表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B1
アルミニウムAI、ガリウムGa。
インジウムIn、及びタリウムT1等をドーピングする
ことが好ましく、μc−3iHH層をn型にするために
は、周期律表の第V族に属する元素、例えば、窒素N1
リンP1ヒ素As、アンチモンSb1及びビスマスBi
等をドーピングすることが好ましい。このp型不純物又
はn型不純物を光導電層23又は障壁層22にドーピン
グすることにより、支持体21側から光導電層23へ電
荷が移動することが防止される。
一方、SiF4ガス等のハロゲンが珪素ガスを原料ガス
として使用することができる。また、シラン類ガスとハ
ロゲン化珪素ガスとの混合ガスで反応させても、同様に
μc−5i:H及びa−3i:Hを成膜することができ
る。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッ
タリング等の物理的な抱負によってもこれらの薄層を形
成することができる。必要に応じて、シラン類のキャリ
アガスとして水素又はヘリウムガスを使用することがで
きる。
障壁層22は、導電性支持体21と、光導電層23(又
は電荷発生層26)との間の電荷の流れを抑制すること
により、感光体の表面における電荷の保持機能を高め、
感光体の帯電能を高める。
カールソン方式においては、感光体表面をに正帯電させ
る場合には、支持体21側から光導電層23へ電子が注
入されることを防止するために、障壁層22をp型にす
る。一方、感光体表面を負帯電させる場合には、支持体
21側から光導電層23へ正孔が注入されることを防止
するために、障壁層22をn型にする。また、障壁層2
2として、絶縁性の膜を支持体の上に形成することも可
能である。障壁層22はμc−8t:Hを使用して形成
してもよいし、a−3t:Hを使用して形成することも
可能である。この場合に、これらμc−3i:H又はa
−5i:Hに、炭素C1窒素N及び酸素Oから選択され
た少なくとも一種の元素を含有させることにより高抵抗
の絶縁性の障壁層22を形成することができる。障壁層
22の厚みは100人乃至10μmが好ましい。
光導電層23又は電荷発生層26の上に表面層24が設
けられている。光導電層23又は電荷発生層26のa−
SiC:H等は、その屈折率が3乃至3.4と比較的大
きいため、表面での光反射が起きやすい。このような光
反射が生じると、光導電層23又は電荷発生層26に吸
収される光量の割合が低下し、光損失が大きくなる。こ
のため、表面層24を設けて反射を防止することが好ま
しい。また、表面層24を設けることにより、光導電層
23又は電荷発生層26が損傷から保護される。さらに
、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、表面
に電荷がよくのるようになる。
表面層を形成する材料としては、aSiN:H。
a−8iO:Hl及びa−3iC:H等の無機化合物並
びにポリ塩化ビニル及びホリアミド等のa機材材がある
このように構成される電子感光体の表面を、コロナ放電
により約500vの正電圧で帯電させると、例えば、第
2図に示す機能分離型の電子写真感光体の場合には、第
6図に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。
この感光体に光(hν)が入射すると、電荷発生層26
の超格子構造で電子と正孔のキャリアが発生する。この
伝導体の電子は、感光体中の電界により、表面層24側
に向けて加速され、正孔は導電性支持体21側に向けて
加速される。この場合に、光学的バンドギャップが相違
する薄層の境界で発生するキャリアの数は、バルクで発
生するキャリアの数よりも極めて多い。このため、この
超格子構造においては、光感度が高い。また、ポテンシ
ャルの井戸層においては、磁子効果のために、超格子で
ないli一層の場合に比較して、キャリアの寿命が57
J至10倍と長い。更に、超格子構造においては、バン
ドギャップの不連続性におり、周期的なバリア層が形成
されるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層
を通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクにお
ける移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れてい
る。以上のように、光学的バンドギャップが相違する薄
層を積層した超格子構造によれば、高光導電性を得るこ
とができ、従来の感光体よりも鮮明な画像を得ることか
できる。また、この超格子構造により各層間の歪みが少
なくなるので層のはがれが発生しにくくなり、基板との
密着性が良好になる。
第5図は、この発明の実施例に係る電子写真感光体をグ
ロー放電法により製造する装置を示す図である。ガスボ
ンベ1,2,3.4には、例えば、夫々S iH4、B
2 H6、H2、He、CH4+N2等の原料ガスが収
容されている。これらのガスボンベ1,2,3.4内の
ガスは、流;調整用のバルブ6及び配管7を介して混合
器8に供給されるようになっている。各ボンベには、圧
力計5が設置されており、この圧力計5を監視しつつ、
バルブ6を調整することにより、混合器8に供給する各
原料ガスの流量及び混合比を調節することができる。混
合器8にて混合されたガスは反応容器9に供給される。
反応容器9の底部11には、回転軸10が鉛直方向の回
りに回転可能に取りつけられており、この回転軸10の
上端に、円板状の支持台12がその面を回転軸10に垂
直にして固定されている。反応容器9内には、円筒状の
電極13がその軸中心を回転軸10の軸中心と一致させ
て底部11上に設置されている。感光体のドラム基体1
4が支持台12上にその軸中心を回転軸10の軸中心と
一致させてa置されており、このドラム基体14の内側
には、ドラム基体加熱用のヒータ15か配設されている
。電極13とドラム基体14との間には、高周波電源1
6が接続されており、電極13及びドラム基体14間に
高周波電流が供給されるようになっている。回転軸10
はモータ18により回転駆動される。反応容器9内の圧
力は、圧力計17により監視され、反応台$9は、ゲー
トバルブ18を介して真空ポンプ等の適宜の排気手段に
連結されている。
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ1
.2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混合
して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器9
内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0.1
乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ18
を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15に
よりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高周
波電源16により電極13とドラム基体14との間に高
周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成する。
これにより、ドラム基体14上にa−5i:H又は、c
zc−Si:Hが堆積する。なお、原料ガス中に N2
0゜NH3,No2.N2.CH,、c、、H,,02
ガス等を使用することにより、これらの元素をa−3t
:H又はμc−5i:H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。また、この電子写真感光体は
、耐熱性、耐湿性及び耐摩耗性が優れているため、長期
に亘り繰り返し使用しても劣化が少なく、寿命が長いと
いう利点がある。
さらに、GeH4等の長波長増感用ガスが不要であるの
で、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産性
が著しく高い。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
試験例1 必要に応じて、干澁防ILのために、酸処理、アルカリ
処理及びサンドブラスト処理を施した直径が80mrt
t、長さが350a+アルミニウム製ドラム基体を反応
容器内に装着し、反応容器内を、図示しない拡散ポンプ
により、排気し、約10″Sトルの真空度に排気した。
その後、ドラム基体を250°Cに加熱し、10 rp
fflで自転させつつ、SiH4ガスを500SCCM
、B2 H6ガスをSiH4ガス流量に対する流量比で
10−6、CHaガスを11005CCという流量で反
応容器内に導入し、反応容器内を1トルに調節した。
そして、電極に13.56MHzの高周波電力を印加し
て、電極とドラム基体との間に、SiH4゜B2 H6
及びCH,のプラズマを生起させ、p型のa−5iC:
Hからなる障壁層を形成した。
次いで、B2H6/SiH4比を10−7に設定し、5
00Wの高周波電力を投入して20μmのi型a−3i
”T(からなる電荷輸送層を形成した。
その後、放電を一旦停止し、SiH4ガスを11005
CC,CH,ガスを53CCM、H2ガスを1200S
CCMという流量で反応容器内に導入し、反応圧力を1
.8トルに調節した。そして、1.2KWの高周波電力
を印加して50人のμc−SiC:Hの薄層を形成した
。次いで、SiH4ガスを500SCCM、H2ガスを
750 S CCMという流星に設定し、B2 H6/
5iHa比が10−7になるようにB2H6の流量を設
定して500Wの高周波電力を印加することにより、5
0人のa−SiC:H薄層を形成した。このような操作
を繰返して250層のμC−3iC:H薄層と250層
のa−SiC:H薄層とを交互に積層し、5μnのへテ
ロ接合超格子構造の電d:f発生層を成形した。次いで
、0.1μmのa−SiC:Hの表面層を形成した。な
お、μc−SiC:H薄層の結晶化度及び結晶粒径は、
夫々60%及び30人であった。
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリア寿命が高
く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品質
の画像が得られた。また、この試験例で製造された感光
体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及び
安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐湿性
、及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証され
た。また、このようにして製造された感光体は、半導体
レーザの発振波長である780乃至790nmの長波長
に対しても高い感度を有する。この感光体を半導体レー
ザプリンタに搭載してカールソンプロセスにより画像を
形成したところ、感光体の露光量が25erg/dであ
る場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることができた
。なお、通常光を露光した場合においても、白色光の場
合と同様に、この感光体を繰返し帯電したところ、転写
画像の再現性及び安定性が高く耐コロナ性、耐湿性及び
耐摩耗性等の耐久性が優れていた。
試験例2 この試験例においては、障壁層をp型のμC−5iC:
Hとした他は、試験例1と同様の層構成とした。 この
場合に、SiH4ガスを11005CC,H2ガスを1
500SCCMSCHtガスを20SCCMSB2H6
ガスをB2H6/SiH4が1×10°2となるような
流量に設定して反応室に導入し、反応圧力を1.5トル
として1.2KWの高周波電力を印加し、0.5μmの
薄層を形成した。この層の結晶化度及び結晶粒径は夫々
65%及び70人であった。
このようにして成膜した電子写真感光体を半導体レーザ
プリンタに装着してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、いずれの場合にも鮮明で高解像度の画像
を得ることができた。また、繰返し帯電させたところ、
いずれの場合にも画像の再現性及び安定性が高く、耐コ
ロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れているこ
とが実証された。
なお、これら試験例においては、電荷輸送層の厚みが5
μmであったが、これに限らず、1又は3μm等に設定
しても感光体として実用可能である。
[発明の効果] この発明によれば、光導電層の少なくとも一部が、厚み
が夫々30乃至500人の珪素を母体とする非晶質層と
炭素を含有しその一部又は全部が微結晶化した半導体層
との積層体で構成される超格子構造を使用するから、可
視光から近赤外い光の広い波長領域に亘って高感度であ
り、キャリアの走行性が高いと共に、高抵抗で帯電特性
が優れた電子写真感光体を得ることができる。また、光
導電層の少なくとも一部を超格子構造にすることにより
、層間の歪みを小さくすることができ、基板との密着性
を良好にすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体を示す
断面図、第2図は同じく他の実施例に係る電子写真感光
体を示す断面図、第3図は第1図及び第2図の一部拡大
断面図、第4図は超格子構造のエネルギバンドを示す図
、第5図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体の製
造装置を示す図、第6図は感光体のエネルギギャップを
示す摸式図である。 1.2,3,4;ボンベ、5;圧力計、6:バルブ、7
:配管、8;混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;導電性支持体、
22;障壁層、23;光導電層、24;表面層、25;
電荷輸送層、26;電荷発生層、31,32;薄層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図 厚み方向 第4図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
    れた画像形成層とを有する電子写真感光体において、前
    記画像形成層は光導電層を有し、この光導電層は、その
    少なくとも一部が、珪素を母体とした非晶質層と炭素を
    含有しその一部又は全部が微結晶化した半導体層とが交
    互に積層する積層体により構成され、この積層体を構成
    する各々の層の層厚が30乃至500Åであることを特
    徴とする電子写真感光体。
  2. (2)前記画像形成層は、前記導電性支持体上に珪素を
    母体とした材料で形成され非晶質の半導体層又はその少
    なくとも一部が微結晶化した半導体層により構成された
    障壁層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    に記載の電子写真感光体。
  3. (3)前記光導電層は、周期律表の第III族又は第V族
    に属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項に記載の電子写真感光体。
  4. (4)前記障壁層は、周期律表の第III族又は第V族に
    属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範囲
    第2項に記載の電子写真感光体。
  5. (5)前記障壁層は、炭素、酸素及び窒素のうち少なく
    とも一種の元素を含有することを特徴とする特許請求の
    範囲第2項又は第4項に記載の電子写真感光体。
  6. (6)前記画像形成層は、前記光導電層の上に形成され
    た表面層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載の電子写真感光体。
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DE19873726686 DE3726686A1 (de) 1986-08-11 1987-08-11 Elektrophotographisches aufzeichnungsmaterial

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6364054A (ja) * 1986-09-05 1988-03-22 Sanyo Electric Co Ltd 静電潜像担持体
JPH05253551A (ja) * 1991-10-01 1993-10-05 Hughes Aircraft Co ジェットスプレイによる正確な洗浄のためのシステムおよび方法

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