JPS61289351A - パタ−ン可変型ホトマスク - Google Patents

パタ−ン可変型ホトマスク

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Publication number
JPS61289351A
JPS61289351A JP60131022A JP13102285A JPS61289351A JP S61289351 A JPS61289351 A JP S61289351A JP 60131022 A JP60131022 A JP 60131022A JP 13102285 A JP13102285 A JP 13102285A JP S61289351 A JPS61289351 A JP S61289351A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
mask
pattern
electrodes
transparent electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60131022A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Matsumoto
隆 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP60131022A priority Critical patent/JPS61289351A/ja
Publication of JPS61289351A publication Critical patent/JPS61289351A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/50Mask blanks not covered by G03F1/20 - G03F1/34; Preparation thereof

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 液晶表示装置をマl−IJソクス状に配列し、外部から
の制御によってパターンを形成し、それをホトマスクま
たはレチクルとして用いることを可能にする。
〔産業上の利用分野〕
本発明はパターン可変型ホトマスク、さらに詳しく言え
ば液晶表示装置にその都度所望のパターンを形成し、か
かる液晶表示装置を従来のホトマスクに代えるものであ
る。
〔従来の技術〕
現在ホトマスクのパターン幅およびパターン間隔は、1
.5〜2.0μmのオーダーのものであるが、そのよう
なパターン幅を作成するには写真元板を用いるアートワ
ークでレチクルを作り、このレチクルを縮小する技術が
一般的である。
かかる技術を第4図を参照して説明すると、先ず同図に
示される如く、透明プラスチンクフィルム31の上にパ
ターンが切られた着色フィルム32を貼り付けて形成さ
れるべきパターンの100倍の写真元板を作る。なお同
図において、32aはパターンを示す。
この写真元板を1回または2回の工程で縮小し、所望の
パターンの10倍の寸法のパターンをもったレチクルを
作る。このレチクルをl/10に縮小転写して第5図に
模式的に示されるマスク33に1チップ分のパターン3
4を形成する。例えばウェハの上に塗布された感光樹脂
(ホトレジスト)を感光する場合には、第6図に示され
る如く、ウェハ35の上にマスク33を配置し、マスク
の上方から紫外線(UV光)を照射してマスク33の上
のパターンをウェハ35に塗布されたホトレジスト上に
転写する。
しかる後にホトレジストを現像して得られるパターンを
マスクにして例えばエツチングなどの工程が行われる。
マスク33は第7図の部分的断面図に示される如く、透
明ガラス板33aの上にクロムパターン36が形成され
たものである。
(発明が解決しようとする問題点) マスクの製造は上記した如くに工程数を多く必要とする
ものである。ところモ、最近は顧客により多品種少量生
産が求められるようになってきている。すなわち、顧客
はその必要とするそれぞれの品種を比較的少量註文する
傾向にあり、それを短期間に低コストで生産するについ
ては、従来の工程数の多いマスクをその都度形成してい
たのでは、短い納期、低コストの要請に応じることが難
しくなってきている。
このような傾向に対処すべく、レチクルを用いステップ
アンドリピート(step and repeat )
方式で直接ウェハを露光する方法、またはパターンを記
憶したコンピュータを用い電子ビーム(EB)で直接ウ
ェハを露光する方法などが試みられている。しかし、い
ずれの方法においても装置が大型化し、1枚のウェハ当
りの露光時間が長くかかる問題がある。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、時間
がかからず、装置を大型化することなく、可変パターン
が形成可能なホトマスクを提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
第1図は本発明実施例の部分的断面図である。
第1図において、パターン可変型ホトマスク13は、偏
向板14の上に順に設けられた透明電極15、液晶16
、ストライプ状の透明電極17から成り、透明電極15
と17に電位を与えることによって液晶16の砂地を付
した部分が光を通したり暗くなったりして画像を作り、
かかる画像はそれは、マスク13の上方から照射される
光に対してマスクとなって、ウェハ11の上のホトレジ
スト膜12に従来のマスクを用いたと同様に転写される
。そして、透明電極15と17には図示しない回路によ
って電位が与えられ、所望のパターンがこれら電極によ
って作られるものである。
〔作用〕
上記のパターン可変型ホトマスク(以下マスクという)
において、電極15と17に電位が与えられると液晶の
結晶の方位が動いて、ストライプ状の電極17の下の部
分の液晶を暗くして1つの画像を作ることができる。こ
こで、マスクの上方からUV光を照射すると、光に不透
明な部分は液晶の暗くなった部分だけであり、マスク1
3は従来例のマスクと同様の働きをなす。
〔実施例〕
以下、第1図および第2図を参照して本発明実施例を詳
細に説明する。
第1図を参照すると、パターン可変型ホトマスク13(
以下には液晶マスクと略称する)は、偏向板14の上に
透明電極15、液晶16、透明電極17によって構成さ
れ、透明電極15と17は第2図の平面図に示される如
くストライプ状にXY方向にマトリックス状に配列され
ている。液晶マスク13はレチクルである場合もある0
例えば、透明電極のパターン幅は10μ調、パターン間
隔は1μmに設定する。
そして、電極15と17に電位が与えられるとその間の
液晶の結晶方位が動いて図に砂地を付した部分が暗くな
り、それによって第2図に示される如く所望のパターン
画像18a、 18b、 18cが形成される。
偏向板14、電極15と17は透明であるから、液晶マ
スク13の上方からUV光を照射すると、液晶の暗い部
分だけが光を通さないので、ホトレジスト膜12は図示
の砂地の部分だけが露光され、液晶マスク13は従来例
のマスクと同様の機能を果たす、すなわち液晶マスク1
3の画像パターンがホトレジスト膜12に転写される。
パターンの形成、すなわち透明電極15と17のどの部
分に電位を与えるかは第3図の液晶マスクの駆動回路に
よって決定される。
第3図において、19はメインコントローラ、20はタ
イミングジェネレータ、21はX軸うインドライバー、
22はY軸うインドライバーを示す。メインコントロー
ラ19には、クロック信号、表示位置に対応するアドレ
スO、、、、、n、パターンデータ、X方向同期信号(
Xsync) 、Y方向同期信号(Ysync)が入力
され、タイミングジェネレータ20からの信号、X−ア
ドレス23、パターンデータはX軸うインドライバー2
1に、タイミングジェネレータ20からの信号、Y−ア
ドレス24、パターンデータ25はY軸うインドライバ
ー22にそれぞれ入力され、露光装置側に設ける回路マ
スク側にはコンタクト電極が設けられており、これがX
方向およびY方向の表示位置を設定するX軸うインドラ
イバー21とY軸うインドライバー22の電極へそれぞ
れ接続される。
そのような回路は、所望のパターンに対応するプログラ
ムによって制御されて所望パターンの画像を提供する。
そして、かかるプログラムの作成、変更は、従来のマス
ク製造におけるパターンの形成、変更に比べより短い時
間で実施可能であり、さらに、かかるパターンを微細化
、大集積化することによって、集積回路の微細化、大集
積化が可能になる。
マスク13は、従来例の場合と同様に密着型または投影
(projection)型のいずれの方式でも使用可
能で、さらにはレチクルとしても使用しうる。
〔発明の効果〕
以上述べてきたように、本発明によれば、従来より工程
数を少なくし、大型化することなく、所望のパターンを
もったマスクが提供されるので、半導体築積回路製造の
歩留り向上に効果大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の部分的断面図、第2図は本発明
実施例の平面図、 第3図は液晶マスクの駆動回路のブロック図、第4図は
写真先板の断面図、 第5図は従来のマスクの平面図、 第6図は従来のマスクの使用を示す平面図、第7図は従
来のマスクの部分的断面図である。 第1図と第2図において、 11はウェハ、 12はホトレジスト膜、 13はパターン可変型ホトマスク、 14は偏向板、 15と17は透明電極、 16は液晶、 18a、 18b、 18cはパターン画像、19はメ
インコントローラ、 20はタイミングジェネレータ、 21はX軸うインドライバー、 22はY軸うインドライバー、 23はX−アドレス 24はY−アドレス、 25はパターンデータである。 藉明賓妃剖都釣bat図 第1図 水套lll雫胞伊1轡乎面圀 写l光Qa鉗め園 第4図 柾東のマスク0?面Eろ 才Lr1cAマズグのイ史串εt、■子面圀第6図 40にめマスグミ4香介1勺新億n幻 第7図 11呼τシスft33a

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 偏向板14の上に一方向のストライプ状透明電極15、
    液晶16、透明電極15に直交する方向のストライプ状
    透明電極17を設け、 透明電極15と17に所定の電位を与えてこれら電極の
    間に位置する液晶16の結晶の方位を変えて所望の画像
    パターンを現出し、該画像パターンを露光によって試料
    に転写することを特徴とするパターン可変型ホトマスク
JP60131022A 1985-06-17 1985-06-17 パタ−ン可変型ホトマスク Pending JPS61289351A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60131022A JPS61289351A (ja) 1985-06-17 1985-06-17 パタ−ン可変型ホトマスク

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JP60131022A JPS61289351A (ja) 1985-06-17 1985-06-17 パタ−ン可変型ホトマスク

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61289351A true JPS61289351A (ja) 1986-12-19

Family

ID=15048168

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60131022A Pending JPS61289351A (ja) 1985-06-17 1985-06-17 パタ−ン可変型ホトマスク

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02273719A (ja) * 1989-04-17 1990-11-08 Casio Comput Co Ltd 基板のインデックス形成方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5187970A (ja) * 1975-01-31 1976-07-31 Hitachi Ltd
JPS53136968A (en) * 1977-05-04 1978-11-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd Photomask
JPS6033530A (ja) * 1983-08-04 1985-02-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 露光装置

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