JPS61284959A - 読み取り装置 - Google Patents
読み取り装置Info
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- JPS61284959A JPS61284959A JP60127499A JP12749985A JPS61284959A JP S61284959 A JPS61284959 A JP S61284959A JP 60127499 A JP60127499 A JP 60127499A JP 12749985 A JP12749985 A JP 12749985A JP S61284959 A JPS61284959 A JP S61284959A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばファクシミリ装置の小型化を目積した
もので、実質上原稿と寸法的に1:1に対応させた光電
変換素子アレイを配置した密着型イメージセンサなどの
読み取り装置に関するものである。
もので、実質上原稿と寸法的に1:1に対応させた光電
変換素子アレイを配置した密着型イメージセンサなどの
読み取り装置に関するものである。
密着型イメージセンサには第1図に示す通り、原稿から
の反射光を集束性ロンド・レンズ・アレイを通して検知
する型式があり、実質上原稿1と寸法的に1:1に対応
させた光検知部2が集束性ロンド・レンズ・アレイ3を
介して原稿1に密着している。そして、発光ダイオード
4が原稿1を投光し、その反射光が集束性ロンド・レン
ズ・アレイ3を通過して光検知部2で受光するものであ
る。
の反射光を集束性ロンド・レンズ・アレイを通して検知
する型式があり、実質上原稿1と寸法的に1:1に対応
させた光検知部2が集束性ロンド・レンズ・アレイ3を
介して原稿1に密着している。そして、発光ダイオード
4が原稿1を投光し、その反射光が集束性ロンド・レン
ズ・アレイ3を通過して光検知部2で受光するものであ
る。
又、第2図に示す通りこのアレイ3を用もないで蛍光灯
4゛などの発光源により検知する型式も提案されている
。
4゛などの発光源により検知する型式も提案されている
。
本出願人は既に特願昭58年第179801号公報にて
光検知部に使われる光電変換素子アレイの回路図を提案
した。
光検知部に使われる光電変換素子アレイの回路図を提案
した。
即ち、電荷蓄積型の電気回路を示した第3図によれば、
アモルファスシリコン半導体などによって実現されるフ
ォトダイオードDll〜Dli、D21=D2 i、D
31〜D 31 % ・・・・・・Dnl〜Dniは
複数nのグループ01〜Gnにグループ化される。1つ
のグループG1では、フォトダイオードDIl〜Dli
は共通電極P1に接続される。この共通電極P1は負荷
抵抗R1を介してバイアス電源5に接続される。共通電
極P1はバッファアンプA1に接続され、ライン6に信
号を導出する。フォトダイオードDIl〜Dliは、ア
ナグロスイッチSLl〜Sliを介してライン7に接続
され、このライン7はバイアス電源5の他方の端子に接
続されて接地される。
アモルファスシリコン半導体などによって実現されるフ
ォトダイオードDll〜Dli、D21=D2 i、D
31〜D 31 % ・・・・・・Dnl〜Dniは
複数nのグループ01〜Gnにグループ化される。1つ
のグループG1では、フォトダイオードDIl〜Dli
は共通電極P1に接続される。この共通電極P1は負荷
抵抗R1を介してバイアス電源5に接続される。共通電
極P1はバッファアンプA1に接続され、ライン6に信
号を導出する。フォトダイオードDIl〜Dliは、ア
ナグロスイッチSLl〜Sliを介してライン7に接続
され、このライン7はバイアス電源5の他方の端子に接
続されて接地される。
アナログスイッチ511=31iは、シフトレジスタS
Rに接続される。このようなグループG1に関する構成
は、残余のグループG2、G3、・・・・・・、Gnに
関しても同様であり、対応する参照符を付して説明を省
く。シフトレジスタSRはアナログスイッチ311〜3
1i、S21〜5211S31〜5311 ・・・・・
、Snl〜Sniを順次的に1つずつ導通して走査する
。
Rに接続される。このようなグループG1に関する構成
は、残余のグループG2、G3、・・・・・・、Gnに
関しても同様であり、対応する参照符を付して説明を省
く。シフトレジスタSRはアナログスイッチ311〜3
1i、S21〜5211S31〜5311 ・・・・・
、Snl〜Sniを順次的に1つずつ導通して走査する
。
フォトダイオードDll〜Dliは、蓄積コンデンサC
1l〜C1iで示される素子並列容量を有する。
1l〜C1iで示される素子並列容量を有する。
またアナログスイッチ511=S1iには、それぞれ入
力容量5CII〜5C1iを有する。残余のグループG
2、G3、・・・・・、Gnに関しても同様である。
力容量5CII〜5C1iを有する。残余のグループG
2、G3、・・・・・、Gnに関しても同様である。
シフトレジスタSRがアナログスイッチSLl〜Sni
を順次的に導通して走査し、例えばアナログスイッチS
llが導通した場合を想定する。
を順次的に導通して走査し、例えばアナログスイッチS
llが導通した場合を想定する。
この場合、フォトダイオードDllが受光している時、
バイアス電源5から負荷抵抗R1、フォトダイオードD
ll及びアナグロスイッチSllを介して電流が流れる
。この共通電極P1におけるフォトダイオードDllの
受光量に対応した電圧は、バッファアンプAlからライ
ン6に導出される。こうして残余のフォトダイオードD
12〜Dliも同様に検出され、また他のグループG2
、G3、・・・・・、Gnに関しても同様である。
バイアス電源5から負荷抵抗R1、フォトダイオードD
ll及びアナグロスイッチSllを介して電流が流れる
。この共通電極P1におけるフォトダイオードDllの
受光量に対応した電圧は、バッファアンプAlからライ
ン6に導出される。こうして残余のフォトダイオードD
12〜Dliも同様に検出され、また他のグループG2
、G3、・・・・・、Gnに関しても同様である。
アナログスイッチ311が導通し、このとき、フォトダ
イオードDllが受光していると、グループG1の残余
のフォトダイオードDI2〜Dliに並列接続された蓄
積コンデンサC12〜〜C1i及び残余のアナログスイ
ッチ312〜Sliの入力容量5C12〜5C1iの電
荷がフォトダイオードDllを介して流れ、その分だけ
バイアス電源5から負荷抵抗R1を介する電流値が減少
することになる。この実施例では、フォトダイオードD
Il〜Dniは、複数nのグループG1”Gnに分けら
れている。したがって、例えばグループG1に含まれる
フォトダイオードの数はフォトダイオード全数よりも随
分少ない数iとなり、受光したフォトダイオードDll
にアナログスイッチSllの導通時に蓄積コンデンサで
き、感度を向上させることが可能となる。
イオードDllが受光していると、グループG1の残余
のフォトダイオードDI2〜Dliに並列接続された蓄
積コンデンサC12〜〜C1i及び残余のアナログスイ
ッチ312〜Sliの入力容量5C12〜5C1iの電
荷がフォトダイオードDllを介して流れ、その分だけ
バイアス電源5から負荷抵抗R1を介する電流値が減少
することになる。この実施例では、フォトダイオードD
Il〜Dniは、複数nのグループG1”Gnに分けら
れている。したがって、例えばグループG1に含まれる
フォトダイオードの数はフォトダイオード全数よりも随
分少ない数iとなり、受光したフォトダイオードDll
にアナログスイッチSllの導通時に蓄積コンデンサで
き、感度を向上させることが可能となる。
本発明者は、前述の電気回路を有効に発揮させるべく鋭
意研究の結果、蓄積コンデンサの容量とアナログスイッ
チの入力容量を所定の比に特定すると読み取り画像の鮮
鋭度(コントラスト比)が改善されることを知見した。
意研究の結果、蓄積コンデンサの容量とアナログスイッ
チの入力容量を所定の比に特定すると読み取り画像の鮮
鋭度(コントラスト比)が改善されることを知見した。
本発明は上記知見に基づいて完成されたものであり、そ
の目的は読み取り画像の鮮鋭度及び再現性を改善して忠
実な画像の読み取りが可能となった読み取り装置を提供
せんとするものである。
の目的は読み取り画像の鮮鋭度及び再現性を改善して忠
実な画像の読み取りが可能となった読み取り装置を提供
せんとするものである。
更に本発明の目的はフォトダイオード及び蓄積コンデン
サを実質的に同一材料で形成して前記目的を有利に達成
せんとするものであり、また製造の効率化も図られた読
み取り装置を提供せんとするものである。
サを実質的に同一材料で形成して前記目的を有利に達成
せんとするものであり、また製造の効率化も図られた読
み取り装置を提供せんとするものである。
本発明によれば、電荷蓄積手段を備えて受光により該電
荷蓄積手段を蓄積する複数の光電変換素子と、各光電変
換素子の一端に直列にそれぞれ接続された複数のスイッ
チと該電荷蓄積手段の蓄積に伴って蓄積量を信号として
取り出す手段とを備えて、複数のスイッチが順次時系列
に導通する読み取り装置において、前記電荷蓄積手段が
有する容量を前記スイッチの寄生容量よりも大きくした
ことを特徴とする読み取り装置が提供される。
荷蓄積手段を蓄積する複数の光電変換素子と、各光電変
換素子の一端に直列にそれぞれ接続された複数のスイッ
チと該電荷蓄積手段の蓄積に伴って蓄積量を信号として
取り出す手段とを備えて、複数のスイッチが順次時系列
に導通する読み取り装置において、前記電荷蓄積手段が
有する容量を前記スイッチの寄生容量よりも大きくした
ことを特徴とする読み取り装置が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
第4図は、本出願人が既に特願昭58年第179801
号公報にて提案した電荷蓄積型読み取り系の基本回路で
ある。即ち、フォトダイオードDに並列接続された蓄積
コンデンサCにはバイアス電源5aによりバイアス電圧
が印加され、所定量の電荷が蓄積されている。そして、
フォトダイオードDが原稿からの反射光を受光し、これ
による光電変換量に応じて蓄積コンデンサCに蓄えられ
た電荷を放電し、適宜、アナログスイッチSを閉じると
蓄積コンデンサCに再充電される際、負荷抵抗Rに生じ
た電圧を出力端子Tに読み出し、光信号が検出されるよ
うになっている。また、TCは結合コンデンサであり、
SC及びFCはそれぞれアナログスイッチSが有してい
る容量、及び浮遊容量である。
号公報にて提案した電荷蓄積型読み取り系の基本回路で
ある。即ち、フォトダイオードDに並列接続された蓄積
コンデンサCにはバイアス電源5aによりバイアス電圧
が印加され、所定量の電荷が蓄積されている。そして、
フォトダイオードDが原稿からの反射光を受光し、これ
による光電変換量に応じて蓄積コンデンサCに蓄えられ
た電荷を放電し、適宜、アナログスイッチSを閉じると
蓄積コンデンサCに再充電される際、負荷抵抗Rに生じ
た電圧を出力端子Tに読み出し、光信号が検出されるよ
うになっている。また、TCは結合コンデンサであり、
SC及びFCはそれぞれアナログスイッチSが有してい
る容量、及び浮遊容量である。
この浮遊容量は第1図に示した通り光電変換素子数nが
増すことに伴って大きくなるものであり。
増すことに伴って大きくなるものであり。
C,+SC
と表すことができる。尚、C1は蓄積コンデンサCの容
量を表す。
量を表す。
本発明者は次に述べる実験例が示す結果に基づき、C0
をSCよりも大きな値になるように設定すると出力が大
きくなり、読み取り画像の鮮鋭度が向上するという新規
知見に到達した。
をSCよりも大きな値になるように設定すると出力が大
きくなり、読み取り画像の鮮鋭度が向上するという新規
知見に到達した。
即ち、本発明者は第3図の電気回路を実施するに際して
、次の読み取り装置を製作して実験を行った。
、次の読み取り装置を製作して実験を行った。
第5図は第1図の光検知部2に係り、本発明の読み取り
装置である。即ち、ガラス等から成る透光性基板8上に
、各光電変換素子の一方の電極を電気的に接続するよう
にした、例えばITOなどから成る透光性共通電極9、
原稿1からの反射光の光通過孔10を設けた、例えば^
β、Crなどの蒸着金属から成る遮光性金属層11、ア
モルファスシリコンなどから成る光導電体12及び各光
電変換素子毎に設けられてA l % Crなどの蒸着
金属から成る個別電極13が順次形成されている。そし
て、透光性共通電極9、遮光性金属層11及び個別電極
13を覆うように保護層I4が被覆されている。この保
護層14は透明度が要求されておらず、個別電極13の
各々の隙間に光が入って読み取り画素の分解が劣らない
ように透光性の低いのが望ましい。例えば、シリコーン
樹脂、エポキシ樹脂など比較的安価な樹脂を用いるとよ
い。尚、15はシフトレジスタ等の駆動回路である。
装置である。即ち、ガラス等から成る透光性基板8上に
、各光電変換素子の一方の電極を電気的に接続するよう
にした、例えばITOなどから成る透光性共通電極9、
原稿1からの反射光の光通過孔10を設けた、例えば^
β、Crなどの蒸着金属から成る遮光性金属層11、ア
モルファスシリコンなどから成る光導電体12及び各光
電変換素子毎に設けられてA l % Crなどの蒸着
金属から成る個別電極13が順次形成されている。そし
て、透光性共通電極9、遮光性金属層11及び個別電極
13を覆うように保護層I4が被覆されている。この保
護層14は透明度が要求されておらず、個別電極13の
各々の隙間に光が入って読み取り画素の分解が劣らない
ように透光性の低いのが望ましい。例えば、シリコーン
樹脂、エポキシ樹脂など比較的安価な樹脂を用いるとよ
い。尚、15はシフトレジスタ等の駆動回路である。
本発明の装置によれば、原稿1からの反射光βは透光性
基板8側から入射し、各光電変換素子毎に対応して設け
られた光通過孔10を通り、光導電体12で光電変換し
て透光性共通電極9及び個別電極13の間で読み取り信
号が検出される。
基板8側から入射し、各光電変換素子毎に対応して設け
られた光通過孔10を通り、光導電体12で光電変換し
て透光性共通電極9及び個別電極13の間で読み取り信
号が検出される。
本発明者は第3図に示した電気回路を第5図に示した装
置に適用して、各光電変換素子の基本回路におけるC1
とSCO比を変えて出力信号の相対値を測定したところ
、第6図の結果が得られた。
置に適用して、各光電変換素子の基本回路におけるC1
とSCO比を変えて出力信号の相対値を測定したところ
、第6図の結果が得られた。
第6図によれば、CIを一定の値に決めてICの仕様に
よりSCを変えるとC+/SCが大きくなるのに伴って
相対出力値が大きくなることが判る。これはSCを大き
くするとFCが大きくなり、スイッチSを閉じた時、蓄
積コンデンサCへの電流の回り込みを生じ、負荷抵抗R
を通る電流が減少するためである。
よりSCを変えるとC+/SCが大きくなるのに伴って
相対出力値が大きくなることが判る。これはSCを大き
くするとFCが大きくなり、スイッチSを閉じた時、蓄
積コンデンサCへの電流の回り込みを生じ、負荷抵抗R
を通る電流が減少するためである。
また、本発明者が種々の実験を繰り返し行った結果、S
CはスイッチSの寄生容量の他に、基板上に形成した配
線パターンの線間容量の合成されたものが含まれること
が判った。
CはスイッチSの寄生容量の他に、基板上に形成した配
線パターンの線間容量の合成されたものが含まれること
が判った。
本発明者はかかる事情に鑑みて鋭意研究の結果、C+/
SCを大きくすればバラツキ発生因子の出力信号に及ぼ
す影響を少なくできることを見い出したものである。
SCを大きくすればバラツキ発生因子の出力信号に及ぼ
す影響を少なくできることを見い出したものである。
即ち、第7図によれば(イ)はCIを一定値にしてCI
/SCを変えながら、出力信号の平均値以上の出力信号
増加分をプロットしたものであり、(ロ)は同様にして
出力信号の平均値以下の出力信号減少分をプロットした
ものである。
/SCを変えながら、出力信号の平均値以上の出力信号
増加分をプロットしたものであり、(ロ)は同様にして
出力信号の平均値以下の出力信号減少分をプロットした
ものである。
第7図より明らかな通り、C+/SC>lであれば出力
信号の±10%以内に設定できることが判リ、この範囲
に設定できれば実用上何ら支障のない読み取り装置が提
供できる。好適にはC+/SC>3に設定すればCIの
不均一性などに起因した出力信号のバラツキを更に一層
小さくできることは明白である。
信号の±10%以内に設定できることが判リ、この範囲
に設定できれば実用上何ら支障のない読み取り装置が提
供できる。好適にはC+/SC>3に設定すればCIの
不均一性などに起因した出力信号のバラツキを更に一層
小さくできることは明白である。
本発明者は他の実施例として第5図の装置に代えて第8
図及び第9図に示す読み取り装置を用いても上記の同じ
結果が得られた。
図及び第9図に示す読み取り装置を用いても上記の同じ
結果が得られた。
第8図及び第9図においては第2図の読み取り系に用い
られる光検知部であり、第9図は第8図中切断面線X−
Xから見た断面図である。
られる光検知部であり、第9図は第8図中切断面線X−
Xから見た断面図である。
光透過性の透明材料、例えばガラスなどから成る基板1
6上には、共通電極Pi、P2が間隔をあけて形成され
る。共通電極PL、P2はクロムやアルミニウムなどが
蒸着されて形成される。共通電極Pi、P2上には、フ
ォトダイオードDIl〜Dli、D21〜D21を形成
するためのアモルファスシリコン半導体などの光導電体
17が形成される。光導電体17上には、スズ−インジ
ウム酸化物などのような光透過性の透明の材料から成る
透明電極18がスパッタまたは蒸着により形成される。
6上には、共通電極Pi、P2が間隔をあけて形成され
る。共通電極PL、P2はクロムやアルミニウムなどが
蒸着されて形成される。共通電極Pi、P2上には、フ
ォトダイオードDIl〜Dli、D21〜D21を形成
するためのアモルファスシリコン半導体などの光導電体
17が形成される。光導電体17上には、スズ−インジ
ウム酸化物などのような光透過性の透明の材料から成る
透明電極18がスパッタまたは蒸着により形成される。
透明電極18は、フォトダイオードDIl〜Dniに個
別的に形成される。この透明電極18には、引出し電極
19が個別的に接続される。
別的に形成される。この透明電極18には、引出し電極
19が個別的に接続される。
引出し電極19は、クロムが蒸発されて形成される。最
上部には、光透過性の透明な材料、例えばガラスなどか
ら成る保護層20が形成される。共通電極P1、光導電
体17及び透明電極18には、光通過孔21が形成され
る。 基板16の背後には、光源としての螢光灯4゛が
配置される。保護1i20の上方には、原稿1が配置さ
れる。蛍光灯4゛からの光は、基板16、保護層20を
経て、原稿1に照射される。原稿lの反射光は、光通過
孔21付近の透明電極18を透過し、光導電体17によ
って受光される。
上部には、光透過性の透明な材料、例えばガラスなどか
ら成る保護層20が形成される。共通電極P1、光導電
体17及び透明電極18には、光通過孔21が形成され
る。 基板16の背後には、光源としての螢光灯4゛が
配置される。保護1i20の上方には、原稿1が配置さ
れる。蛍光灯4゛からの光は、基板16、保護層20を
経て、原稿1に照射される。原稿lの反射光は、光通過
孔21付近の透明電極18を透過し、光導電体17によ
って受光される。
こうして、光通過孔21の近傍にフォトダイオードDl
l〜Dniが形成される。光通過孔21は、原稿1の幅
方向、即ち蛍光灯4゛の軸線方向に沿って間隔をあけて
配置される。基板16上にはシフトレジスタSRなどの
集積回路が搭載される。
l〜Dniが形成される。光通過孔21は、原稿1の幅
方向、即ち蛍光灯4゛の軸線方向に沿って間隔をあけて
配置される。基板16上にはシフトレジスタSRなどの
集積回路が搭載される。
更に、本発明においては、第5図と第8.9図に示した
2種の読み取り装置より明らかな通り、共通電極P1、
P2上に形成するアモルファスシリコン半導体などによ
って実現される光導電体はフォトダイオードDIl〜D
ni以外、蓄積コンデンサC1l〜Cniとして用いる
ことができるという新規知見に基づいている。
2種の読み取り装置より明らかな通り、共通電極P1、
P2上に形成するアモルファスシリコン半導体などによ
って実現される光導電体はフォトダイオードDIl〜D
ni以外、蓄積コンデンサC1l〜Cniとして用いる
ことができるという新規知見に基づいている。
即ち、前述した通り、出力信号のバラツキの原因として
SCには基板上に形成した配線パターンの線間容量の合
成されたものも含まれるため、この影響を少なくするた
めにはできるだけ配線数を少なくすればよい。本発明者
はフォトダイオードと蓄積コンデンサを実質的に同じ材
料、即ち光導電体により一体的に形成し、これによりフ
ォトダイオードと蓄積コンデンサを結合するリードを皆
無にしてそれに起因する線間容量を少なくし、SCを小
さくするようにしている。
SCには基板上に形成した配線パターンの線間容量の合
成されたものも含まれるため、この影響を少なくするた
めにはできるだけ配線数を少なくすればよい。本発明者
はフォトダイオードと蓄積コンデンサを実質的に同じ材
料、即ち光導電体により一体的に形成し、これによりフ
ォトダイオードと蓄積コンデンサを結合するリードを皆
無にしてそれに起因する線間容量を少なくし、SCを小
さくするようにしている。
加えて本発明者はC2を大きくせんがためにかかる光導
電体に比較的高抵抗な材料を選択していることも本発明
の目的を有利に達成しており、前述した実施例において
はアモルファスシリコン光導電体を用いている。
電体に比較的高抵抗な材料を選択していることも本発明
の目的を有利に達成しており、前述した実施例において
はアモルファスシリコン光導電体を用いている。
かくして、アモルファスシリコン光導電体をフォトダイ
オードD11=Dni及び蓄積コンデンサC1l〜Cn
iに使用するとSCに比較してC6を大きくすることが
できてC,/SCを大きくできるため、バラツキの小さ
くなった高出力信号が得られる。
オードD11=Dni及び蓄積コンデンサC1l〜Cn
iに使用するとSCに比較してC6を大きくすることが
できてC,/SCを大きくできるため、バラツキの小さ
くなった高出力信号が得られる。
上述した通り、本発明の読み取り装置は高出力信号が得
られて読み取り画像の鮮鋭度及び再現性が改善され、忠
実な画像の読み取りが可能となった。
られて読み取り画像の鮮鋭度及び再現性が改善され、忠
実な画像の読み取りが可能となった。
また、アモルファスシリコン光導電体をフォトダイオー
ド及び蓄積コンデンサに使用すれば本発明の目的を達成
せんがために有効であってバラツキの小さくなった高出
力信号が得られた。加えて、両者を一体的に製造できる
という生産効率の向上という利点も有する。
ド及び蓄積コンデンサに使用すれば本発明の目的を達成
せんがために有効であってバラツキの小さくなった高出
力信号が得られた。加えて、両者を一体的に製造できる
という生産効率の向上という利点も有する。
第1図及び第2図は本発明読み取り装置の読み取り系を
示す概略図、第3図は本発明に係る電気回路図、第4図
は第3図に示した電気回路図の電荷蓄積型基本回路図、
第5図は本発明の一実施例に用いられる読み取り装置の
斜視図、第6図は本発明の実施例においてC+/SCに
対する相対出力を示す線図、第7図は本発明の実施例に
おいてC+/SCに対する出力信号のバラツキを示す線
図、第8図は本発明の他の実施例に用いられる読み取り
装置の斜視図、第9図は第8図中切断面線X−Xから見
た断面図である。 1・・・・・原稿 2・・・・・光検知部8.16
・・・基板 9・・・透光性共通電極 10.21・・・光通過孔 12.17・・光導電体
13・・・・・個別電極 18・・・・透明電極19
・・・・・引出し電極 D 、、D 11 SD n 1・・・・フォトダイオ
ードpt−pn・・・・・・・・共通電極 R,R1〜Rn・・・・・・負荷抵抗 S、Sll〜Sni・・・・アナログスイッチC,,C
1l〜Cni・・・アナログスイッチの蓄積コンデンサ SC,SC11〜SCn i ・アナログスイッチの入
力容量
示す概略図、第3図は本発明に係る電気回路図、第4図
は第3図に示した電気回路図の電荷蓄積型基本回路図、
第5図は本発明の一実施例に用いられる読み取り装置の
斜視図、第6図は本発明の実施例においてC+/SCに
対する相対出力を示す線図、第7図は本発明の実施例に
おいてC+/SCに対する出力信号のバラツキを示す線
図、第8図は本発明の他の実施例に用いられる読み取り
装置の斜視図、第9図は第8図中切断面線X−Xから見
た断面図である。 1・・・・・原稿 2・・・・・光検知部8.16
・・・基板 9・・・透光性共通電極 10.21・・・光通過孔 12.17・・光導電体
13・・・・・個別電極 18・・・・透明電極19
・・・・・引出し電極 D 、、D 11 SD n 1・・・・フォトダイオ
ードpt−pn・・・・・・・・共通電極 R,R1〜Rn・・・・・・負荷抵抗 S、Sll〜Sni・・・・アナログスイッチC,,C
1l〜Cni・・・アナログスイッチの蓄積コンデンサ SC,SC11〜SCn i ・アナログスイッチの入
力容量
Claims (1)
- 電荷蓄積手段を備えて受光により該電荷蓄積手段を蓄積
する複数の光電変換素子と、各光電変換素子の一端に直
列にそれぞれ接続された複数のスイッチと、該電荷蓄積
手段の蓄積に伴って蓄積量を信号として取り出す手段と
を備えて、複数のスイッチが順次時系列に導通する読み
取り装置において、前記電荷蓄積手段が有する容量を前
記スイッチの寄生容量よりも大きくしたことを特徴とす
る読み取り装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60127499A JPH0712077B2 (ja) | 1985-06-11 | 1985-06-11 | 読み取り装置 |
DE19853522314 DE3522314A1 (de) | 1984-06-21 | 1985-06-21 | Leseeinrichtung und herstellungsverfahren dafuer |
DE3546717A DE3546717C2 (ja) | 1984-06-21 | 1985-06-21 | |
DE3546820A DE3546820C2 (de) | 1984-06-21 | 1985-06-21 | Leseeinrichtung |
US06/945,072 US4703169A (en) | 1984-06-21 | 1986-12-18 | Reading apparatus having PIN structure wherein storage and parasitic capacitance differs |
US06/944,833 US4740710A (en) | 1984-06-21 | 1986-12-18 | Photo-detector apparatus for a reading apparatus and producing method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60127499A JPH0712077B2 (ja) | 1985-06-11 | 1985-06-11 | 読み取り装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61284959A true JPS61284959A (ja) | 1986-12-15 |
JPH0712077B2 JPH0712077B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=14961479
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60127499A Expired - Lifetime JPH0712077B2 (ja) | 1984-06-21 | 1985-06-11 | 読み取り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0712077B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5897862A (ja) * | 1981-12-08 | 1983-06-10 | Nec Corp | 密着型イメ−ジセンサ |
-
1985
- 1985-06-11 JP JP60127499A patent/JPH0712077B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5897862A (ja) * | 1981-12-08 | 1983-06-10 | Nec Corp | 密着型イメ−ジセンサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0712077B2 (ja) | 1995-02-08 |
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