DE3546820C2 - Leseeinrichtung - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Leseeinrichtung.
Bei einer solchen Einrichtung ist es erwünscht, daß sowohl
die Deutlichkeit bzw. der Kontrast als auch die Reproduzier
barkeit des Lesebilds verbessert werden, um ein originalge
treues Lesen des Bilds zu ermöglichen. Außerdem ist eine
Verbesserung hinsichtlich der Produktivität bei der Herstel
lung einer solchen Leseeinrichtung erwünscht. Der Stand der
Technik bietet jedoch hinsichtlich der Deutlichkeit bzw. des
Kontrasts, der Reproduzierbarkeit und der Produktivität
keine ausreichenden Verbesserungen.
Seit einiger Zeit gibt es bei der Anmelderin Aktivitäten hinsichtlich der Ent
wicklung von Fernkopierern vom Kontakttyp. Für eine solche
Einrichtung wurden bereits verschiedene Vorschläge gemacht,
dabei wird einmal das von einem Original reflektierte Licht
durch eine Anordnung von Fokussierstablinsen empfangen, und
gemäß einem anderen Vorschlag werden die sehr gute Licht
durchlässigkeit und Miniaturisierung ohne eine solche Anord
nung erreicht.
Fig. 1 ist eine Perspektivansicht eines Lichtempfangsteils 2
in einer bekannten Leseeinrichtung, die eine Fokussierstab-
Linsenanordnung verwendet. Auf einem Substrat 5 sind dabei
eine gemeinsame Elektrode 6, die gemeinsam für jedes licht
elektrische Wandlerelement dient, ein Fotoleiter 7 sowie
lichtdurchlässige Elektroden 3 in dieser Reihenfolge nach
einander angeordnet. Ferner sind lichtabschließende Metall
schichten 9 auf den lichtdurchlässigen Elektroden 8 mit
Ausnahme der Lichteinführabschnitte 10 für reflektiertes
Licht A vorgesehen. Eine lichtdurchlässige Schutzschicht 11
aus SiO2 etc. ist so aufgebracht, daß sie die gemeinsame
Elektrode 6, den Fotoleiter 7, die lichtdurchlässigen Elek
troden 8 sowie die lichtabschließenden Metallschichten 9
überdeckt. Ein Ansteuerschaltungsteil 12, etwa ein Schiebe
register, ist ebenfalls auf dem Substrat 5 vorgesehen.
Bei dieser Einrichtung durchsetzt das von
einem Original 1 reflektierte Licht A die lichtdurchlässige
Schutzschicht 11 und wird von den Lichteinführabschnitten 10
empfangen, und dann werden Lesebildelemente entsprechend den
einzelnen Lichteinführabschnitten 10 erzeugt.
Die lichtdurchlässige Schutzschicht 11 aus SiO2 wird durch
Bedampfen im Vakuum oder durch Aufbringen von Alkoxidlösung
und Erwärmen der so aufgebrachten Lösung auf ca. 400-500°C
gebildet, was zur Ausbildung von Plasma oder zu einem Tempe
raturanstieg führt. Durch derart harte Schichtbildungs-
Bedingungen wird die Güte der freiliegenden Abschnitte des
Fotoleiters 7 aus amorphem Silicium od. dgl., der bereits
vorher ausgebildet wurde, verringert. Es hat sich gezeigt,
daß der Dunkelstrom sehr stark ansteigt, wodurch der Rausch
abstand verschlechtert wird.
Fig. 2 ist eine Teilschnittansicht II-II von Fig. 1. Wie aus
Fig. 2 ersichtlich ist, werden sowohl die Abschnitte 7a
zwischen den Elementen als auch die Abschnitte 7b nahe der
lichtabschließenden Metallschicht 9 mit Licht bestrahlt.
Infolgedessen sinkt der Widerstandswert der Zwischenabschnitt
te 7a, so daß zwischen den angrenzenden Elementen Leckströme
auftreten. Dadurch verschlechtert sich der Kontrast des
Lesebildelements. Ferner nimmt der Widerstandswert der Ab
schnitte 7b ab, so daß zwischen den Elektroden 6 und 8
Leckströme auftreten. Es wurde gefunden, daß der Dunkelstrom
sehr stark ansteigt und infolgedessen der Rauschabstand
verschlechtert wird.
Fig. 3 zeigt eine weitere Ausführung des Lichtempfangsteils
2, wie sie auf Überlegungen der Anmelderin beruht.
Dabei sind auf einem licht
durchlässigen Substrat 13 eine lichtabschließende Metall
schicht 15 mit Lichtdurchtrittsöffnungen 14 zum Durchtritt
des vom Original 1 reflektierten Lichts C, eine lichtdurch
lässige, elektrisch isolierende Schicht 16, lichtdurchläs
sige Einzelelektroden 17 in den jeweiligen lichtelektrischen
Wandlerelementen, ein Fotoleiter 18 sowie eine gemeinsame
Elektrode 19, die gemeinsam für alle lichtelektrischen Wand
lerelemente vorgesehen ist, nacheinander in dieser Folge
angeordnet. Ferner ist in diesem Lichtempfangsteil 2 eben
falls eine Ansteuerschaltung 20 vorgesehen.
Bei dieser Einrichtung kommt das vom Original 1
reflektierte Licht C von der Seite des lichtdurchlässigen
Substrats 13 und durchsetzt die Lichtdurchtrittsöffnungen 14
entsprechend den jeweiligen lichtelektrischen Wandlerelemen
ten. Dann wird im Fotoleiter 8 ein Fotostrom erzeugt, so daß
Lesebildelemente erhalten werden.
Bei dem Verfahren zur Herstellung dieser Einrichtung werden
jedoch auf dem lichtdurchlässigen Substrat 13 die lichtab
schließende Metallschicht 15, die üblicherweise aus Al, Cr
od. dgl. besteht, durch Aufdampfen im Vakuum, die licht
durchlässige elektrisch isolierende Schicht 16 aus SiO2 od. dgl.
durch Kathodenzerstäubung, die lichtdurchlässigen Ein
zelelektroden 17 aus Zinn-Indium-Oxid od. dgl. durch Auf
dampfen im Vakuum, der amorphe Silicium-Fotoleiter 18 durch
ein Glimmentladungsverfahren und die gemeinsame Elektrode 19
aus Al, Cr und dgl. durch Aufdampfen im Vakuum nacheinander
in dieser Folge ausgebildet. Es ist somit unmöglich, zwei
von diesen fünf Schichten 15, 16, 17, 18 und 19 nacheinander
mittels derselben Dünnfilmtechnik auszubilden. Zur Ausbil
dung dieser Schichten ist es also erforderlich, je nach der
zu bildenden Schicht die jeweils geeignete Dünnfilmerzeu
gungsvorrichtung einzusetzen. Andererseits ist es natürlich
erwünscht, zur Verminderung des Zeitaufwands bzw. zur Ver
besserung des Wirkungsgrads des Verfahrens wenigstens zwei
Schichten mittels derselben Dünnfilmtechnik herzustellen.
Die vorveröffentlichte US PS 44 19 696 beschreibt eine
Leseeinrichtung mit
- - einer Mehrzahl Fotodioden, die jeweils einen parallelgeschalteten Speicherkondensator als Ladungsspeicherelement aufweisen, wobei die Fotodioden bei Empfang von Licht elektrische Ladung in den Ladungsspeicherelementen speichern, und wobei Speicherkondensator und Fotodiode im wesentlichen einstückig aus amorphem Silicium- Fotoleitermaterial gebildet sind und der amorphe Fotoleiter ein PIN-Halbleiter ist;
- - einer Mehrzahl von Schaltern, die jeweils mit einem Ende jeder Fotodiode reihenge schaltet sind;
- - Mitteln zum Herausführen einer elek trischen Ladungsmenge in Form eines Signals, wenn die elektrische Ladung in den Ladungsspeicherelementen gespeichert ist,
- - einer Vorspannungsquelle, die eine Spannung derart an die Photodioden anlegt, daß diese in Sperrichtung gepolt sind, und
- - einer Ansteuerschaltung, die die Mehrzahl Schal ter nacheinander in zeitlicher Folge leitend macht.
Aus dieser US-Patentschrift ist es außerdem bekannt, mehrere
Fotodioden mit dem ihnen jeweils zugeordneten Speicherkon
densator zu einer Gruppe zusammenzufassen, wobei mehrere
solcher Gruppen hintereinander vorgesehen sein können.
Das Auslesen wird über ein gemeinsames Mittel zum Heraus
führen der elektrischen Ladungsmenge durch geeignete Schal
terstellungen bewirkt.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es,
die Leseschaltung der bekannten Leseeinrichtung zu verbessern.
Diese Aufgabe wird anspruchsgemäß gelöst.
In den Unteransprüchen sind Merkmale bevorzugter Ausfüh
rungsformen der erfindungsgemäßen Leseeinrichtung gekenn
zeichnet.
Anhand der Zeichnung, wird die Erfindung und ihr Umfeld näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Perspektivansicht eines Lichtempfangsteils
einer Kontakt-Leseeinrichtung
unter Anwendung der Fokussierstablinsen
gruppe;
Fig. 2 einen Teilquerschnitt entlang der Linie II-II
von Fig. 1;
Fig. 3 eine Perspektivansicht eines weiteren
Lichtempfangsteils;
Fig. 4 ein elektrisches Schaltbild einer Leseein
richtung nach der Erfindung;
Fig. 5 ein prinzipielles Schaltbild der elektrischen
Schaltung einer lichtelektrischen Wandler
gruppe vom Ladungsspeichertyp nach Fig. 4;
Fig. 6 eine Perspektivansicht einer Ausführungsform
der Leseeinrichtung nach der Erfindung;
Fig. 7 eine Perspektivansicht einer weiteren Ausfüh
rungsform der Leseeinrichtung nach der Er
findung;
Fig. 8 einen Querschnitt entlang der Linie X-X von
Fig. 7;
Fig. 9 eine Perspektivansicht des Lichtempfangs
teils;
Fig. 10 einen Querschnitt entlang der Linie VI-VI von
Fig. 9; und
Fig. 11 eine Querschnittsansicht eines Lichtempfangs
teils einer weiteren Ausführungsform der
Erfindung.
Unter Bezugnahme auf die Zeichnungen werden nachstehend be
vorzugte Ausführungsbeispiele beschrieben.
Fig. 4 ist das Schaltbild einer elektrischen Schaltung vom
Ladungsspeichertyp. Fotodioden D11-D1i, D21-D2i, D31-D3i,
. . . , Dn1-Dni, die als Halbleiter aus amorphem Silicium od. dgl.
implementiert sind, sind in eine Mehrzahl von n Gruppen
G1 bis Gn unterteilt. Die Fotodioden D11-D1i sind in einer
Gruppe G1 mit einer gemeinsamen Elektrode P1 verbunden. Die
gemeinsame Elektrode P1 ist mit einer Vorspannungsquelle 35
über einen Belastungswiderstand R1 verbunden. Die gemeinsame
Elektrode P1 ist mit einem Trennverstärker A1 gekoppelt und
gibt ein Signal auf eine Leitung 36. Die Fotodioden D11-D1i
sind mit einer Leitung 37 über Analogschalter S11-S1i gekop
pelt. Die Leitung 37 ist mit der anderen Klemme der Vorspan
nungsquelle 35 verbunden und geerdet. Die Analogschalter
S11-S1i sind mit einem Schieberegister SR gekoppelt. Diese
Anordnung der Gruppe G1 gilt in gleicher Weise für die
übrigen Gruppen G2, G3, . . . , Gn, so daß keine nochmalige
Erläuterung notwendig ist; entsprechende Teile sind mit
gleichen Bezugszeichen versehen. Die Analogschalter S11-S1i,
S21-S2i, D31-S3i, . . . , Sn1-Sni werden jeweils einzeln nach
einander leitend und werden in zeitlicher Folge vom Schiebe
register SR abgetastet. D.h., es wird jeweils ein einziger
Analogschalter zu einem Zeitpunkt leitend. Wenn der einzelne
Analogschalter leitend ist, sind die übrigen Schalter nicht
leitend. Die Fotodioden D11-D1i weisen jeweils eine dazu
parallele Kapazität entsprechend den Speicherkondensatoren
C11-C1i auf. Die Analogschalter S11-S1i weisen Eingangskapa
zitäten SC11-SC1i auf. Die übrigen Gruppen G2, G3, . . . , Gn
sind in gleicher Weise ausgelegt.
Es sei angenommen, daß z. B. der Analogschalter S11 leitend
wird, während das Schieberegister SR die Analogschalter S11-
Sni nacheinander leitend macht und abtastet. In diesem Fall
fließt ein elektrischer Strom durch den Belastungswiderstand
R1, die Fotodiode D11 und den Analogschalter S11 von der
Vorspannungsquelle 35, wenn die Fotodiode D11 Licht empfängt.
Die Spannung der gemeinsamen Elektrode P1, die einer von der
Fotodiode D11 empfangenen Lichtmenge entspricht, wird dann
durch den Trennverstärker A1 der Leitung 36 zugeführt. Auf
diese Weise werden die übrigen Fotodioden D12-D1i gleicher
maßen abgetastet. Dieser Vorgang findet auch für die übrigen
Gruppen G2, G3, . . . , Gn statt.
Wenn der Analogschalter S11 leitend wird und gleichzeitig
die Fotodiode D11 Licht empfängt, fließt die elektrische
Ladung der Speicherkondensatoren C12-C1i, die mit den übri
gen Fotodioden D12-D1i parallelgeschaltet sind, und der
Eingangskapazitäten SC12-SC1i der übrigen Analogschalter
S12-S1i der Gruppe G1 durch die Fotodiode D11. Infolgedessen
nimmt der Wert des elektrischen Stroms, der durch den Bela
stungswiderstand R1 von der Vorspannungsquelle 35 fließt,
proportional zu der Größe dieser elektrischen Ladung ab. In
dieser Schaltung sind die Fotodioden D11-Dni in die Mehrzahl
von n Gruppen G1-Gn aufgeteilt. Infolgedessen ist die Anzahl
Fotodioden, die z. B. zur Gruppe G1 gehören, die Anzahl i,
die wesentlich kleiner als die Gesamtzahl der Fotodioden
ist, und der elektrische Strom, der in die Licht empfangende
Fotodiode D11 von den Speicherkondensatoren C12-C1i und den
Eingangskapazitäten SC12-SC1i fließt, wenn der Analogschal
ter S11 leitend gemacht wird, relativ gering. Infolgedessen
kann eine Abnahme der Größe des elektrischen Stroms, der
durch den Belastungswiderstand R1 fließt, verhindert werden,
wodurch die Verbesserung der Empfindlichkeit der Einrichtung
möglich wird.
Fig. 5 ist ein Prinzipschaltbild des Lesesystems vom La
dungsspeichertyp gemäß Fig. 4. Eine Vorspannung von einer
Vorspannungsquelle 35a wird an einen Speicherkondensator C
angelegt, der mit einer Fotodiode D parallelgeschaltet ist.
Somit wird also eine vorbestimmte elektrische Ladung darin
gespeichert. Die Fotodiode D empfängt das vom Original re
flektierte Licht, und die im Speicherkondensator C gespei
cherte Ladung wird dann entsprechend der Größe der licht
elektrischen Umwandlung durch diesen Lichtempfang entladen.
Wenn dann der Analogschalter S geschlossen ist, wird die an
dem Belastungswiderstand R erzeugte Spannung einer Ausgangs
klemme T zum Zeitpunkt der Wiederaufladung des Kondensators
C zugeführt. Auf diese Weise wird ein Lichtsignal erfaßt.
Mit TC ist ferner ein Koppelkondensator bezeichnet, und SC
ist die Kapazität des Analogschalters S. Mit FC ist ferner
die äquivalente Streukapazität des Schalters bezeichnet. Die
Streukapazität FC steigt mit steigender Anzahl n elektri
scher Wandlerelemente gemäß Fig. 6. Die Streukapazität FC
kann durch die folgende Gleichung ausgedrückt werden:
mit C1 = Kapazität des Speicherkondensators C.
Auf der Grundlage des Ergebnisses des nachstehend aufgeführ
ten Experiments wurde erkannt, daß dann, wenn der Wert von
C1 größer als derjenige von SC gemacht wird, eine größere
Ausgangsleistung erhalten wird, wodurch die Deutlichkeit
bzw. der Kontrast eines Lesebilds verbessert wird.
Bei der Auslegung der elektrischen Schaltung nach Fig. 4
wurde ein Experiment durchgeführt, wobei die nachstehende
Leseeinrichtung gebildet wurde.
Fig. 6 zeigt die vorgenannte Leseeinrichtung mit einem
Lichtempfangsteil 2. Auf einem lichtdurchlässigen Substrat
48 aus Glas od. dgl. sind eine lichtdurchlässige gemeinsame
Elektrode 49, z. B. aus Zinn-Indium-Oxid od. dgl., die mit
jeweils einer Elektrode der lichtelektrischen Wandlerelemen
te verbindbar ist, ferner eine lichtabschließende Metall
schicht 51, z. B. aus einem aufgedampften Metall wie Al, Cr
od. dgl., mit Lichtdurchtrittsöffnungen 50 für den
Durchtritt des vom Original 1 reflektierten Lichts 1, ein
Fotoleiter 52 aus amorphem Silicium od. dgl. sowie Einzel
elektroden 53 aus einem aufgedampften Metall wie Al, Cr
etc., die in den jeweiligen lichtelektrischen Wandlerelemen
ten vorgesehen sind, in dieser Reihenfolge angebracht. Fer
ner ist eine Schutzschicht 54 so aufgebracht, daß sie die
lichtdurchlässige gemeinsame Elektrode 49, die lichtab
schließende Metallschicht 51 und die Einzelelektroden 53
abdeckt. Die Schutzschicht 54 braucht nicht lichtdurchlässig
zu sein. Bevorzugt hat die Schutzschicht 54 eine so geringe
spezifische Durchlässigkeit, daß sie den Eintritt von Licht
in Zwischenräume zwischen den Einzelelektroden 53 verhin
dert, da hierdurch das Auflösungsvermögen der Lesebildele
mente verschlechtert werden würde. Als Material für die
Schutzschicht 54 kann relativ kostengünstiges Harz wie Sili
konharz, Epoxidharz od. dgl. verwendet werden. Ferner ist
eine Ansteuerschaltung 55, z. B. ein Schieberegister SR,
vorgesehen.
Bei der beschriebenen Einrichtung kommt das vom Original 1
reflektierte Licht 1 von der Seite des lichtdurchlässigen
Substrats 48. Das reflektierte Licht 1 passiert die Licht
durchtrittsöffnungen 50 entsprechend den jeweiligen licht
elektrischen Wandlerelementen. Dann wird das Licht 1 im
Fotoleiter 52 in elektrischen Strom umgewandelt. Anschließend
wird zwischen der lichtdurchlässigen gemeinsamen Elektrode
49 und den Einzelelektroden 53 ein Lesesignal erfaßt.
Ferner basiert die Erfindung auf der weiteren Erkenntnis,
daß der Fotoleiter 52, der als amorpher Siliciumhalbleiter
auf den gemeinsamen Elektroden P1, P2 implementiert ist, als
Fotodioden D11-Dni dienen kann.
D.h., amorphes Silicium kann für den auf den gemeinsamen
Elektroden auszubildenden Fotoleiter eingesetzt werden.
Diese Verwendung von amorphem Silicium (a-Si) als Fotoleiter
gewährleistet, daß das Verhältnis von Ip zu Id im wesentli
chen groß gemacht werden kann, wobei Ip ein Fotostrom bei
Lichtemission und Id ein Dunkelstrom bei fehlender Licht
emission ist. Versuche haben gezeigt, daß das Verhältnis von
Ip zu Id bis zu 104 bei einer Beleuchtungsstärke von 100 1×
erhöht werden kann, wenn im Halbleiter ein PIN-Übergang
ausgebildet ist.
Erfindungsgemäß kann als Speicherkondensator ein solcher a-
Si-Fotoleiter verwendet werden. Ferner kann die Elektrode
des lichtelektrischen Wandlerteils die Funktion der Elek
trode des Kondensatorteils übernehmen und eine solche Elek
trode dient dann als gemeinsame Elektrode.
Wenn die gemeinsame Elektrode so ausgebildet ist, ist die
von der Elektrode, in der der a-Si-Fotoleiter angeordnet
ist, eingenommene Fläche großer als die vom Lichtempfangs
teil eingenommene Fläche. Infolgedessen besteht die Tendenz,
daß der Dunkelstrom Id notwendigerweise groß ist. Wenn je
doch der a-Si-Fotoleiter verwendet wird, kann das sehr gute
Verhältnis Ip/Id < 104 erzielt werden, wodurch jeder mögli
che Nachteil bei der angegebenen Leseeinrichtung beseitigt
wird.
Nachstehend ist ein Beispiel für das durchgeführte Experi
ment ausgeführt.
Wenn z. B. die Größe des einfallenden Lichts 100 1× o.ä.
ist, beträgt die zweckmäßigste Kapazität des Speicherkonden
sators ca. 15 pF. Infolgedessen wird die Elektrodenfläche S
(cm2) durch die folgende Gleichung bestimmt:
mit
C1 = Kapazität des Speicherkondensators C (F),
εr = spez. Dielektrizitätskonstante von a-Si (ca. 11),
S = Elektrodenfläche (cm2) und
d = Filmdicke des a-Si-Fotoleiters (m).
C1 = Kapazität des Speicherkondensators C (F),
εr = spez. Dielektrizitätskonstante von a-Si (ca. 11),
S = Elektrodenfläche (cm2) und
d = Filmdicke des a-Si-Fotoleiters (m).
Die obige Elektrodenfläche S ist die durch die einander
gegenüberliegenden Abschnitte der gemeinsamen Elektrode 49
und der Einzelelektroden 53 definierte Fläche.
S ist 2,3 × 10-3 cm2, wenn d ca. 1,5 µm ist. Wenn die Fläche
des Lichtempfangsteils mit 100 µm × 100 µm = 10-4 cm2 be
stimmt ist, kann das Verhältnis von Ip : Id trotzdem das
Tausendfache sein, wie Fig. 11 zeigt. Dieser Wert kann
ohne weiteres als der für den fotoelektrischen Wandlerteil
erforderliche Wert akzeptiert werden. Ferner basiert nicht
nur die Einrichtung nach der Erfindung auf der Erkenntnis,
daß die Fotodiode und der Speicherkondensator einstückig
ausgebildet sein können, wenn zu diesem Zweck der a-Si-
Fotoleiter eingesetzt wird, sondern durch die wiederholt
durchgeführten Experimente wurde auch überraschend erkannt,
daß verschiedene Charakteristiken sowohl der Fotodiode
als auch des Speicherkondensators weiter in effektiver
Weise verbessert werden können, wenn die Filmdicke eines
solchen A-Si-Fotoleiters innerhalb des Bereichs zwischen
0,4 und 3,0 µm festgelegt wird.
Der vorgenannte Bereich der Filmdicke des als Fotodiode
eingesetzten a-Si-Fotoleiters entspricht z. B. den Anfor
derungen an die Filmdicke, die von Natur aus notwendig
ist, wenn der vorgenannte PIN-Übergang aufgebracht wird.
Unter dem Begriff PIN-Übergang wird dabei ein Halbleiter
übergang verstanden, bei dem zwischen der P-dotierten
Zone und der N-dotierten Zone eine hochohmige intrinsische
Zone vorgesehen ist. Aus dem Datenbuch: Optoelektronische
Bauelemente, 1977, AEG-TELEFUNKEN Serienprodukte AG,
S. A29 ist auch eine andere Sichtweise des Begriffs "PIN-
Übergang" bekannt. Diese Tatsache ist am besten dadurch
erklärbar, daß entsprechend der Gleichung (2) d = 1,5 µm
ist.
Ferner wurde gefunden, daß auch ein Speicherkondensator mit
einer Filmdicke in dem genannten Bereich realisierbar ist.
Infolgedessen wird die Funktion von S zu d notwendigerweise
bestimmt, da die optimale Kapazität der Fotodiode bei ca.
15 pF liegt. In bezug auf das Auslegungskriterium, daß das
Leseelement 8 Bits/mm ist, kann der Wert für die Fläche S
nicht frei gewählt werden. Insbesondere wurde gefunden, daß
der Minimalwert der Fläche S, d. h. der Höchstwert der Film
dicke d, bevorzugt unterhalb 3,0 µm festgelegt wird, wodurch
keine Probleme bei der praktischen Anwendung auftreten und
die Produktivität bei der Herstellung des a-Si-Films nicht
herabgesetzt wird. Wenn andererseits die Dicke d unter 0,4 µm
liegt, ist der Speicherkondensator in der Praxis weniger
geeignet, da sein Spannungswiderstand sehr niedrig ist. Es
wurde somit festgestellt, daß die Filmdicke des a-Si-Foto
leiters zweckmäßigerweise zwischen 0,4 und 3,0 µm, bevorzugt
im Bereich von 1,0-2,0 µm liegen sollte.
Das gleiche Ergebnis wie oben wurde erhalten, wenn die
Leseeinrichtung nach den Fig. 7 und 8 anstelle der Einrich
tung von Fig. 6 verwendet wurde.
Die Fig. 7 und 8 zeigen den Lichtempfangsteil des Lesesy
stems. Fig. 8 ist ein Querschnitt X-X von Fig. 7.
Die gemeinsamen Elektroden P1, P2 sind in einem Abstand auf
dem Substrat 56 ausgebildet, das aus einem lichtdurchlässi
gen durchscheinenden Werkstoff wie Glas besteht. Die gemein
samen Elektroden P1 und P2 bestehen aus aufgedampftem Alumi
nium, Chrom u. dgl. Der Fotoleiter 57, der z. B. ein amorpher
Siliciumhalbleiter zur Bildung der Fotodioden D11-D1i, D21-D2i
ist, ist auf den gemeinsamen Elektroden P1 und P2 ausge
bildet. Transparente Elektroden 58 aus lichtdurchlässigem
Werkstoff wie Zinn-Indium-Oxid sind auf dem Fotoleiter 57
durch Bedampfen oder Aufdampfen im Vakuum ausgebildet. Die
transparenten Elektroden 58 sind in den jeweiligen Fotodio
den D11-Dni vorgesehen. Die transparenten Elektroden 58 sind
einzeln mit abgehenden Elektroden 59 gekoppelt. Die abgehen
den Elektroden 59 bestehen aus aufgedampftem Chrom. Zuoberst
ist eine Schutzschicht 60 aus einem lichtdurchlässigen,
transparenten Werkstoff wie Glas vorgesehen. Lichtdurch
trittsöffnungen 60 sind in den gemeinsamen Elektroden P1,
P2, dem Fotoleiter 57 und den transparenten Elektroden 58
gebildet. Hinter dem Substrat 56 ist als Lichtquelle eine
Leuchtstofflampe 4a angeordnet. Oberhalb der Schutzschicht
60 ist das Original 1 aufgelegt. Licht L wird von der
Leuchtstofflampe 4a durch das Substrat 56 und die
Schutzschicht 60 zum Original 1 emittiert. Das vom Original
1 reflektierte Licht durchsetzt dann die transparente Elek
trode 58 in der Nähe der Lichtdurchtrittsöffnung 61. Dann
wird das Licht 1 vom Fotoleiter 57 empfangen.
Die Fotodioden D11-Dni sind somit nahe den Lichtdurchtritts
öffnungen 61 ausgebildet. Die Lichtdurchtrittsöffnungen 61
sind in Abständen über die Breitenrichtung des Originals 1,
d. h. entlang der Axialrichtung der Leuchtstofflampe 4a ange
ordnet. Auf dem Substrat 56 ist eine integrierte Schaltung,
etwa ein Schieberegister SR, angeordnet.
Wie aus den beiden Arten von Leseeinrichtungen gemäß Fig. 8
bzw. den Fig. 7 und 8 ersichtlich ist, basiert die Erfindung
auf der neuen Erkenntnis, daß der Fotoleiter, der ein auf
den gemeinsamen Elektroden P1 und P2 ausgebildeter amorpher
Siliciumhalbleiter od. dgl. ist, nicht nur als Fotodioden
D11-Dni, sondern auch als Speicherkondensatoren C11-Cni
nutzbar ist.
Wie bereits erwähnt, umfaßt die Kapazität SC des Analog
schalters die Kombination der Leitungskapazität der Leiter
bahnen auf dem Substrat, die einer von verschiedenen Fakto
ren des Ausgangssignals ist. Infolgedessen muß die Anzahl
Leiterbahnen möglichst klein gemacht werden, um dadurch den
Einfluß der Leitungskapazität zu verringern. Gemäß der Er
findung sind der Fotoleiter der Fotodiode und das Dielek
trikum des Speicherkondensators aus im wesentlichen dem
gleichen Werkstoff, und zwar dem Fotoleiter, einstückig
ausgebildet, so daß die Verwendung von Zuleitungen für die
Anschlüsse zwischen der Fotodiode und dem Speicherkondensa
tor entfällt. Infolgedessen ist die auftretende Leitungs
kapazität so vermindert, daß die Kapazität Sc geringer ist.
Ferner wird für den Fotoleiter ein Werkstoff mit relativ
hohem Widerstandswert gewählt, um dadurch die Kapazität C1
zu erhöhen, wodurch wiederum die effektive Lösung der Aufga
be der Erfindung erleichtert wird. Bei der vorhergehend
erläuterten Ausführungsform wird amorphes Silicium als Foto
leiter verwendet.
Durch den Einsatz des amorphen Silicium-Fotoleiters sowohl
für die Fotodioden D11-Dni als auch die Speicherkondensato
ren C11-Cni wird also eine Erhöhung des Verhältnisses von C1
zu SC erzielt, wodurch das hohe Ausgangssignal mit reduzier
ter Schwankung erzeugt werden kann.
Fig. 9 ist eine Perspektivansicht eines Lichtempfangsteils
129. Fig. 10 ist ein Querschnitt entlang der Linie VI-VI von
Fig. 9. Wie diese Figuren zeigen, sind auf einem Substrat
71, dessen eine Oberfläche aus einem lichtdurchlässigen
elektrisch isolierenden Werkstoff wie Glas besteht, eine
lichtdurchlässige gemeinsame Elektrode 72 etwa aus Zinn-
Indium-Oxid od. dgl., die mit einer Elektrode der jeweiligen
lichtelektrischen Wandlerelemente zu verbinden ist, eine
lichtabschließende Metallschicht 74 aus einem aufgedampften
Metall wie Al, Cr od. dgl., die Lichtdurchtrittsöffnungen 73
zum Durchtritt des vom Original 1 reflektierten Lichts D
aufweist, ein Fotoleiter 75 aus amorphem Silicium, CdS etc.,
sowie Einzelelektroden 76 aus aufgedampftem Metall wie Al,
Cr u. dgl., die in den jeweiligen lichtelektrischen Wandler
elementen vorgesehen sind, in dieser Reihenfolge angeordnet.
Im übrigen kann das gesamte Substrat 71 aus einem licht
durchlässigen elektrisch isolierenden Werkstoff bestehen,
oder es können von Glas verschiedene Werkstoffe dafür ver
wendet werden. Ferner ist eine Schutzschicht 77 so aufge
bracht, daß sie die lichtdurchlässige gemeinsame Elektrode
72, die lichtabschließende Metallschicht 74 und die Einzel
elektroden 76 überdeckt. Die Schutzschicht 77 braucht nicht
lichtdurchlässig zu sein. Bevorzugt hat die Schutzschicht 77
eine so niedrige spezifische Lichtdurchlässigkeit, daß sie
das Eindringen von Licht in Zwischenräume zwischen den Ein
zelelektroden 76 verhindert, da sonst das Auflösungsvermö
gen der Lesebildelemente verschlechtern würde. Für die
Schutzschicht 77 kann relativ kostengünstiges Harz wie etwa
Silikonharz, Epoxidharz od. dgl. verwendet werden. Eine
Ansteuerschaltung 78, etwa ein Schieberegister, ist auf dem
Substrat 71 angeordnet und mit der gemeinsamen Elektrode 72
sowie mit den Einzelelektroden 76 gekoppelt, um den Lese
betrieb zu ermöglichen.
Bei dieser Einrichtung kommt das vom Original 1 reflektierte
Licht D von der Seite des lichtdurchlässigen Substrats 71.
Das reflektierte Licht D durchsetzt die Lichtdurchtrittsöff
nungen 73 entsprechend den jeweiligen lichtelektrischen
Wandlerelementen. Dann wird das Licht D im Fotoleiter 75 in
Strom umgewandelt. Anschließend wird zwischen der licht
durchlässigen gemeinsamen Elektrode 72 und den Einzelelek
troden 76 ein Lesesignal erfaßt.
Für die Herstellung der Leseeinrichtung nach der Erfindung
kann zur aufeinanderfolgenden Bildung der fünf Schichten,
also von der lichtdurchlässigen Schicht 72 bis zur
Schutzschicht 77, auf dem Substrat 71 sowohl die lichtdurch
lässige gemeinsame Elektrode 72 als auch die lichtabschließen
de Metallschicht 74 durch Bedampfen im Vakuum hergestellt
werden. Somit können die beiden Schichten 72 und 74 nachein
ander durch gemeinsames Bedampfen im Vakuum gebildet werden.
Somit kann eine Dünnfilm-Herstellungsvorrichtung zur Bildung
von nur vier Schichten 72; 74; 75; 76; 77 verwendet werden,
wodurch ein verbesserter Produktions-Wirkungsgrad aufgrund
einer verringerten Herstellungszeit erreicht wird.
Ferner wird der Fotoleiter 75 aus amorphem Silicium, CdS od. dgl.
durch Glimmentladung oder aus CdS durch Bedampfen im
Vakuum, Aufdampfen im Vakuum oder chemische Abscheidung
erzeugt. Die Einzelelektroden 76 werden aus Al, Cr u. dgl.
durch Metallisieren im Vakuum hergestellt.
Die aus einem Harz od. dgl. bestehende Schutzschicht 77 wird
dann auf dem freien Teil des Fotoleiters 75 durch Bedrucken
oder Beschichten hergestellt. Dann werden diese Schichten
auf 280°C oder weniger erwärmt, um auszuhärten. Dieser
relativ lockere Zustand setzt z. B. die Charakteristik des
amorphen Fotoleiters 75 nicht herab, so daß die Leseeinrich
tung mit sehr gutem Rauschabstand und hoher Güte herstellbar
ist.
Bei der angegebenen Leseeinrichtung kommt das reflektierte
Licht D von der Seite des lichtdurchlässigen Substrats 71
und durchsetzt die in den jeweiligen lichtelektrischen Wand
lerelementen ausgebildeten Lichtdurchtrittsöffnungen 73.
Somit werden die Elemente nicht mit zusätzlichem Licht be
leuchtet, und die nicht benützten Teile der Elemente werden
nicht belichtet. Infolgedessen wird kein mit einer solchen
Beleuchtung einhergehender Leckstrom erzeugt.
Ferner ist ersichtlich, daß das genaue Lesen der Elemente in
der Einrichtung nach Fig. 3 auch dann nicht behindert wird,
wenn in den lichtdurchlässigen gemeinsamen Elektroden 72
oder der lichtabschließenden Metallschicht 74 Feinlunker
bzw. Nadelstiche (pinholes) auftreten.
Bei der angegebenen Einrichtung ist es nicht notwendig, die
lichtdurchlässige gemeinsame Elektrode 72 großflächig auszu
bilden, da die lichtabschließende Metallschicht 74 ein elek
trischer Leiter ist. Die gemeinsame Elektrode 72 ist zusam
men mit der lichtabschließenden Metallschicht 74 elektrisch
leitend, solange die gemeinsame Elektrode 72 größer als jede
Lichtdurchtrittsöffnung 73 ist, so daß in dieser Hinsicht
keine Probleme auftreten.
Die Schnittdarstellung von Fig. 11 zeigt eine weitere Aus
führungsform, die der vorhergehenden ähnlich ist. Entspre
chende Teile sind mit gleichen Bezugszeichen versehen. Dabei
ist zu beachten, daß bei der Ausführungsform nach Fig. 11
die Bildung der lichtdurchlässigen gemeinsamen Elektrode 72
und der lichtabschließenden Metallschicht 74 in umgekehrter
Reihenfolge wie bei der Ausführungsform nach den Fig. 9 und
10 stattfindet.
Dabei wird zuerst die lichtabschließende Metallschicht 74
auf dem lichtdurchlässigen Substrat 71 gebildet, und auf
dieser wird die lichtdurchlässige gemeinsame Elektrode 72
ausgebildet. Mit dieser Ausnahme sind Aufbau und Herstel
lungsverfahren dieser Ausführungsform gleich wie bei der
Ausführungsform nach den Fig. 9 und 10.
Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung kann das
vom Original reflektierte Licht D von der Seite der
Schutzschicht 77 kommen.
Claims (6)
1. Leseeinrichtung mit
- - einer Mehrzahl Fotodioden (D11-Dni), die jeweils einen parallelgeschalteten Speicherkondensator als Ladungsspeicherelement (C11-Cni) aufweisen, wobei die Fotodioden bei Empfang von Licht elektrische Ladung in den Ladungsspeicherelementen speichern, und wobei Speicherkondensator (C11-Cni) und Fotodiode (D11-Dni) im wesentlichen einstückig aus amorphem Silicium- Fotoleitermaterial gebildet sind und der amorphe Fotoleiter ein PIN-Halbleiter ist;
- - einer Mehrzahl von Schaltern (S11-Sni), die jeweils mit einem Ende jeder Fotodiode (D11-Dni) reihenge schaltet sind;
- - Mitteln (R1-Rn, A1-An) zum Herausführen einer elek trischen Ladungsmenge in Form eines Signals, wenn die elektrische Ladung in den Ladungsspeicherelementen (C11-Cni) gespeichert ist, wobei die Mittel (R1-Rn, A1-An) mit dem anderen Ende der Photodioden reihenge schaltet sind,
- - einer Vorspannungsquelle (35), die über zumindest einen Belastungswiderstand (R1-Rn) eine Spannung derart an die Photodioden (D11-Dni) anlegt, daß diese in Sperrichtung gepolt sind, und
- - einer Ansteuerschaltung (SR), die die Mehrzahl Schal ter nacheinander in zeitlicher Folge leitend macht.
2. Leseeinrichtung nach Anspruch 1, bei der
die Filmdicke des amorphen Silicium-Fotoleiters im
Bereich von 0,4-3,0 µm festgelegt ist.
3. Leseeinrichtung nach Anspruch 1, bei der
die Filmdicke des amorphen Silicium-Fotoleiters im
Bereich von 1,0-2,0 µm festgelegt ist.
4. Leseeinrichtung nach Anspruch 1, bei der
die Filmdicke des amorphen Silicium-Fotoleiters mit ca.
1,5 µm festgelegt ist.
5. Leseeinrichtung nach einem der Ansprüche 1-4, bei der
die Mittel (R1-Rn, A1-An) die vorhandenen Belastungswi
derstände (R1-Rn) sowie für jeden der Belastungswider
stände je einen Trennverstärker (A1-An) aufweisen.
6. Leseeinrichtung nach Anspruch 5,
bei der mehrere (n) Belastungswiderstände (R1-Rn) und
mehrere (n) Trennverstärker (A1-An) vorhanden sind,
wobei jedem der Belastungswiderstände (R1-Rn) mehrere
(i) Schaltungen jeweils bestehend aus einer Fotodiode
(D11), einem Speicherkondensator (C11) und einem Schal
ter (S11) zugeordnet sind.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59128530A JPS617766A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 読み取り装置 |
JP60127499A JPH0712077B2 (ja) | 1985-06-11 | 1985-06-11 | 読み取り装置 |
JP60129418A JPS61287167A (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 読み取り装置 |
DE3546717A DE3546717C2 (de) | 1984-06-21 | 1985-06-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE3546820C2 true DE3546820C2 (de) | 1994-06-23 |
Family
ID=27433486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3546820A Expired - Fee Related DE3546820C2 (de) | 1984-06-21 | 1985-06-21 | Leseeinrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE3546820C2 (de) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4419696A (en) * | 1980-12-10 | 1983-12-06 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Elongate thin-film reader |
-
1985
- 1985-06-21 DE DE3546820A patent/DE3546820C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4419696A (en) * | 1980-12-10 | 1983-12-06 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Elongate thin-film reader |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Datenbuch: OPTOELEKTRONISCHE BAUELEMENTE 1977, AEG-Telefunken Serienprodukte AG, Heilbronn, Seite A 29 * |
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