JPS61267988A

JPS61267988A - テ−プ厚測定装置

Info

Publication number: JPS61267988A
Application number: JP10895085A
Authority: JP
Inventors: Toshihiko Takahashi; 俊彦高橋; Katsuzumi Inasawa; 稲沢　克純; Hisatoshi Honma; 本間　寿利; Toshiyuki Tani; 谷　敏行; Shigeyuki Satomura; 成行里村
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1985-05-21
Filing date: 1985-05-21
Publication date: 1986-11-27
Anticipated expiration: 2010-06-28
Also published as: JPH0760591B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は例えばオーディオ信号やビデオ信号等が記録
される種々のテープの厚さを測定する場合等に用いて好
適なテープ厚測定装置に関する。

〔発明の概要〕

この発明は、リールを定速で送ってその周期の時間Ｔｏ
を測定し、次にリールを任意の速度で所定量回転した後
再び定速で送って前と同じリールの周期の時間Ｔｎ′を
測定し、測定したＴｏとＴｎ′を所定の式に代入してテ
ープのテープ厚を精度良く求めようとするものである。

〔従来の技術〕

従来のテープ厚測定法の一例として、例えばテープを定
速で送って、巻取り側及び供給側リールの周期の２乗の
和を求め、この値によりテープの種類を特定し、その特
定された種類のテープのテープ全長の標準値を用い、次
式によりテープ厚りを求めている。

上記（１）式において、Ｖｔはテープ速度、ＴＴは巻取
り側リールの回転周期、Ｔｓは供給側リールの回転周期
、ｒＱはリールのハブ半径、ＬＯはテープ全長である。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところが、上述の如き従来法の場合、与えられたテープ
全長が、そのテープの標準値より若干具なっていても、
そのテープの種類の組分けの段階で同じ種類のテープで
あると判断されると、それ以降はそのテープの標準値が
通用されて計算が進められるために、テープのテープ厚
りに誤差を生じるという不都合がある。

この発明は斯る点に鑑みてなされたもので、テープ全長
が未知であっても、テープ厚を正確に求めることができ
るテープ厚測定装置を提供するものである。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明によるテープ厚測定装置は、複数個のリール（
１）、　（２）に巻回されたテープ（３）を任意の箇所
で定速で送ってリール周期の時間Ｔｏを測定し、次に上
記Ｔｏを求めたリールを所定波数相当分回転した後再び
定速で送ってリール周期の時間Ｔｎ′を測定し、次式に
よりテープ厚りを求めるように構成している。

たりし、Ｖｔは定速時のテープ速度、ｎは時間Ｔｏの測
定開始から時間Ｔｎ′の測定開始までの波数、ｋは時間
Ｔｏ、Ｔｎ′の測定に要する波数、ｍは１周の波数であ
る。

〔作用〕

テープ（３）を任意の箇所で定速で送って、テープの巻
回されたリール（１）、　（２）のうち、リール周期の
短い方のリール周期の時間Ｔｏを、リールの回転検出器
（１５）または（１６）からのパルス数をカウントする
ことにより測定する。次に任意の速度でＴｏを求めたリ
ールを所定波数相当分回転した後再び定速で送って同じ
リールのリール周期の時間Ｔｎを、リールの回転検出器
からのパルス数をカウントすることにより測定する。そ
して、測定した時間Ｔｏ　＋　Ｔｎ′を用い、所定の式
に基づいてテープ厚りを算出する。

〔実施例〕

以下、この発明の一実施例を第１図〜第５図に基づいて
詳しく説明する。

先ず、この発明の基本原理を第４図及び第５図を参照し
て説明する。

テープを定速走行させた時、巻取り側及び供給側リール
のうち、リール周期の短い方のリール周期を求めＴｏと
する。第４図の場合、供給側リール（１）には巻取り側
リール（２）より少なく磁気テープ（３）が巻回されて
いるので、供給側リール（１）の方がリール周期が短い
ことがわかる。そこで、この供給側リール（１）のリー
ル周期を求めＴ”ｓｏとする。

このとき、供給側リール（１）の巻径をｒｓ、リールハ
ブ径（半径）をｔｏ、テープ速度をＶｔとすると、リー
ル周期Ｔ’ｓｏは次式の如く表わされる。

この第４図の状態から第５図に示すように、供給側リー
ル（１１をｎターンした後のリール周期をＴ′Ｓとする
と、次式が得られる。

たりし、上記（３）式において、ｒ′ｓはｎターン後の
供給側リール（１）の巻径である。そして、巻径ｒｓと
ｒ′ｓの間には、テープ厚をＤとすると、ｒ’５＝ｒＢ
　＋ｎ　−Ｄ　　　　　　”（４）の関係があるから、
上記（２）〜（３）式より次式が得られる。

上記（５）式よりテープ厚りは、次のように表わされる
。

上記（６）式において、Ｔ’ｓ＋Ｔｓｏはリール台に回
転検出器等を取り付け、その出力をマイクロコンピュー
タ等のように時間測定の可能なものに供給すれば求める
ことができる。また、ｎターンしたか否かは、回転検出
器からのパルス数を数えることにより判断できる。更に
テープ速度Ｖｔは既知で定数である。従って、以上のこ
とより、上記（６）式よりテープ厚りを求めることがで
きることがわかる。

また、リール周期ＴｓｏとＴ′ｓを測定する時以外は、
Ｖｔなる速度でテープを送る必要はないから、ＴＳＯを
測定後ｎターンするまでは早送り（Ｆ　Ｆ）または巻戻
しくＲＥＷ）の如き高速送りですばやく送り、ｎターン
後再びＶｔなる速度で送り、リール周期Ｔ′ｓを求める
ようにすればよい、これによりリール周期ＴｓｏとＴ′
ｓを求める時間が短縮され、短時間でテープ厚を求める
ことができる。

そして、第４図及び第５図の場合とは逆に、リール周期
Ｔｏの計測時に巻取り側リールの周期が短い時は、巻取
り側リールのリール周期をＴ’ｔｏとしてメモリする。

その後巻取り側リールがｎターンした後巻取り側リール
のリール周期を測定し、Ｔ丁′とすると、次式が得られ
、上記（７）式よりテープ厚りを求めることができる。

すなわち、この基本原理ではリール周期を１回転とした
場合のテープ厚りの求め方である。

次にリール周期を１回転以外の任意の回転とした時めテ
ープ厚りの求め方を第３図を参照して説明する。

こ−で、リールが１回転したときに回転検出器から出力
される出力パルス数をｍ波とする。また、リール周期Ｔ
ｏ、Ｔｎを測定するに要する波数をに波とする。Ｔｏは
最小の定速送り時のリール周期、Ｔｎ′はその後ｎ−に
波相当分テープを送った後の定速送り時のリール周期で
ある。そこで、リール周期Ｔｏ、Ｔｎを夫々１周期に換
算するとに、　　　　　　　ｋル周期ＴＯの測定開始からリール周期Ｔｎ′の測定開始
までの波数を表わす、したがって、ｎ波はｎ　／　ｍタ
ーンに相当する。これ等の関係を例えば上記（６）式に
代入すると次式が得られる。

・・・・（８）上記（８）式よりリール周期を任意の回転としたときも
、同様にしてテープ厚りが求められることがわかる。

第１図はリール周期を任意の回転としてテープ厚りを求
める場合の具体的な回路構成を示すもので、同図におい
て、（１）は供給側リール、（２）は巻取り側リール、
（３）はこれ等のリール間に巻回された磁気テープであ
る。リール（１）、　（２）は夫々リールモータ（４）
、　（５）により回転駆動される。そして、これ等リー
ルモータ（４）、　（５）はり−ルモータ制御回路（６
）によって駆動制御される。

また、（７）はキャプスタン、（８）はキャプスタン（
７）を回転駆動するキャプスタンモータ、（９）はキャ
プスタンモータ（８）を駆動制御するキャプスタンモー
タ制御回路である。　Ｑｌはキャプスタン（７）に対し
て設けられたピンチローラ、（１１）はピンチローラ（
至）に張架されたバネ、（１２）はバネ（１１）の弾性
力に抗してピンチローラ顛を制御するプランジャ回路、
（１３）は制御回路（６）、　（９）及びプランジャ回
路（１２）に種々の制御信号を供給するマイクロコンピ
ュータから成るシステムコントロール回路、（１４）は
テープ（３）からの情報をシステムコントロール回路（
１３）に供給するヘッド、（１５）　、　　（１６）は
夫々リール（１）、　（２）の回転を検出するための回
転検出器である。

次に、第１図の回路動作を第２図のフローチャートに従
って説明する。ステップ（イ）において動作開始し、ス
テップ（ロ）において、システムコントロール回路（１
３）からの制御信号によりリールモータ制御回路（６）
を制御してリールモータ（４）。

（５）を駆動し、リール（１）、　（２）を回転駆動状
態とする。

また、システムコントロール回路（１３）からの制御信
号によりキャプスタンモータ制御回路（９）を制御して
キャプスタンモータ（８）を駆動し、キャプスタン（７
）を回転駆動すると共にシステムコントロール回路（１
３）からの制御信号によりプランジャ回路（１２）を制
御して、ピンチローラＱｌをバネ（１１）の弾性力に抗
してキャプスタン（７）に圧着する。すると、磁気テー
プ（３）がキャプスタン（７）とピンチローラ０１に挾
持された状態で定速送り例えばフォワード送りされる。

ステップ（ハ）において、リール（１）、　（２１の回
転を検出する回転検出器（１５）　、　　（１６）から
のパルス信号をマイクロコンピュータを用いたシステム
コントロール回路（１３）に供給して、これ等のパルス
信号のうち周期の短い方の回転検出器からの出力に波の
時間を測定し、リール周期の時間（回転検出器から所定
数のパルスが出力される時間、つまりリールが所定の回
転角まわるに要する時間）Ｔｏを求め、システムコント
ロール回路（１３）内のメモリに記憶する。

ステップ（ニ）において、システムコントロール回路（
１３）によりプランジャ回路（１２）を消勢してピンチ
ローラαΦのキャプスタン（７）への圧着を解除すると
共にリールモータ制御回路（６）を制御して磁気テープ
（３）をに波目よりｎ−に液分だけ任意の速度で送る。

ステップ（ホ）において、再びシステムコントロール回
路（１３）の制御のもとに、定速送りして、前にリール
周期の時間（回転検出器から所定数のパルスが出力され
る時間、つまりリールが所定の回転角まわるに要する時
間）Ｔｏを求めたリール側の回転検出器からのパルス信
号をシステムコントロール回路（１３）に供給し、回転
検出器からの出力に波の時間を測定し、リール周期の時
間Ｔｌ−１′を求め、システムコントロール回路（１３
）内のメモリに記憶する。

ステップ（へ）において、システムコントロール回路（
１３）でメモリに記憶されているリール周期の時間Ｔｏ
、Ｔｎ７を取り出し、これを用いて（８）式に従って計
算を行い、テープ厚りを求める。たりし、定速時のテー
プ速度ｖｔ、時間Ｔｏの測定開始から時間Ｔｎ′の測定
開始までの波数ｎ、時間Ｔｏ　＋　Ｔｎの測定に要する
波数ｋ及び１周の波数ｍの定数は、予め情報としてメモ
リに入力されているものとする。そして、ステップ（ト
）において一連の動作を終了する。

このようにして求めることにより、従来種類分けされた
テープカセットは、その種類に属するテープカセットに
対して全て１つの代表値（標準値）がテープ全長の値と
して通用されたのに対し、本実施例では個々に実測した
リール周期の時間ＴＯ１Ｔｎを用いてテープ厚を求める
ようにしたので、テープ全長が未知であっても正確にテ
ープ厚を求めることができる。

なお、上述の第２図の例では、テープの定速送りをフォ
ワード送りとした場合であったが、これより数倍速い速
度でテープを送ってリール周期の時間を求めてもよ（、
その時は上記（８）におけるＶｔＯ値を対応して変えて
やるようにする。

〔発明の効果〕

上述の如くこの発明によれば、テープ長が未知のテープ
を任意の箇所で定速送りして周期の短い方のリールの周
期の時間Ｔｏを測定し、次にＴ。

を求めたリールを所定量送った後再び定速送りしてその
時のリール周期の時間Ｔｎ′を測定し、これ等Ｔｏ　＊
　Ｔｎを用い所定の式よりテープ厚りを求めるようにし
たので、テープ長が未知のテープでも正確にテープ厚を
求めることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は第１図の動作説明に供するためのフローチャート、第
３図はこの発明の説明に供するための路線図、第４図及
び第５図はこの発明の基本原理の説明に供するための路
線図である。（１）は供給側リール、（２）は巻取り側リール、（３
）は磁気テープ、（４）、　（５）はリールモータ、（
６）はリールモータ制御回路、（７）はキャプスタン、
（８）はキャプスタンモータ、（９）はキャプスタンモ
ータ制御回路、（１３）はシステムコントロール回路、
（１５）。（１６）は回転検出器である。第２図第３図

Claims

【特許請求の範囲】複数個のリールに巻回されたテープを任意の箇所で定速
で送ってリール周期の時間Ｔ＿０を測定し、次に上記Ｔ
＿０を求めたリールを所定波数相当分回転した後再び定
速で送ってリール周期の時間Ｔｎ′を測定し、次式によりテープ厚Ｄを求めるようにしたことを特徴と
するテープ厚測定装置。Ｄ＝（Ｖｔ・ｍ＾２）／（２πｎ・ｋ）｜Ｔｎ′−Ｔ＿
０｜たゞし、Ｖｔは定速時のテープ速度、ｎは時間Ｔ＿
０の測定開始から時間Ｔｎ′の測定開始までの波数、ｋ
は時間Ｔ＿０、Ｔｎ′の測定に要する波数、ｍは１周の
波数である。