JPS61253697A - ダイナミツク型ram - Google Patents

ダイナミツク型ram

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Publication number
JPS61253697A
JPS61253697A JP60095479A JP9547985A JPS61253697A JP S61253697 A JPS61253697 A JP S61253697A JP 60095479 A JP60095479 A JP 60095479A JP 9547985 A JP9547985 A JP 9547985A JP S61253697 A JPS61253697 A JP S61253697A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
signal
column
circuit
inverse
Prior art date
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Pending
Application number
JP60095479A
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English (en)
Inventor
Katsuyuki Sato
克之 佐藤
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS61253697A publication Critical patent/JPS61253697A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分腎〕 この発明は、ダイナミック型RAMに関するもので、例
えば、カラム系選択回路がスタティック型回路により構
成されたものに利用して有効な技術に関するものである
〔背景技術〕
カラム系選択回路をスタティック型回路により構成し、
ワード線を選択状態にしたままカラムアドレス信号を変
化させてデータ線を次々に切り換えることによって、上
記ワード線に結合されたメモリセルの連続的な読み出し
/書き込み動作を行うようにした、いわゆるスタティッ
クカラムモードのダイナミック型RAMが開発されてい
る。このようなスタティックカラムモードによる連続読
み出し動作にあっては、カラム系のアドレス切り換えを
外部端子から供給されるアドレス信号によって行うもの
である。この場合、動作速度は、外部端子から供給され
るアドレス信号のスキュー(アドレス信号の変化タイミ
ング差)等によって制限される。すなわち、多ビットか
らなるアドレス信号のうちの最も遅く変化するアドレス
信号を待ってカラム選択動作が行われることになるから
である。(ダイナミック型RAMに関しては、例えば日
経マグロウヒル社1983年7月18日付の雑誌「日経
エレクトロニクスJ第169頁ないし193頁参照)。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、動作の多機能化と高速動作化を図っ
たダイナミック型RAMを提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本家において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、カラムアドレスストローブ信号に従ってパル
スの計数動作を行うカラムアドレスカンウタ回路を設け
るとともに、アドレスバッファにマルチプレクサ機能を
持たせて外部端子からのアドレス信号と上記内部アドレ
ス信号とを選択的に受け付けるようにし、これらを外部
制御端子で制御して上記内部アドレス信号によるカラム
アドレス切り換えを行うようにするものである。
〔実施例〕
第1図には、この発明に係るダイナミック型RAMの一
実施例の回路図が示されている。同図の各回路素子及び
回路ブロックは、公知の半導体集積回路の製造技術によ
って、特に制限されないが、1個の単結晶シリコンのよ
うな半導体基板上に形成される。
1ビツトのメモリセルMCは、図示されているようにア
ドレス選択用MO3FETQmと、その一方の電極がQ
mに結合されその他方の電極が回路の電源電圧レベルに
維持される情報記憶キャパシタC3とからなり、論理1
1”、“olの情報はキャパシタCsに電荷が有るか無
いかの形と対応して記憶される。
情報の読み出しは、MOSFETQmをオン状態にして
キャパシタCsを共通のデータ線DLに結合させ、デi
り線DLの電位がキャパシタCsに蓄積された電荷量に
応じてどのような変化が起きるかをセンスすることによ
って行われる。
特に制限されないが、このような微少な信号を検出する
ための基準電位を形成するためにダミーセルDCが設け
られている。このダミーセルDCは、そのキャパシタC
dの容量値がメモリセルMCのキャパシタCsのはり半
分であることを除き゛、メモリセルMCと同じ製造条件
、同じ設計定数で−作られている。キャパシタCdは、
タイミング信号φdを受けるMOSFETQd’ によ
ってアドレッシングに先立ってリセット(放電)される
上記のように、キャパシタCdは、その容量値がキャパ
シタCsのそれの約半分の容量値に設定されているので
、メモリセルMCからの読み出し信号のほぼ半分に等し
い基準電圧を形成することになる。
同図においてSAは、上記アドレッシングにより生じる
このような電位変化の差を、タイミング信号(センスア
ンプ制御信号)φpaで決まるセンス期間に拡大するセ
ンスアンプであり、1対の平行に配置された相補データ
線DL、DLにその入出力ノードが結合されている。こ
のセンスアンプSAは、一対の交差結線されたMOSF
ETQI。
Q2を有し、これらの正帰還作用により、相補データ線
DL、DLに現れた微少な信号を差動的に増幅する。
相補データ線DL、DLのそれぞれに結合されるメモリ
セルの数は゛、検出精度を上げるため互いに等しくされ
る。相補データ線DL、DLのそれぞれは、また1個ず
つのダミーセルが結合されている。また、各メモリセル
MCは、1本のワード線WLと相補対データ線の一方と
の間に結合される。各ワード線WLがデータ線対の双方
と交差している場合、ワード線WLの電位が変化された
ときに不所望な結合容量を介して各データ線に与えられ
る雑音成分は、コモンモード雑音とみなされる。このよ
うなコモンモード雑音は、差動型のセンスアンプSAに
よって実質的に無視される。
アドレッシングの結果として、相補データ線対DL、T
fTの一方に結合されたメモリセルMCが選択される場
合、他方のデータ線には必ずダミーセルDCが結合され
るように一対のダミーワード線DWL、DWLの一方が
選択される。
上記のアドレッシングの際、一旦破壊されかかったメモ
リセルMCの記憶情報は、このセンス動作によって得ら
れたハイレベル若しくはロウレベルの電位をそのまま受
け取ることによって回復する。しかしながら、前述のよ
うにハイレベルが電源電圧VCCに対して一定以上落ち
込むと、何回かの読み出し、再書込みを繰り返している
うちに論理“0”として読み取られるところの誤動作が
生じる。この誤動作を防ぐために設けられるのがアクテ
ィブリストア回路ARである。このアクティブリストア
回路ARは、タイミング信号φrsによリロウレベルの
信号に対して何ら影響を与えずハイレベルの信号にのみ
選択的に電源電圧Vccの電位にブースト(昇圧)する
働きがある。
同図において代表として示されている相補データ線対D
L、DLは、カラムスイッチ回路CWを介して共通相補
データ線CDL、CDLに選択的に結合される。すなわ
ち、上記相補データ線DL。
DLと共通相補データ線CDL、CDLとの間には、カ
ラムデコーダC−DCHの出力により制御されるカラム
スイッチMO3FETQ3.Q4が設けられる。(tの
代表として示されている相補データ線にも上記類似のM
O3FETQ5.Q6が設けられる。
上記共通相補データ線対CDL、CDLは、データ入カ
バソファDIBの出力端子とメインアンプを含むデータ
出力バッファDOBの入力端子に結合されている。上記
データ人カバソファDIBの入力端子は、書き込みデー
タが供給される外部端子Dinに結合される。上記デー
タ出力バッファDOBの出力端子は、読み出しデータを
送出する外部端子Doutに結合される。
上記データ人カバソファDIRとデータ出力バッファD
OBとは、特にM限されないが、CMOSスタティック
型回路により構成される。データ人カバソファDIBは
、タイミング信号φr−によって書き込み動作の時に動
作状態にされ、その動作状態において外部端子Dinか
ら供給された書きファDIBは、上記タイミング信号φ
r譜により、その出力がハイインピーダンス状態にされ
る。データ出力バッファDOBは、タイミング信号φr
wによって、読み出し動作の時に動作状態にされ、その
動作状態において外部端子Doutから読み出しデータ
信号を送出させる。
ロウデコーダ及びカラムデコーダR−DCR。
C−DCRは、ロウアドレスバッファ及びカラムアドレ
スバッファR,C−ADBで形成された内部相補アドレ
ス信号を受けて、1本のワード線及びダミーワード線並
びにカラムスイッチに供給されるべき選択信号を形成す
る。すわなち、これらのデコーダR−DCR,C−DC
Rは、メモリセル及びダミーセルのアドレッシングを行
う、ロウアドレスバッファR−ADBは、ロウアドレス
ストローブ信号RASにより形成されたタイミング信号
φarにより動作状態にされ、その動作状態において上
記ロウアドレスストローブ信号RASに同期して外i#
子から供給されたアドレス信号AXO〜AXiを取込み
、それを保持するとともにロウデコーダR−DCHに伝
える。ロウデコーダR−OCRは、上記伝えられたアド
レス信号をデコードしてワード線選択タイミング信号φ
Xにより所定のワード線及びダミーワード線選択動作を
行う。
一方、カラムアドレスバッファC−ADBは、特に制限
されないが、CMOSスタティック型回路により構成さ
れ、その動作がカラムアドレスストローブ信号CASに
より形成されたタイミング信号φacによって制御され
、外部端子から供給されたアドレス信号AYO〜AYi
を受け付ける。
また、カラムアドレスバッファC−ADBは、後述する
ように、拡張制御信号EXに基づいた内部制御信号φe
xにより制御されるマルチプレクサ回路を持ち、上記ア
ドレス信号AYO〜AYiと次に説明するアドレスカウ
ンタ回路C0UNTにより形成された内部アドレス信号
を選択的に受け付ける。
カラムアドレスバッファC−ADBによって形成された
内部相補アドレス信号は、同様にCMOSスタティック
型回路により構成されたカラムデコーダC−DCRに伝
えられる。カラムデコーダC−DCRは、その動作がデ
ータ線選択タイミング信号φyによって制御され、それ
に伝えられたアドレス信号をデコードしてデータ線選択
タイミング信号φyに同期してデータ線の選択動作を行
う0例えば、上記拡張制御信号EXをハイレベルのまま
としておいて、上記カラムアドレスストローブ信号CA
Sをロウレベルの状態にして、アドレス信号を変化させ
ると、上記アドレスバッファC−ADBとアドレスデコ
ーダC−DCRが応答して、カラムスイッチの切り換え
を行う、上記カラムアドレスストローブ信号CASがロ
ウレベルにされた後に、上記拡張制御信号EXをロウレ
ベルにすると、後述するように内部アドレス信号に従っ
てカラムスイッチの切り換えが行われる。
タイミング制御回路TCは、外部端子を通して供給され
たロウアドレスストローブ信号RAS。
カラムアドレスストローブ信号CAS、ライトイ各種の
内部タイミング信号を形成する。
第2図には、上記力ラムアドレスバッファC−ADBと
アドレスカウンタ回路C0UNTの一実施例の回路図が
示されている。
次に、第2図に示したタイミング図に従って、その動作
の一例を説明する。
同図には、代表として1ビット分のアドレスバッファの
単位回路が示されている。外部端子Ai(AXi/AY
i>から供給されるアドレス信号は、タイミング信号φ
acによって制御されるナンド(NAND)ゲート回路
G1を介してマルチプレクサ回路の一方の入力端子であ
るPチャンネルMO3FETQI 2とNチャンネルM
OSFETQ13のゲートに供給される。上記Pチャン
ネルMO3FETQI 2のソースと電源電圧Vccと
の間には、制御信号φexを受けるPチャンネルMO3
FETQIOが設けられ、NチャンネルMO5FETQ
13のソースと回路の接地電位点との間には、制御信号
φexを受けるNチャンネルMO3るPチャンネルMO
3FETQI 6とNチャンネルMO3FETQI 7
のゲートには、アドレスカウンタ回路C0UNTの出力
信号Ti′が供給される。これらのMO3FETQI 
6.Ql 7にも上記類似のPチャンネルMO3FET
QI 4とNチャンネルMO5FETQI 5がそれぞ
れ設けられる。これらのMO5FETQ14.Ql5の
ゲートは、上記MO3FETQI O,Ql 1のゲー
トと交差接続されることによって、上記制御信号φex
、  φexが交差して供給される。
上記2つの回路の出力端子は共通接続され、CMOSイ
ンバータ回路IVIの入力端子に接続されている。この
インバータ回路IVIの出力端子から、反転内部アドレ
ス信号τlが送出される。
このインバータ回路IVIの出力信号は、CMOSイン
バータ回路IV2の入力端子に供給され、このインバー
タ回路IV2の出力端子から非反転の内部アドレス信号
aiが送出される。
アドレスカウンタ回路C0UNTは、縦列形態にされた
フリップフロップ回路FF0=FFiと、それぞれのフ
リップフロップ回路FFO〜FFiのセット入力にゲー
ト回路を介してアドレスバッファC−ADHの内部アド
レス信号aO〜aiがそれぞれ供給される。これらのゲ
ート回路は、上記制御信号φexにより制御される。こ
れにより、制御信号φexがハイレベルの期間に上記外
部端子から供給されたアドレス信号と対応したアドレス
信号が初期値として各フリップフロップ回路FFO〜F
Fiに取り込まれる。また、初段のフリップフロップ回
路FFOの計数入力には、カラムアドレスストローブ信
号CASに基づいて形成されるパルスφCが供給される
。フリップフロップ回路FFOのキャリー信号は、次段
FFIの計数入力に供給される。これによって、バイナ
リ−カウンタ動作が行われる。
次に、第3図に示したタイミング図を参照して、内部ア
ドレス信号による連続読み出し動作(以下、この発明で
は拡張ニブルモードと呼ぶことにする)を説明する。
ロウアドレスストローブ信号RASがハイレベルからロ
ウレベルに変化すると、タイミング制御回路TCは、タ
イミング信号φar (図示せず)を発生させる。ロウ
アドレスバッファR−ADBは、上記タイミング信号φ
arにより外部端子から供給されたアドレス信号をロウ
アドレスXnとして取り込み、それを保持する。このア
ドレスxnはロウデコーダR−DCHに供給される。ロ
ウデコーダR−DCRは、上記アドレスxnをデコード
(解読)して、1つのワード線WLとこれに対応したダ
ミーワード線(図示せず)をワード線選択タイミング信
号φXに同期してハイレベルの選択状態にさせる。これ
によって、1つのワード線とダミーワード線の選択動作
が行われる。この後、センスアンプのための図示しない
タイミング信号φPal+φpa2が形成され、センス
アンプSAが動作して相補データ線DL、DLに読み出
されたメモリセルの記憶情報の増幅動作が行われる。
次に、カラムアドレスストローブ信号CAsがハイレベ
ルからロウレベルに変化すると、上記タイミング制御回
路TCは、タイミング信号φacをハイレベル(li余
理“1”)にさせる。タイミング信号φaCは、カラム
アドレスストローブ信号CASが一定時間以上ハイレベ
ルにならない限り、ハイレベルを維持するようにされる
。このタイミング信号φaCのハイレベルによって、ア
ドレスバッファのゲート回路01等が開くので、カラム
アドレスバッファC−ADBは、その時の外部端子から
供給されたアドレス信号により指示されたアドレスyO
を取り込む。
カラムデコーダC−DCRは、カラムアドレスバッファ
C−ADBから供給された内部相補アドレス信号をデコ
ードすることによって、データ線選択タイミング信号φ
yに同期して、データ線の選択信号を形成する0例えば
ライトイネーブル信号WEがハイレベルの読み出し動作
なら、データ出力回路DOBが動作状態にされるので、
最初の出力信号DOが外部端子Doutへ読み出される
こここまでは1ビツトの単位でのメモリアクセスである
が、上記状態で拡張制御信号EXをロウレベルにすると
、これに応じて制御信号φexがロウレベルに、制御信
号φexがハイレベルにされる。
上記制御信号φexのロウレベルによってアドレスカウ
ンタ回路C0UNTのゲートが閉じられ、それに上記ア
ドレスyOが初期値として取り込まれることになる。ま
た、上記制御信号φeKのロウレベルト、制御信号φe
xのハイレベルによって、マルチプレクサ回路のPチャ
ンネルMO3FETQ10とQllが共にオフ状態にさ
れるので、外部端子から供給されるアドレス信号は無効
にされる。
これに代わって、上記制御信号φexのロウレベルと、
制御信号φexのハイレベルによって、マルチプレクサ
回路のPチャンネルMO3FETQI 4とQ15がオ
ン状態にされるので、上記アドレスカウンタ回路C0U
NTに取り込まれたアドレスyoに従ったアドレス信号
τビの受け付けが行われる。
この状態において、カラムアドレスストローブ信%CA
Sを一旦ハイレベルにすると、これに同期して、アドレ
スカウンタ回路C0UNTは、+1の歩進動作を行い次
のアドレスy1を指示する。
このアドレスy1に従ったアドレス信号at’等は、マ
ルチプレクサ回路を介してカラムデコーダC−DCRへ
送出される。したがって、カラムアドレスストローブ信
号CASをロウレベルにすると、これに同期してカラム
切り換えが行われるので、次の読み出し出力信号D1が
外部端子Doutへ送出される。以下、カラムアドレス
ストローブ信号CASを一種のクロック信号とした、連
続読み出し動作が行われる。この連続アクセス動作は、
カラムアドレスストローブ信号CASをクロック信号と
して用いているので、外部からは公知のニブルモードと
似ているが、そのアクセス方式そのものが異なることの
他、公知のニブルモードは、最大4ビツトまでしか連続
アクセスできない、このような拡張ニブルモードでは、
内蔵のアドレスカウンタ回路で形成したアドレス信号を
用いているで、前記のように外部端子からアドレス信号
を供給するスタティックカラムモードのようにアドレス
信号のスキニーを考慮する必要が無いから、しておいて
、カラムアドレスストローブ信号CASをロウレベルの
状態にすると、スタティックカラムモードによる連続読
み出しも行うことができる。すわなち、上記拡張制御信
号EXのハイレベルによってマルチプレクサ回路は、外
部端子からのアドレス信号を受け付けるようにされるの
で、外部端子のアドレス信号が切り替わると直ちにこれ
に応答して、内部相補アドレス信号を形成してカラムデ
コーダC−DCHに供給する。これにより、上記同様に
カラム切り換えによる連続読み出しを行うことができる
〔効 果〕
(1)内蔵のアドレスカウンタ回路により形成したアド
レス信号によってカラム切り換えを行うようにすること
によって、アドレススキニーを考慮することなく、高速
にメモリセルの連続アクセスを行うことができるという
効果が得られる。
(2)カラム切り換えを内蔵のアドレスカウンタ回路に
よりアドレス信号を形成するので、カラムアドレススト
ローブ信号のみを変化させれば良いから、ユーザーにと
って極めて扱い易いものとすることができるという効果
が得られる。
(3)外部制御信号により、拡張ニブルモードとスタテ
ィックカラムモードの2種類の連続アクセス動作を行う
ことができるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を過塩しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、拡張ニブルモ
ードの場合は、外部アドレス信号は無効にされるので、
外部アドレス端子の1つを例えば電源電圧以上の高レベ
ルにすることによって、上記拡張制御信号を形成するも
のであってもよい、また、アドレスバッファに設けられ
るマルチプレクサ回路及びアドレスカウンタ回路の具体
的回路は、種々の実施形態を採ることができるものであ
る。
〔利用分野〕
この発明は、カラム系選択回路がスタティック型回路に
より構成されたダイナミック型RAMに広く利用するこ
とができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明に係るダイナミック型RAMの一実
施例を示す回路図、 第2図は、そのアドレスバッファとアドレスカウンタ回
路の一実施例を示す回路図 第3図は、その動作の一例を示すタイミング図である。 MARY・・メモリアレイ、MC・・メモリセル、DC
・・ダミーセル、CW・・カラムスイッチ、SA・・セ
ンスアンプ、AR・・アクティブリストア回路、R,C
−DCR・・ロウ/カラムデコーダ、R,C−ADB・
・ロウ/カラムアドレスバッファ、DOB・・データ出
カバソファ、DIB・・データ入カバソファ、TC・・
タイミング制御回路、C0UNT・・アドレスカウンタ
回路、 第1図 Or ^YO〜^Y1 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ダイナミック型メモリセルがマトリックス配置され
    て構成されたメモリアレイと、外部端子から供給される
    アドレス信号と内部アドレスカウンタで形成されるアド
    レス信号とを外部制御信号に従って選択的に受け付ける
    機能を持ち、かつスタティック型回路により構成された
    カラムアドレス選択回路と、上記外部制御信号に従って
    外部端子から入力されるアドレス信号を初期値として取
    り込み、かつカラムアドレスストローブ信号に基づいて
    形成されたパルス信号を計数するアドレスカウンタ回路
    と、上記メモリアレイのデータ線と共通データ線との間
    に設けられ、カラムデコーダの出力により制御されるカ
    ラム選択回路と、上記共通データ線の信号を増幅するス
    タティック型回路により構成されたデータ出力回路とを
    含むことを特徴とするダイナミック型RAM。 2、上記カラムアドレスバッファ、アドレスカウンタ回
    路、カラムアドレスデコーダ及びデータ出力回路は、C
    MOSスタティック型回路により構成されるものである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のダイナミ
    ック型RAM。
JP60095479A 1985-05-07 1985-05-07 ダイナミツク型ram Pending JPS61253697A (ja)

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JP60095479A JPS61253697A (ja) 1985-05-07 1985-05-07 ダイナミツク型ram

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5956276A (ja) * 1982-09-24 1984-03-31 Hitachi Ltd 半導体記憶装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5956276A (ja) * 1982-09-24 1984-03-31 Hitachi Ltd 半導体記憶装置

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