JPS61253517A - 流体流量制御装置 - Google Patents
流体流量制御装置Info
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- JPS61253517A JPS61253517A JP9537385A JP9537385A JPS61253517A JP S61253517 A JPS61253517 A JP S61253517A JP 9537385 A JP9537385 A JP 9537385A JP 9537385 A JP9537385 A JP 9537385A JP S61253517 A JPS61253517 A JP S61253517A
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- Japan
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- flow rate
- valve
- fluid flow
- output
- circuit
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D7/00—Control of flow
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Flow Control (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、例えば、半導体、IC等の製造プロセスで
用いられる各種ガス等の流体の流11 l+制御装置に
関し、更に詳しくは、ノーマリ−クローズタイプの流体
流量制御バルブを有する流体流量制御装置に関するもの
である。
用いられる各種ガス等の流体の流11 l+制御装置に
関し、更に詳しくは、ノーマリ−クローズタイプの流体
流量制御バルブを有する流体流量制御装置に関するもの
である。
[従来の技術]
斯種の質聞流但制m装置1を第5図に示す。同図におい
て、2はガスの入口部を示し、3はガスの出口部を示す
。ガスは入口部2を入ると、バイパス部4とセンサ管5
とに分岐される。センサ管5には、ガス流の上流と下流
とに一対の抵抗発熱体(サーマルセンサ>6A、6Bが
巻回されている。抵抗発熱体6A、6Bはブリッジ回路
7に接続されている。ガスがセンサ管5を通過するとき
に、抵抗発熱体6A、6Bが熱を奪われる。このときに
、抵抗発熱体6Aが抵抗発熱体6Bより温度低下し、こ
れによって生じる温度差をブリッジ回路7において抵抗
値変化として取出す。この抵抗値変化に基づき、センサ
?!5を流れるガスの質」流量を検出できる。一方、セ
ンサ管5とバイパス部4との分流比率が所定となってい
るため、センサ管5を流れるガスの質m流量が、流れる
ガス全体の質m流量を反映した値となる。8は、バイパ
ス部4に介装された金属メツシュを示し、この金属メツ
シュ8によりバイパス部4とセンサ管5とを流れるガス
の分流比を所定に保っている。また、9はセンサ部のケ
ーシングであり、このケーシング9により、抵抗発熱体
6A、6Bが外部から影響されぬようにし、精度の良い
質讃流母の検出を可能にしている。
て、2はガスの入口部を示し、3はガスの出口部を示す
。ガスは入口部2を入ると、バイパス部4とセンサ管5
とに分岐される。センサ管5には、ガス流の上流と下流
とに一対の抵抗発熱体(サーマルセンサ>6A、6Bが
巻回されている。抵抗発熱体6A、6Bはブリッジ回路
7に接続されている。ガスがセンサ管5を通過するとき
に、抵抗発熱体6A、6Bが熱を奪われる。このときに
、抵抗発熱体6Aが抵抗発熱体6Bより温度低下し、こ
れによって生じる温度差をブリッジ回路7において抵抗
値変化として取出す。この抵抗値変化に基づき、センサ
?!5を流れるガスの質」流量を検出できる。一方、セ
ンサ管5とバイパス部4との分流比率が所定となってい
るため、センサ管5を流れるガスの質m流量が、流れる
ガス全体の質m流量を反映した値となる。8は、バイパ
ス部4に介装された金属メツシュを示し、この金属メツ
シュ8によりバイパス部4とセンサ管5とを流れるガス
の分流比を所定に保っている。また、9はセンサ部のケ
ーシングであり、このケーシング9により、抵抗発熱体
6A、6Bが外部から影響されぬようにし、精度の良い
質讃流母の検出を可能にしている。
ブリッジ回路7の出力信号は、増幅回路10により増幅
され、センサ出力端子11から外部の図示せぬ表示器等
へ出力されると共に、比較回路12へ出力される。比較
回路12には、外部から所望の質m流量に対応して設定
信号が設定信号人力喘子13を介して与えられる。比較
回路12は、増幅回路10の出力信号と流量設定信号と
を比較して、その差に応じた信号を出力する。この信号
は、バルブ駆動部14に与えられ、バルブ駆動部14は
上記信号に基づきバルブヒータ15へ駆動電圧を与える
。16はバルブを示す。このバルブ16はノーマリ−ク
ローズタイプ(11圧無印加時に弁が閉状態であり、電
圧印加時に弁が開状態となる)である。金属ピン17内
にバルブヒータ15が入れられており、バルブヒータ1
5の発熱による金属ビン17の膨張によって、金属ビン
17の先端に固着された弁体18がバネ19に抗して下
降し、ガスの通路部に対するオリフィスを調整する。
され、センサ出力端子11から外部の図示せぬ表示器等
へ出力されると共に、比較回路12へ出力される。比較
回路12には、外部から所望の質m流量に対応して設定
信号が設定信号人力喘子13を介して与えられる。比較
回路12は、増幅回路10の出力信号と流量設定信号と
を比較して、その差に応じた信号を出力する。この信号
は、バルブ駆動部14に与えられ、バルブ駆動部14は
上記信号に基づきバルブヒータ15へ駆動電圧を与える
。16はバルブを示す。このバルブ16はノーマリ−ク
ローズタイプ(11圧無印加時に弁が閉状態であり、電
圧印加時に弁が開状態となる)である。金属ピン17内
にバルブヒータ15が入れられており、バルブヒータ1
5の発熱による金属ビン17の膨張によって、金属ビン
17の先端に固着された弁体18がバネ19に抗して下
降し、ガスの通路部に対するオリフィスを調整する。
このような質ffi流斑流部制御装置おいては、比較回
路12が増幅n路10より出力される実8!m信月V、
と流ffi設定信号v1とを比較し、常kVi−V、と
なるように信号を出力することにより、’M 切す質m
n ffi 1blJ 10ffiなサレる。
路12が増幅n路10より出力される実8!m信月V、
と流ffi設定信号v1とを比較し、常kVi−V、と
なるように信号を出力することにより、’M 切す質m
n ffi 1blJ 10ffiなサレる。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、上記の如き質ffi流ff1llj御装
置1においては、ガスの通路部にガスが無い状態で流f
lLJl定信@viが与えられると、比較回路12はバ
ルブ16に最大駆動電圧を印加するように動作する。こ
のため、バルブ16はフルオーブン状態となる。このよ
うな状態が継続されると、バルブヒータ15の温度1胃
によりバルブ16の寿命が著しく短縮される。また、熱
膨張を利用しないタイプ(例えば電磁弁)のバルブにお
いても、劣化が早いばかりでなく、上記ガス無状態から
急にガス有状態になった場合には、ガスの流mが所要の
値に制御されるまでの間ガスのフローサージが発生する
。一般的に、半導体やICの製造に用いられるガスは、
徐々に流量が多くされてゆくことが望ましく、フローサ
ージや流3のオーバシュートにより、半導体やICにダ
メージが与えられることになった。
置1においては、ガスの通路部にガスが無い状態で流f
lLJl定信@viが与えられると、比較回路12はバ
ルブ16に最大駆動電圧を印加するように動作する。こ
のため、バルブ16はフルオーブン状態となる。このよ
うな状態が継続されると、バルブヒータ15の温度1胃
によりバルブ16の寿命が著しく短縮される。また、熱
膨張を利用しないタイプ(例えば電磁弁)のバルブにお
いても、劣化が早いばかりでなく、上記ガス無状態から
急にガス有状態になった場合には、ガスの流mが所要の
値に制御されるまでの間ガスのフローサージが発生する
。一般的に、半導体やICの製造に用いられるガスは、
徐々に流量が多くされてゆくことが望ましく、フローサ
ージや流3のオーバシュートにより、半導体やICにダ
メージが与えられることになった。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、上記のような問題点を解決するために、流体
供給の有無を検出する検出手段と、この検出手段により
上記流体の供給が黒いことが検出されると流体流但制御
パルプを開成させるバルブ保護手段とを具備させて、ノ
ーマリ−クローズタイプの流体流量制御バルブを有する
流体流ffi lII III装置を構成したものであ
る。
供給の有無を検出する検出手段と、この検出手段により
上記流体の供給が黒いことが検出されると流体流但制御
パルプを開成させるバルブ保護手段とを具備させて、ノ
ーマリ−クローズタイプの流体流量制御バルブを有する
流体流ffi lII III装置を構成したものであ
る。
[作用]
上記構成の流体流り制御装置ににれば、流体の供給が無
いときにはバルブが閉成される(通常状態とされる)か
ら、これから弁が開くことによりフローサージや流mの
オーバーシュートをなくすることができる上、バルブの
寿命が短縮されたり、劣化が生じることがなくなる。
いときにはバルブが閉成される(通常状態とされる)か
ら、これから弁が開くことによりフローサージや流mの
オーバーシュートをなくすることができる上、バルブの
寿命が短縮されたり、劣化が生じることがなくなる。
[実施例]
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
同図において、第5図と同一の構成賢察には同一の番号
を付してその説明を省略する。100は、保護装置を示
す。保護装置1100は、実流量に対応する信号をセン
サ出り端子11へ出力し、また、これを後述のように処
理した信号を比較回路12へ出力する。また、保A!!
装置100は、信号線101を介してバルブ駆動信号を
取込み、信@l!102を介してバルブ16の保護のた
めにIt流を流1ように制御を行う。保I装置ioo
@具体化したyIA量流品制ra装!11Aの回路ブロ
ック図を、第2図に示す。
を付してその説明を省略する。100は、保護装置を示
す。保護装置1100は、実流量に対応する信号をセン
サ出り端子11へ出力し、また、これを後述のように処
理した信号を比較回路12へ出力する。また、保A!!
装置100は、信号線101を介してバルブ駆動信号を
取込み、信@l!102を介してバルブ16の保護のた
めにIt流を流1ように制御を行う。保I装置ioo
@具体化したyIA量流品制ra装!11Aの回路ブロ
ック図を、第2図に示す。
103は、実流量出力部を示し、この実流量出力部10
3は、抵抗発熱体6A、6B、ブリッジ回路7、増幅回
路10を含むものである。実8!量出力部103は実流
量信号■、をレベル選別口1104 、流体供給有無検
出回路105、センサ出力端子11へ出力する。レベル
選別回路104はその出力Vsoを、第3図に示した特
性及び、次の(1)式で与えられる計算式に基づいて出
力する。
3は、抵抗発熱体6A、6B、ブリッジ回路7、増幅回
路10を含むものである。実8!量出力部103は実流
量信号■、をレベル選別口1104 、流体供給有無検
出回路105、センサ出力端子11へ出力する。レベル
選別回路104はその出力Vsoを、第3図に示した特
性及び、次の(1)式で与えられる計算式に基づいて出
力する。
V =V (V >0.02V )so
s s 5HA
XV −0,02V (V ≦0.02V
) (1)So SMAX S
5HAXつまり、実流山信号V がその最大値
vSHAXの2%以下となると、出力V、。をそれ以下
(0,02VS )IAX以下)とせぬ回路である。こ
の2%という値は後述のように保護状態を解除とするた
めに必要な値である。また、流体供給有無検出回路10
5は、実流量信@V が、その最大値■s、A×の2誤
差やより的確な保護を行うための値である。バルブ駆動
部14を構成するバルブ駆動回路106の出力信号は、
レベル検知回路107に与えられている。レベル検知回
路107は、バルブ駆動回路106の出力がその最大値
となると、その出力をLレベルからHレベルへ遷移ざμ
る。流体供給有無検出回路105の出力13号とレベル
検知回路107の出力信号とは、ナンドグー1−108
に入力され、ナントゲート108の出力信号はタイマ回
路109へ与えられる。タイマ回路109は、ナントゲ
ート108の出力信号が1」レベルからLレベルへ遷移
すると、計時を開始し所定時間経過する(この値は回路
の応答性等を考慮して決定され、ここでは10秒程度と
する)と、端子109への出力vpのレベルをHレベル
からLレベルへ遷移さぼる。また、タイマ回路109は
、ナントゲート10Bの出力信号がLレベルからHレベ
ルへ遷移すると、端″′F109への信号v0のレベル
をLレベルからHレベルへ遷移させる。
s s 5HA
XV −0,02V (V ≦0.02V
) (1)So SMAX S
5HAXつまり、実流山信号V がその最大値
vSHAXの2%以下となると、出力V、。をそれ以下
(0,02VS )IAX以下)とせぬ回路である。こ
の2%という値は後述のように保護状態を解除とするた
めに必要な値である。また、流体供給有無検出回路10
5は、実流量信@V が、その最大値■s、A×の2誤
差やより的確な保護を行うための値である。バルブ駆動
部14を構成するバルブ駆動回路106の出力信号は、
レベル検知回路107に与えられている。レベル検知回
路107は、バルブ駆動回路106の出力がその最大値
となると、その出力をLレベルからHレベルへ遷移ざμ
る。流体供給有無検出回路105の出力13号とレベル
検知回路107の出力信号とは、ナンドグー1−108
に入力され、ナントゲート108の出力信号はタイマ回
路109へ与えられる。タイマ回路109は、ナントゲ
ート108の出力信号が1」レベルからLレベルへ遷移
すると、計時を開始し所定時間経過する(この値は回路
の応答性等を考慮して決定され、ここでは10秒程度と
する)と、端子109への出力vpのレベルをHレベル
からLレベルへ遷移さぼる。また、タイマ回路109は
、ナントゲート10Bの出力信号がLレベルからHレベ
ルへ遷移すると、端″′F109への信号v0のレベル
をLレベルからHレベルへ遷移させる。
バルブ駆動回路106の出力は、ベース抵抗110を介
してパルプ駆動部14を構成するトランジスタ111の
ベースへ与えられるとともに保護用のダイオード112
及び信@1i1102を介してタイマ回路109の端子
109Aへ与えられ得るようになっている。
してパルプ駆動部14を構成するトランジスタ111の
ベースへ与えられるとともに保護用のダイオード112
及び信@1i1102を介してタイマ回路109の端子
109Aへ与えられ得るようになっている。
トランジスタ111のコレクタにはバルブヒータ15が
接続されていて、このバルブヒータ15には電圧■が与
えられるように構成されている。またトランジスタ11
1のエミッタは接地されている。
接続されていて、このバルブヒータ15には電圧■が与
えられるように構成されている。またトランジスタ11
1のエミッタは接地されている。
以上のように構成された質ml母制i!Il装置f1A
は、次のように動作する。
は、次のように動作する。
ガスの供給が無いときに、流ffi設定信号Viが設定
されるとくただし、■・>0.02V )、+
s HAX 実流量出力部103の出力は、V、−Oである。このた
め、レベル選別回路104はその出力をvso””0.
02V とする。従って、比較回路]2から H
AX は、バルブ駆動回路106へ最大駆動電圧を出力すべく
出力信号が出力され、バルブ駆動回路10Gからは最大
駆動電圧が出力される。これによって、流体供給有無検
出回路105の出力はHレベルとなり、かつ、レベル検
知回路107の出力もHレベルとなる。そこで、ナント
ゲート108からはLレベルの信号が出力され、タイマ
回路109は計時を開始する。タイマ回路109が所定
時間の経時を終了すると、端子109^の信号■、をH
レベルからししベルへ遷移させる。このときトランジス
タ111にはベース抵抗110を介して最大駆動電圧が
印加されており、トランジスタ111はオン状態で、バ
ルブヒータ15に最大電流が流れている状態にある。
されるとくただし、■・>0.02V )、+
s HAX 実流量出力部103の出力は、V、−Oである。このた
め、レベル選別回路104はその出力をvso””0.
02V とする。従って、比較回路]2から H
AX は、バルブ駆動回路106へ最大駆動電圧を出力すべく
出力信号が出力され、バルブ駆動回路10Gからは最大
駆動電圧が出力される。これによって、流体供給有無検
出回路105の出力はHレベルとなり、かつ、レベル検
知回路107の出力もHレベルとなる。そこで、ナント
ゲート108からはLレベルの信号が出力され、タイマ
回路109は計時を開始する。タイマ回路109が所定
時間の経時を終了すると、端子109^の信号■、をH
レベルからししベルへ遷移させる。このときトランジス
タ111にはベース抵抗110を介して最大駆動電圧が
印加されており、トランジスタ111はオン状態で、バ
ルブヒータ15に最大電流が流れている状態にある。
しかし、■。がLレベルとなると、トランジスタ111
へ流入していた電流は、ダイオード112、信号線10
2を介してタイマ回路109へ流れ、トランジスタ11
1がオフ状態となる。これにより、バルブヒータ15の
発熱が止んで、弁体18はオリフィスを閉じた状態とす
る。
へ流入していた電流は、ダイオード112、信号線10
2を介してタイマ回路109へ流れ、トランジスタ11
1がオフ状態となる。これにより、バルブヒータ15の
発熱が止んで、弁体18はオリフィスを閉じた状態とす
る。
この状態で、ガスが急に到来しても、弁体18がオリフ
ィスを閉じているので、フローサージが生じないのであ
る。
ィスを閉じているので、フローサージが生じないのであ
る。
上記のような保護状態を解除する動作を説明する。外部
からの流1設定信@viを下げてゼロとすると、比較回
路12には、Vi (−0)より大きい出力信号v、
oが与えられているから、その出力は、ゼロをとるよう
になり、バルブ駆動回路106の出力もゼロとなる。こ
れにより、レベル検知回路107の出力がHレベルから
Lレベルへ遷移し、ナントゲート10Bの出力がLレベ
ルからF(レベルへ遷移する。この結果タイマ回路10
9は端子109Aの信号V、をLレベルからHレベルへ
遷移させ、これによって保護装置100による保護状態
が解除となる。
からの流1設定信@viを下げてゼロとすると、比較回
路12には、Vi (−0)より大きい出力信号v、
oが与えられているから、その出力は、ゼロをとるよう
になり、バルブ駆動回路106の出力もゼロとなる。こ
れにより、レベル検知回路107の出力がHレベルから
Lレベルへ遷移し、ナントゲート10Bの出力がLレベ
ルからF(レベルへ遷移する。この結果タイマ回路10
9は端子109Aの信号V、をLレベルからHレベルへ
遷移させ、これによって保護装置100による保護状態
が解除となる。
このような本実施例によれば、ガスが無い状態で外部か
らの流ff1FJ定信号v1が与えられても、バルブヒ
ータ15が継続して最大電流による加熱することがなく
なり、バルブヒータ15の寿命が短くなったり、劣化し
たり、焼切れる等の不具合がなくなる。ガス無から突然
ガス有となっても、バルブ16が開かないのでフローサ
ージがなく、しかも8!量設定信号Viを一度ゼロとし
て保護状態を解除できるので、ガス流mを徐々に増加的
に制御でき、ICや半導体用ガスの流m制御に最適であ
る。
らの流ff1FJ定信号v1が与えられても、バルブヒ
ータ15が継続して最大電流による加熱することがなく
なり、バルブヒータ15の寿命が短くなったり、劣化し
たり、焼切れる等の不具合がなくなる。ガス無から突然
ガス有となっても、バルブ16が開かないのでフローサ
ージがなく、しかも8!量設定信号Viを一度ゼロとし
て保護状態を解除できるので、ガス流mを徐々に増加的
に制御でき、ICや半導体用ガスの流m制御に最適であ
る。
第4図に、本発明の伯の実施例を示す。この質量流量制
御!a置1Bでは、センサ管5よりバルブ16側のガス
の通路20に、最大流量時の2%よりャヤ大のガス決勝
を検出するため、ガスが入る小室21を形成したもので
ある。これによると、ガス供給熱の状態では例えば通路
20が1気圧にあり、ガス供給有となって1気圧以上に
なると、最大流m簡の2%よりやや大のガス流量に対応
する母のガスの移動が小室21へ生じる(バルブ16は
閉じられている)。このため流体供給イj無検出回路1
05には、0.02V 以上のV、が与えら H
AX れるので、その出力がHレベルからLレベルへ遷移する
。これによって、タイマ回路109へHレベルの信号が
与えられ、保3状態を解除することができる。尚、流体
供給有無検出回路に、時定数1〜10秒の微分回路を設
(ブ、V、の微少な立上りを検知増幅すれば、2%以下
のセンサー出力で流体供給の有無を判断させることも可
能である。
御!a置1Bでは、センサ管5よりバルブ16側のガス
の通路20に、最大流量時の2%よりャヤ大のガス決勝
を検出するため、ガスが入る小室21を形成したもので
ある。これによると、ガス供給熱の状態では例えば通路
20が1気圧にあり、ガス供給有となって1気圧以上に
なると、最大流m簡の2%よりやや大のガス流量に対応
する母のガスの移動が小室21へ生じる(バルブ16は
閉じられている)。このため流体供給イj無検出回路1
05には、0.02V 以上のV、が与えら H
AX れるので、その出力がHレベルからLレベルへ遷移する
。これによって、タイマ回路109へHレベルの信号が
与えられ、保3状態を解除することができる。尚、流体
供給有無検出回路に、時定数1〜10秒の微分回路を設
(ブ、V、の微少な立上りを検知増幅すれば、2%以下
のセンサー出力で流体供給の有無を判断させることも可
能である。
また、同様に、流体供給有無検出回路105の出力を使
用して、保護状態を解除する手法としては、ガスの圧力
を検出するセンサを入口部2付近および出口部3付近に
設け、この出力差を流体供給有無検出回路105へ導く
ようにすることも考えられる。この場合、実流量出力部
103の出力信号■。
用して、保護状態を解除する手法としては、ガスの圧力
を検出するセンサを入口部2付近および出口部3付近に
設け、この出力差を流体供給有無検出回路105へ導く
ようにすることも考えられる。この場合、実流量出力部
103の出力信号■。
を、流体供給有無検出回路105へ導く必要はない。
尚、以上の実施例では、ガスを対象としたがその他の流
体でも良く、また、バルブとしては熱膨張を用いるもの
でなくとも、例えば、電磁弁でも良い。この場合でも、
弁の劣化や、フローサージ等の問題点を除去できる。
体でも良く、また、バルブとしては熱膨張を用いるもの
でなくとも、例えば、電磁弁でも良い。この場合でも、
弁の劣化や、フローサージ等の問題点を除去できる。
[発明の効果コ
以上説明したように、本発明によれば、バルブの劣化を
防止することが可能となり、流体制御時のフローサージ
、オーバシュートを防止できる。
防止することが可能となり、流体制御時のフローサージ
、オーバシュートを防止できる。
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図の要部ブロック図、第3図は第2図のレベル選別回路
の特性を示す図、第4図は本発明の伯の実施例のブロッ
ク図、第5図は従来の貿8流思料m+装置のブロック図
である。 1A、1B・・・11m流量制tlIl装冒15・・・
バルブヒータ 16・・・バルブ 17・・・金属ピン 18・・・弁体 19・・・バネ 20・・・通路 21・・・小学 103・・・実流量出力部 ioa・・・レベル選別回路 105・・・流体供給有無検出回路 106・・・バルブ駆動回路 107・・・レベル検知回路 111・・・トランジスタ 代理人 弁理士 本 1) 崇 第1図 +■ 第2図 ”10 too・I。 ■S 第3図 手f−補正S 昭和61年タ月θ日 特許庁民営 宇 買 道 部 E 1、事件の表示 昭和60年特許@第095373月 2、発明の名称 ”j孫砿N?tη抽に暑”3、補正を
する2 事件との関係 特許出願人 住所 東京都杉並区西荻北3丁目32番10g名称 日
本クイラン株式会社 代表取締役 青 山 尚 乾 4、代理人 住所 東京都港区赤収1丁回1番17B細川ビル 氏名 (7411り弁理士 本 1) 崇5、補正命令
の日付 自発 明 am 1、発明の名称 流体流it制卸装! 2、特許請求の範囲 (1)ノーマリ−クローズタイプの流体流量制卸パルプ
を有する流体流量制!1装置において、前記流体の供給
の有無を検出する検出手段と、この検出手段により前記
流体の供給が無いことが検出されると前記流体流量制御
バルブを閉成ざVるバルブ保護手段とを具I″fること
を特徴とする流体流量制御!IIl装置。 (2)検出手段は、流体流量センサと、この流体流量セ
ンサの出力が所定値以下となると流体供給無と判定する
流体供給有無判定回路とを具備することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の流体流思料m装置。 以下となると、流体供給無しと判断する流体供給有無判
定回路なMliすることを特徴とする特許謂求の範囲第
1項記載の流体流量制御装置。 (4)パルプ保護手段は、流体の流量が所定値以下のと
きに前記所定値を、外部からの設定流量データと実流量
データとを比較する比較回路へ出力するレベル選別回路
を具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項また
は第2項記載の流体流量制御装置。 (5)バルブ保護手段は、流体流量センサが流体の所定
量以上の流入を検出可能とするために、流体流路に設け
られた小室を含Iνでなることを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第2項記載の流体流量制御1装置。 (6)バルブ保護手段は、流体流量1仰バルブを駆動す
る駆動回路の出力の最大を検知するレベル検知回路と、
このレベル検知回路の出力と検出手段の出力とに基づい
て前記流体流量制御バルブの駆動信号を遮断する駆動信
号遮断部とを具備することを特徴とする特!′+請求の
範囲第1項乃至第5項いずれかに記載の流体流量制御装
置。 3、発明の詳細な説明 [産業上の利用分野] この発明は、例えば、半導体、IC等の製造プロセスで
用いられる各種ガス等の流体の流量制卸装置に関し、更
に詳しくは、ノーマリ−クローズタイプの流体流i制御
バルブを有する流体流思料m装置に関するものである。 [従来の技術] 斯種の質量流量制御装!!1を第5図に示す。同図にお
いて、2はガスの入口部を示し、3はガスの出口部を示
す。ガスは入口部2を入ると、バイパス部4とセンサ管
5とに分岐される。センサ管5には、ガス流の上流と下
流とに一対の抵抗発熱体くサーマルセンサ)6A、6B
が轡回されている。抵抗発熱体6A、6Bはブリッジ回
路7に接続されている。ガスがセンサ管5を通過すると
きに、抵抗発熱体6A、6Bが熱を奪われる。このとぎ
に、抵抗発熱体6Aが抵抗発熱体6Bより濃度低下し、
これによって生じる温度差をブリッジ回路7において抵
抗値変化として取出す。この抵抗値変化に基づき、セン
サ管5を流れるガスの質!流量を検出できる。一方、セ
ンサ管5とバイパス部4どの分流比率が所定となってい
るため、セン1ノ゛管5を流れるガスのwit流量が、
流れるガス全体の質l流量を反映した値となる。8は、
バイパス部4に介装された金属メツシュを示し、この金
属メツシュ8によりバイパス部4とセンサ管5とを流れ
るガスの分流比を所定に保っている。また、9はセンサ
部のケーシングであり、このケーシング9により、抵抗
発熱体6A、6Bが外部から影響されぬようにし、精度
の良い質量流」の検出を可能にしている。 ブリッジ回路7の出力信号は、増幅回路1oにより増幅
され、センサ出力端子11から外部の図示せぬ表示器等
へ出力されると共に、比較回路12へ出力される。比較
回路12には、外部から所望の質量流量に対応して設定
信号が設定信号入力端子13を介して与えられる。比較
回路12は、増幅回路10の出力信号と流量設定信号と
を比較して、その差に応じた信号を出力する。この信号
は、パルプ駆動部14に与えられ、パルプ駆動a!S1
4は上記信号に基づきバルブヒーター5へ駆動電圧を与
える。16はバルブを示す。このバルブ16はノーマリ
−クローズタイプ(′It1圧無印加時に弁が閉状態で
あり、電圧印加時に弁が閉状態となる)である。金属ピ
ン17内にパルプヒーター5が入れられており、バルブ
ヒーター5の発熱による金属ピン17の膨張によって、
金属ピン17の先端に固着された弁体18がバネ19に
抗して下降し、ガスの通路部に対するオリフィスを調整
する。 このような質量流量制御1装置lt1においては、比較
回路12が増幅回路10より出力される実流量信号V
と2!!設定信号Viとを比較し、常にVi−V、とな
るように信号を出力することにより、適切な質l流量制
御がなされる。 [発明が解決しようとするI!!題点]しかしながら、
上記の如き質!流量制wJ装貢1においでは、ガスの通
路部にガスが無い状態で流i設定信@viが与えられる
と、比較回路12はバルブ16に最大駆動電圧を印加す
るように動作する。このため、バルブ16はフルオーブ
ン状態となる。このような状態が継続されると、バルブ
ヒータ15の温度上昇によりバルブ16の寿命力著しく
短縮される。また、熱膨張を利用しないタイプ(例えば
N磁弁)のバルブにおいても、劣仕が早いばかりでなく
、上記ガス無状態から急にカス有状態になった場合には
、ガスの流量が所要の値に制卸されるまでの間ガスのフ
ローサージが発生する。一般的に、半導体やICの製造
に用いられるガスは、徐々に流量が多くされてゆくこと
が望ましく、フローサージや流量のオーバシュートによ
り、半導体やICにダメージが与えられることになった
。 [問題点を解決するための手段] 本発明は、上記のような問題点を解決するために、流体
供給の有無を検出する検出手段と、この検出手段により
上記流体の供給が無いことが検出されると流体5!愚制
御バルブを閉成させるバルブ保護手段と1!i−具備さ
せて、ノーマリ−クローズタイプの流体流量制御バルブ
を有する流体流量制卸装置を構成したものである。 ′ L作用コ 上記構成の流体流旦制御vi装置によれば、流体の供給
が無いときにはバルブが閉成される(通常状、 態と
される)から、これから弁が開くことによりフローサー
ジや流量のオーバーシュートをなくすることができる上
、バルブの寿命が短縮されたり、劣化が生じることがな
くなる。 I実施例] 第1図は本発明の一実施例のブロック図である。 同図において、第5図と同一の構成要素には同一の番号
を付してその説明を省略する。100は、保護装置を示
す。保r!!装置100は、実流量に対応する信号をセ
ンサ出力端子11へ出力し、また、これを後述のように
処理した信号を比較回路12へ出力する。また、保ii
!装置1100は、信号線101を介してバルブ駆動信
号を取込み、信号線102を介してバルブ16の保護の
ためにN流を流すように制御を行う。保r!I装置10
0を具体化したjf量流量思料i!装置1Aの回路ブロ
ック図を、12図に示す。 103は、実流量出力部を示し、この実流量出力部10
3は、抵抗発熱体6A、6B、ブソッジ回路7゜増@回
路1oを含むものである。実流量出力部103は実流i
l信号V、をレベル選別回路104、流体供給有無検出
回路105、センサ出力端子11へ出力する。レベル選
別回路104はその出力V、。を、第3図に示した特性
及び、次の(1)式で与えられる計算式に基づいて出力
する。 V −V (V 1.02xV )So
S S’ SMAXV −0
,02xV3MAX (V、 ≦0.02xV )
(1)so s MA
Xつまり、実流量信8v がその最大値V のS
S MAX 2%以下となると、出力、。をそれ以下(0,02XV
5工、以下)とせぬ回路でおる。この2%というWlは
後述のように保護状態を解除とするために必要な値であ
る。また、流体供給有無検出回路105は、実流」信@
V が、そノffl大U!iVs MAXの2%より小
さくなると、その出力をLレベルがらHレベルへ遷移さ
せる。この2%という値は、検出誤差やより的確な保護
を行うための値である。 バルブ駆動部14を構成するバルブ駆動回路106の出
力信号は、レベル検知回路107に与えられている。レ
ベル検知回路107は、バルブ駆動回路10Bの出力が
その最大値となると、その出力をLレベルからHレベル
へ遷移させる。流体供給有無検出回路105の出カイ:
号とレベル検知回路107の出力M号とは、ナントゲー
ト108に入力され、ナントゲート108の出力信号は
タイマ回路109へ与えられる。タイマ回路109は、
ナントゲート108の出力信号がHレベルからLレベル
へ瀘移すると、計時を開始し所定時間杼道する(この値
は回路の応答性等′IE:考慮して決定され、ここでは
10秒程度とする)と、端子109Aの出力vpのレベ
ルをHレベルからLレベルへ遷移させる。また、タイマ
回路1(>9は、ナントゲート10Bの出力イ二弓がL
レベルからHレベルへ遷移すると、端子109Aの信号
110t−介してバルブ駆動!514を構成するトラン
ジスタ111のベースへ与えられるとともに保護用のダ
イオード112及び信号線102を介してタイマ回路1
09の端子109Aへ与えられ得るようになっている。 トランジスタ111のコレクタにはバルブヒータ15が
接続されていて、このバルブヒータ15には電圧Vが与
えられるように構成されている。またトランジスタ11
1のエミッタは接地されている。 以上のように構成された質量流足利wJ装置1Aは、次
のように動作する。 ガスの供給が無いときに、流m設定信号iが設定される
とくただし、■・>0.02XV )、I
S MAX 実流量出力部103の出力は、V、−Oである。このた
め、レベル選別回路104はその出力を■、。−〇、0
2XV とする。従って、比較回路12か MA
X らは、バルブ駆動回路106へ最大駆動電圧を出力すべ
く出力信号が出力され、バルブ駆動回路106からは最
大駆動電圧が出力される。これによって、流体供給有無
検出回路105の出力はトルベルとなり、かつ、レベル
検知回路107の出力もトルベルとなる。そこで、ナン
トゲート10Bからはトルベルの信号が出力され、タイ
マ回路109は計時を開始する。タイマ回路109が所
定時間の引時を終了すると、端子109Aの信号VDを
トルベルから1−レベル八遷移させる。このときトラン
ジスタ111′にはベース抵抗110を介して最大駆動
電圧が印加されており、トランジスタ111はオン状態
で、バルブヒータ15に最大ii流が流れている状態に
ある。 しかし、vpがトルベルとなると、トランジスタ111
へ流入していた電流は、ダイオード112、信号線10
2を介してタイマ回路109へ流れ、トランジスタ11
1がオフ状態となる。これにより、バルブヒータ15の
発熱が止んで、弁体18はオリフィスを閉じた状態とす
る。 この状態で、ガスが急に到来しても、弁体18がオリフ
ィスを閉じているので、フローサージが生じないのであ
る。 上記のような保護状態を解除する動作を説明する。外部
からの流量設定信号v1を下げてゼロとすると、比較回
路12には、Vi (−0)より大きい出力信号v、
。が与えられているから、その出力は、ゼロをとるよう
になり、バルブ駆動回路1()6の出力もゼロとなる。 これにより、レベル検知回路107の出力がトルベルか
らトルベルへ遷移し、ナントゲート108の出力がトル
ベルからトルベルへ遷移する。この結果タイマ回路10
9は端子109Aの信号VDをトルベルからトルベルへ
遷移ざゼ、これによって保r!!装@100による保護
状態が解除となる。 このような本実施例によれば、ガスが無い状態で外部か
らの流II定信@viが与えられても、バルブヒータ1
5が継続して最大′R流による加熱することがなくなり
、バルブヒータ15の寿命が短くなったり、劣化したり
、焼切れる等の不具合がなくなる。ガス無から突然ガス
有となっても、バルブ16が開かないのでフローサージ
がなく、しかも流l設定信号Viを−・度ゼロとして保
護状態を解除できるので、ガス流量を徐々に増加的に制
御でき、ICや半導体用ガスの流僅制御に最適である。 第4図に、本発明の他の実施例を示す。この貿1流量制
W装[1Bでは、センサ′g5よりパルプ16側のガス
の通路20に、最大5!量時の2%よりやや大のガス流
量を検出するため、ガスが入る小室21を形成したもの
である。これによると、ガス供給無の状態では例えば通
路20が1気圧にあり、ガス供給有となって1気圧以上
になると、最大流fiFt1の2%よりやや大のガス流
量に対応する量のガスの移動が小室21へ生じる(パル
プ16は閉じられている)。このため流体供給有無検出
回路105 k:ハ、0.02XV 以上のV、
が与え MAX られるので、その出力がトルベルからトルベルへ遷移す
る。これによって、タイマ回路109へトルベルの信号
が与えられ、保護状態を解除することができる。尚、流
体供給有無検出回路に、時定数1〜10秒の微分回路を
設け、V、の微少な立上りを検知増幅すれば、2%以下
のセンサ出力で流体供給の有無を判断させることも可能
である。 また、同様に、流体供給有無検出回路105の出力を使
用して、保護状態を解除する手法としては、ガスの圧力
を検出するセンナを入口部2付近および出口部3付近に
設け、この出力差を流体供給有る。この場合、′!J流
量出力部103の出力信号■。 を、流体供給有無検出回路105へ導く必要はない。 尚、以上の実施例では、ガスを対象としたがその他の流
体でも良く、また、バルブとしては熱膨張を用いるもの
でなくとも、例えば、電磁弁でも良い。この場合でも、
弁の劣化や、フローサージ等の問題点を除去できる。 [発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、バルブの劣化を
防止することが可能となり、流体制御時のフロー丈−ジ
、オーバシュートを防止できる。 4、図面の簡単な説明 第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図の要部ブロック図、第3図は第2図のレベル選別回路
の特性を示す図、第4図は本発明の他の実施例のブロッ
ク図、第5図は従来の質量流a制all装置のブロック
図である。 1A、1B・・・質ffl流量流量制置装置・・・バル
ブヒータ 16・・・バルブ 17・・・金属ピン 18・・・弁体 19・・・バネ 20・・・通路 21・・・小室 IC)3・・・実流量出力部 ioa・・・レベル選別回路 105・・・流体供給有無検出回路 10B・・・バルブ駆動回路 107・・・レベル検知回路 111・・・トランジスタ
図の要部ブロック図、第3図は第2図のレベル選別回路
の特性を示す図、第4図は本発明の伯の実施例のブロッ
ク図、第5図は従来の貿8流思料m+装置のブロック図
である。 1A、1B・・・11m流量制tlIl装冒15・・・
バルブヒータ 16・・・バルブ 17・・・金属ピン 18・・・弁体 19・・・バネ 20・・・通路 21・・・小学 103・・・実流量出力部 ioa・・・レベル選別回路 105・・・流体供給有無検出回路 106・・・バルブ駆動回路 107・・・レベル検知回路 111・・・トランジスタ 代理人 弁理士 本 1) 崇 第1図 +■ 第2図 ”10 too・I。 ■S 第3図 手f−補正S 昭和61年タ月θ日 特許庁民営 宇 買 道 部 E 1、事件の表示 昭和60年特許@第095373月 2、発明の名称 ”j孫砿N?tη抽に暑”3、補正を
する2 事件との関係 特許出願人 住所 東京都杉並区西荻北3丁目32番10g名称 日
本クイラン株式会社 代表取締役 青 山 尚 乾 4、代理人 住所 東京都港区赤収1丁回1番17B細川ビル 氏名 (7411り弁理士 本 1) 崇5、補正命令
の日付 自発 明 am 1、発明の名称 流体流it制卸装! 2、特許請求の範囲 (1)ノーマリ−クローズタイプの流体流量制卸パルプ
を有する流体流量制!1装置において、前記流体の供給
の有無を検出する検出手段と、この検出手段により前記
流体の供給が無いことが検出されると前記流体流量制御
バルブを閉成ざVるバルブ保護手段とを具I″fること
を特徴とする流体流量制御!IIl装置。 (2)検出手段は、流体流量センサと、この流体流量セ
ンサの出力が所定値以下となると流体供給無と判定する
流体供給有無判定回路とを具備することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の流体流思料m装置。 以下となると、流体供給無しと判断する流体供給有無判
定回路なMliすることを特徴とする特許謂求の範囲第
1項記載の流体流量制御装置。 (4)パルプ保護手段は、流体の流量が所定値以下のと
きに前記所定値を、外部からの設定流量データと実流量
データとを比較する比較回路へ出力するレベル選別回路
を具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項また
は第2項記載の流体流量制御装置。 (5)バルブ保護手段は、流体流量センサが流体の所定
量以上の流入を検出可能とするために、流体流路に設け
られた小室を含Iνでなることを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第2項記載の流体流量制御1装置。 (6)バルブ保護手段は、流体流量1仰バルブを駆動す
る駆動回路の出力の最大を検知するレベル検知回路と、
このレベル検知回路の出力と検出手段の出力とに基づい
て前記流体流量制御バルブの駆動信号を遮断する駆動信
号遮断部とを具備することを特徴とする特!′+請求の
範囲第1項乃至第5項いずれかに記載の流体流量制御装
置。 3、発明の詳細な説明 [産業上の利用分野] この発明は、例えば、半導体、IC等の製造プロセスで
用いられる各種ガス等の流体の流量制卸装置に関し、更
に詳しくは、ノーマリ−クローズタイプの流体流i制御
バルブを有する流体流思料m装置に関するものである。 [従来の技術] 斯種の質量流量制御装!!1を第5図に示す。同図にお
いて、2はガスの入口部を示し、3はガスの出口部を示
す。ガスは入口部2を入ると、バイパス部4とセンサ管
5とに分岐される。センサ管5には、ガス流の上流と下
流とに一対の抵抗発熱体くサーマルセンサ)6A、6B
が轡回されている。抵抗発熱体6A、6Bはブリッジ回
路7に接続されている。ガスがセンサ管5を通過すると
きに、抵抗発熱体6A、6Bが熱を奪われる。このとぎ
に、抵抗発熱体6Aが抵抗発熱体6Bより濃度低下し、
これによって生じる温度差をブリッジ回路7において抵
抗値変化として取出す。この抵抗値変化に基づき、セン
サ管5を流れるガスの質!流量を検出できる。一方、セ
ンサ管5とバイパス部4どの分流比率が所定となってい
るため、セン1ノ゛管5を流れるガスのwit流量が、
流れるガス全体の質l流量を反映した値となる。8は、
バイパス部4に介装された金属メツシュを示し、この金
属メツシュ8によりバイパス部4とセンサ管5とを流れ
るガスの分流比を所定に保っている。また、9はセンサ
部のケーシングであり、このケーシング9により、抵抗
発熱体6A、6Bが外部から影響されぬようにし、精度
の良い質量流」の検出を可能にしている。 ブリッジ回路7の出力信号は、増幅回路1oにより増幅
され、センサ出力端子11から外部の図示せぬ表示器等
へ出力されると共に、比較回路12へ出力される。比較
回路12には、外部から所望の質量流量に対応して設定
信号が設定信号入力端子13を介して与えられる。比較
回路12は、増幅回路10の出力信号と流量設定信号と
を比較して、その差に応じた信号を出力する。この信号
は、パルプ駆動部14に与えられ、パルプ駆動a!S1
4は上記信号に基づきバルブヒーター5へ駆動電圧を与
える。16はバルブを示す。このバルブ16はノーマリ
−クローズタイプ(′It1圧無印加時に弁が閉状態で
あり、電圧印加時に弁が閉状態となる)である。金属ピ
ン17内にパルプヒーター5が入れられており、バルブ
ヒーター5の発熱による金属ピン17の膨張によって、
金属ピン17の先端に固着された弁体18がバネ19に
抗して下降し、ガスの通路部に対するオリフィスを調整
する。 このような質量流量制御1装置lt1においては、比較
回路12が増幅回路10より出力される実流量信号V
と2!!設定信号Viとを比較し、常にVi−V、とな
るように信号を出力することにより、適切な質l流量制
御がなされる。 [発明が解決しようとするI!!題点]しかしながら、
上記の如き質!流量制wJ装貢1においでは、ガスの通
路部にガスが無い状態で流i設定信@viが与えられる
と、比較回路12はバルブ16に最大駆動電圧を印加す
るように動作する。このため、バルブ16はフルオーブ
ン状態となる。このような状態が継続されると、バルブ
ヒータ15の温度上昇によりバルブ16の寿命力著しく
短縮される。また、熱膨張を利用しないタイプ(例えば
N磁弁)のバルブにおいても、劣仕が早いばかりでなく
、上記ガス無状態から急にカス有状態になった場合には
、ガスの流量が所要の値に制卸されるまでの間ガスのフ
ローサージが発生する。一般的に、半導体やICの製造
に用いられるガスは、徐々に流量が多くされてゆくこと
が望ましく、フローサージや流量のオーバシュートによ
り、半導体やICにダメージが与えられることになった
。 [問題点を解決するための手段] 本発明は、上記のような問題点を解決するために、流体
供給の有無を検出する検出手段と、この検出手段により
上記流体の供給が無いことが検出されると流体5!愚制
御バルブを閉成させるバルブ保護手段と1!i−具備さ
せて、ノーマリ−クローズタイプの流体流量制御バルブ
を有する流体流量制卸装置を構成したものである。 ′ L作用コ 上記構成の流体流旦制御vi装置によれば、流体の供給
が無いときにはバルブが閉成される(通常状、 態と
される)から、これから弁が開くことによりフローサー
ジや流量のオーバーシュートをなくすることができる上
、バルブの寿命が短縮されたり、劣化が生じることがな
くなる。 I実施例] 第1図は本発明の一実施例のブロック図である。 同図において、第5図と同一の構成要素には同一の番号
を付してその説明を省略する。100は、保護装置を示
す。保r!!装置100は、実流量に対応する信号をセ
ンサ出力端子11へ出力し、また、これを後述のように
処理した信号を比較回路12へ出力する。また、保ii
!装置1100は、信号線101を介してバルブ駆動信
号を取込み、信号線102を介してバルブ16の保護の
ためにN流を流すように制御を行う。保r!I装置10
0を具体化したjf量流量思料i!装置1Aの回路ブロ
ック図を、12図に示す。 103は、実流量出力部を示し、この実流量出力部10
3は、抵抗発熱体6A、6B、ブソッジ回路7゜増@回
路1oを含むものである。実流量出力部103は実流i
l信号V、をレベル選別回路104、流体供給有無検出
回路105、センサ出力端子11へ出力する。レベル選
別回路104はその出力V、。を、第3図に示した特性
及び、次の(1)式で与えられる計算式に基づいて出力
する。 V −V (V 1.02xV )So
S S’ SMAXV −0
,02xV3MAX (V、 ≦0.02xV )
(1)so s MA
Xつまり、実流量信8v がその最大値V のS
S MAX 2%以下となると、出力、。をそれ以下(0,02XV
5工、以下)とせぬ回路でおる。この2%というWlは
後述のように保護状態を解除とするために必要な値であ
る。また、流体供給有無検出回路105は、実流」信@
V が、そノffl大U!iVs MAXの2%より小
さくなると、その出力をLレベルがらHレベルへ遷移さ
せる。この2%という値は、検出誤差やより的確な保護
を行うための値である。 バルブ駆動部14を構成するバルブ駆動回路106の出
力信号は、レベル検知回路107に与えられている。レ
ベル検知回路107は、バルブ駆動回路10Bの出力が
その最大値となると、その出力をLレベルからHレベル
へ遷移させる。流体供給有無検出回路105の出カイ:
号とレベル検知回路107の出力M号とは、ナントゲー
ト108に入力され、ナントゲート108の出力信号は
タイマ回路109へ与えられる。タイマ回路109は、
ナントゲート108の出力信号がHレベルからLレベル
へ瀘移すると、計時を開始し所定時間杼道する(この値
は回路の応答性等′IE:考慮して決定され、ここでは
10秒程度とする)と、端子109Aの出力vpのレベ
ルをHレベルからLレベルへ遷移させる。また、タイマ
回路1(>9は、ナントゲート10Bの出力イ二弓がL
レベルからHレベルへ遷移すると、端子109Aの信号
110t−介してバルブ駆動!514を構成するトラン
ジスタ111のベースへ与えられるとともに保護用のダ
イオード112及び信号線102を介してタイマ回路1
09の端子109Aへ与えられ得るようになっている。 トランジスタ111のコレクタにはバルブヒータ15が
接続されていて、このバルブヒータ15には電圧Vが与
えられるように構成されている。またトランジスタ11
1のエミッタは接地されている。 以上のように構成された質量流足利wJ装置1Aは、次
のように動作する。 ガスの供給が無いときに、流m設定信号iが設定される
とくただし、■・>0.02XV )、I
S MAX 実流量出力部103の出力は、V、−Oである。このた
め、レベル選別回路104はその出力を■、。−〇、0
2XV とする。従って、比較回路12か MA
X らは、バルブ駆動回路106へ最大駆動電圧を出力すべ
く出力信号が出力され、バルブ駆動回路106からは最
大駆動電圧が出力される。これによって、流体供給有無
検出回路105の出力はトルベルとなり、かつ、レベル
検知回路107の出力もトルベルとなる。そこで、ナン
トゲート10Bからはトルベルの信号が出力され、タイ
マ回路109は計時を開始する。タイマ回路109が所
定時間の引時を終了すると、端子109Aの信号VDを
トルベルから1−レベル八遷移させる。このときトラン
ジスタ111′にはベース抵抗110を介して最大駆動
電圧が印加されており、トランジスタ111はオン状態
で、バルブヒータ15に最大ii流が流れている状態に
ある。 しかし、vpがトルベルとなると、トランジスタ111
へ流入していた電流は、ダイオード112、信号線10
2を介してタイマ回路109へ流れ、トランジスタ11
1がオフ状態となる。これにより、バルブヒータ15の
発熱が止んで、弁体18はオリフィスを閉じた状態とす
る。 この状態で、ガスが急に到来しても、弁体18がオリフ
ィスを閉じているので、フローサージが生じないのであ
る。 上記のような保護状態を解除する動作を説明する。外部
からの流量設定信号v1を下げてゼロとすると、比較回
路12には、Vi (−0)より大きい出力信号v、
。が与えられているから、その出力は、ゼロをとるよう
になり、バルブ駆動回路1()6の出力もゼロとなる。 これにより、レベル検知回路107の出力がトルベルか
らトルベルへ遷移し、ナントゲート108の出力がトル
ベルからトルベルへ遷移する。この結果タイマ回路10
9は端子109Aの信号VDをトルベルからトルベルへ
遷移ざゼ、これによって保r!!装@100による保護
状態が解除となる。 このような本実施例によれば、ガスが無い状態で外部か
らの流II定信@viが与えられても、バルブヒータ1
5が継続して最大′R流による加熱することがなくなり
、バルブヒータ15の寿命が短くなったり、劣化したり
、焼切れる等の不具合がなくなる。ガス無から突然ガス
有となっても、バルブ16が開かないのでフローサージ
がなく、しかも流l設定信号Viを−・度ゼロとして保
護状態を解除できるので、ガス流量を徐々に増加的に制
御でき、ICや半導体用ガスの流僅制御に最適である。 第4図に、本発明の他の実施例を示す。この貿1流量制
W装[1Bでは、センサ′g5よりパルプ16側のガス
の通路20に、最大5!量時の2%よりやや大のガス流
量を検出するため、ガスが入る小室21を形成したもの
である。これによると、ガス供給無の状態では例えば通
路20が1気圧にあり、ガス供給有となって1気圧以上
になると、最大流fiFt1の2%よりやや大のガス流
量に対応する量のガスの移動が小室21へ生じる(パル
プ16は閉じられている)。このため流体供給有無検出
回路105 k:ハ、0.02XV 以上のV、
が与え MAX られるので、その出力がトルベルからトルベルへ遷移す
る。これによって、タイマ回路109へトルベルの信号
が与えられ、保護状態を解除することができる。尚、流
体供給有無検出回路に、時定数1〜10秒の微分回路を
設け、V、の微少な立上りを検知増幅すれば、2%以下
のセンサ出力で流体供給の有無を判断させることも可能
である。 また、同様に、流体供給有無検出回路105の出力を使
用して、保護状態を解除する手法としては、ガスの圧力
を検出するセンナを入口部2付近および出口部3付近に
設け、この出力差を流体供給有る。この場合、′!J流
量出力部103の出力信号■。 を、流体供給有無検出回路105へ導く必要はない。 尚、以上の実施例では、ガスを対象としたがその他の流
体でも良く、また、バルブとしては熱膨張を用いるもの
でなくとも、例えば、電磁弁でも良い。この場合でも、
弁の劣化や、フローサージ等の問題点を除去できる。 [発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、バルブの劣化を
防止することが可能となり、流体制御時のフロー丈−ジ
、オーバシュートを防止できる。 4、図面の簡単な説明 第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図の要部ブロック図、第3図は第2図のレベル選別回路
の特性を示す図、第4図は本発明の他の実施例のブロッ
ク図、第5図は従来の質量流a制all装置のブロック
図である。 1A、1B・・・質ffl流量流量制置装置・・・バル
ブヒータ 16・・・バルブ 17・・・金属ピン 18・・・弁体 19・・・バネ 20・・・通路 21・・・小室 IC)3・・・実流量出力部 ioa・・・レベル選別回路 105・・・流体供給有無検出回路 10B・・・バルブ駆動回路 107・・・レベル検知回路 111・・・トランジスタ
Claims (6)
- (1)ノーマリークローズタイプの流体流量制御バルブ
を有する流体流量制御装置において、前記流体の供給の
有無を検出する検出手段と、この検出手段により前記流
体の供給が無いことが検出されると前記流体流量制御バ
ルブを閉成させるバルブ保護手段とを具備することを特
徴とする流体流量制御装置。 - (2)検出手段は、流体流量センサと、この流体流量セ
ンサの出力が所定値以下となると流体供給無と判定する
流体供給有無判定回路とを具備することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の流体流量制御装置。 - (3)検出手段は、ガス通路部バルブ上流及び下流に圧
力センサーを設け、これらの圧力差が所定値以下となる
と、流体供給無しと判断する液体供給有無判定回路を具
備することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の流
体流量制御装置。 - (4)バルブ保護手段は、流体の流量が所定値以下のと
きに前記所定値を、外部からの設定流量データと実流量
データとを比較する比較回路へ出力するレベル選別回路
を具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項また
は第2項記載の流体流量制御装置。 - (5)バルブ保護手段は、流体流量センサが流体の所定
量以上の流入を検出可能とするために、流体流路に設け
られた小室を含んでなることを特徴とする特許請求の範
囲第1項または第2項記載の流体流量制御装置。 - (6)バルブ保護手段は、流体流量制御バルブを駆動す
る駆動回路の出力の最大を検知するレベル検知回路と、
このレベル検知回路の出力と検出手段の出力とに基づい
て前記流体流量制御バルブの駆動信号を遮断する駆動信
号遮断部とを具備することを特徴とする特許請求の範囲
第1項乃至第5項いずれかに記載の流体流量制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60095373A JPH0830984B2 (ja) | 1985-05-07 | 1985-05-07 | 流体流量制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60095373A JPH0830984B2 (ja) | 1985-05-07 | 1985-05-07 | 流体流量制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61253517A true JPS61253517A (ja) | 1986-11-11 |
JPH0830984B2 JPH0830984B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=14135831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60095373A Expired - Lifetime JPH0830984B2 (ja) | 1985-05-07 | 1985-05-07 | 流体流量制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0830984B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01152164U (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-20 | ||
JPH02257205A (ja) * | 1989-03-29 | 1990-10-18 | Stec Kk | マスフローコントローラ |
JPH03168480A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-22 | M Syst Giken:Kk | バルブの電動サーボアクチュエータ |
JP2005207523A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Yamatake Corp | 流量制御装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS594005U (ja) * | 1982-06-24 | 1984-01-11 | 横河電機株式会社 | 操作部の異常動作防止回路 |
-
1985
- 1985-05-07 JP JP60095373A patent/JPH0830984B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS594005U (ja) * | 1982-06-24 | 1984-01-11 | 横河電機株式会社 | 操作部の異常動作防止回路 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01152164U (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-20 | ||
JPH02257205A (ja) * | 1989-03-29 | 1990-10-18 | Stec Kk | マスフローコントローラ |
JPH03168480A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-22 | M Syst Giken:Kk | バルブの電動サーボアクチュエータ |
JP2005207523A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Yamatake Corp | 流量制御装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0830984B2 (ja) | 1996-03-27 |
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