JPS61206318A - 位相同期回路 - Google Patents
位相同期回路Info
- Publication number
- JPS61206318A JPS61206318A JP60047186A JP4718685A JPS61206318A JP S61206318 A JPS61206318 A JP S61206318A JP 60047186 A JP60047186 A JP 60047186A JP 4718685 A JP4718685 A JP 4718685A JP S61206318 A JPS61206318 A JP S61206318A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counter
- clock
- circuit
- memory
- bit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、デジタル回路等に用いられる位相同期回路に
関するものである。
関するものである。
従来の技術
デジタル技術は、LSIによる低コスト化、低消費電力
化、無調整化を図れる技術で、非常に重要である。
化、無調整化を図れる技術で、非常に重要である。
民生機器の回路においては、アナログ処理に代わって、
デジタル処理が使われてきている。その時、従来のアナ
ログ技術をデジタル処理で行なうことが必要になってき
ている。
デジタル処理が使われてきている。その時、従来のアナ
ログ技術をデジタル処理で行なうことが必要になってき
ている。
さて、従来、信号の位相制御には、いくつかの方式があ
るが、PLL方式が比較的、多く用いられている。その
中で、例えば、カウンタNのクロックの位相を制御した
い場合など、デジタル回路にこの位相制御回路が応用さ
れることがある。第3図には、この位相制御回路にPL
L回路を応用した場合のブロック図を示す。第3図で、
1はカウンタ回路、2はPLL回路であり、基準クロッ
ク1と、位相をあわせたいクロック2を入力する。
るが、PLL方式が比較的、多く用いられている。その
中で、例えば、カウンタNのクロックの位相を制御した
い場合など、デジタル回路にこの位相制御回路が応用さ
れることがある。第3図には、この位相制御回路にPL
L回路を応用した場合のブロック図を示す。第3図で、
1はカウンタ回路、2はPLL回路であり、基準クロッ
ク1と、位相をあわせたいクロック2を入力する。
カウンタ回路1は、クロック2に位相が揃い周期がクロ
ック1と等しいクロック3で駆動されることになる。
ック1と等しいクロック3で駆動されることになる。
ここで、用いられた従来のPLL回路は、第4図に示す
ような構成であった。第4図において、3は電圧制御発
振回路(V、C,○、)であシ、4は位相比較器(p、
c、 )で、6はループ・フィルターである。
ような構成であった。第4図において、3は電圧制御発
振回路(V、C,○、)であシ、4は位相比較器(p、
c、 )で、6はループ・フィルターである。
以下、従来の位相制御回路について、説明を行なう。今
、必要な位相情報はクロック2がもっているとし、さら
にクロック20周期はクロック1よりも長いとする。そ
こで、発振器1から出力されたクロック1とクロック2
の位相を位相比較器4で比較する。それによって、位相
比較器4では、位相誤差を電圧として出力する。その信
号は5のループ・フィルターで積分され、電圧制御発振
器に入力される。このループ・フィルターは、第6図に
示すように主にLCRなどのディスクリート部品で構成
される場合が多い。
、必要な位相情報はクロック2がもっているとし、さら
にクロック20周期はクロック1よりも長いとする。そ
こで、発振器1から出力されたクロック1とクロック2
の位相を位相比較器4で比較する。それによって、位相
比較器4では、位相誤差を電圧として出力する。その信
号は5のループ・フィルターで積分され、電圧制御発振
器に入力される。このループ・フィルターは、第6図に
示すように主にLCRなどのディスクリート部品で構成
される場合が多い。
電圧制御発振器3では、この誤差電圧によってクロック
1の位相をコントロールする。ここでの電圧制御発振器
は、−例としてエミッタ結合マルチバイブレータ方式や
可変容重ダイオード方式などがあり、その構成にはコン
デンサを必要とするので、すべてをデジタル回路では置
き代えることは難かしい。
1の位相をコントロールする。ここでの電圧制御発振器
は、−例としてエミッタ結合マルチバイブレータ方式や
可変容重ダイオード方式などがあり、その構成にはコン
デンサを必要とするので、すべてをデジタル回路では置
き代えることは難かしい。
以上の閉回路を構成することで、誤差電圧を最にすべく
フィード・バックがかかり、電圧制御発振器3は、クロ
ック2に位相のあった所望の信号を出力する。
フィード・バックがかかり、電圧制御発振器3は、クロ
ック2に位相のあった所望の信号を出力する。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上記のような構成では、アナログ動作が不
可欠であり、またルーフ−フィルターや電圧制御発振器
にディスクリート部品を必要とする。
可欠であり、またルーフ−フィルターや電圧制御発振器
にディスクリート部品を必要とする。
また、他のデジタル回路と結合させる時に、位相比較器
や電圧制御発振器を、デジタル回路で、置き代えようと
すれば、回路規模が大きく、且つ複雑になる。
や電圧制御発振器を、デジタル回路で、置き代えようと
すれば、回路規模が大きく、且つ複雑になる。
すなわち、従来の位相同期回路のすべてを、簡単に、デ
ジタル回路に置き代えることは難しいという欠点を有し
ていた。
ジタル回路に置き代えることは難しいという欠点を有し
ていた。
本発明は、上記問題点に鑑み、標準的なデジタル回路に
よってすべてを構成し、精度の高い、位相同相回路を提
供することを目的とするものである。
よってすべてを構成し、精度の高い、位相同相回路を提
供することを目的とするものである。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するため、本発明の位相同期回路にお
いては、第1のクロックでリセットされるカウンタと第
2のクロックによって前記カウンタの一部のビットを記
憶するメモリーと、そのメモリー値とカウンタのビット
とを比較してすべてのビット値が一致したことを検出す
る検出器とを備えた構成にしたものである。
いては、第1のクロックでリセットされるカウンタと第
2のクロックによって前記カウンタの一部のビットを記
憶するメモリーと、そのメモリー値とカウンタのビット
とを比較してすべてのビット値が一致したことを検出す
る検出器とを備えた構成にしたものである。
作 用
本発明によれば、上記した構成によって、全回路を標準
的なデジタル回路で簡単に構成でき、全回路のLSI化
が容易に図れるものである。
的なデジタル回路で簡単に構成でき、全回路のLSI化
が容易に図れるものである。
実施例
以下、本発明の一実施例の位相同期回路について、図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
第1図は本発明の第1の実施例における位相同期回路の
ブロック図を示すものである。第1図において、11は
nビットカウンタ、12はmビットメモリー、13は一
致回路、14は基準クロック入力点であり、カウンタ1
1をリセットする信号が入力される。16は必要な位相
情報をもつクロック2の入力点、16はカウンタ11の
クロック入力点、17は一致検出回路の出力点である。
ブロック図を示すものである。第1図において、11は
nビットカウンタ、12はmビットメモリー、13は一
致回路、14は基準クロック入力点であり、カウンタ1
1をリセットする信号が入力される。16は必要な位相
情報をもつクロック2の入力点、16はカウンタ11の
クロック入力点、17は一致検出回路の出力点である。
以上のように構成された位相同期回路について、以下、
第1図及び第2図を用いて、その動作を説明する。ここ
で、カウンタのピット数nとメモリーのビット数mは便
宜上m=nとしても一般性を失なわない。さらに、簡便
化のため、n = 3として説明する。
第1図及び第2図を用いて、その動作を説明する。ここ
で、カウンタのピット数nとメモリーのビット数mは便
宜上m=nとしても一般性を失なわない。さらに、簡便
化のため、n = 3として説明する。
第2図は、第1図の位相同期回路内の、各クロックの波
形を示す図である。
形を示す図である。
カウンタ11には第2図aに示すようなりロックが入力
点16より入力される。カウンタ11の各ビットは第2
図す、 c、 dのように、分周動作を行なう。分
周動作中に入力点14から第2図eのような基準クロッ
クが入力されると、その立ち下がり時にリセットがかか
シ、カウンタ11はクリアされる。これら一連の動作で
、カウンタ11は基準クロックの周期毎にカウント・ア
ップを繰り返す。そのカウント・アップの様子を第2図
qに示す。
点16より入力される。カウンタ11の各ビットは第2
図す、 c、 dのように、分周動作を行なう。分
周動作中に入力点14から第2図eのような基準クロッ
クが入力されると、その立ち下がり時にリセットがかか
シ、カウンタ11はクリアされる。これら一連の動作で
、カウンタ11は基準クロックの周期毎にカウント・ア
ップを繰り返す。そのカウント・アップの様子を第2図
qに示す。
一方、メモリー回路12はカウンタ11の各ピットに対
応したメモリピットを持っている。メモリーピットは入
力点16より第2図fに示すような第2のクロックが入
力される毎にカウンタ11の値を記憶する。第2図のり
、 i、 iは、カウンタ11の3ビツトに対応し
たメモリー値で、fのクロックの立ち下がり時の値を記
憶している。
応したメモリピットを持っている。メモリーピットは入
力点16より第2図fに示すような第2のクロックが入
力される毎にカウンタ11の値を記憶する。第2図のり
、 i、 iは、カウンタ11の3ビツトに対応し
たメモリー値で、fのクロックの立ち下がり時の値を記
憶している。
次に、記憶された値とカウンタ11の各ビットを一致回
路13で比較する。一致検出回路13は対応するすべて
のビットが一致した時に信号を出力するものである。す
なわち、カウンタ11がカウント・アップされてゆき、
クロック2で記憶された値に一致する毎に出力点17よ
り信号を出力することになる。
路13で比較する。一致検出回路13は対応するすべて
のビットが一致した時に信号を出力するものである。す
なわち、カウンタ11がカウント・アップされてゆき、
クロック2で記憶された値に一致する毎に出力点17よ
り信号を出力することになる。
したがって、出力点17より出力される信号は入力点1
4に入力される基準クロックの周期であり、入力点15
される第2のクロックに位相が合った信号となる。
4に入力される基準クロックの周期であり、入力点15
される第2のクロックに位相が合った信号となる。
以上のように、本回路によれば、第1のクロックでリセ
ットされるカウンタと、第2のクロックによってカウン
タの一部ピットの値を記憶するメモリーと、カウンタの
ビットと対応するメモリーのビットの値がすべて一致し
たことを検出する検出器とを設けることで、第1のクロ
ックの周期で第2のクロックに位相の合った第3のクロ
ックを簡単なデジタル回路で実現でき、LSI化が容易
に図れる。
ットされるカウンタと、第2のクロックによってカウン
タの一部ピットの値を記憶するメモリーと、カウンタの
ビットと対応するメモリーのビットの値がすべて一致し
たことを検出する検出器とを設けることで、第1のクロ
ックの周期で第2のクロックに位相の合った第3のクロ
ックを簡単なデジタル回路で実現でき、LSI化が容易
に図れる。
なお、カウンタのピット数mとメモリーのピット数nの
関係はm≧nであればよ(、m、nの値が大きい値精度
があがる。
関係はm≧nであればよ(、m、nの値が大きい値精度
があがる。
発明の効果
以上のように、本発明によれば、第1のクロックによっ
てリセットされるカウンタと、第2のクロックによって
カウンタの各ビットの値を記憶するメモリーと、カウン
タの各ビットの値とメモリーの各ビットの値を比較し、
一致したことを検出する検出回路を設けることにより、
回路を標準的なデジタル回路で構成でき、LSI化に適
した、位相同期回路を提供することができる。
てリセットされるカウンタと、第2のクロックによって
カウンタの各ビットの値を記憶するメモリーと、カウン
タの各ビットの値とメモリーの各ビットの値を比較し、
一致したことを検出する検出回路を設けることにより、
回路を標準的なデジタル回路で構成でき、LSI化に適
した、位相同期回路を提供することができる。
第1図は本発明の第1の実施例における位相同期回路の
ブロック図、第2図はその各部の波形図、第3図は従来
例の位相同期回路を用いた回路のブロック図、第4図は
従来例の位相同期回路のブロック図、第6図はそのルー
プ・フィルターの一構成図である。 11・・・・・・カウンタ回路、12・・・・・・メモ
リー回路、13・・・・・・一致検出器、17・・・・
・・出力点。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 (鳴)I7
ブロック図、第2図はその各部の波形図、第3図は従来
例の位相同期回路を用いた回路のブロック図、第4図は
従来例の位相同期回路のブロック図、第6図はそのルー
プ・フィルターの一構成図である。 11・・・・・・カウンタ回路、12・・・・・・メモ
リー回路、13・・・・・・一致検出器、17・・・・
・・出力点。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 (鳴)I7
Claims (1)
- 第1のクロックによってリセットされるnビットのカウ
ンタと、第2のクロックによって前記カウンタのm個の
ビットの値を記憶するmビットのメモリーと、前記nビ
ットのカウンタのうち前記メモリーに記憶されるm個の
各ビットの値と、mビットのメモリーの各ビットの値と
を比較してすべてのビットが一致したことを検出する検
出器とを備えたことを特徴とする位相同期回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60047186A JPS61206318A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | 位相同期回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60047186A JPS61206318A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | 位相同期回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61206318A true JPS61206318A (ja) | 1986-09-12 |
Family
ID=12768067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60047186A Pending JPS61206318A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | 位相同期回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61206318A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5479420A (en) * | 1992-12-29 | 1995-12-26 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Clock fault monitoring circuit |
US20100321101A1 (en) * | 2009-06-17 | 2010-12-23 | Chih-Ting Hu | Automatic internal trimming calibration method to compensate process variation |
-
1985
- 1985-03-08 JP JP60047186A patent/JPS61206318A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5479420A (en) * | 1992-12-29 | 1995-12-26 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Clock fault monitoring circuit |
US20100321101A1 (en) * | 2009-06-17 | 2010-12-23 | Chih-Ting Hu | Automatic internal trimming calibration method to compensate process variation |
US8386829B2 (en) * | 2009-06-17 | 2013-02-26 | Macronix International Co., Ltd. | Automatic internal trimming calibration method to compensate process variation |
US8595544B2 (en) | 2009-06-17 | 2013-11-26 | Macronix International Co., Ltd. | Automatic internal trimming calibration method to compensate process variation |
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