JPS61194635A - 薄膜永久磁石 - Google Patents
薄膜永久磁石Info
- Publication number
- JPS61194635A JPS61194635A JP3265585A JP3265585A JPS61194635A JP S61194635 A JPS61194635 A JP S61194635A JP 3265585 A JP3265585 A JP 3265585A JP 3265585 A JP3265585 A JP 3265585A JP S61194635 A JPS61194635 A JP S61194635A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- permanent magnet
- thin
- film
- heat treatment
- Prior art date
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- Granted
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は薄膜永久磁石の製造方法に係わり、特に磁気媒
体、磁性デバイスに好適なCo−Ptを主成分とする薄
膜永久磁石の製造方法に係わる。
体、磁性デバイスに好適なCo−Ptを主成分とする薄
膜永久磁石の製造方法に係わる。
CoおよびPtを主成分とする簿膜永久磁石はスパッタ
法等(特開昭58−7806号公報)で形成されていた
。しかし、従来の方法では当該永久磁石の特性、たとえ
ば保磁力が製法や作製の条件、たとえばスパッタの方法
、スパッタ時のスパッタガス圧力、投入電力、スパッタ
前の到達真空度等に極めて強く依存し、常に一定の磁気
特性を得ることが難かしく、作製された永久磁石膜の磁
気特性ばらつきが極めて大きかった。
法等(特開昭58−7806号公報)で形成されていた
。しかし、従来の方法では当該永久磁石の特性、たとえ
ば保磁力が製法や作製の条件、たとえばスパッタの方法
、スパッタ時のスパッタガス圧力、投入電力、スパッタ
前の到達真空度等に極めて強く依存し、常に一定の磁気
特性を得ることが難かしく、作製された永久磁石膜の磁
気特性ばらつきが極めて大きかった。
本発明は、極めて磁気特性ばらつきの少ないCoおよび
Ptを主成分とする薄膜永久磁石の製造方法を提供する
ことにある。
Ptを主成分とする薄膜永久磁石の製造方法を提供する
ことにある。
本発明においては、多層にしたCOおよびPt薄膜の金
属間反応を利用して適当な組成および組成分布とするこ
とによって当該薄膜の磁気特性を向上せしめるものであ
る。これによって、スパッタ条件等の極めて微妙な調整
が不必要となり、適当な温度で所定時間熱処理すれば容
易に目的とする磁気特性を有するG o −P を系永
久磁石膜を得ることかできるようになった。
属間反応を利用して適当な組成および組成分布とするこ
とによって当該薄膜の磁気特性を向上せしめるものであ
る。これによって、スパッタ条件等の極めて微妙な調整
が不必要となり、適当な温度で所定時間熱処理すれば容
易に目的とする磁気特性を有するG o −P を系永
久磁石膜を得ることかできるようになった。
以下1本発明を実施例によって詳細に説明する。
実施例1゜
ガラス、アルミナ、表面を酸化したAM、Tiなどの基
板上にcoを70nm、Ptを30nm、順次蒸着ある
いはスパッタする。当MPt/C。
板上にcoを70nm、Ptを30nm、順次蒸着ある
いはスパッタする。当MPt/C。
2層膜を真空中あるいは不活性雰囲気中で300〜50
0℃に1〜3hr加熱するるこの熱処理によって、CO
とptは相互に拡散を起こし両者の界面から混合状態に
なる。この混合領域(反応層)における両者の組成がC
o−(10〜30)%Ptとなる時に、当該薄膜の保磁
力は最大値を示す。
0℃に1〜3hr加熱するるこの熱処理によって、CO
とptは相互に拡散を起こし両者の界面から混合状態に
なる。この混合領域(反応層)における両者の組成がC
o−(10〜30)%Ptとなる時に、当該薄膜の保磁
力は最大値を示す。
その値は60〜80kA/mである。第1図に上記試料
における保磁力と熱処理温度の関係を示す。
における保磁力と熱処理温度の関係を示す。
保磁力は400〜450℃の間で最大値を示すが、30
0°Cでも永久磁石としては十分な値を示す。
0°Cでも永久磁石としては十分な値を示す。
反応層の組成はCoおよびPtの膜厚、熱処理の温度お
よび時間により変化する。これらを系統的に変化させる
ことにより、形成される薄膜永久磁石は、その深さ方向
の組成分布が均一あるいは不均一(波形の組成分布)に
なる。また、組成分布が不均一な場合、膜全体が反応す
るのではなく、その一部のみが反応し、他の部分は純P
tあるいは純coの層が残留することになる。
よび時間により変化する。これらを系統的に変化させる
ことにより、形成される薄膜永久磁石は、その深さ方向
の組成分布が均一あるいは不均一(波形の組成分布)に
なる。また、組成分布が不均一な場合、膜全体が反応す
るのではなく、その一部のみが反応し、他の部分は純P
tあるいは純coの層が残留することになる。
実施例2゜
実施例1で示したPtあるいはCo膜中に、特性の改善
あるいは調整の目的でFe、Ni、Ru。
あるいは調整の目的でFe、Ni、Ru。
Re、Rh、I r、Os、Mn、Ti、Sm等を添加
した場合にも、実施例1と同様の薄膜永久磁石が作製さ
れる。この場合添加する元素によってその効果は異なり
、例えばNiを添加すると保磁力の最大値はCo −P
を系の374程度になるが、角形比は増大する0例え
ばFeを添加した場合には、残留磁化が1.2〜1.3
倍となる。
した場合にも、実施例1と同様の薄膜永久磁石が作製さ
れる。この場合添加する元素によってその効果は異なり
、例えばNiを添加すると保磁力の最大値はCo −P
を系の374程度になるが、角形比は増大する0例え
ばFeを添加した場合には、残留磁化が1.2〜1.3
倍となる。
実施例3゜
COとPtの組合せに於て、Ptの厚さを若干大きめに
し、適当に熱処理することによって表面にptの残留層
を形成する。これによって、合金層が化学的あるいは機
械的に保護される。このPt層の厚さは熱処理を最適化
することによって数10人から数100Å以上まで容易
にコントロールすることができる。
し、適当に熱処理することによって表面にptの残留層
を形成する。これによって、合金層が化学的あるいは機
械的に保護される。このPt層の厚さは熱処理を最適化
することによって数10人から数100Å以上まで容易
にコントロールすることができる。
たとえば、Ptを400人、Coを800人とした二層
膜で450°Cで1時間熱処理すると完全に混合してH
eは40kA/mと低くpt層も残留しない。ところが
400℃で2時間熱処理するとPtの一部が反応し、H
eは80kA/mとなり、表面にPt層が残る。
膜で450°Cで1時間熱処理すると完全に混合してH
eは40kA/mと低くpt層も残留しない。ところが
400℃で2時間熱処理するとPtの一部が反応し、H
eは80kA/mとなり、表面にPt層が残る。
実施例4゜
COとptを所定の厚さにする場合、CoとPtの厚さ
を所定の比とし、繰返し蒸着して多層化した膜でも実施
例1と同様の効果が得られるとともに、熱処理温度の低
下、熱処理時間の短縮をすることができる。例えばCo
を7nm、Ptを3nmとし、それぞれを繰返し10層
、すなわち合計20層の多層膜とした場合には350℃
の熱処理で第1図が示した450℃で得られた値と同じ
高保磁力の膜が得られる。また、同じ450℃で焼鈍す
る場合、80 k A / mの保磁力を得るためには
3〜4hr必要だが、上述の多層にすると10〜30m
1nの焼鈍で済む。また、多層化した場合には1組成が
均一にならなくても(波状の組成分布)保磁力は高くな
る。
を所定の比とし、繰返し蒸着して多層化した膜でも実施
例1と同様の効果が得られるとともに、熱処理温度の低
下、熱処理時間の短縮をすることができる。例えばCo
を7nm、Ptを3nmとし、それぞれを繰返し10層
、すなわち合計20層の多層膜とした場合には350℃
の熱処理で第1図が示した450℃で得られた値と同じ
高保磁力の膜が得られる。また、同じ450℃で焼鈍す
る場合、80 k A / mの保磁力を得るためには
3〜4hr必要だが、上述の多層にすると10〜30m
1nの焼鈍で済む。また、多層化した場合には1組成が
均一にならなくても(波状の組成分布)保磁力は高くな
る。
実施例5゜
Pt薄膜あるいはco薄膜の上に、それぞれCoあるい
はPt膜をめっきまたは蒸着で形成し、熱処理しても実
施例1と同様の高保磁力層tが形成された。
はPt膜をめっきまたは蒸着で形成し、熱処理しても実
施例1と同様の高保磁力層tが形成された。
実施例6
当該G o −P を合金(形成された薄膜永久磁石)
の上にSing、AN 2o3.Re、TiN。
の上にSing、AN 2o3.Re、TiN。
Si3N、、Os、I r、Rh、などを形成するとC
o −P を合金層が保護され、損傷防止ができた。
o −P を合金層が保護され、損傷防止ができた。
本発明によれば、スパッタ法等による薄膜永久磁石に比
べて、形成された薄膜永久磁石の磁気特性のバラツキは
著しく小さくなる。
べて、形成された薄膜永久磁石の磁気特性のバラツキは
著しく小さくなる。
たとえば、スパッタ法による薄膜永久磁石の保磁力He
は、スパッタに関する条件(これについては〔発明の背
景〕の項で記載した。)以外の条件(Pt、Coの膜厚
等)を同一にしても1例えば500〜15000 eの
バラツキが生じる。
は、スパッタに関する条件(これについては〔発明の背
景〕の項で記載した。)以外の条件(Pt、Coの膜厚
等)を同一にしても1例えば500〜15000 eの
バラツキが生じる。
これに対し、本発明によれば、例えば、800±500
eとバラツキが著しく小さくなった。
eとバラツキが著しく小さくなった。
第1図は熱処理したC o −P を合金層の保磁力と
熱処理温度との関係図である。
熱処理温度との関係図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、Co薄膜とPt薄膜を交互に二以上積層して積層膜
とし、しかる後、前記積層膜を熱処理することを特徴と
する薄膜永久磁石の製造方法。 2、CoあるいはPtの少なくとも一方に Ni、Fe、Ru、Re、Rh、Ir、Os、Mn、T
i、Smの少なくとも一つを添加してCoを主成分とす
る薄膜およびPtを主成分とする薄膜を形成し、しかる
後、前記Coを主成分とする薄膜および前記Ptを主成
分とする薄膜を交互に二以上積層して積層膜とし、しか
る後、前記積層膜を熱処理することを特徴とする薄膜永
久磁石の製造方法。 3、反応層の平均的組成がCoが70%ないし90%、
Ptが10ないし30%となる厚さのCo薄膜とPt薄
膜を交互に二以上積層して積層膜とし、しかる後、前記
積層膜を熱処理することを特徴とする薄膜永久磁石の製
造方法。 4、前記薄膜永久磁石の製造方法において、前記熱処理
により形成される薄膜永久磁石の深さ方向の前記Coと
前記Ptの組成分布が均一となるように前記熱処理をす
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項
記載の薄膜永久磁石の製造方法。 5、前記薄膜永久磁石の製造方法において、前記熱処理
により形成される薄膜永久磁石の深さ方向の前記Coと
前記Ptの組成分布が不均一となるように前記熱処理す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項
記載の薄膜永久磁石の製造方法。 6、形成される薄膜永久磁石の表面に純Ptの薄層が存
在するように、第1の所定厚さのCo薄膜と第2の所定
厚さのPt薄膜を交互に二以上積層して積層膜とし、し
かる後、前記積層膜を所定温度で所定時間熱処理するこ
とを特徴とする薄膜永久磁石の製造方法。 7、Co薄膜とPt薄膜を交互に二以上積層して積層膜
とし、しかる後、前記積層膜を熱処理することにより薄
膜永久磁石とし、前記薄膜永久磁石にSiO_2、Al
_2O_3、Si_3N_4、Re、Os、Ir、Rh
、TiNの少なくとも一つの層を形成することを特徴と
する薄膜永久磁石の製造方法。 8、前記Co薄膜は、前記Pt薄膜上にめっきまたは蒸
着により形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第3項ないし第7項記載の薄膜永久磁石の製造
方法。 9、前記Pt薄膜は、前記Co薄膜上にめっきまたは蒸
着により形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第3項ないし第7項記載の薄膜永久磁石の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60032655A JPH0821502B2 (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 薄膜永久磁石 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60032655A JPH0821502B2 (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 薄膜永久磁石 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61194635A true JPS61194635A (ja) | 1986-08-29 |
JPH0821502B2 JPH0821502B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=12364876
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60032655A Expired - Lifetime JPH0821502B2 (ja) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | 薄膜永久磁石 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0821502B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02186801A (ja) * | 1989-01-13 | 1990-07-23 | Murata Mfg Co Ltd | 静磁波装置 |
JPH04105309A (ja) * | 1990-08-24 | 1992-04-07 | Nec Corp | 金属磁性体膜の製造方法 |
US5434014A (en) * | 1989-07-10 | 1995-07-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic recording medium and method of manufacturing same |
US6351357B1 (en) * | 1997-03-18 | 2002-02-26 | Seagate Technology Llc | Laminated hard magnet in MR sensor |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58147540A (ja) * | 1982-02-26 | 1983-09-02 | Hitachi Ltd | 薄膜永久磁石の製造方法 |
-
1985
- 1985-02-22 JP JP60032655A patent/JPH0821502B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58147540A (ja) * | 1982-02-26 | 1983-09-02 | Hitachi Ltd | 薄膜永久磁石の製造方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02186801A (ja) * | 1989-01-13 | 1990-07-23 | Murata Mfg Co Ltd | 静磁波装置 |
US5434014A (en) * | 1989-07-10 | 1995-07-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic recording medium and method of manufacturing same |
JPH04105309A (ja) * | 1990-08-24 | 1992-04-07 | Nec Corp | 金属磁性体膜の製造方法 |
US6351357B1 (en) * | 1997-03-18 | 2002-02-26 | Seagate Technology Llc | Laminated hard magnet in MR sensor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0821502B2 (ja) | 1996-03-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |