JPS61188821A - 透明導電薄膜の形成方法 - Google Patents
透明導電薄膜の形成方法Info
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- JPS61188821A JPS61188821A JP2818985A JP2818985A JPS61188821A JP S61188821 A JPS61188821 A JP S61188821A JP 2818985 A JP2818985 A JP 2818985A JP 2818985 A JP2818985 A JP 2818985A JP S61188821 A JPS61188821 A JP S61188821A
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- Japan
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- film
- thin film
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- conductive thin
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はCVD法によるフッ素ドープ酸化錫(SnO・
(F))の透明導電薄膜の形成方法に関し、特にフッ素
化合物としてフルオロカルボン酸を用いてカラス基板表
面上に被膜を形成することにより赤外領域での反射率が
高く低抵抗で良好な導電性を備え、優nた硬度と化学的
機械的耐久性を有する被膜を得ることができ、その特性
を生かして種々の分野に広く採用され得るものである。
(F))の透明導電薄膜の形成方法に関し、特にフッ素
化合物としてフルオロカルボン酸を用いてカラス基板表
面上に被膜を形成することにより赤外領域での反射率が
高く低抵抗で良好な導電性を備え、優nた硬度と化学的
機械的耐久性を有する被膜を得ることができ、その特性
を生かして種々の分野に広く採用され得るものである。
すなわち、ガラス基板表面上に被膜して、例えば建築、
自動車、航空機および船舶あるいは冷凍ショーケースの
防曇念力2スまたは熱線反射透明窓ガラスに、また太陽
熱集熱器のカバーガラスやオーブンのドアカラスに、さ
らに液晶電気光学ブイスプレィ等の電気電子機器部品に
等、多方面で実用δれ得るものである。
自動車、航空機および船舶あるいは冷凍ショーケースの
防曇念力2スまたは熱線反射透明窓ガラスに、また太陽
熱集熱器のカバーガラスやオーブンのドアカラスに、さ
らに液晶電気光学ブイスプレィ等の電気電子機器部品に
等、多方面で実用δれ得るものである。
し従来の技術」
従来、スプレー法に分いてに、例えば(OaH9)tS
n(CI(、COり、等の錫化合物とOF、C0OH等
のフッ素化合物と、0H8OH等の溶剤よりなる溶液を
高温の板ガラスに噴霧してSnO,(F’)の被膜を形
成する方法(特公昭55−25331号公報)が知られ
ている。
n(CI(、COり、等の錫化合物とOF、C0OH等
のフッ素化合物と、0H8OH等の溶剤よりなる溶液を
高温の板ガラスに噴霧してSnO,(F’)の被膜を形
成する方法(特公昭55−25331号公報)が知られ
ている。
また、CVD法においては、例えば(CH,)48n等
の錫化合物蒸気およびCF3B r等のガス状フッ素化
合物を高温のガラスに吹き付けて5n02(F)膜の被
膜を形成する方法(%開昭55−58363号公報)が
知られている。
の錫化合物蒸気およびCF3B r等のガス状フッ素化
合物を高温のガラスに吹き付けて5n02(F)膜の被
膜を形成する方法(%開昭55−58363号公報)が
知られている。
し発明が解決しようとする問題点〕
前述した特公昭5B −25331号公報に記載され1
いる方法においては、フッ素化剤としてのOF、、 C
OOHを溶液中に30%以上添加し、ガラス基板の温度
全600℃以上にしないと抵抗の低い被膜が得られない
し、 c11’、coonのような高価な薬液全多量
に消費することは経済的ではなく、またカラス基板の温
度を600℃以上のかなり高い温#Lにすると、刀ラス
の歪、反り等を生じて良好な製品が得られ難いものでめ
り、さらに赤外線反射率および抵抗値とも充分満足でき
る被膜が得られないものであり、この薬液をそのままC
I/D法に適用しても成膜速度が遅く採用し難いもので
ある。
いる方法においては、フッ素化剤としてのOF、、 C
OOHを溶液中に30%以上添加し、ガラス基板の温度
全600℃以上にしないと抵抗の低い被膜が得られない
し、 c11’、coonのような高価な薬液全多量
に消費することは経済的ではなく、またカラス基板の温
度を600℃以上のかなり高い温#Lにすると、刀ラス
の歪、反り等を生じて良好な製品が得られ難いものでめ
り、さらに赤外線反射率および抵抗値とも充分満足でき
る被膜が得られないものであり、この薬液をそのままC
I/D法に適用しても成膜速度が遅く採用し難いもので
ある。
一方、前述の特開昭55−58363号公報に記載の方
法においては、前述したように錫化合物としてテトラメ
チル錫等金、フッ素化合物としてCF’1Br等を使用
しているがブトラメチル錫は成膜速度が遅く大型カラス
板での低抵抗、高赤外線反射率被膜−の適用がむつかし
く、またC!F3Br等のガス状のフッ素化合物はフッ
素ドーピング剤として有効な化合物ではあるが、高価で
あり、かつ多量に消費しなければならず経済的でないと
いう欠点に加えて、多量に使用することは公害上の理由
からも好ましくない。
法においては、前述したように錫化合物としてテトラメ
チル錫等金、フッ素化合物としてCF’1Br等を使用
しているがブトラメチル錫は成膜速度が遅く大型カラス
板での低抵抗、高赤外線反射率被膜−の適用がむつかし
く、またC!F3Br等のガス状のフッ素化合物はフッ
素ドーピング剤として有効な化合物ではあるが、高価で
あり、かつ多量に消費しなければならず経済的でないと
いう欠点に加えて、多量に使用することは公害上の理由
からも好ましくない。
1問題点を解決するための手段J
本発明は、従来のかかる欠点に鑑みて成したものであっ
て、高温のガラス基板の表面上に錫化合物の蒸気とそれ
に微少の添加量でよいフルオロカルボン酸の蒸気をそれ
ぞれキャリアガスで移送し合わせた混合蒸気を噴出する
ことによってSn O!(F)薄膜を形成させる方法で
、効率よく、より優れた抵抗で高赤外線反射率の被膜を
得ることを見出したものである。
て、高温のガラス基板の表面上に錫化合物の蒸気とそれ
に微少の添加量でよいフルオロカルボン酸の蒸気をそれ
ぞれキャリアガスで移送し合わせた混合蒸気を噴出する
ことによってSn O!(F)薄膜を形成させる方法で
、効率よく、より優れた抵抗で高赤外線反射率の被膜を
得ることを見出したものである。
本発明において、カラス基板の温度としては500〜6
00℃が好ましく、また錫化合物としては特に限定する
ものでにないが、酸化球素等のアンダーコートをするこ
とにより、有機錫ノ・ライド類、例えば(OH3)21
9nC1,、(C!4H,)SnOl、%fO4H,)
261n014等の化合物かへイスの発生もなく、成膜
速度も満足でさる早さで好ましいものであり、さらにフ
ルオロカルボン酸としては、例えば、C!F、0OOH
,03F、0OOH,CF、CH=CHC!OOH等の
化合物が用いられ、特にフルオロカルボン酸の好ましい
量的範囲は、例えばCF3000Hについては(CH3
)25nC14に対して重量比で0.01〜0.03で
るり、また他の錫化合物に対して重量比でo、o t
−o、o sである。
00℃が好ましく、また錫化合物としては特に限定する
ものでにないが、酸化球素等のアンダーコートをするこ
とにより、有機錫ノ・ライド類、例えば(OH3)21
9nC1,、(C!4H,)SnOl、%fO4H,)
261n014等の化合物かへイスの発生もなく、成膜
速度も満足でさる早さで好ましいものであり、さらにフ
ルオロカルボン酸としては、例えば、C!F、0OOH
,03F、0OOH,CF、CH=CHC!OOH等の
化合物が用いられ、特にフルオロカルボン酸の好ましい
量的範囲は、例えばCF3000Hについては(CH3
)25nC14に対して重量比で0.01〜0.03で
るり、また他の錫化合物に対して重量比でo、o t
−o、o sである。
またキャリアカスとしては圧力調節された空気、窒素カ
ス等でよい。
ス等でよい。
前述したとおシ1本発明の被膜形成方法によれば、より
優れた低抵抗と高赤外線反射率を有する被膜が得らnる
ことにもちろん、均一で優れた硬度と化学的機械的耐久
性のある被膜となり、ガラス基板の歪みや反りの発生が
なく、フルオロカルホン酸の微量の添加でしかも成膜速
度が早いので、生産性、コストおよび品質上等されめて
良好となり、さらに酸化珪素等でアンダーコートすれば
、ヘイズの発生もなく、略無色で透視性に優れたものが
得られる特徴を有するものである。
優れた低抵抗と高赤外線反射率を有する被膜が得らnる
ことにもちろん、均一で優れた硬度と化学的機械的耐久
性のある被膜となり、ガラス基板の歪みや反りの発生が
なく、フルオロカルホン酸の微量の添加でしかも成膜速
度が早いので、生産性、コストおよび品質上等されめて
良好となり、さらに酸化珪素等でアンダーコートすれば
、ヘイズの発生もなく、略無色で透視性に優れたものが
得られる特徴を有するものである。
(笑 施 例〕
以下に、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明を実施するための一装置を模式的に示す
もので、蒸発器1には錫化合物を入れ、例えば100〜
150℃の温度に加熱し、・パヤリアカス金バルブ8で
圧力調0節して流量計2を通し、加熱器5で約200℃
前後に加熱して100〜300fi/l1lljnを前
記蒸発器1に挿入し、錫化合物蒸気t−CVD用ノズル
4へ送る。−1蒸発器5にはフッ素化合物を入れ、加熱
でさるようになっているが室温に保持していて、キャリ
アガスをバルブ9で圧力調節して流量計6を通し、2〜
5i/mtnの量を蒸発器5に挿入し、フッ素化合物蒸
気金錫化合物蒸気と共にOVD用ノズル今へ送るように
してあり、OVD用ノズル今より、錫およびフッ素の混
合蒸気を、加熱炉で500〜600℃に加熱された板ガ
ラス7に吹き付けて5not(F)の被膜を形成するよ
うにしたものである。
もので、蒸発器1には錫化合物を入れ、例えば100〜
150℃の温度に加熱し、・パヤリアカス金バルブ8で
圧力調0節して流量計2を通し、加熱器5で約200℃
前後に加熱して100〜300fi/l1lljnを前
記蒸発器1に挿入し、錫化合物蒸気t−CVD用ノズル
4へ送る。−1蒸発器5にはフッ素化合物を入れ、加熱
でさるようになっているが室温に保持していて、キャリ
アガスをバルブ9で圧力調節して流量計6を通し、2〜
5i/mtnの量を蒸発器5に挿入し、フッ素化合物蒸
気金錫化合物蒸気と共にOVD用ノズル今へ送るように
してあり、OVD用ノズル今より、錫およびフッ素の混
合蒸気を、加熱炉で500〜600℃に加熱された板ガ
ラス7に吹き付けて5not(F)の被膜を形成するよ
うにしたものである。
(実施例1)
錫化合物として(cH,)、5nc1.を用い、蒸発温
度(11”150℃に設定して約40 f / m 1
nの割合で蒸発ちぜ、200Cに加熱した加熱空気2
001i/min f蒸発器に迭ジ、キャリアガスとし
て(CH,)、B no 1゜蒸気とともにCvDノズ
ルに送る。一方、フッ素化合物としてCF3COOHf
用い、常温で空気をキャリアガスとして317m4nは
ど蒸発器に挿入し、M7h発飴内のOF”、C0OH蒸
気を約1y/n1lnの割合で(CH,)、Sn C1
2蒸気と混合しなからOVDノズルに送り込み、加熱炉
により580℃に加熱した大き嘔300メ300籠で厚
さ)WMの飲化理素をアンタコートした板ガラスが20
@gy’5−IQの速度で移送さrL−Cいる表面上に
前記CvDノズルから前記混合蒸気を吹き儒゛げて、
8n07(F)膜を形成した。
度(11”150℃に設定して約40 f / m 1
nの割合で蒸発ちぜ、200Cに加熱した加熱空気2
001i/min f蒸発器に迭ジ、キャリアガスとし
て(CH,)、B no 1゜蒸気とともにCvDノズ
ルに送る。一方、フッ素化合物としてCF3COOHf
用い、常温で空気をキャリアガスとして317m4nは
ど蒸発器に挿入し、M7h発飴内のOF”、C0OH蒸
気を約1y/n1lnの割合で(CH,)、Sn C1
2蒸気と混合しなからOVDノズルに送り込み、加熱炉
により580℃に加熱した大き嘔300メ300籠で厚
さ)WMの飲化理素をアンタコートした板ガラスが20
@gy’5−IQの速度で移送さrL−Cいる表面上に
前記CvDノズルから前記混合蒸気を吹き儒゛げて、
8n07(F)膜を形成した。
その結果、被膜の厚さ47001が得らn1抵抗値が9
070. 可?Fl!元透過率が76%および赤外線
反射率(101りが8596を有する5not(F)の
被膜が侍らIした。
070. 可?Fl!元透過率が76%および赤外線
反射率(101りが8596を有する5not(F)の
被膜が侍らIした。
第3図に該実施例のSnO・(F)膜における透過率B
E線と反射率曲線を示す、 (実施例2) 実施例1と同様な方法で錫化合物として(C41)Sn
Cl2に変更してsno、(F)膜を形成した。
E線と反射率曲線を示す、 (実施例2) 実施例1と同様な方法で錫化合物として(C41)Sn
Cl2に変更してsno、(F)膜を形成した。
その結果、被膜の厚さ3500A’、抵抗値+5 QA
:J。
:J。
赤外線反射率(10μ)82%の被膜が得られた。
(実施例5〜6)
実施例1と同様な方法でOR,C0OH用蒸発器へのキ
ャリア空気の温度t−ga〜50℃%0.5〜2.3@
/m1njなわち3〜5 M/minとし、板ガラスの
移送速度を18〜25 yy’m 1nで被膜を形成し
た。その結果を表1の実施例3〜6として示す。
ャリア空気の温度t−ga〜50℃%0.5〜2.3@
/m1njなわち3〜5 M/minとし、板ガラスの
移送速度を18〜25 yy’m 1nで被膜を形成し
た。その結果を表1の実施例3〜6として示す。
(比較例1−4)
第2図に模式的に示すような装置によって、(CH,)
、anC1霊f約+Ot/minおよび鴫!BrF3を
20〜40r/minすなわち3〜5 ffi/rai
nそnぞれ使用して、板カフスの移送M度を変更する等
によって、他の条件は実施例1と同様にして比較例1〜
今の試料とし次。その結果t−表2に示す。
、anC1霊f約+Ot/minおよび鴫!BrF3を
20〜40r/minすなわち3〜5 ffi/rai
nそnぞれ使用して、板カフスの移送M度を変更する等
によって、他の条件は実施例1と同様にして比較例1〜
今の試料とし次。その結果t−表2に示す。
(比較例′)〜9)
スフレ−法において、(04H@ )2an(CH30
02)2、■+ 30H,、CF3COOHの三成分を
用いて、表3のような割合の混合溶液を約3cc/se
aのスプレー量で、温度590℃に加熱された大きさ3
00 X 300 、J、厚さ3Mの板カラス表面上に
スプレーして試料とした。
02)2、■+ 30H,、CF3COOHの三成分を
用いて、表3のような割合の混合溶液を約3cc/se
aのスプレー量で、温度590℃に加熱された大きさ3
00 X 300 、J、厚さ3Mの板カラス表面上に
スプレーして試料とした。
その結果を表3に示す。
(比較例IO〜12)
比較例5〜9と同様の要領で、溶液のみ変更して、すな
わち、5n(C,H@O,ル、 cc13ca、s、C
F、0OOHの三成分を用いて、表4のような割合の混
合溶液をスフレ−して試料とした。その結果を表4に示
す。
わち、5n(C,H@O,ル、 cc13ca、s、C
F、0OOHの三成分を用いて、表4のような割合の混
合溶液をスフレ−して試料とした。その結果を表4に示
す。
〔発明の効果J
本発明の実施例1〜6とその結果である第3図の透過率
および反射率曲線または表1の数値を従来方法である比
較例1〜12とその結果をまとめた表2〜4とを対比す
れば明らかなように、< CH,)2Bn01.を用い
ても、CF3COOHの方がCBrF3よジも抵抗値お
よび赤外線反射率が優れており特に2.5〜5μの範囲
ではCF、C0OHの方がCBrF3よシ赤外線反射率
が優れている。また(、F、C0OHを使用した方がC
BrF3より添加量が微量でよいので経済的であるとと
もに公害上も好ましいという結果を得た。
および反射率曲線または表1の数値を従来方法である比
較例1〜12とその結果をまとめた表2〜4とを対比す
れば明らかなように、< CH,)2Bn01.を用い
ても、CF3COOHの方がCBrF3よジも抵抗値お
よび赤外線反射率が優れており特に2.5〜5μの範囲
ではCF、C0OHの方がCBrF3よシ赤外線反射率
が優れている。また(、F、C0OHを使用した方がC
BrF3より添加量が微量でよいので経済的であるとと
もに公害上も好ましいという結果を得た。
さらに表3および表4で示す混合溶液の一成分としてC
!11’、0OOHを用いているスプレー法について本
発明の実施例と対比してみると明らかに酸化珪素のアン
ターコートヲしないスプレー法とはいえ、被膜の抵抗値
および赤外線反射率(10μ)においても本発明の結果
より格段に悪く相違なるグレードのものであり、C!F
3COOHの添加量においても本比較例の方が断然多く
、効率が悪いものである。
!11’、0OOHを用いているスプレー法について本
発明の実施例と対比してみると明らかに酸化珪素のアン
ターコートヲしないスプレー法とはいえ、被膜の抵抗値
および赤外線反射率(10μ)においても本発明の結果
より格段に悪く相違なるグレードのものであり、C!F
3COOHの添加量においても本比較例の方が断然多く
、効率が悪いものである。
以上のように本発明によれば、微量のフルオロカルホン
酸I C!VD法に適用し、しかも有機錫ハライド類を
用いれば、よシ効果的に成膜ができ、優れ九低抵抗と高
赤外線反射率の被膜が経済的に得られ、その優れた品質
を確実となし得るので、広い分野の材料に採用し得ると
いう顕著な作用効果を奏するものである。
酸I C!VD法に適用し、しかも有機錫ハライド類を
用いれば、よシ効果的に成膜ができ、優れ九低抵抗と高
赤外線反射率の被膜が経済的に得られ、その優れた品質
を確実となし得るので、広い分野の材料に採用し得ると
いう顕著な作用効果を奏するものである。
第1図は本発明を実施する一装置の模式図、第2図は従
来のCVD法における一装置の模式図、第3図に本発明
の一実施例の透過率および反射率を示す曲線でるる。 1.5,10・・・蒸発器 3.12m@・加熱器 1
4・・骨ボ/ぺ4、13ssaCVD用ノスル 2,
6. II、 15”@流量計7.166−・板ガラス
8,9.17.18・・・バルブ特計出麩 セントラ
ル硝子株式会社 第1図 波 長CIA) 手続補正書く自発) 昭和60年4月11日
来のCVD法における一装置の模式図、第3図に本発明
の一実施例の透過率および反射率を示す曲線でるる。 1.5,10・・・蒸発器 3.12m@・加熱器 1
4・・骨ボ/ぺ4、13ssaCVD用ノスル 2,
6. II、 15”@流量計7.166−・板ガラス
8,9.17.18・・・バルブ特計出麩 セントラ
ル硝子株式会社 第1図 波 長CIA) 手続補正書く自発) 昭和60年4月11日
Claims (2)
- (1)加熱されたガラス基板表面上に、錫化合物および
フッ素化合物の混合蒸気を噴出させて酸化錫被膜を形成
する方法において、フッ素化合物としてフルオロカルホ
ン酸を用いることを特徴とする透明導電薄膜の形成方法
。 - (2)前記錫化合物が有機錫ハライド類であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項に記載の透明導電薄膜の
形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2818985A JPS61188821A (ja) | 1985-02-18 | 1985-02-18 | 透明導電薄膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2818985A JPS61188821A (ja) | 1985-02-18 | 1985-02-18 | 透明導電薄膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61188821A true JPS61188821A (ja) | 1986-08-22 |
JPH0450683B2 JPH0450683B2 (ja) | 1992-08-17 |
Family
ID=12241742
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2818985A Granted JPS61188821A (ja) | 1985-02-18 | 1985-02-18 | 透明導電薄膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61188821A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01175118A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-11 | Central Glass Co Ltd | 透明導電膜の形成法 |
JP2007153701A (ja) * | 2005-12-07 | 2007-06-21 | Fujikura Ltd | 熱線反射ガラス、成膜装置及び成膜方法 |
WO2013061634A1 (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-02 | シャープ株式会社 | ガラス基材への成膜方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5684809A (en) * | 1979-12-14 | 1981-07-10 | Hitachi Ltd | Method of forming transparent conductive film |
JPS5830007A (ja) * | 1981-08-17 | 1983-02-22 | 三洋電機株式会社 | 透明電導膜の製造方法 |
-
1985
- 1985-02-18 JP JP2818985A patent/JPS61188821A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5684809A (en) * | 1979-12-14 | 1981-07-10 | Hitachi Ltd | Method of forming transparent conductive film |
JPS5830007A (ja) * | 1981-08-17 | 1983-02-22 | 三洋電機株式会社 | 透明電導膜の製造方法 |
Cited By (5)
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JPH01175118A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-11 | Central Glass Co Ltd | 透明導電膜の形成法 |
JPH0569241B2 (ja) * | 1987-12-28 | 1993-09-30 | Central Glass Co Ltd | |
JP2007153701A (ja) * | 2005-12-07 | 2007-06-21 | Fujikura Ltd | 熱線反射ガラス、成膜装置及び成膜方法 |
WO2013061634A1 (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-02 | シャープ株式会社 | ガラス基材への成膜方法 |
JP2013095944A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Sharp Corp | ガラス基材への成膜方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0450683B2 (ja) | 1992-08-17 |
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