JPS61181979A - チツプキヤリヤ基板の電気試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「技術分゛野」 本発明は、チップキャリヤ基板の各電極端子に導通させ
て基板の性能、良否等を測定する電気試験装置に関する
。

「従来技術およびその問題点」 チップキャリヤ基板１は、第７図に示すように、その側
面に、半円筒状の電極端子２を並設した基板として知ら
れている。このチップキャリヤ基板ｌは、表面にリード
フレームを必要としないため、基板の小型化が可能とい
う特徴があり、現在普及しつつある。

このチップキャリヤ基板の電気性能を試験する場合、従
来は一般的なプロー八（触針）３を第８図、第９図に示
すように、チップキャリヤ基板１の電極端子２に接触さ
せていた。電極端子２は前述のように、半円筒状をなし
ており、第８図の場合はこの電極端子２の表面に垂直に
、第９図の場合は凹部側面に水平に、プロー八３を接触
させている。そしてプローノへ３を外部試験装置に接続
して　所要の測定を行なう。

しかしこのプロー八３を用いて行なう電気試験は、プロ
ー八３の位置決めが困難であり、位置決めのために特別
な位置決め孔や、外形形状を設定する必要があった。ま
たこのようにして位置決めしても、プロー八３と電極端
子２とが導通しにく〈　接触不良を誘発する。またプロ
ー八３の配列ピッチは、その最大直径Ｓ以下とすること
はできないため、微細ピンチの電極端子２を有するチッ
プキャリヤ基板１については、事実上、試験ができない
場合が生じた。

「発明の目的」 本発明は、チップキャリヤ基板め試験についてのこのよ
うな不便を解消し、電極端子との位置決めが簡単に行な
え、電極端子の配列ピッチが小さくとも対応でき、均一
な接触圧力が得られ、耐久性があり、信頼性が高く、し
かも低コストの試験装置を得ることを目的とする。

「発明の概要」 本発明の試験装置は、電極端子に尖ったプローブピンを
接触させるという発想を捨て、半円筒状に形成されてい
る電極端子の凹部内に、断面円形のプローブピンを嵌め
るという発想に基づいてなされたもので、このようなプ
ローブピンを電極端子の配列ピッチに応じて列状に配設
し、これらのプローブピン列を介して電極端子を外部試
験装置に接続するようにしたことを特徴としている。

「発明の実施例」 以下図示実施例について本発明を説明する。プローブピ
ンｌＯは、弾性を有する断面円形の材料から構成するも
ので、ピアノ線が好適である。このプローブピン１０は
、第４図に単体形状を示すように、下水平部１１と、垂
直部１２と、垂直部１２の上端を下方に曲折してさらに
上方に曲折したばね外部１３と、上水平部１４を有し、
垂直部１２には、スト、７パ突起１５が曲折形成されて
いる。

以上のプローブピン１０は、絶縁材料からなるビン台２
０に列状にして支持される。ビン台２０は、その上部に
、プローブピン１０の上水平部１４を支持する連続した
溝２１と孔２２を有し、下部に、下水平部１１を支持す
る連続した溝２３と孔２４を一定ピッチＰで有している
。このピッチｐ、つまりプローブピン１０の配列ピッチ
ｐは、チップキャリヤ基板ｌの電極端子２の配列ピンチ
Ｐと同一に設定されている。プローブピン１０はその下
水平部１１を溝２３および孔２４に、上水平部１４を溝
２１および孔２２にそれぞれ挿通して、垂直部１２が一
列に並ぶように固定される。

以上のビン台２０は、一対設けられ１列状のプローブピ
ンｌＯの垂直部１２を互いに対向させた状態で、基台２
８上に固定される。対向するプローブピン１０の垂直部
１２間の自由状態における間隔Ｈは、チップキャリヤ基
板１の電極端子２の底部間の距離りより僅かに小さく設
定されている。

上記構成の本試験装置は、左右の列状のプローブピン１
０の垂直部１２の間に、チップキャリヤ基板ｌを挿入し
て使用する。すなわちチップキャリヤ基板１の両側の各
電極端子２の位置と、プローブピン１０の垂直部１２の
位置を一致させてチップキャリヤ基板１を左右の列状の
垂直部１２間に挿入すると、各電極端子２がそれぞれ対
応する垂直部１２に導通する。垂直部１２ばばね外部１
３によって電極端子２側への弾性を付されているので、
この導通は確実である。したがってプローブピン１０の
下水平部１１、または上水平部１４を外部試験装置３３
に接続することにより、チップキャリヤ基板ｌの試験を
行なうことができる。なおチップキャリヤ基板１の挿入
深さは、ストツバ突起１５によって規制される。

垂直部１２の外径ｄは、第６図のように、電極端子２の
内径りより僅かに小さく設定すると、垂直部１２が確実
に電極端子２内に嵌まるため、好ましい。

上記実施例は、チップキャリヤ基板ｌの４面に形成され
た電極端子２群のうち、対向する２面の電極端子２群に
ついて試験を行なう場合であるが、他の２面についても
同様に試験を行なうことができる。勿論、４面すべてに
対応させて４つのピン台２０を設けてもよい、逆にプロ
ーブピン１０列を保持したピン台２０を一つのみ設け、
このプローブピン１０列の垂直部１２に対し、チップキ
ャリヤ基板１を押し付けるようにして使用することもで
きる。

なおプローブピン１０の形状は、適宜変更可能であり、
特にばね外部１３の形状を適当に設定することで、弾性
を調節することができる。

「発明の効果」 以ヒのように本発明によると、チップキャリヤ基板の半
円筒状の電極端子に、プローブピンを嵌めることにより
、このプローブピンを介して、電極端子と外部試験装置
とを接続することができる。プローブピンの配列ピッチ
は、プローブピンの線径を小さくすることにより、小さ
くすることができるので、電極端子の配列ピッチが微細
になっても十分対処できる。またプローブピンおよび電
極端子は、それ自身が位置決めをするから、特別な位置
決めは不要であり、さらにプローブピンは、電極端子を
嵌める度に摩擦によりクリーニングされるセルフクリー
ニング効果が期待できるため、長期に渡り安定した信頼
性の高い接触を得ることができる。さらにプローブピン
は、ピアノ線を曲折して形成することができるので、安
価に提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のチップキャリヤ基板の電気試験装置の
実施例を示す縦断面図、第２図は同平面図、第３図はプ
ローブピンを支持したピン台の斜視図、第４図はプロー
ブピン単体の正面図、第５図は電極端子とプローブピン
の接触状態を示す斜視図、第６図は同平面図、第７図は
チップキャリヤ基板の平面図、第８図、第９図はそれぞ
れ従来のプローブによる電気試験状態を示す斜視図であ
る。 ｌ・・・チップキャリヤ基板、２・・・電極端子、１０
・・・プローブピン、１１・・・下水平部、１２・・・
垂直部、１３・・・ばね外部、１４・・・上水平部、１
５・・・ストッパ突起、２０・・・ピン台。 特許出願人　　旭光学工業株式会社 同代理人　　　　三　浦　邦　夫 同　　　松井　茂 第１図 第２図 第３図 第６図 第７図 第８図

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）基板側面に、複数の半円筒状の電極端子を並設す
   るチップキャリヤ基板の電気試験装置において、上記半
   円筒状の電極端子内に嵌まる断面円形のプローブピンを
   、該電極端子の配列ピッチに応じて列状に配設し、これ
   らのプローブピン列を介して電極端子を外部試験装置に
   接続することを特徴とするチップキャリヤ基板の電気試
   験装置。
2. （２）特許請求の範囲第１項において、プローブピン列
   は、チップキャリヤ基板の両側に対応させて対として設
   けられ、この一対のプローブピン列間に、該プローブピ
   ンの弾性によってチップキャリヤ基板が支持されるチッ
   プキャリヤ基板の電気試験装置。
3. （３）特許請求の範囲第２項において、プローブピン列
   には、それぞれチップキャリヤ基板の挿入深さを規制す
   るストッパ突起が曲折形成されているチップキャリヤ基
   板の電気試験装置。
4. （４）特許請求の範囲第１項ないし第３項のいずれか一
   において、プローブピンの外径は、半円筒状の電極端子
   の内径より、小さく形成されているチップキャリヤ基板
   の電気試験装置。
5. （５）特許請求の範囲第１項ないし第４項のいずれか一
   において、プローブピンはピアノ線からなっているチッ
   プキャリヤ基板の電気試験装置。