JPS61179549A - ウエハ検査顕微鏡装置 - Google Patents

ウエハ検査顕微鏡装置

Info

Publication number
JPS61179549A
JPS61179549A JP1877185A JP1877185A JPS61179549A JP S61179549 A JPS61179549 A JP S61179549A JP 1877185 A JP1877185 A JP 1877185A JP 1877185 A JP1877185 A JP 1877185A JP S61179549 A JPS61179549 A JP S61179549A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
inspection
section
stage
carrying
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1877185A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0783043B2 (ja
Inventor
Makoto Yoshinaga
吉永 允
Yoichi Iba
陽一 井場
Noriyuki Miyahara
宮原 則行
Masami Kawasaki
川崎 正美
Akimasa Morita
晃正 森田
Takashi Nagano
長野 隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP60018771A priority Critical patent/JPH0783043B2/ja
Priority to EP85107775A priority patent/EP0169387B1/en
Priority to AT85107775T priority patent/ATE52347T1/de
Priority to DE8585107775T priority patent/DE3577355D1/de
Priority to EP86101375A priority patent/EP0193001B1/en
Priority to AT86101375T priority patent/ATE42004T1/de
Priority to DE8686101375T priority patent/DE3662731D1/de
Publication of JPS61179549A publication Critical patent/JPS61179549A/ja
Priority to US06/928,682 priority patent/US4744642A/en
Priority to US07/198,642 priority patent/US4832474A/en
Publication of JPH0783043B2 publication Critical patent/JPH0783043B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1凹 本発明は、ウェハ検査顕微鏡装置に関するものである。
従来技術 従来のウェハ検査顕微鏡装置として例えば第6図に示し
た如く、センダー1と、ウェハ搬送部2と、ウェハ搬送
部2の中央部に設けられた回転テーブル3及び非接触プ
リアライメントセンサー・4設けられた検査部6と、検
査部6の中央部に設けられたXYステージ7と、XYス
テージ7の上方に固定配置された顕微鏡対物レンズ8と
、レシーバ−9と、センダー1.ウェハ搬送部2.レシ
ーバ−9に設けられたモータ駆動の搬送ベル1−10と
から基本的に構成され、センダー1にセントされたウェ
ハカセット11内のウェハ12をベルト搬送により回転
テーブル3上まで送り、続いて回転テーブル3を回転さ
せ非接触プリアライメントセンサー4によりウェハ12
のオリエンテーションフラット12aを検出して位置出
しを行い、次にアーム5によりウェハ12をXYステー
ジ7上に移した後XYステージ7によりウェハ12をX
Y方向に移動させながら対物レンズ8により検査し、そ
の後アーム5によりウェハ12を搬送部2に移しベルト
搬送によりレシーバ−9にセントされたウェハカセット
13内に送り込むようになっていた。ところが、このウ
ェハ検査顕微鏡装置は、搬送部2の回転テーブル3から
ウェハ12をとりせ変える工程及びその逆の工程がある
ためウェハ12の移動距離が長くなり、その結果検査工
程時間が長くなるという問題があった。又、アーム5な
ど搬送部2から検査部6へ又検査部6から搬送部2へと
ウェハ12を載せ変えるための機構が必要となるため、
構造が複雑になるという問題があった。又、検査部6を
搬送部2の側方に別個に設けているため装置に必要な床
面積が大きくなり、その結実装置が大型化してしまうと
いう問題があった。
目   的 本発明は、上記問題点に鑑み、検査工程時間が大幅に短
縮され、構造が簡単になり、装置が非常にコンバクl−
になるようにしたウェハ検査顕微鏡装置を提供せんとす
るものである。
1既   要 本発明によるウェハ検査顕微鏡装置は、ウェハ搬送部と
、該ウェハ搬送部内に設けられていてウェハを搬送方向
と同一方向に移動せしめるウェハ検査部と、該ウェハ検
査部の上方に設けられていて該搬送方向とは異なる方向
にウェハの上面に沿って移動する対物光学系とを具備し
ていることにより、ウェハを搬送しつつ検査し得るよう
にしてウェハを検査のためにわざわざウェハ搬送部の側
方へとり出したり逆に戻したりする必要をなくし、ウェ
ハ検査部をウェハ搬送部内に一体的に設けて装置に必要
な床面積が小さくて済むようにしたものである。
ス」L升 以下、第1図乃至第3図に示した一実施例に基づき上記
従来例と同一の部材には同一符号を付して本発明の詳細
な説明すれば、検査用ステージ7はウェハ搬送部2内に
設けられていると共に、吸気管14を介して図示しない
真空ポンプと接続されていて上面に載置されたウェハ1
2を吸着保持するようになっている。又、検査用ステー
ジ7は後述のステージ駆動装置によりウェハ12の搬送
方向と同一の方向(第2図矢印A方向)及び上下方向に
移動せしめられ、更に水平面内にて回転せしめられるよ
うになっている。15はウェハ搬送部2内に配設された
第一フレーム、16は第一フレーム15にローラガイド
15゛を介して上下方向に移動可能に装着され且つモー
タ17により駆動される第二フレーム、18は第二フレ
ーム16にローラガイド19を介して第2図矢印A方向
に移動可能に装着され且っモータ2oにより駆動される
と共に上部に検査用ステージ7が枢着された第三フレー
ム、21は検査用ステージ7の中心軸に固着されていて
モータ22により回動せしめられることにより検査用ス
テージ7を水平面内にて回転せしめるギヤであって、こ
れらがステージ駆動装置を構成している。23はウェハ
搬送部2に近接配置された検査顕微鏡本体、24は本体
1に固定された観察鏡筒、25は観察鏡筒24にアリ・
アリ溝結合によりウェハ12の搬送方向と直交する方向
(第2図矢印B方向)に移動可能に装着されていて内部
に対物レンズ8及びミラー26が設けられた対物鏡筒、
27は本体23内に設けられたハーフミラ−128は本
体23内に設けられた結像レンズ、?QL士士ノ末99
小μノー処;キ、−柄す・プリズム、30は接眼レンズ
、31は光源、32はコンデンサーレンズである。ここ
で、対物レンズ8.ミラー26.ハーフミラ−27,結
像レンズ18.プリズム29.接眼レンズ3oから成る
観察光学系は、ミラー26とハーフミラ−27との間の
光路長を変化させても合焦位置が変化しない例えばアフ
ォーカルな構成になっているものとする。
本発明によるウェハ検査顕微鏡装置は上述の如く構成さ
れているから、センダー1にセットされたウェハカセッ
ト11内のウェハ12は搬送ベルト10により検査用ス
テージ7上まで送られ、真空吸着により検査用ステージ
7上に吸着保持される。続いてステージ駆動装置により
検査用ステージ7を回転させ非接触プリアライメントセ
ンサー4によりウェハ12のオリエンテーションフラッ
ト12aを検出して位置出しを行った後、ウェハ検査の
ためにステージ駆動装置により検査用ステージ7をウェ
ハ搬送方向(第2図矢印へ方向)に移動させる。この時
の検査用ステージ7の移動釦離はウェハ12の直径分あ
れば良い。そして、これに加えて対物レンズ8をウェハ
搬送方向と直角な方向(第4図矢印C方向)にウェハ1
2の上面栓 に沿って移動せしめれば、ウェハ12の前面を検査する
ことができる。
尚、ウェハ12を検査用ステージ7上に載せないで搬送
ベルト10に載せたまま第4図矢印C方向に移動させて
も、対物レンズ8について自’j)J焦点調節を行えば
搬送ベルト10に凹凸があっても合jQ、状態が保たれ
るので、検査用ステージ7を不要にすることもできる。
第4図及び第5図は他の実施例の要部を示しており、こ
れは接眼部を固定し且つそれ以外の部分即ち光源部及び
観察鏡筒24を結像レンズ28の光軸を中心にして水平
面内にて回動可能にして、対物レンズ8がウェハ搬送方
向と交叉する円周方向(第4図矢印C方向)に移動する
ようにしたものであって、この場合ミラー26とハーフ
ミラ−27との間の光路長を変化させずに済み、顕微鏡
光学系の設計が容易となる利点がある。但し、観察鏡筒
24の回動に伴い像が回転するので、光学系の途中にイ
メージローテータ33を入れる必要がある。
鷹」肝凹」L艮 上述の如(本発明によるウェハ検査顕微鏡装置は、ウェ
ハを搬送しつつ検査し得るので、ウェハを検査のために
ウェハ搬送部の側方へとり出したり逆に戻したりする必
要なく、その結果検査工程時間が大幅に短縮される。又
、アーム等の載せ変え機構も不要になるので構造が節単
になる。又、ウェハ検査部をウェハ搬送部内に一体的に
設けているので、装置に必要な床面積が小さくて済み、
その結実装置が非常にコンパクトになる。これらの効果
は、検査処理速度の向上やウェハの大径化が求められて
いるこの種技術分野において極めて重要な効果である。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は夫々本発明によるウェハ検査顕微鏡
装置の一実施例の平面図、斜視図及び側面図、第4図及
び第5図は夫々他の実施例の要部の平面図及び概略断面
図、第6図は従来例の平面図である。 1・・・・センダー、2・・・・ウェハ搬送部、4・・
・・非接触プリアライメントセンサー、7・・・・検査
用ステージ、8・・・・対物レンズ、9・・・・レシー
バ−110、・、・搬送ベルト、11.13・・・・ウ
ェハカセット、12・・・・ウェハ、14・・・・吸気
管、15・・・・第一フレーム、15′・・・・ローラ
ガイド、16・・・・第二フレーム、18・・・・第三
フレーム、19・・・・ローラガイド、17,20.2
2・・・・モータ、21・・・・ギヤ、23・・・・検
査顕微鏡本体、24・・、・観察鏡筒、25・・・・対
物鏡筒、26・・・・ミラー、27・・・・ハーフミラ
−528・・・・結像レンズ、29・・・・プリズム、
30・・・・接眼レンズ、31・・・・光源、32・・
・・コンデンサーレンズ、33・・・・イメージローテ
ータ。 に≧ ;j−4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ウェハ搬送部と、該ウェハ搬送部内に設けられていて
    ウェハを搬送方向と同一方向に移動せしめるウェハ検査
    部と、該ウェハ検査部の上方に設けられていて該搬送方
    向と異なる方向にウェハの上面に沿って移動する対物光
    学系とを具備したウェハ検査顕微鏡装置。
JP60018771A 1984-06-25 1985-02-04 ウエハ検査顕微鏡装置 Expired - Lifetime JPH0783043B2 (ja)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60018771A JPH0783043B2 (ja) 1985-02-04 1985-02-04 ウエハ検査顕微鏡装置
EP85107775A EP0169387B1 (en) 1984-06-25 1985-06-23 Microscope
AT85107775T ATE52347T1 (de) 1984-06-25 1985-06-23 Mikroskop.
DE8585107775T DE3577355D1 (de) 1984-06-25 1985-06-23 Mikroskop.
AT86101375T ATE42004T1 (de) 1985-02-04 1986-02-03 Mikroskopvorrichtung zum pruefen von wafern.
EP86101375A EP0193001B1 (en) 1985-02-04 1986-02-03 Microscope apparatus for examining wafer
DE8686101375T DE3662731D1 (en) 1985-02-04 1986-02-03 Microscope apparatus for examining wafer
US06/928,682 US4744642A (en) 1984-06-25 1986-11-07 Microscope
US07/198,642 US4832474A (en) 1985-02-04 1988-05-26 Microscope apparatus for examining wafer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60018771A JPH0783043B2 (ja) 1985-02-04 1985-02-04 ウエハ検査顕微鏡装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61179549A true JPS61179549A (ja) 1986-08-12
JPH0783043B2 JPH0783043B2 (ja) 1995-09-06

Family

ID=11980894

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60018771A Expired - Lifetime JPH0783043B2 (ja) 1984-06-25 1985-02-04 ウエハ検査顕微鏡装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0783043B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6370433A (ja) * 1986-09-11 1988-03-30 Tokyo Electron Ltd プロ−ブ装置
JPH01207942A (ja) * 1988-02-16 1989-08-21 Olympus Optical Co Ltd ウエハ検査装置
JPH0254153A (ja) * 1988-08-17 1990-02-23 Nec Kyushu Ltd ウェーハ外観検査装置
JPH02281101A (ja) * 1989-04-21 1990-11-16 Tokyo Electron Ltd 半導体検査装置
JPH02309624A (ja) * 1989-05-24 1990-12-25 Canon Inc 露光装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5539021A (en) * 1978-09-14 1980-03-18 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Automatic plate tester
JPS56130934A (en) * 1980-03-17 1981-10-14 Nec Kyushu Ltd Inspecting device for semiconductor element
JPS5757246A (en) * 1980-09-25 1982-04-06 Fuji Photo Film Co Ltd Detecting and measuring apparatus for flaw
JPS5910231A (ja) * 1982-07-09 1984-01-19 Mitsubishi Electric Corp パタ−ン欠陥解析装置
JPS59128557U (ja) * 1983-02-18 1984-08-29 富士通株式会社 試料検査装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5539021A (en) * 1978-09-14 1980-03-18 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Automatic plate tester
JPS56130934A (en) * 1980-03-17 1981-10-14 Nec Kyushu Ltd Inspecting device for semiconductor element
JPS5757246A (en) * 1980-09-25 1982-04-06 Fuji Photo Film Co Ltd Detecting and measuring apparatus for flaw
JPS5910231A (ja) * 1982-07-09 1984-01-19 Mitsubishi Electric Corp パタ−ン欠陥解析装置
JPS59128557U (ja) * 1983-02-18 1984-08-29 富士通株式会社 試料検査装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6370433A (ja) * 1986-09-11 1988-03-30 Tokyo Electron Ltd プロ−ブ装置
JPH01207942A (ja) * 1988-02-16 1989-08-21 Olympus Optical Co Ltd ウエハ検査装置
JPH0254153A (ja) * 1988-08-17 1990-02-23 Nec Kyushu Ltd ウェーハ外観検査装置
JPH02281101A (ja) * 1989-04-21 1990-11-16 Tokyo Electron Ltd 半導体検査装置
JPH02309624A (ja) * 1989-05-24 1990-12-25 Canon Inc 露光装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0783043B2 (ja) 1995-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4157037B2 (ja) 欠陥検査装置
US20020036759A1 (en) Automatic exposing apparatus for both sides and exposing method thereof for works
TWI383936B (zh) 基板交換裝置、基板處理裝置及基板檢查裝置
JPH03203399A (ja) 部品装着装置
US4832474A (en) Microscope apparatus for examining wafer
KR20170077807A (ko) 산업용 로봇
JPS61179549A (ja) ウエハ検査顕微鏡装置
JP6524803B2 (ja) ブレイクシステム
JPS6085536A (ja) ウエハ位置決め装置
JPS6164623A (ja) 平らな部材を移送する装置
JPH08137091A (ja) マスク外観検査装置
KR100490952B1 (ko) 스테이지 방식을 갖는 다목적 광학 검사용 디스플레이패널 이송장치
JP3365781B2 (ja) 基板外観検査装置
KR100288085B1 (ko) 기판 반송용 스칼라형 로보트
WO2019065204A1 (ja) 搬送システム
JP2603191B2 (ja) 薄板傾動装置
JP2000337843A (ja) 外観検査装置
JPS61183614A (ja) ウエハ検査顕微鏡装置
JPH03107707A (ja) 撮像装置
JP2655578B2 (ja) 顕微鏡
JP2000182996A (ja) ダイシング装置
JPH0986655A (ja) 試料搬送装置
JP4184826B2 (ja) 搬送検査装置及び搬送装置
JPS62104131A (ja) ウエハ測定装置
JPS62155530A (ja) ダイボンデイング装置