JPH01207942A - ウエハ検査装置 - Google Patents

ウエハ検査装置

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JPH01207942A
JPH01207942A JP63033362A JP3336288A JPH01207942A JP H01207942 A JPH01207942 A JP H01207942A JP 63033362 A JP63033362 A JP 63033362A JP 3336288 A JP3336288 A JP 3336288A JP H01207942 A JPH01207942 A JP H01207942A
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wafer
rotary table
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switch
holder
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Kazu Nagai
永井 和
Genichi Yamana
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Eiichi Hanzawa
半沢 栄一
Akira Uriyuuta
瓜生田 明
Tatsuo Nirei
楡井 辰夫
Hidefumi Ibaraki
茨木 秀文
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、キャリア内に収納されたウェハを顕微鏡観察
のために搬送するウェハ搬送装置に関する。
〔従来の技術〕
従来ウェハ検査装置は、ウェハを収納するキャリアと顕
微鏡装置とをウェハ搬送装置を介して連結することによ
り構成されている。そして、ウェハ搬送装置は、そもそ
もウェハをキャリアから取出して顕微鏡ステージに送り
、顕微鏡観察の済んだウェハをキャリアに能率良く戻す
ように構成されている。
第9図は従来のウェハ搬送装置を含むウェハ検査装置全
体の斜視図、第10図は従来のウェハ搬送装置の平面図
であって、■はウェハ2を収納するキャリアである。3
はキャリア1をウェハ2の収納ピッチ間隔で上下動して
所定位置に移動するエレベータ、4はキャリア1からウ
ェハ2を押し出すウェハ押し出し、5は押し出されたウ
ェハ2を後述の回転台の方へ搬送したり該回転台上のウ
ェハ2をキャリア1の方へ搬送するコンベアベルト、6
は搬送されてきたウェハ2を矢印方向の往復動により回
転台に芯合わせするセンタ出しガイド、7はウェハ2を
真空吸着して回転・揺動せしめる回転台、8はウェハ2
の外周部より若干内側に位置するように配置されていて
ウェハ2のオリフラ位置を検出するオリフラセンサ、9
は上昇により回転台7上のウェハ2を載置し真空吸着し
てから180°回転し、その後真空吸着を解除し下降し
て後述のホルダにウェハ2を渡したり、同様な動作によ
りホルダ上のウェハ2を回転台7上へ受は渡す交換アー
ム、10はコンベアヘルド5によりキャリア1の方へ戻
されてきたウェハ2をキャリア】内へ押し込むウェハ押
し込み、11はその際のウェハ2の有無を検出するウェ
ハ検出センサである。12はXYステージ12aを有す
る顕微鏡装置、13は交換アーム9の上下死点の中間に
位置するようにしてステージ12a上にX方向に摺動可
能に取付けられていて交換アーム9からウェハ2を受取
って顕微鏡観察部に移動せしめたり、観察済みのウェハ
を交換アーム9に戻すホルダである。14はホルダ検知
スイッチ、15はキャリア1内の全ウェハ2を搬送する
か後述のウェハNO1指定スイッチにより指定されたウ
ェハ2を搬送するかを決める全数/抜取切替えスイッチ
、16はオリフラ合わせの方向を決めるオリフラ位置選
択スイッチ、17はクリーニングスイッチ、18はエラ
ー表示LED、19は抜取りするウェハ2の陽を指定す
るウェハ階指定スイッチ、20は動作の開始を入力する
開始スイッチ、21は途中で装置を初期状態にするリセ
ットスイッチ、22は緊急に装置の動作を停止させる非
常停止スイッチであって、これは図示しない制御回路を
介して上記部材と接続されている。そして、上記部材か
らキャリア1及び顕微鏡装置11を除いた部材がウェハ
搬送装置を構成していた。
又、このウェハ搬送装置の動作は次のようであった。
まず、エレベータ3にキャリア1を乗せ、開始スイッチ
20をONにすると、エレベータ3が1枚目(キャリア
1の1番下が1枚目)のウェハ2の搬送位置まで下降し
1枚目のウェハ2がウェハ押し出し4によりコンベアベ
ルト5の上に押し出される。ウェハ2はコンベアヘルド
5により回転台7上に搬送されセンタ出しガイド6によ
り回転台7に芯合わせされる。その後回転台7はウェハ
2を真空吸着し回転させる。次にオリフラセンサ8によ
りウェハ2のオリフラ位置を検出し、オリフラ位置選択
スイッチ16により設定されたオリフラ位置でウェハ2
を停止させる。次に、回転台7より下方位置に待機して
いた交換アーム9が上昇し、その一端にウェハ2を載せ
て真空吸着し、180゛回転する。その後交換アーム9
は真空吸着を解除して再び下降する。この交換アーム9
の下降途中でホルダ13がウェハを受は取り、顕微鏡観
察部に送る。又、交換アーム9の下降後、キャリア1内
の2枚目のウェハ2がウェハ押し出し4によりコンベア
ベルト5上に押し出され、以下上記と同様にしてオリフ
ラ合わせされ、待機する。
顕微鏡装置11によるホルダ13上のウェハ2の検査が
終了後、開始スイッチ20をONにすると、交換アーム
9が上昇し、1.2枚目のウェハ2を真空吸着して18
0°回転し、真空吸着解除後下降し、よって1枚目と2
枚目を入れ換える。
1枚目のウェハ2は、コンヘアベルト5によりキャリア
1内の元のスロットに入り、ウェハ押し込み10により
完全に押し込まれる。その後、3枚目のウェハ2がウェ
ハ押し出し4によりコンベアベルト5の上に押し出され
、上記と同様にしてオリフラ合わせされ、待機する。
以下同様にして順次ウェハ2をホルダ13に搬送する。
最後のウェハ2がホルダ13内に収納されると、エレベ
ータ3は上昇し、所期位置で停止する。
又、上記動作において、全数/抜取切替えスイッチ15
で、キャリア1内の全てのウェハ2を搬送する(全数検
査)か、ウェハ階指定スイッチ19で指定したウェハ2
のみを搬送する(抜取検査)かを設定する。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、ウェハ検査では、必ずしも顕微鏡観察をする
までもなく、搬送過程でウェハ2をマクロ観察と呼ばれ
る肉眼観察をしてすぐキャリア1に戻したり、時にはオ
リフラ合わせをしただけでウェハ2をキャリア1へ戻す
という操作もあった。
しかし、上記従来のウェハ搬送装置は、一連の流れの中
で機能を選択して対処するようにはなっていなかった。
そのためウェハ検査の行程で顕微鏡観察、マクロ観察、
オリフラ合わせ操作を適宜行うために、夫々の観察、操
作に応じた搬送装置を個別に用意して項目に応じた装置
に移し変えたり、顕微鏡観察への過程の途中で非常停止
してマクロ観察に入るなどしなければならず、操作性が
悪くて検査の多様性への適合が困難であった。
本発明は、上記問題点に鑑み、操作性を良くし、検査の
多様性への適合を容易にしたウェハ搬送装置を提供する
ことを目的とする。
〔課題を解決するための手段及び作用〕本発明によるウ
ェハ搬送装置は、キャリア内に収納されたウェハを顕微
鏡観察のために搬送するウェハ搬送装置において、前記
キャリアを上下動して所定位置に移動するエレベータと
、前記エレベータの上下動によりウェハを載置し前記キ
ャリアから水平移動する第1のウェハ移動手段と、前記
第1のウェハ移動手段からウェハを載置して回転・揺動
する回転台と、前記回転台からウェハを載置して水平移
動する第2のウェハ移動手段と、前記第2のウェハ移動
手段からウェハを受取って顕微鏡観察部に移動せしめる
ホルダと、前記回転台の回転中にウェハのオリフラ位置
を検出するオリフラ検出器と、前記回転台を傾斜揺動す
る揺動手段と、ウェハの前記キャリアからの取出し、前
記回転台上での操作・観察及び前記ホルダへの移動を適
宜選択・中断することにより、搬送シーケンスを適宜実
行・変更するスイッチ群とを備えていることにより、各
種の操作・観察を検査行程の中で自在に適合させ得るよ
うにしたものである。
〔実施例〕
以下、図示した一実施例に基づき、上記従来例と同一の
部材には同一符号を付して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明によるウェハ搬送装置の一実施例を含む
ウェハ検査装置全体の斜視図、第2図は上記実施例の平
面図である。23は後述の駆動機構により駆動されるよ
うになっていて、エレベータ3の上下動によりウェハ2
を載置した後真空吸着し、キャリア1より水平移動せし
めて回転台7に渡したり、回転台7上のウェハ2をキャ
リア1へ戻す吸着アームである。24は回転台7を揺動
する手段と電気的又は機械的に連結されているジ日イス
ティック、25は操作パネルである。
第3図は吸着アーム23の駆動機構の平面図、第4図は
該駆動機構の一部破断正面図、第5図は第4図V−V線
に沿う断面図であって、第3図中の(r)、  (1,
(IIF)は夫々吸着アーム23の回転台7上にある位
置、ウェハ2をキャリア1に収納後火のウェハを受は取
る前の待機位置、キャリアl内に挿入した位置を示して
いる。
26は搬送装置本体に固定されたフレーム、27はフレ
ーム26の左右(第2図では前後)壁間に横架された一
対の水平ガイド軸、28はリニア軸受29を介して水平
ガイド軸27に摺動可能に装架されたアームブロック、
3oはリニア軸受31を介してアームブロック28に上
下方向に摺動可能に支持された一対の支持軸、32は支
持軸30の上端に固着され且つ先端部に吸着アーム23
が固定されていると共に支持軸3oの下方への抜けも防
止する支持腕、33は支持軸3oの下端に固着されてい
て支持軸30の上方への抜けを防止すると共に後述のエ
アシリンダのピストンロンドに係合し得る保合片、34
は支持軸3oに上方への移動習性を付与しているバネ、
35は支持腕32に固定されていてアームブロック28
が上下方′向に動いた時後述の上点センサー、下点セン
サーに検知される被検知片、36はアームブロック28
に固定されていてアームブロック28が水平方向に移動
した時後述の位置センサーに検知される被検知片である
。37及び38はフレーム26の左右端近傍に枢着され
たプーリー、39はプーリー37.38間に掛けられ且
つアームブロック28に接続されたベルト、40はプー
リー37を駆□ 動する正逆回転可能なモータであって
、これらがアームブロック水平駆動機構を構成している
。41.42.43は夫々上記位置(1)、(It)。
(III)に対応してフレーム26に固定されていて被
検知片36を検知することによりアームプロ・ツク28
の水平方向位置を検出する位置センサーである。44は
フレーム26の左端近傍に固定されていてアームブロッ
ク28が上記位置(I)にある時ピストンロッド44a
が係合片33に係合してアームブロック28を引き下げ
たりするエアシリンダー、45.46はフレーム26の
左壁に固定されていてアームブロック2Bが上記位置(
■)にある時被検知片35を検知することによりアーム
ブロック28の上下方向位置を検出する上点センサー、
下点センサーである。
第6図は操作パネル25の正面図である。47は自動/
手動切替えスイッチであって、自動モードの時は開始ス
イッチ20を一回押すだけで全ウェハ2が連続的に搬送
され、手動モードの時は開始スイッチ20を一回押すた
びに一枚のウェハ2が搬送されるようになっている。4
8はシーケンス設定スイッチであって、ホルダ搬送スイ
ッチがONの時は顕微鏡観察のためにウェハ2がホルダ
13まで搬送され、オリフラ合わせスイッチがONの時
は回転台7上でオリフラ合わせが行なわれ、揺動マクロ
スイッチがONの時は揺動マクロ観察のために回転台7
に真空吸着されているウェハ2がジョイステック24の
操作により回転台7と一緒に上昇せしめられて傾斜せし
められ、水平マクロスイッチがONの時は水平マクロ観
察のためにウェハ2が回転台7上に搬送され、マクロ回
転スイッチがONの時は揺動マクロ観察、水平マクロ観
察においてウェハ2が回転台7と一緒に回転せしめられ
るようになっている。49は回転台7の回転速度を設定
する回転速度設定スイッチ、50は停止時間設定スイッ
チであって、マクロ観察シーケンスの時はウェハ2の回
転台7上での停止時間を設定し、ホルダ搬送シーケンス
の時はウェハ2のホルダ13上での停止時間を設定する
(但し、自動モードの時)ようになっている。51は一
時停止スイソチであって、これがONの時は停止時間設
定スイッチ49を無効にして連続停止を行わせるように
なっている。52は処理中のウェハ2の漱又はエラーコ
ードを表示するウェハ磁/エラーコード表示部、53は
階/コード表示LED、54は自動/手動表示LED、
55は全数/抜取表示LEDである。
次に本実施例の動作について説明する。
ウェハの搬送について: (1) 自動モードでホルダ搬送・オリフラ合わせシー
ケンスの場合 まず、エレベータ3にキャリア1を載せて開始スイッチ
20を押すと、エレベータ3が1枚目のウェハ2の取り
出し位置まで下降する。次に、位置(I[)にあった吸
着アーム23が水平駆動機構により第7図−点鎖線図示
の如く1枚目のウェハ2の下に挿入され(位置(I[I
) ) 、エレベータ3を若干下降せしめることにより
吸着アーム2にウェハ2が載せられて真空吸着され、吸
着アーム2は水平駆動機構によりそのまま第7図実線図
示の如く回転台7の上方(位置(■))まで水平移動し
、真空吸着を解除しエアシリンダ44により下降して回
転台7上にウェハ2を載せる。次に、センタ出しガイド
6の第2図矢印方向の往復動によりウェハ2が回転台7
に芯合わせされる。その後ウェハ2を回転台7に真空吸
着し回転させる。次に、オリフラセンサ8によりウェハ
2のオリフラを検出し、オリフラ位置選択スイッチ16
により設定されたオリフラ位置でウェハを停止させる。
次に回転台7より下方位置に待機していた交換アーム9
が上昇してウェハ2を該アーム9に載せ真空吸着し、1
80°回転する。続いて、交換アーム9は真空吸着を解
除して再び下降し、ホルダ13は交換アーム9の下降途
中でウェハ2を受は取る。交換アーム9の下降後、キャ
リア1内の2枚目のウェハ2が吸着アーム23により回
転台7上に搬送され、オリフラ合わせされる。
次に停止時間設定スイッチ50により設定された停止時
間後、交換アーム9が上昇し、ホルダ13上及び回転台
7上の1,2枚目のウェハ2を真空吸着し、180°回
転する。続いて、交換アーム9は真空吸着解除後下降し
、1枚目と2枚目ウェハ2の交換を完了する。尚、上記
停止時間は、ホルダ13が顕微鏡装置側にセットされて
いたときは、ホルダ13がホルダ検知スイッチ14に検
知された時即ち顕微鏡観察が終了しホルダ13が戻され
たことが検知された時から計時される。その後1枚目の
ウェハ2は、吸着アーム23によりキャリア1内の元の
スロット内に戻される。その後3枚目のウェハ2が吸着
アーム9により回転台7上に搬送され、再びオリフラ合
わせされて待機せしめられる。
以下同様に順次ウェハ2がホルダ13まで搬送されるが
、最後のウェハ2がホルダ13内に収納されると、エレ
ベータ3.吸着アーム23は初期位置に戻って停止せし
められる。
(ii )  オリフラ合わせのシーケンスが設定され
ていない場合 オリフラ合わせは省略される。
(iii )  手動モードの場合 停止時間による動作の制御がなく、常に開始スイッチ2
0による制御となる。
マクロ観察について: (i)  自動モードで揺動マクロシーケンスが設定さ
れている場合 まず、エレベータ3にキャリア1を載せて開始スイッチ
20を押すと、前述と同様にして吸着アーム23により
1枚目のウェハ2が回転台7上に搬送された後センタ出
しガイド6により回転台7に芯合わせされる。次に回転
台7にウェハ2を真空吸着し、回転台7と一緒に上昇さ
せる。次に、回転台7は下降時以外はジョイステック2
4の操作により第8図のaのように全方向に傾斜せしめ
られ、その状態でウェハ2の観察が行われる。尚、マク
ロ回転のシーケンスが設定されている場合は、回転速度
設定スイッチ49によって設定された速度で回転台7が
回転せしめられる。次に停止時間設定スイッチ50によ
り設定された時間回転台7が上昇状態を保った後、回転
台7は再び下降する。
そして、吸着アーム23が、1枚目のウェハ2をキャリ
ア1内に戻し、2枚目のウェハ2を1枚目と同様に揺動
検知位置まで搬送する。
以上の繰り返しが行なわれ、最後のウェハ2がキャリア
1内に収納されると、吸着アーム23゜エレベータ3は
初期位置に戻り停止する。
(11)  水平マクロシーケンスが設定されている場
合 基本動作は揺動マクロシーケンスと同様であるが、回転
台7が上昇せず第8図のbの状態でウェハ2の観察が行
われる。尚、マクロ回転のシーケンスが設定されている
時は、揺動マクロ観察の場合と同じである。
(iii )  シーケンス設定スイッチ48の全てが
設定されていない場合 吸着アーム23によるウェハ2のキャリア1に対する抜
き出し収納動作のみとなり、観察位置は第8図のCとな
る。
(1■)  手動モードの場合 一枚のウェハ毎に開始スイッチ20を押して行うことに
なり、吸着アーム23はキャリア1内にウェハ2を収納
した後火のウェハ2を取り出し、準備完了状態で開始ス
イッチ20の動作待ちで待機する。
揺動マクロ又は水平マクロのシーケンス設定でオリフラ
合わせシーケンスが設定されている時は、搬送途中又は
収納途中でオリフラ合わせされる。
(v)  シーケンスの途中変更の場合−枚のウェハ毎
にシーケンスの変更ができる。
例えば水平マクロシーケンスの状態で検査中に、顕微鏡
で更に詳細に観察したい場合、先ず一時停止スイノチ5
1を押して停止時間設定スイッチ50を無効にし、ホル
ダ搬送(オリフラ合わせの必要ある場合は更にオリフラ
合わせ)のシーケンス設定スイッチを押す、すると、該
当ウェハ2がホルダ13まで搬送される。
以上のように、本実施例は、各種の操作・観察を検査行
程の中で自在に適合し得るようにしているので、操作性
が良く、検査の多様性への適合が容易である。具体的に
は、(1)複数種のマクロ観察に対応できる、(2)マ
クロ観察と顕微鏡観察の切替えにワソタソチで対応でき
る、(3)−枚のウェハ毎に上記観察の変更ができる、
(4)揺動せずに水平状態で回転なしで検査の場合に揺
動1回転を排除できるので搬送時間が短くて済むなどの
利点がある。
尚、本発明は以上の実施例にとられれず、例えばシーケ
ンスの設定スイッチをシーケンス個々にもつのではなく
、予め組合わされたシーケンス毎にまとめて複数種を用
意しても同様な効果が得られる。又、マクロ観察専用機
に限定した装置においても、種々のマクロ観察に対応で
きることも言うまでもない。
(発明の効果〕 上述の如く、本発明によるウェハ搬送装置は、操作性が
f<、検査の多様性への適合が容易であるなど実用上重
要な利点を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるウェハ搬送装置の一実施例を含む
ウェハ検査装置全体の斜視図、第2図は上記実施例の平
面図、第3図及び第4図は夫々上記実施例の吸着アーム
の駆動機構の平面図及び−部破断正面図、第5図は第4
図V−V線に沿う断面図、第6図は上記実施例の操作パ
ネルの正面図、第7図及び第8図は夫々上記実施例の吸
着アーム及び回転台の動作を示す図、第9図は従来例を
含むウェハ検査装置全体の斜視図、第10図は従来例の
平面図である。 1・・・・キャリア、2・・・・ウェハ、−3・・・・
エレベータ、6・・・・センタ出しガイド、7・・・・
回転台、8・・・・オリフラセンサ、9・・・・交換ア
ーム、11・・・・ウェハ検出センサ、12・・・・顕
微鏡装置、13・・・・ホルダ、14・・・・ホルダ検
知スイッチ、15・・・・全数/切替えスイッチ、16
・・・・オリフラ位置選゛択スイッチ、19・・・・ウ
ェハ隘指定スイソチ、20・・・・開始スイッチ、21
・・・・リセットスイッチ、22・・・・非常停止スイ
ッチ、23・・・・吸着アーム、24・・・・ジョイス
テック、25・・・・操作パネル、26・・・・フレー
ム、27・・・・水平ガイド軸、28・・・・アームブ
ロック、29.31・・・・リニア軸受、30・・・・
支持軸、32・・・・支持腕、33・・・・係合片、3
4・・・・バネ、35.36・・・・被検知片、37.
38・・・・プーリー、39・・・・ベルト、40・・
・・モータ、41.42.43・・・・位置センサー、
44・・・・エアシリンダ、45・・・・上点センサー
、46・・・・下点センサー、47・・・・自動/手動
切替えスイッチ、48・・・・シーケンス設定スイッチ
、49・・・・回転速度設定スイッチ、50・・・・停
止時間設定スイッチ、51・・・・−時停止スイソチ、
52・・・・ウェハ磁/エラーコード表示部、53・・
・・階/コード表示LED、54・・・・自動/手動表
示LED、55・・・・全数/抜取表示LD0

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)キャリア内に収納されたウェハを顕微鏡観察のた
    めに搬送するウェハ搬送装置において、前記キャリアを
    上下動して所定位置に移動するエレベータと、前記エレ
    ベータの上下動によりウェハを載置し前記キャリアから
    水平移動する第1のウェハ移動手段と、前記第1のウェ
    ハ移動手段からウェハを載置して回転・揺動する回転台
    と、前記回転台からウェハを載置して水平移動する第2
    のウェハ移動手段と、前記第2のウェハ移動手段からウ
    ェハを受取って顕微鏡観察部に移動せしめるホルダと、
    前記回転台の回転中にウェハのオリフラ位置を検出する
    オリフラ検出器と、前記回転台を傾斜揺動する揺動手段
    と、ウェハの前記キャリアからの取出し、前記回転台上
    での操作・観察及び前記ホルダへの移動を適宜選択・中
    断することにより、搬送シーケンスを適宜実行・変更す
    るスイッチ群とを備えていることを特徴とするウェハ搬
    送装置。
  2. (2)揺動手段がジョイスティックと連動していること
    を特徴とする請求項(1)に記載のウェハ搬送装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04315948A (ja) * 1991-04-16 1992-11-06 Sharp Corp 外観検査装置
US5460478A (en) * 1992-02-05 1995-10-24 Tokyo Electron Limited Method for processing wafer-shaped substrates
US6241456B1 (en) * 1998-11-30 2001-06-05 Olympus Optical Co., Ltd. Wafer inspecting apparatus and method
KR20160078864A (ko) * 2014-12-25 2016-07-05 닛토덴코 가부시키가이샤 목시 검사 장치
CN110954540A (zh) * 2018-09-27 2020-04-03 天津滨海光热反射技术有限公司 一种井字形升降镜面质检装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56116638A (en) * 1980-02-20 1981-09-12 Nec Corp Semiconductor wafer appearance inspecting device
JPS61179549A (ja) * 1985-02-04 1986-08-12 Olympus Optical Co Ltd ウエハ検査顕微鏡装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56116638A (en) * 1980-02-20 1981-09-12 Nec Corp Semiconductor wafer appearance inspecting device
JPS61179549A (ja) * 1985-02-04 1986-08-12 Olympus Optical Co Ltd ウエハ検査顕微鏡装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04315948A (ja) * 1991-04-16 1992-11-06 Sharp Corp 外観検査装置
US5460478A (en) * 1992-02-05 1995-10-24 Tokyo Electron Limited Method for processing wafer-shaped substrates
US6241456B1 (en) * 1998-11-30 2001-06-05 Olympus Optical Co., Ltd. Wafer inspecting apparatus and method
KR20160078864A (ko) * 2014-12-25 2016-07-05 닛토덴코 가부시키가이샤 목시 검사 장치
JP2016121982A (ja) * 2014-12-25 2016-07-07 日東電工株式会社 目視検査装置
CN110954540A (zh) * 2018-09-27 2020-04-03 天津滨海光热反射技术有限公司 一种井字形升降镜面质检装置

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JP2659384B2 (ja) 1997-09-30

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