JPS6085536A - ウエハ位置決め装置 - Google Patents

ウエハ位置決め装置

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JPS6085536A
JPS6085536A JP19240683A JP19240683A JPS6085536A JP S6085536 A JPS6085536 A JP S6085536A JP 19240683 A JP19240683 A JP 19240683A JP 19240683 A JP19240683 A JP 19240683A JP S6085536 A JPS6085536 A JP S6085536A
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JP
Japan
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wafer
positioning
stage
detector
plane
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JP19240683A
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English (en)
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Minoru Ikeda
稔 池田
Masayuki Kawarada
政幸 川原田
Susumu Aiuchi
進 相内
Minoru Tanaka
稔 田中
Naoto Nakajima
直人 中島
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/681Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の対象〕 本発明は半導体ウェハ処理装置などに用いられるウェハ
位置決め装置に関するものである。
〔発明の背景〕
ウェハの加工、もしくは検査を行なう機械には該ウェハ
を精密に位置合せする装置が設けられるが、このaF密
位置合せ装置を作動せしめるための準備として、任意の
向きにて供給されるウェハをその外形を基準に位置決め
するクエへ位、置決め装置が用いられる。
従来用いられているウェーへ位置決め装置はウェー外周
をローラに当接せしめて位置決めを行なうものである。
第1図に示すごとくウェハ1は外周の一部に方向決めの
だめの直線部(オリエンテーシ冒ンフラット以下オリフ
ラという。)2を持っている。ウェハはエア浮上搬送路
6を矢印4の方向に搬入され、はぼ直線状に並べた3本
の回転ローラ5.6.7、及び固定ローラ8に当接する
ウニへ〇円周部が3本のローラに向いているとキシ13
本のうち中央のローラ6にのみ当接し、ウェハは反時計
方向に回転する。
6本のロー2は中央のロー26が両端のロー25.7よ
りややウェハよシ遠くなる様に配置する。これによシ第
2図に示す・鎌にオリフラ2が6本のロー2に向くとオ
リ7うは両端のローラ5.7に当接し、こルらはウェハ
を互に逆方向に回転させようとするので、ウェハの回転
は停止し、ロー:)5.7.8に当接して位置決めされ
る。
ウェハ1がエア浮上搬送路6を矢印4方向に搬入されて
最初にローラにぶつかる時の衝激によりウェハ外周が損
傷するおそれがある。またウェハが位置決めされるまで
ローラ6.8がウェハ外周に連続的に当接するため、ウ
ェハ外周の損傷によるゴミ等がローラを介在して他のク
エへ等に拡散する。
〔発明の目的〕
本発明の目的は上記従来技術の欠点を無りシクエへに損
傷を与えるおそれが無く、ウェハ外周に当接しないウェ
ハ位置決め装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は上記目的を達成するためにウェハを移動台に吸
着固しウエノ為外周の位置を光電検出し、所定の位置に
なる様に移動台を移動することにした。
また本発明は、切欠部を有するウェーを、その中心近傍
を軸として回転させながら(最終的には1回転させ元に
戻す)、その周縁部に関する一次元撮像画像信号につい
て画像処理および演算処理を行なうことにより、上記切
欠部を検出して上記ウェハの回転方向の位置ずれ量を算
出、記憶した後、再び上記ウエノ・の周縁部につhて上
記平面内の直交方向の各軸の近傍を画像処理および演算
処理することにより、上記ウェハが含まれるべき平面内
の基準位置からの位置ずれ量を算出し、それに基づいて
上記平面内の直交方向に上記クエへを各々移動させて直
交方向の位置合わせを行い、その後、既に算出している
回転方向の位置ずれ量を基に目的とする位置までウェハ
を回転させて、位置合わせを行なうようにするものであ
る。
更に本発明は切欠部を有する円板状のウエノ1を保持し
、かつ上記板状物が含まれる平面内で交互に直交方向に
移動させる平面移動ステージと、これを回転させる回転
ステージと、上記クエへの周縁部を撮像する一次元撮像
装置と、その撮像画像iK号に1づして上記板状物の回
転方向のずれ量および上記平面内の基準位置に関して直
交方向の各位置ずれ量を算出し、その演算結果に基づi
て上記の平面移動ステージと回転ステージの位置合わせ
駆動の制御をするコントローラとからウェハ位置位置決
め装置である。
〔発明の実施列〕
以下本発明を図に示す実施例にもとづいて具体的に説明
する。
第3図は本発明のウェハ位置決め装置の側面図、第4図
は同平面図である。
ウェハ1はベルトコンベア等の搬送装置(図示せず)K
よりウェハチャック1o上に供諭され、真空吸着される
ウェハチャック10はクエへ面に垂直な軸のまわりvc
1回転以上回転する7−タステージ11に固定され、シ
ータステージ11はクエへ面内で直交する2方向に移動
するXYステージ12jC固定されている。
ウェハ外周に3個の光電式位置検出器13.14.15
を配置する。各々は投光器16と、受光器17によシ構
成され、光路にピンホール18を記して位置検出感度を
高める。
yt亀式位置演出器の配置はクエへが位1屋決め完了し
た時にウェハの外周が光電式位置検出器の光束を半分さ
えぎる様にし、1り13を円周上オリフラに対してほぼ
直角な線を検出する位置に、2ケをオリフラ上に配置す
る。オリ7うの長さの中央付近に1ケ14を115をオ
リフラの端近くに配置する。
光電式位置検出器13v光束がウコ:ノ為1によりさえ
ぎられた場合には、第4図に矢印で示すX方向にXYス
テージを移動させる様モータ(図示せず)にて駆動し、
光束がさえぎられない場合は反対方向に駆動し、光束が
半分さえぎられた位置にてモータが停止する様にサーボ
制御する。同様に検出器14で、まY方向に、演出、得
15ではシータ方向に各々モータを駆動しサーボ制御す
る。
ウェハ1をウェハチャック10に真空吸音後、X方向、
Y方向、シータ方向、同時に制御を開始し、3方向共に
光束が半分さえぎられてモータが停止すると、ウェハ1
の位置決めが完了する。第5図に位置決め途中の状態を
示す。多くの場合、オリフラ2は光電式位置検出器14
.15に対向しない方向で供給され、X方向、Y方向の
制御が先に完了して図の状態にな9、シータ方向のみ駆
動を続ける。シータステージ110回転中心とウエノ・
1の円周の中心とは通常ずれているので、シータの回転
につれてXY方向のずれを生じるが、このときXY方向
の制御が再開して位置を修正する。
第6図は第4図におけるオリフラ端近くに配置した光電
式位置検出器15の位置を検出器140反対側16に変
更したもので、シータ(回転)方向の制御の方向を第4
図の場合と逆にすることによシ同様にウェー・の位置決
めができる。以上はウェハ中心付近におけるXY方向の
位置決め精度を重視した配置である。
第7図は位置決め時にオリフラを検出する2個の光電式
位置検出器14.150間隔を第4図の場合より広くし
て、7−タ(回転)方向の位置決め精度を向上させるも
ので、第4図ではオリフラの中央付近に配置してY方向
を制御する検出器14を、X方向を制御する検出器16
の方へ近すけて配置する。近ずける限度は鏝も径の大き
いウェハの円周が検出器13.14の光束を半分さえぎ
るとき、7−タ(回転)方向を制御する。検出器15の
光束とさえぎらない範囲である。
すなわち、検出器13.14.15の光束の中心を通る
円の径は最大ウェハ径より大きい。
この範囲をこえて検出器15の光束を半分さえぎる配置
にするとクエへ円周が検出器14.15にかかった状態
に誤り゛C位位置決する。また・★重器15の光束を全
部さえぎる配置jiKrるとオリ7うが検出器13にか
力1りた状態に誤りて位置決めする。
第7図の配置のまま、検出器15と1食出器14の機能
を交替しても第6図と同様にシータ(回転)方向の制御
の方向を逆にすることにょシ位置決めができる。
また、第8図に示す様に第7図の配置の検出器14.1
5の和信号でYモータを、差信号でン−タモータを制御
する方式にすると;s4図、第6図におけると同様にウ
ェハ中央付近における位置決め精度が良く、かつシータ
方向の精度も向上させることができる。
第9図は光電式位置検出器を4個用A1オリ7うの両端
近くに検出器15.16を配置し、これらの差動出力で
7−タ方向の制御を打ない、オリフラ中央近くに配置し
た検出器14にてY方向の制御を行なう様にしたもので
、ウェー・中央の位置決め精度と7−タ方向の位置決め
精度を共に向上させることが−できる。クエへ円周が検
出器14にかかった状態の時には演出腸15.16共に
光束をさえぎらなくなシ差動出力が零となって7−タ方
向の駆動ができなくなる恐れがあるので第10図に示す
鎌に検出層の飽和出力をアンバランスにしておく。この
方式は第7図又は第8図の方式と比較して、オリ7うを
検出する検出器の配置に対する制約が少なく、このため
従来のローラ方式(第1図)と位置決め基準の互換性を
持たせるのが容易である。
以上述べた方式によシクエノ1を位置決めした後、クエ
へ真空吸着搬送アーム等(図示せず)によりウェハ精密
位置合せ装置ヘクエノ・を供給する。
更に本発明の池の実施例を第11図乃至第20図にもと
づいて説明する。
第11図は、本発明に係る板状物の位置合すせ装置の一
実施例の構成図、第12図、第15図はその回転方向の
位置ずれ盪算出方法の説明図、第14図乃至1K18図
、第19図は、同水平面内の位置ずれ量算出方法の説明
図、第20図は、それら位置ずれ量算出結果に基づく位
置合わせ方式の説明図である。
ここで、1は切欠部2を有する円板状の板状物(例えば
シリコンウェー)、12Aは、平面移動ステージに係り
、駆動用モータ17Aで駆動されるXステージ、12B
は、同じく、駆動用モータ17Bで駆動されるXステー
ジ、11は駆動用モータ11Aで駆動される回転ステー
ジ(以下θステージという)19は一次元撮偉装置(例
えばラインセンチ、以下CODとハう)、18は照明装
置、20よコントcX−9である。
第12図K F?nで、板、大物1;dXス?−ジ12
A上に真空吸着で保持されるようになっており、またこ
のXステージ12Aの駆動用モータ17AはXステージ
12B上に固定されている。
Xステージ12Bの駆動用モータ17Bは、θステージ
11上(0付けられている。θステージ11は、その、
駆動用モータ11Aによって回転方何に摺動ができるよ
うになりている。
コントロー220は、CCD1?から取り込んだ一次元
撮像画像信号に基づ嶋て板状物1の位置ずれ量を算出す
る演算処理手段(一般に〕7トウエアである)を有して
おシ、その演算状態に基づいて、各ステージ12A、1
2B、11の駆動用モータ17A、 17fl、11人
の位置決め制御ができるものである。
一般に、板状物1を上記ステージに載せた場合、板状物
1の中心とθステージ11の中心軸とは必ずしも合致し
ない。
ます、回転方向の位置rれ・置市方法について説明する
第12図にお八て、CCD19は図中19Aの箇所の画
像を取り込んでお9、また、板状物1の切欠部2は図中
上方にあるものとする。さらに板状物1の中心Owは、
θテーブル11の中心軸0からは、図に示すようにΔx
1Δyだけずれているものとする。
コントローラ20は、板状f!11の周縁部Dm所の画
像を収り込みながら、その画像処理をしてθテーブル1
1を回I訳させ、切欠部2を噴出するすなわち、板状物
10周縁部データは、第13図に示すような曲線となり
、切欠部2の1所のデータは、曲線の傾斜が変わシ急峻
な曲線となる。そのデータ群の中で、曲線の1項斜が急
激に変化する点のデータSI%3tのうち、小さい方の
データ(図の場合はS2である)と、3+からS!まで
のデータ群の中の厳小(直Sm1nとの中間の値5ty
pと同じ値の箇所の回転角度■寥と■!の中間■Xが請
求めるべき回転方向の位置ずれ量となる。
次に、板状物1が含まれる平面内(通常、水平面内)の
位置ずれ(Δx1Δy)検出方法について説明する。
第14図に示すように、まずXステージ12Aをxaだ
け図中右側に、膠勘しくBの位置)、周縁部の画像を取
り込み、この周縁部データをSxlとして記憶する。同
様に図中左側にもxaだけXステージ12Aを移動して
(図中10の位置)、周縁部データSxrを記憶する。
すなわち、これは、第15図に示すように、水平面内の
θテーブル11の中心軸O上のY袖(十Y−−Y線)と
周縁部が交差する箇所から、+X、−X方向に各々xa
だけ離れてハる1所の周縁部画像を取り込んだことにな
る。
ここで、第15図にお−て、平面内の位1置ずれのうち
X軸方向の位置ずれ量ΔXを算出する。
また、板状物10の半径R・儂、 で表わせるから、この式からBxは、 一方、図中αは Ixa α=””Ili であり、また、X軸方向の位置ずれムΔXは、図から Δx=Bx +5ina で表わすことができる。
したかつて、前述の式を代入すると、 となる。ここで、半径Rは設計データとして既知のデー
タである。
その後、第16図に示すように、θステージ11を90
6回伝して(図で明ら奏なように、平面移動ステージの
座標軸も変わる)板状物1を図中1Dの立:近にする。
前述したと同謙に、第17図に示すように板状物1Dを
十Y、−Y方向に各々yaだけYステージ12Bを移動
し、CCD19によシ板状物1Dの周縁部−像を取り込
み、各々Sy1.Syrとしてデータを記憶する。
前述したΔXの算出方法と同様に、平面内のY軸方向の
位置ずれ量Δyの算出方法を、第18図に基づ贋て説明
する。
Δy ;13y 、 SINβ したがって、 となる。
琺上、説明した方法をコンドロー、92(1)演算手段
(通常ソフトウェア)を用いることにより、平面内の位
置ずれ量をX、Y軸方向について各々算出することがで
きる。
以上の説明は、第14図に示したように、板状物1の切
欠部2が図中上方(+Y方向)にある場合と仮定したが
、第19図及び第20図に示すように、板状物1の切欠
部2が図中下方あるいは右側(図中破線で示してちる)
にある場合は、前述演算処理時、画りa取込みm所であ
る19Aの位置に切欠部2がきてしt^、適正な演算を
行なうことができな贋ので、図中実線の位、置(図中1
′で示す)になるように板状1fE1を90”あるいは
180°回転さ亡た後、第14図乃至、篤18図に基づ
く前述演算処理を行なうようにする。
以上説明した方法により、平面内の位置ずれ量を算出し
た後、上記算出結果に基づき平面移動ステージに係るX
ステージ12AおよびYステージ12Bを第20図(a
)に示すように位置、ω正する。さらに、既に算出済み
である回転方向の位置ずれ量■Xを基に第20図(4)
に示すような適正位置へθステージ11を回転位置決め
することで、板状物1の回転方向の位置ずれおよび平面
内の位置ずれを検出し、適正位1僅決めすることが可能
となる。
以上の説明で明らかなように、本実施列の位置合わせ方
法、装置では、板状物1の裏面以外の箇所には全く接触
することはない。また板状物1を高精度で位置決めがで
きるので、顕微鏡等による再位置合わせ作業を省くこと
ができ、板状物10への回塔焼き付けや検査等の品貢安
定化、高信頼化を図ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、クエへに損傷を与
えるおそれが無くクエへの位置決めを行なうことができ
る。
また、これに使用する光′鑞式位置検出器は測長精度を
必要とせず、零点の再限槽度のみで良いので簡単な構成
で高精度を得ることができ、装置を安価に製作すること
ができる。
更に、本発明によれば、板状物の表面および周縁部に接
触することなく、基準位賃力亀らの板状物の水平面内お
よび回転方向の位置ずれ量を検出し、板状物の補正位置
決めができるので、板状物周縁部等の破損および破片に
よる表面の汚染の防止、位置合わせ精度の向上、さら【
動作の安定化ができる等の顕著な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のウェハ位置決め装置の平面図第2図は第
1図の立iJt決め完了後の状態を示す図、第3図及び
第4図は本発明の1実施列の側面図、及び平面図である
。第5図は第4図の位1決め途中を示す図、第6図、第
7図、及び第9図は各々本発明の別の実施列の平面図、
第8図は第7図の別の制御方式を示す図、第10図は第
9図の検出器の特性を示す図、第11図は、本発明によ
る板状物の位置合わせ装置の一実施例の構成図、第12
図および第15図は、その回転方向の位置ずれ検出方法
の説明図、第14図乃至第19図は、同水平面内の位置
ずれ検出方法の説明図、第20図は、同回転方向しよび
水平面内の位1合わせ方法の説明図でおる。 1・・・クエハ 2・・・オリフラ 11・・・7−タステージ 12・・・XYステージ1
5.14.15.16・・・光電式位置検出器%I 図 茅2Z 第 3田 笛4図 第S図 茅 6 図 0 第72 第8図 $qZ 第1θ図 幅11図 2θ 拓72図 第 /4 図 −で 堵/、5−1ffi 茅/6溶 (−Y) ◆ +X 第77肥 拓78図 第1りに ↑r

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 t ウェハをその面内でほぼ直交する2軸方向と、その
    面にほぼ垂直な軸まわシの回転方向とに駆動するクエ/
    )移動機構と、フェノ−の外周位置を検出する様に少な
    くとも5個の光電式位置検出器を設け、そのうちの少な
    くとも2個の光電式位置検出器は位置決めが完了したと
    きにウェハのオリ72を検出する様に配置し、少くとも
    1個の光電式位置検出器は位置決めが完了したときにウ
    ェハの円周を検出する様に配置し上記束なくとも2個の
    光電式位置検出器の信号により、ウェハのオリフラの直
    線の方向にほぼ垂直な方向と、クエー・の面にほぼ垂直
    な軸まわりの回転方向とに、上記ウェハ移動機構を立直
    決め制御し、上記束なくとも1個の光電式位置検出器の
    信号により、ウェハのオリフラの直線にほぼ平行な方向
    に上記クエへ移!a機構を位置決め制御することを11
    1fI微とするウニIへ位置決め装置。 2 上記束なくとも21同の光1式位置検出器と上記束
    なくとも1個の光成式位A検出4との光束の中心を通る
    円の径がクエへの円周の径より大きくなる様に上記束な
    くとも31固のjt蝋式位置検出器を配置したことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載のウェハ位置決め装
    置。 五 上記束なくとも2個の光1式位置検出器が、3個の
    光電式位置検出器によ#)III成され、このうち中央
    の1個の光電式位置検出器の信号によりウェハのオリフ
    ラの直線にほぼ垂直な方向に上記ウェハ移動機構を位置
    決め制御し、両端の2個の光電式位置検出器の信号によ
    りウェハの面にほぼ垂直な軸まわりの回転方向に上記ウ
    ェー移#機構を位置決め制御することを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載のウェハ位置決め装置。 4、 切欠部を有するクエへを保持し、上記ウェハが含
    まれる平面内で直交方向に移動させ、且つ回転させるス
    テージと、上記ウェハの周縁部を撮像する一次元撮像装
    置と、七の撮像画像信号に基づいて上記ウエノ1の回転
    方向のずれ量並びに上記平面内の基準位置に関して直交
    方向の各位置ずれ量を算出し、その結果に基づいて上記
    ステージの位置合わせ駆動の制御をするコ
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