JPS61155855A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS61155855A JPS61155855A JP59276128A JP27612884A JPS61155855A JP S61155855 A JPS61155855 A JP S61155855A JP 59276128 A JP59276128 A JP 59276128A JP 27612884 A JP27612884 A JP 27612884A JP S61155855 A JPS61155855 A JP S61155855A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は被検体としての構造物に超音波を送受波して欠
陥情報を収集する超音波探傷装置に係り、特に、被検体
として複雑に入りくんだ突出し部と凹部から成る構造物
、例えばタービンディスクとタービン買との嵌合部、所
謂羽根植込部のタービンディスク側に発生する欠陥を高
精度に検出可能とした超音波探傷装置に関する。
陥情報を収集する超音波探傷装置に係り、特に、被検体
として複雑に入りくんだ突出し部と凹部から成る構造物
、例えばタービンディスクとタービン買との嵌合部、所
謂羽根植込部のタービンディスク側に発生する欠陥を高
精度に検出可能とした超音波探傷装置に関する。
[発明の技術的背景とその問題点コ
第7図はタービンディスクとタービン胃との嵌合部であ
る羽根植込部の従来の探傷方法を示している。即ち、第
7図においてタービンディスク1の羽根植込部2は図示
の如く突出し部と凹部とが複雑の込組んだ形状となって
おり、第1〜第3)ツク6a〜6Cに発生する欠陥48
〜4oを検出する場合、以下のようにして行なわれる。
る羽根植込部の従来の探傷方法を示している。即ち、第
7図においてタービンディスク1の羽根植込部2は図示
の如く突出し部と凹部とが複雑の込組んだ形状となって
おり、第1〜第3)ツク6a〜6Cに発生する欠陥48
〜4oを検出する場合、以下のようにして行なわれる。
即ち、斜角探触子3a〜3Cを羽根植込部2の平坦部に
当接し、羽根植込部2の探傷対象位置ごとに探触子38
〜3Cの設置場所および屈折角の異なる探触子3a〜3
Cを交換して探傷する。
当接し、羽根植込部2の探傷対象位置ごとに探触子38
〜3Cの設置場所および屈折角の異なる探触子3a〜3
Cを交換して探傷する。
この場合、探触子3a〜3cから超音波ビーム58〜5
Cはビームの広がりを有しているため、受信超音波波形
において形状部からの反射エコーと欠陥部からの反射エ
コーとの識別が困難である。
Cはビームの広がりを有しているため、受信超音波波形
において形状部からの反射エコーと欠陥部からの反射エ
コーとの識別が困難である。
このように、従来の超音波探傷においては、上記探触子
の交換の煩しさがあるばかりか、上記エコーの識別の困
難さにより、高性能に欠陥検出することが非常に難しい
状況であった。
の交換の煩しさがあるばかりか、上記エコーの識別の困
難さにより、高性能に欠陥検出することが非常に難しい
状況であった。
[発明の目的]
本発明は上記事情に基づいてなされたもので、その目的
は、タービンディスク羽根植込部等の複雑に入り組んだ
突出し部と凹部とからなる構造物の欠陥検出において、
広範囲に探傷し且つ高精度に欠陥検出を可能とする超音
波探傷装置を提供することにある。
は、タービンディスク羽根植込部等の複雑に入り組んだ
突出し部と凹部とからなる構造物の欠陥検出において、
広範囲に探傷し且つ高精度に欠陥検出を可能とする超音
波探傷装置を提供することにある。
[発明の概要]
かかる目的を達成するために本発明は、形状によっても
超音波送受信が妨害されることがない被検体の所定箇所
に入射に、アレイ型超音波探触子を設置し、同探触子内
の複数子の振動子に超音波送受信位相制御(遅延時間制
御)を施すことにより、被゛検体の任意の位置に超音波
偏向、集束させて超音波送受信させることにより、アレ
イ超音波探触子を固定した状態で、所望の探傷域の全体
の高感度な探傷を可能とし、ざらに探触子位置および羽
根植込部の形状寸法を知ることにより、坦音波探傷時の
時間軸(ビーム路程)方向に対して欠陥が発生すると考
えられる位置にゲート信号を発生させ、そのゲート内□
の信号を受信することにより、形状信号を除去し、欠陥
信号のみを検出することを可能とし、高精度で欠陥を検
出することを特徴とする。
超音波送受信が妨害されることがない被検体の所定箇所
に入射に、アレイ型超音波探触子を設置し、同探触子内
の複数子の振動子に超音波送受信位相制御(遅延時間制
御)を施すことにより、被゛検体の任意の位置に超音波
偏向、集束させて超音波送受信させることにより、アレ
イ超音波探触子を固定した状態で、所望の探傷域の全体
の高感度な探傷を可能とし、ざらに探触子位置および羽
根植込部の形状寸法を知ることにより、坦音波探傷時の
時間軸(ビーム路程)方向に対して欠陥が発生すると考
えられる位置にゲート信号を発生させ、そのゲート内□
の信号を受信することにより、形状信号を除去し、欠陥
信号のみを検出することを可能とし、高精度で欠陥を検
出することを特徴とする。
[発明の実施例]
以下本発明に係る超音波探傷装置を第1図を参照して説
明する。第1図において98は複数の微小超音波撮動子
9at〜9anを並設してなるアレイ型探触子であり、
このアレイ型探触子9aはアクリルシュー118を介し
てタービンディスク1の羽根植込部2上の位置Oに設置
II(設置位置寸法は測定されている)される。また、
このアレイ型探触子9aの各撮動子9at〜9anには
、夫々に励振パルスを与える多チヤンネル送信器群12
が接続されると共に各振動子9at〜9anは、マイク
ロコンピュータ等のCPU (中央演算処理装置)14
から遅延時間制御器13を介して電気的に遅延時間が制
御されるように施されている。
明する。第1図において98は複数の微小超音波撮動子
9at〜9anを並設してなるアレイ型探触子であり、
このアレイ型探触子9aはアクリルシュー118を介し
てタービンディスク1の羽根植込部2上の位置Oに設置
II(設置位置寸法は測定されている)される。また、
このアレイ型探触子9aの各撮動子9at〜9anには
、夫々に励振パルスを与える多チヤンネル送信器群12
が接続されると共に各振動子9at〜9anは、マイク
ロコンピュータ等のCPU (中央演算処理装置)14
から遅延時間制御器13を介して電気的に遅延時間が制
御されるように施されている。
更に、アレイ型探触子9aでは、前記遅延時間制御で送
信された超音波ビームに対し遅延時間制御器13により
多チヤンネル受信器群16を制御して超音波ビームが受
信され、遅延加算器17を介して信号処理器19に送る
ようになっている。
信された超音波ビームに対し遅延時間制御器13により
多チヤンネル受信器群16を制御して超音波ビームが受
信され、遅延加算器17を介して信号処理器19に送る
ようになっている。
CPU14には、演算部15が内蔵されており、これは
、アレイ型探触子9aのタービンディスク1上の位置お
よび羽根植込部2の形状により、各振動子9at〜8a
nへの遅延時間制御および、超音波偏向角θに対するケ
ート信号の発生、終了時間の計算が施されるようになっ
ており、CPU14から、ゲート発生回路18を介して
信号処理器19へと接続されている。信号処理器19で
は、ゲート内に検出された信号で、スレッショルドレベ
ルΔTHを超えた信号を検出し、画像表示器20に羽根
植込部2の8スコ一プ表示として表示するようになって
いる。
、アレイ型探触子9aのタービンディスク1上の位置お
よび羽根植込部2の形状により、各振動子9at〜8a
nへの遅延時間制御および、超音波偏向角θに対するケ
ート信号の発生、終了時間の計算が施されるようになっ
ており、CPU14から、ゲート発生回路18を介して
信号処理器19へと接続されている。信号処理器19で
は、ゲート内に検出された信号で、スレッショルドレベ
ルΔTHを超えた信号を検出し、画像表示器20に羽根
植込部2の8スコ一プ表示として表示するようになって
いる。
次に上記構成の超音波探傷装置を用いてタービンディス
ク1の羽根植込部2を探傷する場合について第2図を参
照して説明する。先づ、第2図において、複数個の振動
子を有するアレイ型探触子9aを、アクリルシュー11
8を介してタービンディスク1の羽根植込部2の曲面部
Oに設置する。
ク1の羽根植込部2を探傷する場合について第2図を参
照して説明する。先づ、第2図において、複数個の振動
子を有するアレイ型探触子9aを、アクリルシュー11
8を介してタービンディスク1の羽根植込部2の曲面部
Oに設置する。
このとき、所定の位置0はアレイ型探触子9aからの超
音波ビームが羽根植込部2の形状部で妨害されることな
く探傷対象箇所に入射するように施されている。
音波ビームが羽根植込部2の形状部で妨害されることな
く探傷対象箇所に入射するように施されている。
ここで、羽根植込部2の形状から応力集中が他の箇所よ
り大となると考えられる第1〜第37ツク6a〜6Cの
位置A、8.0に発生する欠陥について、その欠陥検出
について考える。即ち、羽根植込部2の形状寸法は、既
知であり、アレイ型探触子9aの位置0が設定されるこ
とにより、図中の距離L2 、L4 、LsおよびW2
、 W4 。
り大となると考えられる第1〜第37ツク6a〜6Cの
位置A、8.0に発生する欠陥について、その欠陥検出
について考える。即ち、羽根植込部2の形状寸法は、既
知であり、アレイ型探触子9aの位置0が設定されるこ
とにより、図中の距離L2 、L4 、LsおよびW2
、 W4 。
W6はCPLJ14にて、計算により容易に測定され得
る。さて、欠陥位置A、B、Cにアレイ型超音波探触子
9aの遅延時間制御によれ超音波偏向、集束させるには
任意に定めた軸Yからの偏向角θ2.θ4.θ6と集束
距離f2.Jl* 、faを求める必要があり、これら
の値は下記(1)式にて容易に求められる。
る。さて、欠陥位置A、B、Cにアレイ型超音波探触子
9aの遅延時間制御によれ超音波偏向、集束させるには
任意に定めた軸Yからの偏向角θ2.θ4.θ6と集束
距離f2.Jl* 、faを求める必要があり、これら
の値は下記(1)式にて容易に求められる。
(Z−2,4,6> ・・・・・・(1)そこ
でcpui 4.m延時量制御器13、多チヤンネル送
信器群12、多チヤンネル受信器群16、により、以下
の超音波送受信を行なう。即ち羽根植込部2の探傷には
、軸Yからのθ方向にアレイ型探触子9aの遅延時間制
御により、位置A、B、Cに超音波偏向、集束させなが
ら探傷する。ここで、偏向角(θ2+θ4)/2および
(θ4+θ6)/2の位置で、位置Aから8およびBか
らCへ超音波集束するように超音波集束点を切り換える
。
でcpui 4.m延時量制御器13、多チヤンネル送
信器群12、多チヤンネル受信器群16、により、以下
の超音波送受信を行なう。即ち羽根植込部2の探傷には
、軸Yからのθ方向にアレイ型探触子9aの遅延時間制
御により、位置A、B、Cに超音波偏向、集束させなが
ら探傷する。ここで、偏向角(θ2+θ4)/2および
(θ4+θ6)/2の位置で、位置Aから8およびBか
らCへ超音波集束するように超音波集束点を切り換える
。
このように偏向角θの増大により偏向角θL(j=1.
2.・・・、6)の位置で第3図に示す如くの超音波波
形が得られる。図中p1〜p4は形状エコー、q1〜q
3は欠陥エコーであることがビーム路程J11〜f7を
測定することにより容易に識別できる。また、(1)式
の計算で各エコーの反射点位置が測定される。以上の信
号処理は、遅延加算器17からの信号をうけて信号処理
器19により行なわれる。
2.・・・、6)の位置で第3図に示す如くの超音波波
形が得られる。図中p1〜p4は形状エコー、q1〜q
3は欠陥エコーであることがビーム路程J11〜f7を
測定することにより容易に識別できる。また、(1)式
の計算で各エコーの反射点位置が測定される。以上の信
号処理は、遅延加算器17からの信号をうけて信号処理
器19により行なわれる。
そこで、アレイ型探触子9aの設定位置Oから超音波偏
向、集束させた超音波受信波形に対し、ノイズ除去のた
めのスレッショルドレベルΔTHを設定し、前記第3図
(a ) (b )で示した如くの欠陥エコーの発生
位置にゲート発生回路18によりゲート信号を発生させ
て、ゲート内信号を検出することにより、形状エコーを
除去した欠陥エコーのみが検出されることになる。ここ
で、前記スレッショルドレベルΔTHとしては、任意の
大きさに設定可能なように施されており、通常、欠陥エ
コーが画像表示器20のCRT上100%になるときに
CRT上5〜10%程度に設定している。また、ゲート
信号としては、第3図(a ’)(b)に示す如く第1
〜第3フツク68〜60の欠陥エコーq1〜q3に対応
するように探傷器の時間軸(ビーム路程)上に01〜G
3を発生させ、偏向角に合わせてゲート内信号を選択検
出されるように施されている。即ち、アレイ型探触子9
aの各振動子に遅延時間制御して偏向集束された超音波
エコーの主ビームが偏向角θ2.θ4.θBと順次変化
するに従いゲート信号をG1.G2 。
向、集束させた超音波受信波形に対し、ノイズ除去のた
めのスレッショルドレベルΔTHを設定し、前記第3図
(a ) (b )で示した如くの欠陥エコーの発生
位置にゲート発生回路18によりゲート信号を発生させ
て、ゲート内信号を検出することにより、形状エコーを
除去した欠陥エコーのみが検出されることになる。ここ
で、前記スレッショルドレベルΔTHとしては、任意の
大きさに設定可能なように施されており、通常、欠陥エ
コーが画像表示器20のCRT上100%になるときに
CRT上5〜10%程度に設定している。また、ゲート
信号としては、第3図(a ’)(b)に示す如く第1
〜第3フツク68〜60の欠陥エコーq1〜q3に対応
するように探傷器の時間軸(ビーム路程)上に01〜G
3を発生させ、偏向角に合わせてゲート内信号を選択検
出されるように施されている。即ち、アレイ型探触子9
aの各振動子に遅延時間制御して偏向集束された超音波
エコーの主ビームが偏向角θ2.θ4.θBと順次変化
するに従いゲート信号をG1.G2 。
G3と発生させ、ゲート内で得られた信号を検出するわ
けである。ここで、各ゲート信号の時間軸(ビーム路程
)での発生タイミングはゲート信号G1はΔt1−t2
−t1 (t :時間またはビーム路程)G2はΔt
2=t+−t3.G3はΔt3=t6−t5とし、次式
(2で設定する。
けである。ここで、各ゲート信号の時間軸(ビーム路程
)での発生タイミングはゲート信号G1はΔt1−t2
−t1 (t :時間またはビーム路程)G2はΔt
2=t+−t3.G3はΔt3=t6−t5とし、次式
(2で設定する。
t L+x = (ft+2+JlL+t )/2t
i−<Jli+s +Jlz )/2Δt t−t2t
−t2 Z −t (i−1,2,・・・、5) ・・・・・・(′2J
前記した偏向角θとゲートGおよびビーム路程の関係か
ら欠陥検出された場合の画像表示の一例として第4図に
示される。
i−<Jli+s +Jlz )/2Δt t−t2t
−t2 Z −t (i−1,2,・・・、5) ・・・・・・(′2J
前記した偏向角θとゲートGおよびビーム路程の関係か
ら欠陥検出された場合の画像表示の一例として第4図に
示される。
以上説明したように、本実施例によればタービンディス
ク1の羽根植込部2のタービンディスク側に発生する欠
陥の検出においてアレイ型探触子9aをタービンディス
ク側の羽根植込部2の曲面に設置し、羽根植込部2の形
状に合わせて超音波励振のタイミング制御を各振動子9
at〜9anに与え超音波偏向、集束させた超音波ビー
ムを順次セクター走査させて送信し、針形状に応力集中
が高く、欠陥検出が予想される箇所にゲート信号を発生
させ、ゲート内信号のスレッショルドレベル以上の信号
に対して信号処理を施すことにより、超音波探触子9a
を移動させることなく、即ち、探触子移動に伴なう欠陥
位置制度の低下と形状部と欠陥の識別が高精度で可能と
なり、また羽根植込部2全体を高精度に探傷可能となり
、欠陥検出能の大幅な向上が期待できる。
ク1の羽根植込部2のタービンディスク側に発生する欠
陥の検出においてアレイ型探触子9aをタービンディス
ク側の羽根植込部2の曲面に設置し、羽根植込部2の形
状に合わせて超音波励振のタイミング制御を各振動子9
at〜9anに与え超音波偏向、集束させた超音波ビー
ムを順次セクター走査させて送信し、針形状に応力集中
が高く、欠陥検出が予想される箇所にゲート信号を発生
させ、ゲート内信号のスレッショルドレベル以上の信号
に対して信号処理を施すことにより、超音波探触子9a
を移動させることなく、即ち、探触子移動に伴なう欠陥
位置制度の低下と形状部と欠陥の識別が高精度で可能と
なり、また羽根植込部2全体を高精度に探傷可能となり
、欠陥検出能の大幅な向上が期待できる。
さらに、第5図に示す如くタービンディスク1をはさん
だ両側にアレイ型探触子ga 、9bを内蔵した探触子
ホルダー7a、7bが設置され、探触子支持シャフト8
a 、8bを含んだ探触子駆動曙橋を有してアレイ型探
触子9a 、9bのタービンディスク1への着脱可能な
構造が施されている。
だ両側にアレイ型探触子ga 、9bを内蔵した探触子
ホルダー7a、7bが設置され、探触子支持シャフト8
a 、8bを含んだ探触子駆動曙橋を有してアレイ型探
触子9a 、9bのタービンディスク1への着脱可能な
構造が施されている。
また、第6図に示すようにアレイ型探触子9a。
9bのシュー11a 、 11t)には給油溝91a。
91bが付いており給油孔92a 、92bから給油さ
れる構造を有し、信号ケーブル93a、93bおよび給
油ホース94a 、94bは、探触子支持シャフト8a
、8bに沿って探触子駆動コントローラーに接続され
ている。ここで給油溝は各振動子の超音波信号の経路を
妨害しない位置に設けられており、またタービンディス
ク1の両側に設置された探触子を交互に切換えて使用す
ることにより、羽根植込部2の両側のフックに対して探
傷可能となる。また、タービンディスク1を回転し、探
触子を固定して連続的に探傷することにより、羽根植込
部2全周を探傷可能となる。
れる構造を有し、信号ケーブル93a、93bおよび給
油ホース94a 、94bは、探触子支持シャフト8a
、8bに沿って探触子駆動コントローラーに接続され
ている。ここで給油溝は各振動子の超音波信号の経路を
妨害しない位置に設けられており、またタービンディス
ク1の両側に設置された探触子を交互に切換えて使用す
ることにより、羽根植込部2の両側のフックに対して探
傷可能となる。また、タービンディスク1を回転し、探
触子を固定して連続的に探傷することにより、羽根植込
部2全周を探傷可能となる。
以上述べたように、探触子9aを固定した状態で、ター
ビンディスク1を回転させ、連続的に探傷することによ
り、羽根植込部2の広範囲な探傷が可能となること、ま
た、羽根植込部形状の異なる被検体に対しても各撮動子
に与える遅延時間の変更等容易な操作で探傷可能となり
、製品の保守、点検における超音波探傷の信頼性が著し
く向上するという効果が得られる。
ビンディスク1を回転させ、連続的に探傷することによ
り、羽根植込部2の広範囲な探傷が可能となること、ま
た、羽根植込部形状の異なる被検体に対しても各撮動子
に与える遅延時間の変更等容易な操作で探傷可能となり
、製品の保守、点検における超音波探傷の信頼性が著し
く向上するという効果が得られる。
上記において被検体としては、タービンディスク1の羽
根植込部2について適用した場合について述べているが
本装置は複数の突出し部及び凹部からなる複雑な形状の
被検体に対して適用できることはもちろんであり、その
場合、アクリルシューの形状を変更する等のことを行な
うものである。
根植込部2について適用した場合について述べているが
本装置は複数の突出し部及び凹部からなる複雑な形状の
被検体に対して適用できることはもちろんであり、その
場合、アクリルシューの形状を変更する等のことを行な
うものである。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨を変更しない範囲で種々変形して実施できる。
の要旨を変更しない範囲で種々変形して実施できる。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば、被検体上に超音波探
触子を固定配置し、その各振動子を位相制御し、セクタ
ー走査時における超音波偏向角の連続的な変化に追従し
て超音波集束距離を連続的に変化させ、超音波ビーム伝
播距離上の仮想された欠陥位置にゲートを付し、超音波
偏向角に対応して上記ゲートを選択して、該ゲート内で
得られたしきい値以上の超音波波形の信号を検出し、そ
のビーム伝播距離を測定し、上記被検体形状、超音波偏
向角および上記ビーム伝播距離とから欠陥位置をBスフ
−1表示させるようにしたので、操作性が良好にして広
範囲に探傷し得且つ高精度に探傷可能とした超音波探傷
装置が提供できる。
触子を固定配置し、その各振動子を位相制御し、セクタ
ー走査時における超音波偏向角の連続的な変化に追従し
て超音波集束距離を連続的に変化させ、超音波ビーム伝
播距離上の仮想された欠陥位置にゲートを付し、超音波
偏向角に対応して上記ゲートを選択して、該ゲート内で
得られたしきい値以上の超音波波形の信号を検出し、そ
のビーム伝播距離を測定し、上記被検体形状、超音波偏
向角および上記ビーム伝播距離とから欠陥位置をBスフ
−1表示させるようにしたので、操作性が良好にして広
範囲に探傷し得且つ高精度に探傷可能とした超音波探傷
装置が提供できる。
第1図は本発明に係る超音波探傷装置の一実施例の構成
を示すブロック図、第2図は同実施例の装置を用いてタ
ービンディスクの羽根植込部の探傷の様子を示す図、第
3図は同実施例における信号波形を示す図、第4図は同
実施例における画像表示器上の表示画像の一例を示す図
、第5図及び第6図は本発明の他の実施例を示す斜視図
、第7図は従来の超音波探傷の問題点を説明するための
図である。 1・・・タービンディスク、2・・・羽根植込部、3a
〜3C・・・斜角探触子、4a〜4c、21・・・欠陥
、58〜5b・・・超音波ビーム、6a・・・第1フツ
ク、6b・・・第2フツク、6C・・・第3フツク、7
a、7b・・・探触子ホルダー、f3a 、 8b・・
・探触子支持シャフト、9a、9b・・・アレイ型超音
波探触子、9ax〜gan・・・超音波振動子、10・
・・羽根、12・・・多チヤンネル送信器群、13・・
・遅延時間制御器、14・・−cpu、15・・・演算
部、16・・・多チヤンネル受信器群、17・・・遅延
加算器、18・・・ゲート発主回路、19・・・信号処
理器、20・・・画像表示器、1 ”+a 、 1 l
b ・=シュー、91a、91b・・・給油溝、92
a、92b−・・給油孔、93a、93b・・・信号ケ
ーブル、94a 、94b・・・給油ケーブル。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第4図 9a 93a 4a
を示すブロック図、第2図は同実施例の装置を用いてタ
ービンディスクの羽根植込部の探傷の様子を示す図、第
3図は同実施例における信号波形を示す図、第4図は同
実施例における画像表示器上の表示画像の一例を示す図
、第5図及び第6図は本発明の他の実施例を示す斜視図
、第7図は従来の超音波探傷の問題点を説明するための
図である。 1・・・タービンディスク、2・・・羽根植込部、3a
〜3C・・・斜角探触子、4a〜4c、21・・・欠陥
、58〜5b・・・超音波ビーム、6a・・・第1フツ
ク、6b・・・第2フツク、6C・・・第3フツク、7
a、7b・・・探触子ホルダー、f3a 、 8b・・
・探触子支持シャフト、9a、9b・・・アレイ型超音
波探触子、9ax〜gan・・・超音波振動子、10・
・・羽根、12・・・多チヤンネル送信器群、13・・
・遅延時間制御器、14・・−cpu、15・・・演算
部、16・・・多チヤンネル受信器群、17・・・遅延
加算器、18・・・ゲート発主回路、19・・・信号処
理器、20・・・画像表示器、1 ”+a 、 1 l
b ・=シュー、91a、91b・・・給油溝、92
a、92b−・・給油孔、93a、93b・・・信号ケ
ーブル、94a 、94b・・・給油ケーブル。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第4図 9a 93a 4a
Claims (2)
- (1)被検体に当接された探触子から上記被検体内部へ
超音波送受信させて上記被検体内部の欠陥を探傷する超
音波探傷装置において、上記探触子からの送受信が所望
の超音波送受信指向性及び集束距離が得られるように各
振動子を位相制御する送受信手段と、セクター走査時に
おける超音波偏向角の連続的な変化に追従して超音波集
束距離を連続的に変化させる制御手段と、超音波ビーム
伝播距離上の仮想された欠陥位置にゲートを付し超音波
偏向角に対応して上記ゲートを選択するゲート選択手段
と、該ゲート内で得られたしきい値以上の超音波波形の
信号を検出しそのビーム伝播距離を測定する距離測定手
段と、上記被検体形状、超音波偏向角および上記ビーム
伝播距離とから欠陥位置をBスコープ表示させる表示手
段とを具備したことを特徴とする超音波探傷装置。 - (2)探触子は、上記被検体の両側面に設置され各探触
子を保持し駆動する駆動手段と、両探触子の内駆動され
る一方を切換選択する切換手段とを有する特許請求の範
囲第(1)項記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59276128A JPS61155855A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59276128A JPS61155855A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61155855A true JPS61155855A (ja) | 1986-07-15 |
Family
ID=17565177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59276128A Pending JPS61155855A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61155855A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005315892A (ja) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | General Electric Co <Ge> | エーロフォイルを超音波検査する方法 |
JP2008501109A (ja) * | 2004-06-01 | 2008-01-17 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | タービン翼の探傷方法と装置 |
JP2011208978A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Hitachi Ltd | タービン翼植込み部の超音波検査方法および装置 |
JP2012047184A (ja) * | 2011-11-10 | 2012-03-08 | Hitachi Ltd | タービン動翼 |
JP2012185062A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波斜角探傷方法及び超音波斜角探傷装置 |
JP2020197486A (ja) * | 2019-06-05 | 2020-12-10 | 東日本旅客鉄道株式会社 | レール探傷装置 |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP59276128A patent/JPS61155855A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005315892A (ja) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | General Electric Co <Ge> | エーロフォイルを超音波検査する方法 |
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US7987721B2 (en) | 2004-06-01 | 2011-08-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and device for determining defects in a turbine blade |
JP2011208978A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Hitachi Ltd | タービン翼植込み部の超音波検査方法および装置 |
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JP2012047184A (ja) * | 2011-11-10 | 2012-03-08 | Hitachi Ltd | タービン動翼 |
JP2020197486A (ja) * | 2019-06-05 | 2020-12-10 | 東日本旅客鉄道株式会社 | レール探傷装置 |
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