JPS61148401A - 光学用成形品 - Google Patents
光学用成形品Info
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- JPS61148401A JPS61148401A JP59270789A JP27078984A JPS61148401A JP S61148401 A JPS61148401 A JP S61148401A JP 59270789 A JP59270789 A JP 59270789A JP 27078984 A JP27078984 A JP 27078984A JP S61148401 A JPS61148401 A JP S61148401A
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- optical
- mole
- structural unit
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B1/00—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
- G02B1/04—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements made of organic materials, e.g. plastics
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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- Polyesters Or Polycarbonates (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光デイスク基板、プラスチックレンズ、ディス
プレー用透明電極基板等のオプトエレクトロニクス分野
シーおける光学部品として有用な成形品(二関する。
プレー用透明電極基板等のオプトエレクトロニクス分野
シーおける光学部品として有用な成形品(二関する。
近年、情報処理分野(二おいて光の性質を利用した、例
えハ光メモリー、プロジェクションテレビ、液晶、エレ
クトロルミネッセンス等を利用したディスプレー等の各
種のオプトエレクトロニクス製品が広く実用化され、こ
れらの製品(;光透過性の各種の光学用成形部品、例え
ば光デイスク基板、プラスチックレンズ、ディスプレー
用透明電極基板が使用され始めている。
えハ光メモリー、プロジェクションテレビ、液晶、エレ
クトロルミネッセンス等を利用したディスプレー等の各
種のオプトエレクトロニクス製品が広く実用化され、こ
れらの製品(;光透過性の各種の光学用成形部品、例え
ば光デイスク基板、プラスチックレンズ、ディスプレー
用透明電極基板が使用され始めている。
上記の諸部品(=おいては、光学的均質性(例えば複屈
折等が少いこと)、熱や吸湿(二よる変形等が少いこと
が強く望まれている。特に光ディスク基板においては、
基板を通して反射率や透過率の差異を信号出力としてと
りだす為複屈折の良否は直接信号雑音比(=影響を与え
る。この問題は、再生専用光ディスク、永久書込光ディ
スク、消去可能光ディスク、光カード等(=共通してい
るが、偏光の回転(カー効果)(=よって信号の読みだ
しを行う光磁気記録では特(−その影響は顕著である。
折等が少いこと)、熱や吸湿(二よる変形等が少いこと
が強く望まれている。特に光ディスク基板においては、
基板を通して反射率や透過率の差異を信号出力としてと
りだす為複屈折の良否は直接信号雑音比(=影響を与え
る。この問題は、再生専用光ディスク、永久書込光ディ
スク、消去可能光ディスク、光カード等(=共通してい
るが、偏光の回転(カー効果)(=よって信号の読みだ
しを行う光磁気記録では特(−その影響は顕著である。
又、光ディスクは、レーザビームを1〜2ミクロンに絞
って信号の書込み、読みだしを行う為に、基板の熱や吸
湿(:よる変形は焦点制御の観点から極力さけねばなら
ず、元ディスクの記録層の形成(通常スパッタリング等
の無機薄膜の形成)や貯蔵条件(二おいて変形な壬じな
いだけの耐熱性や低吸湿性が必要である。
って信号の書込み、読みだしを行う為に、基板の熱や吸
湿(:よる変形は焦点制御の観点から極力さけねばなら
ず、元ディスクの記録層の形成(通常スパッタリング等
の無機薄膜の形成)や貯蔵条件(二おいて変形な壬じな
いだけの耐熱性や低吸湿性が必要である。
プラスチックスは、光透過性でかつ成形が容易なことか
ら、又軽量でかつ(1[IJI等の外力(二上って破壊
され(=くいことからは光学用成形品(二好適と考えら
れているが、境状孟二おいては前記の要求をすべて満足
できる程度(二兼ね備えたものは開発されていなかった
。例えば、複屈折現象の少いメタクリル樹脂は耐熱性や
吸湿による変形(二問題があり、ポリカーボネート寺の
耐熱性(二優れ、引による変形の小さい樹脂では、複屈
折現象が大きく、偏光(二対する光学的均質性(二難点
がある。上記の背景から、上記の三つの問題点を解決し
た光学用成形材料の開発が希求されていた。
ら、又軽量でかつ(1[IJI等の外力(二上って破壊
され(=くいことからは光学用成形品(二好適と考えら
れているが、境状孟二おいては前記の要求をすべて満足
できる程度(二兼ね備えたものは開発されていなかった
。例えば、複屈折現象の少いメタクリル樹脂は耐熱性や
吸湿による変形(二問題があり、ポリカーボネート寺の
耐熱性(二優れ、引による変形の小さい樹脂では、複屈
折現象が大きく、偏光(二対する光学的均質性(二難点
がある。上記の背景から、上記の三つの問題点を解決し
た光学用成形材料の開発が希求されていた。
本発明は上記した3つの問題点を解決した、すなわち複
屈折が少く、耐熱性にすぐれ、更C二吸湿性が小さい材
料を用いたオプトエレクトロニクス製品(=好適な光学
用成形品を提供することを目的とする。この目的は、以
下C=示す本発明ニーよって達成できる。
屈折が少く、耐熱性にすぐれ、更C二吸湿性が小さい材
料を用いたオプトエレクトロニクス製品(=好適な光学
用成形品を提供することを目的とする。この目的は、以
下C=示す本発明ニーよって達成できる。
不発明は、下記一般式囚で表わされる構造単位を少なく
とも有し、下記一般式(B)で表わされる構造単位 (上記2つの式中、Xは炭素数1〜8の2価の炭化水素
基、0、C01S、SO又はSO,、R1〜R番は互い
(−同一でも異なってもよく、水素又は炭素数1〜5の
炭化水素基を表わす。)を有してもよい(共)■合体で
あって、両構造単位囚及び(B)の全モル数(二対して
構造単位(A)の占めるモル数が5%以上である(共)
電合体を成形してなる光学用成形品である。
とも有し、下記一般式(B)で表わされる構造単位 (上記2つの式中、Xは炭素数1〜8の2価の炭化水素
基、0、C01S、SO又はSO,、R1〜R番は互い
(−同一でも異なってもよく、水素又は炭素数1〜5の
炭化水素基を表わす。)を有してもよい(共)■合体で
あって、両構造単位囚及び(B)の全モル数(二対して
構造単位(A)の占めるモル数が5%以上である(共)
電合体を成形してなる光学用成形品である。
本発明の光学用成形品(二ついては、
を有する特定のポリカーボネート樹脂から成形されるこ
と1:最大のポイントがある。
と1:最大のポイントがある。
構造単位囚を有するものを製造する(二は、一般式類の
単量体を用いて達成できる。
単量体を用いて達成できる。
上記単量体は、檀々の方法で得られるが、例えばイソプ
ロペニルフェノール類またはその二斌体より、酸触媒の
存在下に加熱して得る方法〔例えば特開昭54−76.
564号、特公昭55−11,651号、米国特許4,
334,106号、米国特許3,288,864号〕、
ビスフェノール類を直接酸触媒の存在下(二加熱する方
法〔米国特許2,979,534号〕、α−アルキルス
チレン類の三量化C二よって得られるインダン化合物を
スルホン化、アルカリ溶融して得る方法〔米国特許2,
819,249号、米国特許2,754,285号〕な
どが知られている。
ロペニルフェノール類またはその二斌体より、酸触媒の
存在下に加熱して得る方法〔例えば特開昭54−76.
564号、特公昭55−11,651号、米国特許4,
334,106号、米国特許3,288,864号〕、
ビスフェノール類を直接酸触媒の存在下(二加熱する方
法〔米国特許2,979,534号〕、α−アルキルス
チレン類の三量化C二よって得られるインダン化合物を
スルホン化、アルカリ溶融して得る方法〔米国特許2,
819,249号、米国特許2,754,285号〕な
どが知られている。
具体的な単量体の例としては、1.1.3−ト9メチル
3− (A’−ヒドロキシフェニル)5−インダノール
、1,1.3,4.6−ベンタメテル3−(3゜5′−
ジメチル4′−ヒドロキシフェニル)5−インダノール
、1,1,3.4−テトラメチル3−(3’−メチル4
′−ヒドロキシフェニル)5−インダノール等をあげる
ことができ、これらの1種又は2棟以上が用いられる。
3− (A’−ヒドロキシフェニル)5−インダノール
、1,1.3,4.6−ベンタメテル3−(3゜5′−
ジメチル4′−ヒドロキシフェニル)5−インダノール
、1,1,3.4−テトラメチル3−(3’−メチル4
′−ヒドロキシフェニル)5−インダノール等をあげる
ことができ、これらの1種又は2棟以上が用いられる。
前記のポリカーボネート樹脂は、その構成成分R11R
& で表わされる構造単位(B)を有してもよい。前記のポ
リカーボネート樹脂を構成する得造単位囚及び(B)の
全モル数に対して、構造単位(B)の占めるモル&i(
以下、mで表わす。)は、0から95未満の範囲ならば
よい。mが95以上では、複屈折の低減が十分でないの
で不適当であり、特にmが85以下であることが望まし
い。
& で表わされる構造単位(B)を有してもよい。前記のポ
リカーボネート樹脂を構成する得造単位囚及び(B)の
全モル数に対して、構造単位(B)の占めるモル&i(
以下、mで表わす。)は、0から95未満の範囲ならば
よい。mが95以上では、複屈折の低減が十分でないの
で不適当であり、特にmが85以下であることが望まし
い。
上記構造単位(B)を与える原料としては、例えば、2
.2−ビス(A′−ヒドロキシフェニル)プロパ/、ビ
ス(A−ヒドロキシフェニル)メタン、2.2−ビス(
3′−メチル4′−ヒドロキンフェニル)プロパン、1
,1−ビス(A′−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサ
ン、ビス(A′−ヒドロキシフェニル)ジフェニルメタ
ン、2.2−ビス(3’、5’−ジメチル4′−ヒドロ
キシフェニル)プロパン、ビス(3゜5−ジメチル4−
ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(A−ヒドロキンフ
ェニル)エーテル、ビス(A−ヒドロキシフェニル)ス
ルフィド、ビス(A−ヒドロキシフェニル)スルホキシ
ド、ビス(A−ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(
3,5−ジメチル4−ヒドロキシフェニル)スルホン、
ビス(A−ヒドロキシフェニル)ケトンなどのビスフェ
ノール類があり、これらの1種又は2種以上が使用され
る。
.2−ビス(A′−ヒドロキシフェニル)プロパ/、ビ
ス(A−ヒドロキシフェニル)メタン、2.2−ビス(
3′−メチル4′−ヒドロキンフェニル)プロパン、1
,1−ビス(A′−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサ
ン、ビス(A′−ヒドロキシフェニル)ジフェニルメタ
ン、2.2−ビス(3’、5’−ジメチル4′−ヒドロ
キシフェニル)プロパン、ビス(3゜5−ジメチル4−
ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(A−ヒドロキンフ
ェニル)エーテル、ビス(A−ヒドロキシフェニル)ス
ルフィド、ビス(A−ヒドロキシフェニル)スルホキシ
ド、ビス(A−ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(
3,5−ジメチル4−ヒドロキシフェニル)スルホン、
ビス(A−ヒドロキシフェニル)ケトンなどのビスフェ
ノール類があり、これらの1種又は2種以上が使用され
る。
本発明d二相いられるポリカーボネート樹脂は、上記構
造単位囚及び(B)がランダム(;連結しているランダ
ム共重合体が好ましい。
造単位囚及び(B)がランダム(;連結しているランダ
ム共重合体が好ましい。
本発明に用いられるポリカーボネート樹脂は、例えば前
記したビスフェノール類の混合物をピリジンの存在下(
:ホスゲンと反応させる方法、ビスフェノール類の混合
物のアルカリ水溶液と有機溶媒よりなる二相界面系でホ
スゲンまたはビスフェノール類のりσロホーメートを反
応させる方法、ジフェニルカーボネートとビスフェノー
ル類の混合物またはビスフェノール類の混合物の酢酸エ
ステルとの溶融重合法などの良く知られた方法により製
造することができる。(例えば H,5ahnell”
Chnmlstry and Physics
nf Pnlyearbonat@s、
”Int@rsai*nee Publish@rs
、 NswYork −London −5ydney
1964 参照) 本発明の成形品(二用いられるポリカーボネート樹脂は
フェノール/テトラクロルエタン(重量比6/4)の混
合溶媒中で下記の通り測定される対数粘度ηlak、が
0.1〜2.0の範囲(:あるものが好ましい。ηla
h、が0.1未綱では樹脂の機械的強度が十分でなく、
実用性のある光学用成形物を得ることができない。一方
、ηlah、が2.0より大きな頭載では、加工時の流
動性が不良となり、例えば射出成形等(;おける精密な
成形品を得ることは困難であり、又成形品の複屈折も大
きく好ましくない。
記したビスフェノール類の混合物をピリジンの存在下(
:ホスゲンと反応させる方法、ビスフェノール類の混合
物のアルカリ水溶液と有機溶媒よりなる二相界面系でホ
スゲンまたはビスフェノール類のりσロホーメートを反
応させる方法、ジフェニルカーボネートとビスフェノー
ル類の混合物またはビスフェノール類の混合物の酢酸エ
ステルとの溶融重合法などの良く知られた方法により製
造することができる。(例えば H,5ahnell”
Chnmlstry and Physics
nf Pnlyearbonat@s、
”Int@rsai*nee Publish@rs
、 NswYork −London −5ydney
1964 参照) 本発明の成形品(二用いられるポリカーボネート樹脂は
フェノール/テトラクロルエタン(重量比6/4)の混
合溶媒中で下記の通り測定される対数粘度ηlak、が
0.1〜2.0の範囲(:あるものが好ましい。ηla
h、が0.1未綱では樹脂の機械的強度が十分でなく、
実用性のある光学用成形物を得ることができない。一方
、ηlah、が2.0より大きな頭載では、加工時の流
動性が不良となり、例えば射出成形等(;おける精密な
成形品を得ることは困難であり、又成形品の複屈折も大
きく好ましくない。
上記の対数粘度ηlnLは、フェノール/テトラクロル
エタン(重量比6/4)混合溶媒中35℃、ポリマー濃
度0.51i/dlの溶液とし、次式にて算出されるも
のである。
エタン(重量比6/4)混合溶媒中35℃、ポリマー濃
度0.51i/dlの溶液とし、次式にて算出されるも
のである。
η直ah ”上・log e−
Ctす
〔上式中、tはポリマー溶液の流れ時間、1.は溶媒の
みの流れ時間、Cはポリマー溶液濃度(,9膨)である
。〕 上記した樹脂を用いた本発明の光学用成形品は、射出成
形、プレス成形、押出成形等の公知のいずれの成形法(
;よっても得られる。特(=東内講やアドレス、信号を
有する光デイスク基板や異形形状を有するプラスチック
レンズ等の用途(二おいては射出成形が好ましく、得ら
れた樹脂の溶融粘度特性(例えばメルトインデックス等
)1:応じ射出成形条件は選択されるが、通常200〜
400℃の樹脂温度にて成形される。
みの流れ時間、Cはポリマー溶液濃度(,9膨)である
。〕 上記した樹脂を用いた本発明の光学用成形品は、射出成
形、プレス成形、押出成形等の公知のいずれの成形法(
;よっても得られる。特(=東内講やアドレス、信号を
有する光デイスク基板や異形形状を有するプラスチック
レンズ等の用途(二おいては射出成形が好ましく、得ら
れた樹脂の溶融粘度特性(例えばメルトインデックス等
)1:応じ射出成形条件は選択されるが、通常200〜
400℃の樹脂温度にて成形される。
又、シート状の光学用成形品は、押出成形(=よっても
連続的生産が可能であり、ディスプレー用透明電極基板
、光カード、元ディスクカバーシート等(二実用するこ
とが出来る。
連続的生産が可能であり、ディスプレー用透明電極基板
、光カード、元ディスクカバーシート等(二実用するこ
とが出来る。
又プレス成形は、異形品、シートの両方C二対応可能で
あるが、生産性の点では前記二つの成形法(二較べると
劣る。
あるが、生産性の点では前記二つの成形法(二較べると
劣る。
本発明の光学用成形品は、極めて複屈折が小さく、市熱
性に優れ、かつ吸湿(:よるソリが小さいので各種のオ
プトエレクトロニクス製品等、特(=、光デイスク基板
やディスプレー用透明電極基板に極めて好適である。
性に優れ、かつ吸湿(:よるソリが小さいので各種のオ
プトエレクトロニクス製品等、特(=、光デイスク基板
やディスプレー用透明電極基板に極めて好適である。
以下、実施例を示し、本発明をより具体的(=説明する
。
。
製造例1
ガス導入管及び攪拌装置の付属した反応器(二、2.2
−ビス(A′−ヒドロキシフェニル)フロパン11.4
1 !t 部 、 1,1.3 − ト
リ メ ラ2 ル 3 − (A’ −ヒドロ
キシフェニル)5−インダノール13.42重isおよ
びp−t−ブチルフェノール0.75重量部を150電
量部の純水ととも(:加えて攪拌)び濁させ、N、気流
を通じ系より酸素を完全に除去した。ついで45%水酸
化ナトリクム溶液18,2厘量部を加え、十分(二攪拌
しフェノール類の粉末を完全1=溶解させ、室温(25
℃)まで冷却した。さら(=、ジクロルメタン20重量
部を加え、攪拌を続けながら室温(二て11.9重撒部
のガス状ホスゲンを2時間かけて一定速度で吹込んだ。
−ビス(A′−ヒドロキシフェニル)フロパン11.4
1 !t 部 、 1,1.3 − ト
リ メ ラ2 ル 3 − (A’ −ヒドロ
キシフェニル)5−インダノール13.42重isおよ
びp−t−ブチルフェノール0.75重量部を150電
量部の純水ととも(:加えて攪拌)び濁させ、N、気流
を通じ系より酸素を完全に除去した。ついで45%水酸
化ナトリクム溶液18,2厘量部を加え、十分(二攪拌
しフェノール類の粉末を完全1=溶解させ、室温(25
℃)まで冷却した。さら(=、ジクロルメタン20重量
部を加え、攪拌を続けながら室温(二て11.9重撒部
のガス状ホスゲンを2時間かけて一定速度で吹込んだ。
ホスゲン吹込開始後15分と30分(:45%水酸化ナ
トリクム水溶液を4.0重置部づつ追加した。ホスゲン
の吹込み終了後トリエチルアミン0.1=量部を加えて
、15分攪拌すること【二より、反応液が非常C二粘稠
になったので、ジクロルメタン20重量部を加えて粘度
を調節した。
トリクム水溶液を4.0重置部づつ追加した。ホスゲン
の吹込み終了後トリエチルアミン0.1=量部を加えて
、15分攪拌すること【二より、反応液が非常C二粘稠
になったので、ジクロルメタン20重量部を加えて粘度
を調節した。
静it後、水層な分液除去し、さらに水で樹脂溶液を2
回洗浄し、得られた樹脂溶液をメタノールの入ったホモ
ミキサー:二注ぎ、高速攪拌下(=樹脂を析出させた。
回洗浄し、得られた樹脂溶液をメタノールの入ったホモ
ミキサー:二注ぎ、高速攪拌下(=樹脂を析出させた。
これを戸別し乾燥して樹脂粉末を得た。得られた粉末の
ηInk、は0.53であり、IRおよびIH−NMR
スペクトル(二より、2.2−ビス(A′ニヒドロキシ
フエニル)プロパン残M数ト1.1゜3−トリメチル3
−(A’−ヒドロキシフェニル)5−インダノール残基
数とのモル比が50 : 50 のポリカーボネート
共重合体であることが確認された。+++−′NyxR
+=よる組成比の決定には、2.2′−ビス(A′−ヒ
ドロキシフェニル)プロパン残基(−よるδ= 1.7
0 ppmのシグナル(S 、 CH3基)と1.1.
3−)シグナル3− (A’−ヒドロキシフェニル)5
−(ンダノール残基によるδ= 1 、10 ppm(
S 、 CH,基)、δ= 1.39 ppm (S
、 CM、基)、δ二2.34ppm (d、d 、
CH,基)の各シグナルの積分強度測定値を用いた。
ηInk、は0.53であり、IRおよびIH−NMR
スペクトル(二より、2.2−ビス(A′ニヒドロキシ
フエニル)プロパン残M数ト1.1゜3−トリメチル3
−(A’−ヒドロキシフェニル)5−インダノール残基
数とのモル比が50 : 50 のポリカーボネート
共重合体であることが確認された。+++−′NyxR
+=よる組成比の決定には、2.2′−ビス(A′−ヒ
ドロキシフェニル)プロパン残基(−よるδ= 1.7
0 ppmのシグナル(S 、 CH3基)と1.1.
3−)シグナル3− (A’−ヒドロキシフェニル)5
−(ンダノール残基によるδ= 1 、10 ppm(
S 、 CH,基)、δ= 1.39 ppm (S
、 CM、基)、δ二2.34ppm (d、d 、
CH,基)の各シグナルの積分強度測定値を用いた。
製造例2〜7
製造例1(:おける2、2−ビス(A′−ヒドロキシフ
ェニル)フロパンおヨヒ1.,1.3−ト9メチル3−
(A’−ヒドロキVフエニ/I/)5−インダノール
を表−1に示したよう(二便用する他は製造例1と同様
の方圧で実施し、いずれも無色の樹脂粉末を得た。得ら
れた樹脂のη1゜h、は表−1(=示す通りであり、ま
た原料と1−て使用したビスフェノール類の組成通りの
カーボネート夏合体が得られていることをIRおよびl
H−NMRスペクトル(二て確認した。
ェニル)フロパンおヨヒ1.,1.3−ト9メチル3−
(A’−ヒドロキVフエニ/I/)5−インダノール
を表−1に示したよう(二便用する他は製造例1と同様
の方圧で実施し、いずれも無色の樹脂粉末を得た。得ら
れた樹脂のη1゜h、は表−1(=示す通りであり、ま
た原料と1−て使用したビスフェノール類の組成通りの
カーボネート夏合体が得られていることをIRおよびl
H−NMRスペクトル(二て確認した。
表−1
t)(B):2s2−ビス(A′−ヒドロキシフェニル
)プロパン 幻(A): 1+1+3− ト9 1fiv 3
(A’−ヒドロキシフェニル)5−インダノール 3) ’)I−NMRの積分強度より算出製造例8〜
14 製造例1(−おいて、ビスフェノール類の種類および使
用量を表−2(=示した通りとした他は製造例1と同様
(二実施し、表−2に記したη地のポリマーを得た。
)プロパン 幻(A): 1+1+3− ト9 1fiv 3
(A’−ヒドロキシフェニル)5−インダノール 3) ’)I−NMRの積分強度より算出製造例8〜
14 製造例1(−おいて、ビスフェノール類の種類および使
用量を表−2(=示した通りとした他は製造例1と同様
(二実施し、表−2に記したη地のポリマーを得た。
製造時(二本反応のビスフェノール成分は、いずれもト
レース量しか検出されなかったことから、原料として使
用したビスフェノール成分(I)及び(II)の組成割
合のカーボネート重合体であると推定される。
レース量しか検出されなかったことから、原料として使
用したビスフェノール成分(I)及び(II)の組成割
合のカーボネート重合体であると推定される。
樹脂の成形及び評価
前記製造LA1〜14の各樹脂粉末をペレタイザー付押
出械(シリンダ一温度250℃)(=てペレット状とし
、各ペレットを110℃(:て4時間乾燥した後、射出
成形を行った。曾型に鏡面を有するスタンパ−を装着し
、外径12Qm、犀み1.2Bの円板状の成形物を得た
。射出成形機はシリンダー径301mであり、射出圧力
1000KP、金型のゲートは円板の中心部(二設け、
金型温度は80℃とした。射出成形時のシリンダ一温度
は各樹脂(:応じ設定し表−61=記載した。
出械(シリンダ一温度250℃)(=てペレット状とし
、各ペレットを110℃(:て4時間乾燥した後、射出
成形を行った。曾型に鏡面を有するスタンパ−を装着し
、外径12Qm、犀み1.2Bの円板状の成形物を得た
。射出成形機はシリンダー径301mであり、射出圧力
1000KP、金型のゲートは円板の中心部(二設け、
金型温度は80℃とした。射出成形時のシリンダ一温度
は各樹脂(:応じ設定し表−61=記載した。
成形した円板は内径15gとなるように打抜いてドーナ
ツ状円板とし、次(二片面(;アルミの真空蒸着をかけ
て600オングストロームの反射層を設けて各試料を作
成しく試料番号1〜14)、複屈折、湿度環境下(二お
けるソリ、耐熱性(二ついて評価を行った。
ツ状円板とし、次(二片面(;アルミの真空蒸着をかけ
て600オングストロームの反射層を設けて各試料を作
成しく試料番号1〜14)、複屈折、湿度環境下(二お
けるソリ、耐熱性(二ついて評価を行った。
尚、試料番号1〜6及び8〜14は本発明の実施例であ
り、試料番号7は比較例である。
り、試料番号7は比較例である。
複屈折は反射型倫光w4徴鏡を用いダブルバスの光路差
を求めた。湿度環境下におζするソリは、上記の試料を
50℃95%相対湿度の恒温恒湿槽(124時間放置し
、とりだし後直ちC二20℃相対湿度60%の恒温恒湿
室(22時間1Bc置仮ソリ(=よる反位を測定した。
を求めた。湿度環境下におζするソリは、上記の試料を
50℃95%相対湿度の恒温恒湿槽(124時間放置し
、とりだし後直ちC二20℃相対湿度60%の恒温恒湿
室(22時間1Bc置仮ソリ(=よる反位を測定した。
耐熱性はASTM−06481=準じ荷電−たわみ温度
を測定した。以上の評価結果を表−6(=併せて記載す
る。
を測定した。以上の評価結果を表−6(=併せて記載す
る。
又、比較例としてメタクリル樹脂(三菱レーヨン社製商
品名アク9ペソ)VH)を、金型温度のみ65℃とした
以外は前記と同様にして射出成形を行い、又同様(;シ
てアルミ反射層を設(す試験用試料を作成しく試料番号
15)評価を行い、その結果を表−6シニ併せて記載し
た。
品名アク9ペソ)VH)を、金型温度のみ65℃とした
以外は前記と同様にして射出成形を行い、又同様(;シ
てアルミ反射層を設(す試験用試料を作成しく試料番号
15)評価を行い、その結果を表−6シニ併せて記載し
た。
以上の実施例及び比較例の結果から、明らか(二本発明
の光学用部品は従来のものよりも複屈折が小さく、耐熱
性C:優れ、かつ吸湿(=よるソリも小明細書の浄書(
内容に変更なし) 表−3 手続補正書けか 昭和60年5月 7日
の光学用部品は従来のものよりも複屈折が小さく、耐熱
性C:優れ、かつ吸湿(=よるソリも小明細書の浄書(
内容に変更なし) 表−3 手続補正書けか 昭和60年5月 7日
Claims (3)
- (1)下記一般式(A)で表わされる構造単位▲数式、
化学式、表等があります▼………(A) を少なくとも有し、下記一般式(B)で表わされる構造
単位 ▲数式、化学式、表等があります▼………(B) (上記2つの式中、Xは炭素数1〜8の2価の炭化水素
基、O、CO、S、SO又はSO_2、R^1〜R^6
は互いに同一でも異なってもよく、水素又は炭素数1〜
5の炭化水素基を表わす。)を有してもよい(共)重合
体であって、両構造単位(A)及び(B)の全モル数に
対して構造単位(A)の占めるモル数が5%以上である
(共)重合体を成形してなる光学用成形品。 - (2)前記光学用成形品が光ディスク基板である特許請
求の範囲第1項記載の光学用成形品。 - (3)前記光学用成形品がディスプレー用透明電極基板
である特許請求の範囲第1項記載の光学用成形品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59270789A JPH0652585B2 (ja) | 1984-12-24 | 1984-12-24 | 光学用成形品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59270789A JPH0652585B2 (ja) | 1984-12-24 | 1984-12-24 | 光学用成形品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61148401A true JPS61148401A (ja) | 1986-07-07 |
JPH0652585B2 JPH0652585B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=17491019
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59270789A Expired - Fee Related JPH0652585B2 (ja) | 1984-12-24 | 1984-12-24 | 光学用成形品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0652585B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0321831A2 (de) * | 1987-12-22 | 1989-06-28 | Bayer Ag | Verwendung von Mischungen aus Polycarbonaten und Styrolpolymerisaten als Substrate für optische Speicher |
US5316884A (en) * | 1993-02-22 | 1994-05-31 | Ocg Microelectronic Materials, Inc. | Radiation-sensitive compositions containing 5-indanol in the binder resin as a comonomer |
EP0846711A2 (en) * | 1996-12-09 | 1998-06-10 | General Electric Company | Optical disk grade copolyestercarbonates derived from hydroxyphenylindanols |
WO1998036014A1 (en) * | 1997-02-13 | 1998-08-20 | Molecular Optoelectronics Corporation | Indane polycarbonates |
WO1999006465A1 (de) * | 1997-08-02 | 1999-02-11 | Bayer Aktiengesellschaft | Copolycarbonate auf basis von indanbisphenolen |
WO1999006464A1 (de) * | 1997-08-02 | 1999-02-11 | Bayer Aktiengesellschaft | Copolycarbonate auf basis von indanbisphenolen |
WO2000044810A1 (en) * | 1999-01-28 | 2000-08-03 | General Electric Company | Method for preparing copolycarbonates of enhanced crystallinity |
WO2001014453A1 (en) * | 1999-08-23 | 2001-03-01 | General Electric Company | Copolycarbonate preparation by solid state polymerization |
JP2002539310A (ja) * | 1999-03-18 | 2002-11-19 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光学製品での使用に適したポリカーボネート |
-
1984
- 1984-12-24 JP JP59270789A patent/JPH0652585B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5338653A (en) * | 1993-02-22 | 1994-08-16 | Ocg Microelectronic Materials, Inc. | Phenolic novolak resin compositions containing 5-indanol and their use a process for forming positive resist patterns |
EP0846711A3 (en) * | 1996-12-09 | 2000-08-30 | General Electric Company | Optical disk grade copolyestercarbonates derived from hydroxyphenylindanols |
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US6093785A (en) * | 1997-02-13 | 2000-07-25 | Molecular Optoelectronics Corporation | Indane polycarbonates |
WO1999006465A1 (de) * | 1997-08-02 | 1999-02-11 | Bayer Aktiengesellschaft | Copolycarbonate auf basis von indanbisphenolen |
WO1999006464A1 (de) * | 1997-08-02 | 1999-02-11 | Bayer Aktiengesellschaft | Copolycarbonate auf basis von indanbisphenolen |
WO2000044810A1 (en) * | 1999-01-28 | 2000-08-03 | General Electric Company | Method for preparing copolycarbonates of enhanced crystallinity |
JP2002539310A (ja) * | 1999-03-18 | 2002-11-19 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光学製品での使用に適したポリカーボネート |
US6333394B1 (en) | 1999-08-09 | 2001-12-25 | General Electric Company | Copolycarbonate preparation by solid state polymerization |
WO2001014453A1 (en) * | 1999-08-23 | 2001-03-01 | General Electric Company | Copolycarbonate preparation by solid state polymerization |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0652585B2 (ja) | 1994-07-06 |
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