JPS61122133A - 光フアイバ用ガラス母材の製造方法 - Google Patents
光フアイバ用ガラス母材の製造方法Info
- Publication number
- JPS61122133A JPS61122133A JP24399184A JP24399184A JPS61122133A JP S61122133 A JPS61122133 A JP S61122133A JP 24399184 A JP24399184 A JP 24399184A JP 24399184 A JP24399184 A JP 24399184A JP S61122133 A JPS61122133 A JP S61122133A
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- JP
- Japan
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- glass
- optical fiber
- gas
- refractive index
- heating
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- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/012—Manufacture of preforms for drawing fibres or filaments
- C03B37/014—Manufacture of preforms for drawing fibres or filaments made entirely or partially by chemical means, e.g. vapour phase deposition of bulk porous glass either by outside vapour deposition [OVD], or by outside vapour phase oxidation [OVPO] or by vapour axial deposition [VAD]
- C03B37/01446—Thermal after-treatment of preforms, e.g. dehydrating, consolidating, sintering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/30—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi
- C03B2201/31—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi doped with germanium
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- Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は、光ファイバ用ガラス母材の製造方法に関し
、特にガラス母材の脱水処理方法に関する。
、特にガラス母材の脱水処理方法に関する。
(ロ)従来技術
現在、光ファイバの主流は石英系ガラスファイバとなっ
ている。そして、その製造法として、特開昭50−21
471で示されたような所謂MCVD法の他、特開昭4
8−73522に述べられているような所謂外付は法や
、あるいはVAD法と一般に呼ばれているところの製造
法(たとえば特開昭5l−38883)などが知られて
いる。このうち後者の2つは所謂スート法とでも呼ぶべ
き製法であり、ファイバとなるべきガラスをまず−Hガ
ラス微粉末状態で堆積させ、ついでこれを高温に加熱し
て透明ガラス体となし、さらに必要に応じて加熱変形し
た後光ファイバ母材とするものである。
ている。そして、その製造法として、特開昭50−21
471で示されたような所謂MCVD法の他、特開昭4
8−73522に述べられているような所謂外付は法や
、あるいはVAD法と一般に呼ばれているところの製造
法(たとえば特開昭5l−38883)などが知られて
いる。このうち後者の2つは所謂スート法とでも呼ぶべ
き製法であり、ファイバとなるべきガラスをまず−Hガ
ラス微粉末状態で堆積させ、ついでこれを高温に加熱し
て透明ガラス体となし、さらに必要に応じて加熱変形し
た後光ファイバ母材とするものである。
ところで、近年、光ファイバ、特に通信用光ファイバの
分野では、その使用光源波長として従来の0.8〜0.
9pm帯から1.2〜1.8gmc7)、一般に長波長
帯と呼ばれる波長帯を用いることが−般的となってきて
いる。このときに問題となるのは、この波長域に存在す
るOH基吸収損である。
分野では、その使用光源波長として従来の0.8〜0.
9pm帯から1.2〜1.8gmc7)、一般に長波長
帯と呼ばれる波長帯を用いることが−般的となってきて
いる。このときに問題となるのは、この波長域に存在す
るOH基吸収損である。
たとえば、I PP−のOH基がガラス中に混入してい
ると、1.24 g m (1)波長で約2.4dB/
Km、1.381Lmの波長で約85dB/に層の吸収
損が生じる。この主たる原因は、ガラス微粉末の堆積中
に使用する酸水素炎やその他水素を含むガスを燃焼させ
て得る火炎により多量の水分が発生し、これがガラス中
に混入するためである。
ると、1.24 g m (1)波長で約2.4dB/
Km、1.381Lmの波長で約85dB/に層の吸収
損が生じる。この主たる原因は、ガラス微粉末の堆積中
に使用する酸水素炎やその他水素を含むガスを燃焼させ
て得る火炎により多量の水分が発生し、これがガラス中
に混入するためである。
この不純物としての水分がガラス中に混入することを防
止する1つの方法として従来より行なわれている方法は
、ガラス微粉末を堆積して得た多孔質ガラスを塩素を含
む雰囲気で加熱して、ガラス中に残留するOH基を除去
することである。
止する1つの方法として従来より行なわれている方法は
、ガラス微粉末を堆積して得た多孔質ガラスを塩素を含
む雰囲気で加熱して、ガラス中に残留するOH基を除去
することである。
すなわち多孔質ガラスを第1図に示すように外付は法や
第2図に示すようにVAD法等の用いてガラス微粉末を
堆積することによって形成し、第3図のようにこの多孔
質ガラス中のOH基を除くため加熱炉に置くのである。
第2図に示すようにVAD法等の用いてガラス微粉末を
堆積することによって形成し、第3図のようにこの多孔
質ガラス中のOH基を除くため加熱炉に置くのである。
第1図の外付は法では酸水素ハ+ 1 L L 021
Hz 、S I Cl 4 。
Hz 、S I Cl 4 。
G e C14、B C14などの原料ガスを送り込ん
でこのバーナ11の火炎12中でガラス化反応を起して
ガラス微分末を発生させ、このバーナ11を支持棒13
に沿ってトラバースさせるとともに支持棒13を回転さ
せてこの支持棒13にガラス微粉末を堆積して焼結体1
4を形成する。第2図(7)VAD法では同1.(0,
、H,,5iC14*GeCl4.BCl2などの原料
ガスを酸水素バーナ21に送り込んでこのバーナ21の
火炎22中でガラス化反応を起してガラス微分末を発生
させ、回転する種棒23の先端にガラス微粉末を堆積さ
せ、この種棒23を引き上げながらこの工程を行なって
焼結体24を形成する。第3図はVAD法で作成したガ
ラス微粉末焼結体中のOH基を取り除く加熱炉を模式的
に示すもので、この図に示すように、ガラス微粉末焼結
体24を密閉された加熱炉31内に置き、ガラス微粉末
の融合固化および透明化が起らない程度の温度に加熱す
る。ガラス微粉末焼結体24は炉心管33内に。
でこのバーナ11の火炎12中でガラス化反応を起して
ガラス微分末を発生させ、このバーナ11を支持棒13
に沿ってトラバースさせるとともに支持棒13を回転さ
せてこの支持棒13にガラス微粉末を堆積して焼結体1
4を形成する。第2図(7)VAD法では同1.(0,
、H,,5iC14*GeCl4.BCl2などの原料
ガスを酸水素バーナ21に送り込んでこのバーナ21の
火炎22中でガラス化反応を起してガラス微分末を発生
させ、回転する種棒23の先端にガラス微粉末を堆積さ
せ、この種棒23を引き上げながらこの工程を行なって
焼結体24を形成する。第3図はVAD法で作成したガ
ラス微粉末焼結体中のOH基を取り除く加熱炉を模式的
に示すもので、この図に示すように、ガラス微粉末焼結
体24を密閉された加熱炉31内に置き、ガラス微粉末
の融合固化および透明化が起らない程度の温度に加熱す
る。ガラス微粉末焼結体24は炉心管33内に。
種棒23をガスシール34でシールしながら固定するこ
とによって、配置され、この中に脱水性ガス(通常塩素
系ガスが用いられる)とともに不活性ガスが流される。
とによって、配置され、この中に脱水性ガス(通常塩素
系ガスが用いられる)とともに不活性ガスが流される。
炉心管33を用いたのは発熱体32を脱水性ガスから保
護するためである。不活性ガスとしてはAr、He等が
適当であり、必要に応じて02などが添加される。加熱
炉31内のガスの成分比は通常不活性ガス100部に対
して脱水性ガス0.2〜2部程度が良く、多すぎる場合
には過度の塩素化の作用により、脱水作用だけでなく、
その他のガラス成分そのものを再び金属ハロゲン化物と
して運び去る作用が強くなる。また、脱水性ガス量が少
ない場合には十分なOH基除去が行なわれない。
護するためである。不活性ガスとしてはAr、He等が
適当であり、必要に応じて02などが添加される。加熱
炉31内のガスの成分比は通常不活性ガス100部に対
して脱水性ガス0.2〜2部程度が良く、多すぎる場合
には過度の塩素化の作用により、脱水作用だけでなく、
その他のガラス成分そのものを再び金属ハロゲン化物と
して運び去る作用が強くなる。また、脱水性ガス量が少
ない場合には十分なOH基除去が行なわれない。
この脱水作用の反応を示すとつぎのようになる。ここで
は脱水ガスとしてC1,を用いた例について説明する。
は脱水ガスとしてC1,を用いた例について説明する。
現在の石英系光ファイバは石英ガラスS io、と、こ
れの屈折率分布を所望の形に制傭するためのドーパント
ガラスからなる。ドーパントのうちで最も使用されてい
るのは酸化ゲルマニウムGeO□であり、その他にP2
0g。
れの屈折率分布を所望の形に制傭するためのドーパント
ガラスからなる。ドーパントのうちで最も使用されてい
るのは酸化ゲルマニウムGeO□であり、その他にP2
0g。
F(フッ素)が必要に応じて添加される。しかし主とし
て屈折率分布は通常Gem、のドープ量で決定されるの
で、主としてS i Oz / G e Oz系につい
て説明する。
て屈折率分布は通常Gem、のドープ量で決定されるの
で、主としてS i Oz / G e Oz系につい
て説明する。
まず、5iOzやGem、についているOH基はC1,
により次のように離脱される。
により次のように離脱される。
−G:e −OH+ % CI 2 →−<e−0−
+ HCl 會−(2)この脱OHを行なう温度は一
般に700〜1000℃が選ばれている。
+ HCl 會−(2)この脱OHを行なう温度は一
般に700〜1000℃が選ばれている。
ところが光ファイバで最も重要な屈折率分布を決定して
いるGeはガラス微粉末中に必ずしも安定な形で存在し
ている訳ではないことが判明した。すなわち、大きく分
けて、Geの状態は次の3つに分かれる。第1はS i
o2ガラス中に完全に固溶体の形で存在するGem、で
あり、強い5i−0−Geの形の結合を持つ。第2は、
結晶性のGem、とじて存在し、5in2とは固溶体を
形成していないものであり、第3はいくらか還元性の雰
囲気下士生成したところのGeOであって十分に酸化が
進んでいないものである。
いるGeはガラス微粉末中に必ずしも安定な形で存在し
ている訳ではないことが判明した。すなわち、大きく分
けて、Geの状態は次の3つに分かれる。第1はS i
o2ガラス中に完全に固溶体の形で存在するGem、で
あり、強い5i−0−Geの形の結合を持つ。第2は、
結晶性のGem、とじて存在し、5in2とは固溶体を
形成していないものであり、第3はいくらか還元性の雰
囲気下士生成したところのGeOであって十分に酸化が
進んでいないものである。
たとえば、第2図に示すVAD法の場合には、下方より
ターゲットに向って当てているバーナの角度、温度、ガ
ス流量により、前記の3種のGeの形態が変化するが、
通常のグレーデッド形光ファイバ製造条件下では、ガラ
ス微粉末焼結体中心部付近ではG e 02とS i
02が固溶体を形成しており、周辺部に行くにしたがっ
て第2、第3の形のGeの存在比率が増大すると言われ
ている。そしてこのことが、次工程の脱OH基工程にお
いてGeの濃度分布の変化をもたらす、#述のように、
ファイバプリフォーム半径方向のGeの濃度分布はとり
も直さず光ファイバの伝送特性(伝送帯域、伝送損失)
に大きな影響を与えるものであり、脱OH基工程におい
て不必要なGe濃度分布の変化は製造上有害である。と
ころが、脱OH基工程においてcliや塩素を含むガス
を高温で作用させると、 GeO,+2C1,−+GeCl4言+Oi −(3)
G e O+ 2 Cl 1 ” G e Cl 4
t + % 02 ・= (4)の形の反応が起き、ド
ープされているGeがGeCl4として揮散することが
知られている。もちろん、このとき上記の(1)、(2
)式の脱水反応も起きており、C1,の脱水作用は十分
なものである。
ターゲットに向って当てているバーナの角度、温度、ガ
ス流量により、前記の3種のGeの形態が変化するが、
通常のグレーデッド形光ファイバ製造条件下では、ガラ
ス微粉末焼結体中心部付近ではG e 02とS i
02が固溶体を形成しており、周辺部に行くにしたがっ
て第2、第3の形のGeの存在比率が増大すると言われ
ている。そしてこのことが、次工程の脱OH基工程にお
いてGeの濃度分布の変化をもたらす、#述のように、
ファイバプリフォーム半径方向のGeの濃度分布はとり
も直さず光ファイバの伝送特性(伝送帯域、伝送損失)
に大きな影響を与えるものであり、脱OH基工程におい
て不必要なGe濃度分布の変化は製造上有害である。と
ころが、脱OH基工程においてcliや塩素を含むガス
を高温で作用させると、 GeO,+2C1,−+GeCl4言+Oi −(3)
G e O+ 2 Cl 1 ” G e Cl 4
t + % 02 ・= (4)の形の反応が起き、ド
ープされているGeがGeCl4として揮散することが
知られている。もちろん、このとき上記の(1)、(2
)式の脱水反応も起きており、C1,の脱水作用は十分
なものである。
このGeのGeCl4としての離脱は結晶のGem、や
GeOではげしく、固溶体を形成しているガラス性Ge
m2では少ないとされているが、 Cl xの量、脱O
H基炉内温度によっては固溶体にも影響が生じる。その
結果、第4図のように脱OH基工程を経たため屈折率分
布に変化が生じる。第4図の2つの曲線はグレーデッド
形ファイバをVAD法で作成したときに、Cl 2によ
る脱OH基を施した場合(実線)と、脱OH基工程を経
ずに透明ガラス化を行ない次に適当な石英ガラス管を被
覆した後線引した場合(点線)の各党ファイバの屈折率
分布を示している。理論によれば、多モードグレーデッ
ド形ファイバの最適屈折率分布は概略二乗分布と呼ばれ
る分布であるが。
GeOではげしく、固溶体を形成しているガラス性Ge
m2では少ないとされているが、 Cl xの量、脱O
H基炉内温度によっては固溶体にも影響が生じる。その
結果、第4図のように脱OH基工程を経たため屈折率分
布に変化が生じる。第4図の2つの曲線はグレーデッド
形ファイバをVAD法で作成したときに、Cl 2によ
る脱OH基を施した場合(実線)と、脱OH基工程を経
ずに透明ガラス化を行ない次に適当な石英ガラス管を被
覆した後線引した場合(点線)の各党ファイバの屈折率
分布を示している。理論によれば、多モードグレーデッ
ド形ファイバの最適屈折率分布は概略二乗分布と呼ばれ
る分布であるが。
C1,による脱OH基を施した場合は二乗分布から外れ
て裾部が急激すぎる変化をしていることが分る。この2
木の光ファイ/くの伝送帯域幅は、C12による脱OH
基を施したものが約1?OMHz・Km (波長1.3
u、m) 、 Cl aによる脱水を施さないものが約
850MHz ・Km (波長1.3gm)であった。
て裾部が急激すぎる変化をしていることが分る。この2
木の光ファイ/くの伝送帯域幅は、C12による脱OH
基を施したものが約1?OMHz・Km (波長1.3
u、m) 、 Cl aによる脱水を施さないものが約
850MHz ・Km (波長1.3gm)であった。
しかし、脱OH基工程を経ないものについては、残留O
H基による損失増が大きく、波長1.381Lmにおけ
るOH吸収損がピークで約25dB/ K層。
H基による損失増が大きく、波長1.381Lmにおけ
るOH吸収損がピークで約25dB/ K層。
波長1.3p−mでの損失が約8dB/に閣と高く、た
とえ伝送帯域幅が広くても長距離伝送には耐えられない
ものである。
とえ伝送帯域幅が広くても長距離伝送には耐えられない
ものである。
なお、従来良く知られている脱OH基ガスとして、他に
、塩化チオニールSOCl 2があるが、これについて
下記のようにもC12と同様かそれ以上のGeとの反応
があることが知られている。
、塩化チオニールSOCl 2があるが、これについて
下記のようにもC12と同様かそれ以上のGeとの反応
があることが知られている。
GeO2+2SOC1z+GeC1<+2SOzただし
、5OC12は常温で液体であるので、C1,のような
常温ガス体と異なり取り扱い性、特に漏洩時の危険度の
点で利点が多い。
、5OC12は常温で液体であるので、C1,のような
常温ガス体と異なり取り扱い性、特に漏洩時の危険度の
点で利点が多い。
以上述べたような従来技術の考察から、塩素または塩素
系脱OH剤は光ファイバの屈折率分布制御の観点から必
ずしも優れたものでないことが指摘できる。
系脱OH剤は光ファイバの屈折率分布制御の観点から必
ずしも優れたものでないことが指摘できる。
(ハ)目的
この発明は、屈折率分布制御の点で問題を生じることが
なく、しかも取り扱い性の点でも優れた、光ファイバ用
ガラス母材の製造方法、特にガラス母材の脱水処理方法
を提供することを目的とする。
なく、しかも取り扱い性の点でも優れた、光ファイバ用
ガラス母材の製造方法、特にガラス母材の脱水処理方法
を提供することを目的とする。
(ニ)発明の概要
この発明によると、第1に常温で液体であること、第2
にGem、との反応があまり強くないこと、第3に十分
な脱OH作用があること、の3点から脱OH剤について
検討をすすめた結果、臭化チオニール5OBr2が、こ
れらの条件の全てを満たす、光ファイバ用ガラス母材製
造工程における多孔質ガラスの脱OH基剤として、優れ
たものであると判明した。この発明では、多孔質ガラス
を作製する第1の工程と、この多孔質ガラスを加熱して
透明な石英系ガラスを得る第2の工程とからなる光ファ
イバ用ガラス母材の製造方法において、上記第2の工程
の前または/および第2の工程中に多孔質ガラスを臭化
チオニールを含む雰囲気中で加熱処理することが特徴と
なっている。
にGem、との反応があまり強くないこと、第3に十分
な脱OH作用があること、の3点から脱OH剤について
検討をすすめた結果、臭化チオニール5OBr2が、こ
れらの条件の全てを満たす、光ファイバ用ガラス母材製
造工程における多孔質ガラスの脱OH基剤として、優れ
たものであると判明した。この発明では、多孔質ガラス
を作製する第1の工程と、この多孔質ガラスを加熱して
透明な石英系ガラスを得る第2の工程とからなる光ファ
イバ用ガラス母材の製造方法において、上記第2の工程
の前または/および第2の工程中に多孔質ガラスを臭化
チオニールを含む雰囲気中で加熱処理することが特徴と
なっている。
(ホ)実施例
まず、VAD法によりグレーデッド形光ファイバ用のガ
ラス微粉末を堆積させた。そして、直径約60mm、長
さ約500mmで、かさ密度的0.17のガラス微粉末
焼結体を得た0次にこれを第3図に示すような内径75
厘厘、長さ700m5の炉心管を有する脱OH基用加熱
炉内に挿入して脱OH基を行なった。このとき、炉心管
内の温度は約850℃とした。炉心管中には、毎分20
1のHeガスと、 200CC/分のHeガスで50
B r 2中をバブリングした混合ガスとを流したs
S OB r vの流量は、5OBr□容器を電子恒温
槽で温度制御することにより一定に保持した。5QBr
iの蒸気圧曲線は必ずしも明確でないが、S OB r
2の流量は長時間の液面変化から約20cc/分であ
った。
ラス微粉末を堆積させた。そして、直径約60mm、長
さ約500mmで、かさ密度的0.17のガラス微粉末
焼結体を得た0次にこれを第3図に示すような内径75
厘厘、長さ700m5の炉心管を有する脱OH基用加熱
炉内に挿入して脱OH基を行なった。このとき、炉心管
内の温度は約850℃とした。炉心管中には、毎分20
1のHeガスと、 200CC/分のHeガスで50
B r 2中をバブリングした混合ガスとを流したs
S OB r vの流量は、5OBr□容器を電子恒温
槽で温度制御することにより一定に保持した。5QBr
iの蒸気圧曲線は必ずしも明確でないが、S OB r
2の流量は長時間の液面変化から約20cc/分であ
った。
こうして脱OH基工程を経たガラス微粉末焼結体を透明
ガラス化し、この母材を用いて光ファイバを作成したと
ころ、その損失波長特性は第5図のようになった。波長
1.39p−mでのOH基吸収損は約2dB/Kmであ
り、十分な脱OH作用により初期の目標を達しており、
波長1.3p、mでの損失は約0.5dB/に腸であっ
た。この光ファイバのコア径ハ517zm、外径は12
5 終m 、コア會クラッド間の比屈折率差は約1゜0
%であった。
ガラス化し、この母材を用いて光ファイバを作成したと
ころ、その損失波長特性は第5図のようになった。波長
1.39p−mでのOH基吸収損は約2dB/Kmであ
り、十分な脱OH作用により初期の目標を達しており、
波長1.3p、mでの損失は約0.5dB/に腸であっ
た。この光ファイバのコア径ハ517zm、外径は12
5 終m 、コア會クラッド間の比屈折率差は約1゜0
%であった。
一方、脱OH基による屈折率分布への影響は、第6図の
ように少ないものとなっている。すなわち、第4図実線
のようにC12を用いた脱OH基に伴なう屈折率分布の
変化は見られず、はぼ、二乗分布と呼べるものであった
。その結果、波長1.3 p、 mにおける伝送帯域幅
は、約700MHz −Ktaであり、満足すべきもの
となっている。
ように少ないものとなっている。すなわち、第4図実線
のようにC12を用いた脱OH基に伴なう屈折率分布の
変化は見られず、はぼ、二乗分布と呼べるものであった
。その結果、波長1.3 p、 mにおける伝送帯域幅
は、約700MHz −Ktaであり、満足すべきもの
となっている。
なお、脱OH基工程の後、加熱炉の温度をさらに上昇さ
せてガラス微粉末焼結体を透明ガラス化するときに、加
熱炉のシールが十分でなかったり、炉内に送るHeガス
やArガス等の不活性ガス中に微量の水分が含まれてい
る危険性がある場合には、この透明ガラス化工程におい
ても連続して5OBr、を流すのが良い、これにより、
脱水済のガラス中に再びOH基が混入することを防止で
きる。
せてガラス微粉末焼結体を透明ガラス化するときに、加
熱炉のシールが十分でなかったり、炉内に送るHeガス
やArガス等の不活性ガス中に微量の水分が含まれてい
る危険性がある場合には、この透明ガラス化工程におい
ても連続して5OBr、を流すのが良い、これにより、
脱水済のガラス中に再びOH基が混入することを防止で
きる。
このように、5OBr、による多孔質状態のガラス微粉
末焼結体の熱処理を行なう工程はいくつかの選択が許さ
れる。これは、必要とする脱水の程度および屈折率分布
への影響を考慮して決定される。ただし、炉内のシール
が不完全な場合には、透明ガラス化工程の前に十分な脱
水が行なわれていても、外部より炉内に水分が浸入して
再びOH基を増加させる危険性があるので、これに対す
る予防的な方法として透明ガラス化中にも5OBr、雰
囲気を維持することが有効である。また、条件によりそ
れほど徹底的な脱水が必要ない場合には、透明ガラス化
中にのみ30 B r zを流すだけでもよく、これに
より全製造時間の短縮を図ることができる。この場合、
第7図のようにガラス微粉末焼結体24と比べて比較的
狭いヒートゾーンをもつ発熱体32を有する加熱炉31
を用いてもよい、ここでは透明ガラス化はガラス微粉末
焼結体24の一端より行なわれ、その際に5OBraが
作用することにより脱OH基と透明ガラス化とが同時に
行なわれることになる。
末焼結体の熱処理を行なう工程はいくつかの選択が許さ
れる。これは、必要とする脱水の程度および屈折率分布
への影響を考慮して決定される。ただし、炉内のシール
が不完全な場合には、透明ガラス化工程の前に十分な脱
水が行なわれていても、外部より炉内に水分が浸入して
再びOH基を増加させる危険性があるので、これに対す
る予防的な方法として透明ガラス化中にも5OBr、雰
囲気を維持することが有効である。また、条件によりそ
れほど徹底的な脱水が必要ない場合には、透明ガラス化
中にのみ30 B r zを流すだけでもよく、これに
より全製造時間の短縮を図ることができる。この場合、
第7図のようにガラス微粉末焼結体24と比べて比較的
狭いヒートゾーンをもつ発熱体32を有する加熱炉31
を用いてもよい、ここでは透明ガラス化はガラス微粉末
焼結体24の一端より行なわれ、その際に5OBraが
作用することにより脱OH基と透明ガラス化とが同時に
行なわれることになる。
(へ)効果
この発明によれば、脱OH基剤として臭化チオニールを
用いるので、屈折率分布に悪影響を与えることなく脱O
H基を行なうことができる。また、臭化チオニールは常
温で液体であるので取り扱いも容易である。
用いるので、屈折率分布に悪影響を与えることなく脱O
H基を行なうことができる。また、臭化チオニールは常
温で液体であるので取り扱いも容易である。
第1図は外付は法によるガラス微粉末の堆積工程を示す
模式図、第2図はvAD法によるガラス微粉末の堆積工
程を示す模式図、第3図は脱OH基工程に用いる加熱炉
の模式図、第4図は従来の屈折率分布を示すグラフ、第
5図は実施例の損失波長特性を示すグラフ、第6図は実
施例の屈折率分布を示すグラフである。第7図は他の実
施例で用いる加熱炉の模式図である。
模式図、第2図はvAD法によるガラス微粉末の堆積工
程を示す模式図、第3図は脱OH基工程に用いる加熱炉
の模式図、第4図は従来の屈折率分布を示すグラフ、第
5図は実施例の損失波長特性を示すグラフ、第6図は実
施例の屈折率分布を示すグラフである。第7図は他の実
施例で用いる加熱炉の模式図である。
Claims (2)
- (1)多孔質ガラスを作製する第1の工程と、この多孔
質ガラスを加熱して透明な石英系ガラスを得る第2の工
程とからなる光ファイバ用ガラス母材の製造方法におい
て、上記第2の工程の前または/および第2の工程中に
多孔質ガラスを臭化チオニールを含む雰囲気中で加熱処
理することを特徴とする光ファイバ用ガラス母材の製造
方法。 - (2)上記第2の工程の前の臭化チオニールを含む雰囲
気中でおこなわれる加熱処理にひきつづいて、第2の工
程でも臭化チオニールを含む雰囲気中で加熱して透明ガ
ラス化を行なうことを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の光ファイバ用ガラス母材の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24399184A JPS61122133A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | 光フアイバ用ガラス母材の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24399184A JPS61122133A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | 光フアイバ用ガラス母材の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61122133A true JPS61122133A (ja) | 1986-06-10 |
Family
ID=17112085
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24399184A Pending JPS61122133A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | 光フアイバ用ガラス母材の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61122133A (ja) |
-
1984
- 1984-11-19 JP JP24399184A patent/JPS61122133A/ja active Pending
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