JPS6083159A - プログラムチエツク方式 - Google Patents
プログラムチエツク方式Info
- Publication number
- JPS6083159A JPS6083159A JP58191606A JP19160683A JPS6083159A JP S6083159 A JPS6083159 A JP S6083159A JP 58191606 A JP58191606 A JP 58191606A JP 19160683 A JP19160683 A JP 19160683A JP S6083159 A JPS6083159 A JP S6083159A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- area
- program
- rom
- stored
- check
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1004—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's to protect a block of data words, e.g. CRC or checksum
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し専用メモリ（以下ＲＯＭと称す）のプログラムチェッ
ク方式に係り該ＲＯＭのサイズを余り大きくせず又ＲＯ
Ｍ障害検出用の特殊な回路を使用せずにＲＯＭの全領域
を適時チェック出来線ＲＯＭの障害によるプログラム障
害を早期に検出出来るプログラムチェック方式に関する
。
ク方式に係り該ＲＯＭのサイズを余り大きくせず又ＲＯ
Ｍ障害検出用の特殊な回路を使用せずにＲＯＭの全領域
を適時チェック出来線ＲＯＭの障害によるプログラム障
害を早期に検出出来るプログラムチェック方式に関する
。
（ｂ） 技術の背景
ＲＯＭには紫外線、Ｘ＠、電子線等を用いで消去するＥ
Ｐ ＲＯＭ（ｅｒａｓａｂｌｅ ｐｒｏｇｒａｍａ−ｂ
ｌ ｅ ＲＯＭ） ’ −士卸比１ｈ−Ｂ、ω緋があ
る。このＲＯＭは何等かの原因で長い間には記憶されて
いる一部が消去されていることがある。
Ｐ ＲＯＭ（ｅｒａｓａｂｌｅ ｐｒｏｇｒａｍａ−ｂ
ｌ ｅ ＲＯＭ） ’ −士卸比１ｈ−Ｂ、ω緋があ
る。このＲＯＭは何等かの原因で長い間には記憶されて
いる一部が消去されていることがある。
このような場合には記憶されているプログラムをチェッ
クする必要がある。
クする必要がある。
（Ｃ） 従来技術と問題点
従来ＲＯＭに記憶されている各種制御プログラムをチェ
ックする方法としては、該ＲＯＭに記憶″されている各
種制御プログラムのバイト単位にパリティピットを設け
、制御プログラムを使用する時は、使用する制御グログ
２ムを、バイト単位で上記パリティビットとの例えば“
１゛の数をチェックするＲＯＭ障害検出用のチェック回
路にでチェックし、プログラムチェックを行う方式か用
いられている。しかしこの方式では、パリティビットを
付加する為のパリティＲＯＭが必要でＲＯＭのメモリサ
イズが大きくなると共に上記チェック雑 回路が必要となり回路形式が複数になる欠点がある。又
通常使われない制御プログラムはチェックが出来ない欠
点がある。
ックする方法としては、該ＲＯＭに記憶″されている各
種制御プログラムのバイト単位にパリティピットを設け
、制御プログラムを使用する時は、使用する制御グログ
２ムを、バイト単位で上記パリティビットとの例えば“
１゛の数をチェックするＲＯＭ障害検出用のチェック回
路にでチェックし、プログラムチェックを行う方式か用
いられている。しかしこの方式では、パリティビットを
付加する為のパリティＲＯＭが必要でＲＯＭのメモリサ
イズが大きくなると共に上記チェック雑 回路が必要となり回路形式が複数になる欠点がある。又
通常使われない制御プログラムはチェックが出来ない欠
点がある。
（ｄ） 発明の目的
本発明の目的は上記の欠点に鑑み、ＲＯＭのサイズは従
来方式より小さく又ＲＯＭ障害検出用のチェック回路を
使用せずにＲＯＭの全領域を適時チェック出来ＲＯＭの
障害によるプログラム障害を早期に検出出来るプログラ
ムチェック方式の提供にある。
来方式より小さく又ＲＯＭ障害検出用のチェック回路を
使用せずにＲＯＭの全領域を適時チェック出来ＲＯＭの
障害によるプログラム障害を早期に検出出来るプログラ
ムチェック方式の提供にある。
ｆｅ） 発明の構成
本発明は上記の目的を達成するために、ＲＯＭの全領域
をアクセスしてチェック符号を生成する第１のプログラ
ムを持ち、システムの立上げ時該第１のプログラムによ
り該全領域をアクセスしてチェック符号を生成し、読出
し書込みメモリ （以下ＲＡＭと称す）に記憶しておき
、システム運用時適時該第１のプログラムにより該全領
域をアクセスしてチェック符号を生成し、第２のプログ
ラムにより該チェック符号と該ＲＡＭに記憶されたチェ
ック符号とを比較照合することにより、ＲＯＭの障害に
よるプログシム障害を早期に検出出来るようにしたもの
である。
をアクセスしてチェック符号を生成する第１のプログラ
ムを持ち、システムの立上げ時該第１のプログラムによ
り該全領域をアクセスしてチェック符号を生成し、読出
し書込みメモリ （以下ＲＡＭと称す）に記憶しておき
、システム運用時適時該第１のプログラムにより該全領
域をアクセスしてチェック符号を生成し、第２のプログ
ラムにより該チェック符号と該ＲＡＭに記憶されたチェ
ック符号とを比較照合することにより、ＲＯＭの障害に
よるプログシム障害を早期に検出出来るようにしたもの
である。
（ｆ） 発明の実施例
以下本発明の一実施例につき図に従って説明する。
図は本発明の実施例のプログラムチェック方式の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
図中１はプロセッサ、２は１１０Ｍ、３はＲＡ ＩＶＩ
４は制御プログシム記憶領域、５はチェック符号生成プ
ログラム記憶領域、６は比較照合プログラム記憶領域、
７．８はチェック符号記憶領域を示ず。
４は制御プログシム記憶領域、５はチェック符号生成プ
ログラム記憶領域、６は比較照合プログラム記憶領域、
７．８はチェック符号記憶領域を示ず。
ＲＯＭ２の領域５には、ＲＯＭ２の全領域をアクセスし
てチェック符号を生成するチェック符号生成プログラム
を記憶しておく。又ＲＯＩＶＩ ２の領域６には、比較
照合プログラムを記憶しておく。
てチェック符号を生成するチェック符号生成プログラム
を記憶しておく。又ＲＯＩＶＩ ２の領域６には、比較
照合プログラムを記憶しておく。
そして、システム立上時、プロセッサ１の制御により領
域５のチェック符号生成プログラムによりＲＯＭ２の全
領域をアクセスして９例えば１゛の数５００を計数し、
この５００をチェック符号として、ＲＡＭ３の領域７に
記憶しておく。システム運用時、適時プロセッサ１の制
御にて、領域５のチェック符号生成プログラムにより、
ＲＯＭ２の全領域をアクセスし、“１“の数Ａを計数し
この値Ａを領域８１こ記憶する。次はプロセッサ１の制
御にて、領域６の比較照合プログラムにより領域７に記
憶した５００と領域８に記憶したＡと比較照合し等しけ
ればＲ６ｈａには障害がなく等しくなかったらＲＯＭ
２に障害があったとする。
域５のチェック符号生成プログラムによりＲＯＭ２の全
領域をアクセスして９例えば１゛の数５００を計数し、
この５００をチェック符号として、ＲＡＭ３の領域７に
記憶しておく。システム運用時、適時プロセッサ１の制
御にて、領域５のチェック符号生成プログラムにより、
ＲＯＭ２の全領域をアクセスし、“１“の数Ａを計数し
この値Ａを領域８１こ記憶する。次はプロセッサ１の制
御にて、領域６の比較照合プログラムにより領域７に記
憶した５００と領域８に記憶したＡと比較照合し等しけ
ればＲ６ｈａには障害がなく等しくなかったらＲＯＭ
２に障害があったとする。
このようにすることによりＲＯｍ、ｘ ２の全領域内に
障害箇所が有るかどうか早期に検出が出来プログラム障
害を早期に検出出来る。尚又チェック符号生成プログラ
ム領域５と比較照合プログラム領域６の和は従来のパリ
ティＲＯＭに比べれｃ；−メモリサイズは小さくてよく
又ＲＯＭ障害検出用のチェック回路も必要としない。
障害箇所が有るかどうか早期に検出が出来プログラム障
害を早期に検出出来る。尚又チェック符号生成プログラ
ム領域５と比較照合プログラム領域６の和は従来のパリ
ティＲＯＭに比べれｃ；−メモリサイズは小さくてよく
又ＲＯＭ障害検出用のチェック回路も必要としない。
（ｇｌ 発明の効果
以上詳細に説明せる如く本発明によれば、ＲＯＭのサイ
ズは従来のプログラムチェック方式よりも小さくかつＲ
ＯＭ障害検出用チェック回路も必要なく、かつＲＯＭの
全領域内に障害箇所が有るかどうか早期に検出出来プロ
グラム障害を早期に検出出来る効果がある。
ズは従来のプログラムチェック方式よりも小さくかつＲ
ＯＭ障害検出用チェック回路も必要なく、かつＲＯＭの
全領域内に障害箇所が有るかどうか早期に検出出来プロ
グラム障害を早期に検出出来る効果がある。
図は本発明の実施例のプログラムチェック方式の構成を
示すブロック図である。 図中１はプロセッサ、２は読み出し専用メモリ３は読慶
出し書込みメモリ、４は制御プログラム記憶領域、５は
チェック符号生成プログラム領域６は比較照合プログラ
ム領域、７．８はチェック符号領域を示す。
示すブロック図である。 図中１はプロセッサ、２は読み出し専用メモリ３は読慶
出し書込みメモリ、４は制御プログラム記憶領域、５は
チェック符号生成プログラム領域６は比較照合プログラ
ム領域、７．８はチェック符号領域を示す。
Claims (1)
- 制御プログラムを記憶している読出専用メモリに、該読
出し専用メモリの全領域をアクセスしてチェック符号を
生成する第１のプログラム及びシステム立上げ時、該第
１のプログラムにより該全領域をアクセスして生成され
読出し書込みメモリに記憶したチェック符号と適時該第
１のプログラムにより該全領域をアクセスして生成され
たチェック符号とを比較照合する第２のプログラムとを
記憶させておくことを特徴とするプログラムチェック方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58191606A JPS6083159A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | プログラムチエツク方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58191606A JPS6083159A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | プログラムチエツク方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6083159A true JPS6083159A (ja) | 1985-05-11 |
Family
ID=16277431
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58191606A Pending JPS6083159A (ja) | 1983-10-13 | 1983-10-13 | プログラムチエツク方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6083159A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61276626A (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-06 | Toshiba Heating Appliances Co | 燃焼制御装置 |
| JPS63234378A (ja) * | 1987-03-23 | 1988-09-29 | Toshiba Corp | 携帯可能電子装置 |
| JPH04329932A (ja) * | 1991-04-30 | 1992-11-18 | Shimadzu Corp | 回診用ｘ線診断装置 |
-
1983
- 1983-10-13 JP JP58191606A patent/JPS6083159A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61276626A (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-06 | Toshiba Heating Appliances Co | 燃焼制御装置 |
| JPS63234378A (ja) * | 1987-03-23 | 1988-09-29 | Toshiba Corp | 携帯可能電子装置 |
| JPH04329932A (ja) * | 1991-04-30 | 1992-11-18 | Shimadzu Corp | 回診用ｘ線診断装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5432802A (en) | Information processing device having electrically erasable programmable read only memory with error check and correction circuit | |
| JPH01201736A (ja) | マイクロコンピュータ | |
| JPH02206843A (ja) | 不良データアルゴリズム | |
| US5822513A (en) | Method and apparatus for detecting stale write data | |
| JPS6083159A (ja) | プログラムチエツク方式 | |
| CN116978435A (zh) | 一种eFuse烧写方法 | |
| US6560731B2 (en) | Method for checking the functioning of memory cells of an integrated semiconductor memory | |
| JP3106947B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
| US5392294A (en) | Diagnostic tool and method for locating the origin of parasitic bit faults in a memory array | |
| JPH05189327A (ja) | 集積回路の内蔵メモリ故障時の救済方法 | |
| US11249839B1 (en) | Method and apparatus for memory error detection | |
| JPS6233626B2 (ja) | ||
| JP3342039B2 (ja) | ファイルを管理する処理装置 | |
| JPS5856291A (ja) | ランダムアクセスメモリの検査方法 | |
| JPH0287397A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP2002244934A (ja) | メモリ監視装置および方法 | |
| EP0652568A1 (en) | Memory card tester | |
| EP0442616A2 (en) | Method for testing a computer memory location | |
| JPS60214500A (ja) | Ｒｏｍ試験装置 | |
| JPH01260698A (ja) | Ｒｏｍ制御処理装置 | |
| JPS598061A (ja) | エラ−訂正・検出回路の診断方法 | |
| JPS6365547A (ja) | メモリ内蔵集積回路 | |
| JPS63118953A (ja) | パリテイ異常検出方式 | |
| JPH09305496A (ja) | Ｅｅｐｒｏｍの１ビット誤り訂正方法とその装置 | |
| JPH10312337A (ja) | 記憶装置の試験回路 |