JPS60214500A - Ｒｏｍ試験装置 - Google Patents
Ｒｏｍ試験装置Info
- Publication number
- JPS60214500A JPS60214500A JP59071297A JP7129784A JPS60214500A JP S60214500 A JPS60214500 A JP S60214500A JP 59071297 A JP59071297 A JP 59071297A JP 7129784 A JP7129784 A JP 7129784A JP S60214500 A JPS60214500 A JP S60214500A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rom
- identification code
- data
- test
- generating part
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、ＲＯＭ（読出し専用記憶素子）Ｋ格納され
ているデータを試験する際の試験装置に関するものであ
る。
ているデータを試験する際の試験装置に関するものであ
る。
従来、ＲＯＭＫ格納されているデータを試験するために
１次に示す様な方法がとられていた。
１次に示す様な方法がとられていた。
従来例１としては、予め正しい事が確認でれているＲＯ
Ｍ１基準のデータとして、それに対する被試験ＲＯＭの
データを読み出し、比較を行なう方法である。
Ｍ１基準のデータとして、それに対する被試験ＲＯＭの
データを読み出し、比較を行なう方法である。
この場合、正しい事が確認でねているＲＯＭを基準デー
タの媒体として試験が行なわれるため。
タの媒体として試験が行なわれるため。
ＲＯＭ内部のデータの種類が異なる毎に基準Ａ。
基準Ｂ・の様に基準ＲＯＭが準備される。
従来例２としては、基準のデータ全紙テープ。
磁気テープ、磁気ティスフ等の媒体に格納しておき、試
験を行なおうとする際に、前記媒体から基準データを取
り出し、被試験ＲＯＭの読み出し出力と比較を行なう方
法である。
験を行なおうとする際に、前記媒体から基準データを取
り出し、被試験ＲＯＭの読み出し出力と比較を行なう方
法である。
従来例３としては、基準専用の媒体を準備しない方法で
、同〜データ内容のＲＯＭ ｆ多数個試験する様な場合
に、その中の１個を仮りの基準ＲＯＭと考え、これを基
準に従来例１の様に比較を行なう方法である。
、同〜データ内容のＲＯＭ ｆ多数個試験する様な場合
に、その中の１個を仮りの基準ＲＯＭと考え、これを基
準に従来例１の様に比較を行なう方法である。
前記従来例の欠点として、従来例１においては基準用デ
ータの内容が異なる毎に基準用ＲＯＭ’ｉ交換する必要
があるため、基準用ＲＯＭの増大及び作業性の低下、管
理の増大を伴なう欠点があった。
ータの内容が異なる毎に基準用ＲＯＭ’ｉ交換する必要
があるため、基準用ＲＯＭの増大及び作業性の低下、管
理の増大を伴なう欠点があった。
従来例２においては、試験装置が大規模になる欠点があ
った。
った。
従来例３においては９本来、基準Ａとして試験すべき所
、被試験ＲＯＭが基準Ｂ用であった等の場合は２本来の
基準に対する誤りが検出できない欠点があった。
、被試験ＲＯＭが基準Ｂ用であった等の場合は２本来の
基準に対する誤りが検出できない欠点があった。
この発明は、上記の様な従来の欠点を除去するためにな
されたもので、基準用ＲＯＭ’ｉｉ不要にし比較的小規
模なＲＯＭ試験装置を提供する事を目的としている。
されたもので、基準用ＲＯＭ’ｉｉ不要にし比較的小規
模なＲＯＭ試験装置を提供する事を目的としている。
以下、この発明の一実施例を図を用いて説明する。
第１図は、この発明におけるＲＯＭ試験装置ブロック図
であり、（１）はアドレス発生部、（２）は被試験ＲＯ
Ｍ、（３１はアドレス発生部により与えられるアドレス
によって読み出でれた被試験ＲＯＭ （２）の出力デー
タの総和全計算する計算部、（４）は被試験ＲＯＭ （
２ｊのデータ内容を識別するための識別コード発生部、
（５）は計算部（３）の計算結果と識別コード発生部（
４）の出力を比較し１合否を判定する判定部である。
であり、（１）はアドレス発生部、（２）は被試験ＲＯ
Ｍ、（３１はアドレス発生部により与えられるアドレス
によって読み出でれた被試験ＲＯＭ （２）の出力デー
タの総和全計算する計算部、（４）は被試験ＲＯＭ （
２ｊのデータ内容を識別するための識別コード発生部、
（５）は計算部（３）の計算結果と識別コード発生部（
４）の出力を比較し１合否を判定する判定部である。
第２図は、識別コート発生部（４）の識別コードの構造
図である。図においてより１ 、 ■Ｄ２ ・・よりＮ
は、ＲＯＭデータ内容の種類を識別するコートでデータ
の種類毎に格納場所が割付は婆れている。
図である。図においてより１ 、 ■Ｄ２ ・・よりＮ
は、ＲＯＭデータ内容の種類を識別するコートでデータ
の種類毎に格納場所が割付は婆れている。
なお、計算部（３１で計算されるＲＯＭデータの総和は
、ＲＯＭ内容が異なればその総和値も異なる上、総和値
の情報量が少なくて済むため、チェックサムとして広く
…いられているものである。
、ＲＯＭ内容が異なればその総和値も異なる上、総和値
の情報量が少なくて済むため、チェックサムとして広く
…いられているものである。
本説明では、この総和値を識別コートとして用いている
。
。
この様な構成において、識別コードは試験を開始する際
に、該当識別コードを、第１図の識別コード選択情報に
より、■Ｄ１〜よりＮ の中から選択しておく。
に、該当識別コードを、第１図の識別コード選択情報に
より、■Ｄ１〜よりＮ の中から選択しておく。
今、試験を開始する。アドレス発生部（１）により発生
されたアドレスに対する被試験ＲＯＭ （２１の読出し
データが、アドレス発生の都度、計算部（３）により順
次加算される。
されたアドレスに対する被試験ＲＯＭ （２１の読出し
データが、アドレス発生の都度、計算部（３）により順
次加算される。
判定部（５）は、試験子べき最後のアドレスが発生され
た後に、計算部（３）の計算結果と識別コード発生部（
４）の出力を比較する。この結果により、被試験ＲＯλ
４のデータ内容が正しいか、および、意図したデータの
種類に合っているかが判定できる。
た後に、計算部（３）の計算結果と識別コード発生部（
４）の出力を比較する。この結果により、被試験ＲＯλ
４のデータ内容が正しいか、および、意図したデータの
種類に合っているかが判定できる。
又、この判定の後に、従来例３の方法で試験を行なって
もよい。
もよい。
識別コード発生部は、多種類のＲＯＭデータ内容に対し
、より１〜よりＮ の様に識別用コードが格納される一
種の固定記憶素子である。仮りに。
、より１〜よりＮ の様に識別用コードが格納される一
種の固定記憶素子である。仮りに。
ＲＯＭデータ内容の種類が膨大になり、識別コード格納
部が不足する事態に対しては、識別コード発生部を交換
可能型にしておけばよい。
部が不足する事態に対しては、識別コード発生部を交換
可能型にしておけばよい。
この識別コードは、ＲＯＭデータそのものの試゛験デー
タと異なるＲＯＭ内容の識別を兼ねている。
タと異なるＲＯＭ内容の識別を兼ねている。
以上説明した様に、この発明は多種類のＲＯＭデータ内
容に対する識別用コードを識別コート発生部に格納して
おき、試験を開始する際に、該当の識別コードを選択す
る事を特徴としているので。
容に対する識別用コードを識別コート発生部に格納して
おき、試験を開始する際に、該当の識別コードを選択す
る事を特徴としているので。
基準用ＲＯＭが不要となる他、比較的規模が小さいＲＯ
Ｍ試験装置が得られる。
Ｍ試験装置が得られる。
第１図はこの発明の一実施例によるＲＯＭ試験装置のブ
ロック図、第２図は識別コード発生部のコード格納構造
図である。 なお、（３）は計算部、（４）は識別コート発生部であ
る。 図中、同一符号は同一部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄
ロック図、第２図は識別コード発生部のコード格納構造
図である。 なお、（３）は計算部、（４）は識別コート発生部であ
る。 図中、同一符号は同一部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄
Claims (1)
- ＲＯＭのデータ内容を試験するＲＯＭ試験装置において
、被試験ＲＯＭデータの良否を判定するために、ＲＯＭ
の各アドレスに対する期待値の総和を試験の基準データ
とし、このデータを識別コードとして準備しておく識別
コード格納部と被試験ＲＯＭの読出しデータ全計算する
計算部とから構成され、多種類の識別コートが格納でれ
た前記格納部から該当識別コードを選択して、被試験Ｒ
ＯＭデータの良否を判定テる事を特徴としたＲＯＭ試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59071297A JPS60214500A (ja) | 1984-04-10 | 1984-04-10 | Ｒｏｍ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59071297A JPS60214500A (ja) | 1984-04-10 | 1984-04-10 | Ｒｏｍ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60214500A true JPS60214500A (ja) | 1985-10-26 |
Family
ID=13456586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59071297A Pending JPS60214500A (ja) | 1984-04-10 | 1984-04-10 | Ｒｏｍ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60214500A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6332400U (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-02 | ||
| US5315553A (en) * | 1991-06-10 | 1994-05-24 | Texas Instruments Incorporated | Memory circuit test system using separate ROM having test values stored therein |
-
1984
- 1984-04-10 JP JP59071297A patent/JPS60214500A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6332400U (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-02 | ||
| US5315553A (en) * | 1991-06-10 | 1994-05-24 | Texas Instruments Incorporated | Memory circuit test system using separate ROM having test values stored therein |
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