JPH09330242A - 情報処理装置のテスト命令列生成方式 - Google Patents

情報処理装置のテスト命令列生成方式

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Publication number
JPH09330242A
JPH09330242A JP8150718A JP15071896A JPH09330242A JP H09330242 A JPH09330242 A JP H09330242A JP 8150718 A JP8150718 A JP 8150718A JP 15071896 A JP15071896 A JP 15071896A JP H09330242 A JPH09330242 A JP H09330242A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
instruction
register
test
changed
test instruction
Prior art date
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Pending
Application number
JP8150718A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Ohara
季之 大原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP8150718A priority Critical patent/JPH09330242A/ja
Publication of JPH09330242A publication Critical patent/JPH09330242A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】情報処理装置のテスト命令列生成処理におい
て、テスト命令列の組み合わせが乱数によって決まるた
め、同じレジスタを変更する二つの命令A、Bの間に変
更レジスタを退避または参照する命令が存在しない場
合、先行命令Aで変更したレジスタを後続命令Bで上書
きしてしまうため、先行命令Aで発生した不良を検出で
きない。 【解決手段】変更レジスタテーブルを用いて、レジスタ
の変更及び参照が行われたかどうかを管理し、同じレジ
スタに対する二度目の変更を行う命令を生成する前に、
変更レジスタを退避又は参照する命令を生成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報処理装置のテ
ストプログラムのテスト命令列の生成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の情報処理装置のテスト命
令列生成方法としては、あらかじめ開発者が生成したテ
スト命令列をそのまま使用する方法、テスト対象となる
複数の命令を乱数により取り出し、テスト命令列を生成
する方法が用いられてきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
方法では、テスト命令列の組み合わせが乱数によって決
まるため、レジスタの内容を変更する先行命令と後続命
令で同じレジスタの内容を変更するケースが発生する。
【0004】このような場合、先行命令と後続命令の間
に変更するレジスタを参照する命令が存在しないと、先
行命令で発生した不良を検出できないという欠点があっ
た。
【0005】
【課題を解決するための手段】テスト命令列生成時、レ
ジスタの参照及び変更が行われたかどうかを示す変更レ
ジスタテーブルを用いて、変更レジスタのチェックを行
う。レジスタチェックの結果、同じレジスタに対する2
回目の変更であり(先行命令Aで変更したレジスタを後
続命令Bで変更する)、先行命令Aと後続命令Bの間に
変更レジスタの退避及び参照命令が存在しない場合、変
更レジスタの退避又は参照する命令Cの生成を行った
後、後続命令Bを生成する。この結果、先行命令Aで不
良が存在する場合でも、命令Cで不良を検出することが
できる。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の情報処理装置のテ
スト命令列生成方式について、図面を用いて説明する。
【0007】「図1」は、本発明の情報処理装置のテス
ト命令列生成方式の一実施例の構成図であり、点線で囲
んだ部分が本発明の範囲である。まず、テスト命令列生
成部では、テスト対象となる命令を格納した命令生成テ
ーブルの中から、乱数により、テスト命令の選択処理1
を行う。次に、選択した命令に対して、乱数によりレジ
スタ・オペランド領域の割り当て処理2を行う。以上の
ようにして選択した命令に対して、変更レジスタテーブ
ル16を用いて変更レジスタのチェック処理4を行い、
変更レジスタが使用可能とと判定した場合、変更レジス
タの更新処理5を行う。チェックの結果、変更レジスタ
が使用不可能と判定した場合、レジスタの退避・参照命
令の選択・生成処理6を行った後、変更レジスタの更新
処理5を行う。最後に、テスト命令生成処理7を行う。
【0008】「図2」は本発明の情報処理装置のテスト
命令列生成方式を用いたテストプログラムのテスト手順
を示したものであり、「図2」のテスト命令生成部9が
「図1」に相当する。
【0009】テスト手順として、まず、前処理部8で試
験に用いるテーブルの確保や初期化等の初期設定を行
う。次に、テスト命令生成部9で、乱数によりテスト命
令の生成を行い、期待値生成部10で生成したテスト命
令列に対し、命令シミュレータを用いて期待値の生成を
行う。そして、テスト命令列実行部11でテスト命令列
を実行し、期待値と実行値の比較12を行う。この結
果、実行結果が期待値と一致していない場合、エラー解
析部13でエラー原因の解析を行う。
【0010】「図3」は変更レジスタテーブル管理3の
処理を示したものである。まず、乱数により選択した命
令が変更するレジスタの取り出しを行う(処理ステップ
101)。次に、この変更レジスタが変更レジスタテー
ブル16に登録されているかどうかをチェックする(処
理ステップ102)。この結果、既に変更レジスタテー
ブル16に登録されている場合、同じレジスタに対する
二回目の変更であるので、この変更レジスタをメモリに
記憶し(処理ステップ103)、レジスタ退避・参照命
令の選択・生成6を行う(処理ステップ104)。処理
ステップ102で、変更レジスタテーブル16に未登録
の場合、変更レジスタを変更レジスタテーブル16に登
録する(処理ステップ104)。処理ステップ103又
は処理ステップ103〜104の処理を行った後、乱数
により選択した命令が参照するレジスタの取り出しを行
い(処理ステップ106)、変更レジスタテーブル16
から参照レジスタの登録を抹消する(処理ステップ10
7)。
【0011】「図4」はレジスタの退避・参照命令の選
択処理を示したものである。レジスタの退避・参照命令
テーブル15は、テスト対象命令の中から前処理8のテ
ーブル作成部14であらかじめ作成する。このようにし
て作成した退避・参照命令テーブル15から、乱数によ
り命令コードを選択する。命令は、命令コード部、レジ
スタ部、オペランド部からなっており、命令コード以外
のレジスタ、オペランドアドレスは、乱数により割り当
てる。
【0012】「図5」はレジスタの退避・参照命令の生
成処理を示したものである。まず、「図4」に示したレ
ジスタの退避・参照命令の選択処理(処理ステップ20
1)により、命令を選択する。次に、退避・参照レジス
タは変更レジスタテーブル管理処理3で記憶した変更レ
ジスタ番号に設定する(処理ステップ202)。そし
て、選択した命令がレジスタの変更を行う命令であるか
どうかをチェックする(処理ステップ203)。レジス
タの変更を行う命令である場合、変更レジスタテーブル
16に未登録のレジスタを変更レジスタに設定し(処理
ステップ204)、変更レジスタを変更レジスタテーブ
ル16に登録する(処理ステップ205)。処理ステッ
プ203でレジスタの変更を行わない命令と判定した場
合、処理ステップ206へいく。そして、処理ステップ
206で、退避・参照レジスタの取り出しを行い、退避
・参照レジスタを変更レジスタテーブル16から登録抹
消する(処理ステップ207)。
【0013】
【発明の効果】本発明は、同じレジスタを変更する2つ
の命令A、Bの間に変更するレジスタの退避・参照命令
Cを組み込むことにより、先行命令Aで発生した不良を
命令Cで検出でき、見逃し不良の低減を図ることができ
る。また、レジスタの退避・参照命令Cは乱数により選
択するので、先行命令Aと命令Cの間でレジスタ干渉を
網羅的にテストすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の情報処理装置のテスト命令列生成方式
の一実施例の構成図である。
【図2】本発明の情報処理装置のテスト命令列生成方式
を用いたテストプログラムのテスト手順を示す図であ
る。
【図3】変更レジスタテーブル管理処理3を説明するた
めの図である。
【図4】レジスタの退避・参照命令の選択処理を説明す
るための図である。
【図5】レジスタの退避・参照命令の生成処理を説明す
るための図である。
【符号の説明】
1…テスト命令選択処理、 2…レジスタ・オペランド
割り当て処理、3…変更レジスタテーブル管理処理、
4…変更レジスタチェック処理、5…変更レジスタ
テーブルの更新処理、6…レジスタ退避・参照命令の選
択・生成処理、7…テスト命令列生成処理、8…前処理
部、9…テスト命令列生成部、10…期待値生成部、
11…テスト命令列実行部、12…比較部、13…
エラー解析部、 14…テーブル作成部、15…レ
ジスタ退避・参照命令テーブル。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】テスト対象命令の中から乱数により命令を
    選択し、テスト命令列を生成する情報処理装置のテスト
    命令列生成方法において、同じレジスタの内容を変更す
    る2つの命令の間に変更するレジスタの退避・参照命令
    を組み込むことを特徴とする情報処理装置のテスト命令
    列生成方式。
  2. 【請求項2】請求項1のテスト命令列生成方式で、前記
    のレジスタの退避・参照命令の組込み方法として、レジ
    スタの退避・参照を行う命令を命令テーブルとして作成
    し、この命令テーブルから乱数により命令を選択・生成
    することを特徴とする情報処理装置のテスト命令列生成
    方式。
JP8150718A 1996-06-12 1996-06-12 情報処理装置のテスト命令列生成方式 Pending JPH09330242A (ja)

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JP8150718A JPH09330242A (ja) 1996-06-12 1996-06-12 情報処理装置のテスト命令列生成方式

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JP8150718A JPH09330242A (ja) 1996-06-12 1996-06-12 情報処理装置のテスト命令列生成方式

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JPH09330242A true JPH09330242A (ja) 1997-12-22

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ID=15502898

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JP (1) JPH09330242A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004326237A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Mitsubishi Electric Corp テストケース生成装置及びテストケース生成方法及びテストケース及びテスト方法
JP2018088213A (ja) * 2016-11-30 2018-06-07 日本電気株式会社 検証装置、方法およびプログラム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004326237A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Mitsubishi Electric Corp テストケース生成装置及びテストケース生成方法及びテストケース及びテスト方法
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