JP2903721B2 - 情報処理装置の試験命令組み立て方法 - Google Patents
情報処理装置の試験命令組み立て方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の試験命
令を組み立てる方法に関する。
令を組み立てる方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の情報処理装置の試験命令
組み立て方法としては、予め人手作業により作成された
試験命令列をそのまま使用する方法、人手作業により作
成された複数の試験命令列をランダムに組み合わせて使
用する方法、或は、第６図に示すように命令組み立て部
６０では、命令の前後関係を全く考慮せずに単に乱数を
利用して試験命令生成手段１１がランダムに試験命令を
生成し、試験命令列２３を作成する方法が用いられてい
た。
組み立て方法としては、予め人手作業により作成された
試験命令列をそのまま使用する方法、人手作業により作
成された複数の試験命令列をランダムに組み合わせて使
用する方法、或は、第６図に示すように命令組み立て部
６０では、命令の前後関係を全く考慮せずに単に乱数を
利用して試験命令生成手段１１がランダムに試験命令を
生成し、試験命令列２３を作成する方法が用いられてい
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の方法で
は、領域Ａの内容を変更する２つの命令Ｘ，Ｙの間に
は、領域Ａの内容を参照する命令が存在しないような試
験命令列も作成される。このとき、情報処理装置の誤り
により命令Ｘが不正動作し、領域Ａに書き込まれる内容
が誤っていた場合でも、命令Ｙの動作が正しければ領域
Ａには命令Ｙの結果が書き込まれ、領域Ａは正しい結果
となる。したがって、情報処理装置および命令レベルシ
ミュレータにて実行した結果は一致してしまい、試験命
令列中に不正動作する命令Ｘが含まれているにもかかわ
らず、誤りを検出できないという問題点があった。
は、領域Ａの内容を変更する２つの命令Ｘ，Ｙの間に
は、領域Ａの内容を参照する命令が存在しないような試
験命令列も作成される。このとき、情報処理装置の誤り
により命令Ｘが不正動作し、領域Ａに書き込まれる内容
が誤っていた場合でも、命令Ｙの動作が正しければ領域
Ａには命令Ｙの結果が書き込まれ、領域Ａは正しい結果
となる。したがって、情報処理装置および命令レベルシ
ミュレータにて実行した結果は一致してしまい、試験命
令列中に不正動作する命令Ｘが含まれているにもかかわ
らず、誤りを検出できないという問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、乱数を利用し
てランダムに試験命令を生成する試験命令生成手段を具
備する情報処理装置の試験命令組み立て方法に於いて、
変更可能な領域を示す変更可能領域記憶手段と、前記試
験命令生成手段により生成された前記試験命令を実行し
たときに変更される前記領域が前記変更可能領域記憶手
段に記憶されている変更可能な前記領域であるか否を判
定する変更領域判定手段と、前記試験命令生成手段によ
り生成された前記試験命令を実行したときに参照される
前記領域を変更可能領域とする様に前記変更可能領域記
憶手段に登録する変更可能領域登録手段と、前記試験命
令生成手段により生成された前記試験命令を実行したと
きに変更される前記領域を変更可能な前記領域とする様
に前記変更可能領域記憶手段から解除する変更可能領域
解除手段とを具備し、前記変更可能領域記憶手段に記憶
されている変更可能な前記領域以外の前記領域を変更す
る試験命令であると前記変更可能領域判定手段により判
定されたときに再度前記試験命令生成手段により前記試
験命令を生成し直すことにより、変更可能な前記領域以
外の前記領域の内容を変更する前記試験命令が生成され
ないように前記試験命令列を生成することを特徴とする
ものである。
てランダムに試験命令を生成する試験命令生成手段を具
備する情報処理装置の試験命令組み立て方法に於いて、
変更可能な領域を示す変更可能領域記憶手段と、前記試
験命令生成手段により生成された前記試験命令を実行し
たときに変更される前記領域が前記変更可能領域記憶手
段に記憶されている変更可能な前記領域であるか否を判
定する変更領域判定手段と、前記試験命令生成手段によ
り生成された前記試験命令を実行したときに参照される
前記領域を変更可能領域とする様に前記変更可能領域記
憶手段に登録する変更可能領域登録手段と、前記試験命
令生成手段により生成された前記試験命令を実行したと
きに変更される前記領域を変更可能な前記領域とする様
に前記変更可能領域記憶手段から解除する変更可能領域
解除手段とを具備し、前記変更可能領域記憶手段に記憶
されている変更可能な前記領域以外の前記領域を変更す
る試験命令であると前記変更可能領域判定手段により判
定されたときに再度前記試験命令生成手段により前記試
験命令を生成し直すことにより、変更可能な前記領域以
外の前記領域の内容を変更する前記試験命令が生成され
ないように前記試験命令列を生成することを特徴とする
ものである。
【０００５】本発明は、乱数を利用してランダムに試験
命令を生成する試験命令生成手段を具備する情報処理装
置の試験命令組み立て方法に於いて、変更可能な領域を
示す変更可能領域記憶手段と、前記試験命令生成手段に
より生成された前記試験命令を実行したときに参照され
る前記領域を変更可能な前記領域とする様に前記変更可
能領域記憶手段に登録する変更可能領域登録手段と、前
記試験命令生成手段により生成された前記試験命令を実
行したときに変更される前記領域を変更不可能な前記領
域とする様に前記変更可能領域記憶手段から解除する変
更可能領域解除手段とを具備し、前記試験命令生成手段
が前記試験命令を生成するときに、前記試験命令により
変更される前記領域を前記変更可能領域記憶手段に記憶
されている変更可能な前記領域からランダムに選ぶこと
により、変更可能な前記領域以外の前記領域の内容を変
更する前記試験命令が生成されないように前記試験命令
列を作成することを特徴とするものである。
命令を生成する試験命令生成手段を具備する情報処理装
置の試験命令組み立て方法に於いて、変更可能な領域を
示す変更可能領域記憶手段と、前記試験命令生成手段に
より生成された前記試験命令を実行したときに参照され
る前記領域を変更可能な前記領域とする様に前記変更可
能領域記憶手段に登録する変更可能領域登録手段と、前
記試験命令生成手段により生成された前記試験命令を実
行したときに変更される前記領域を変更不可能な前記領
域とする様に前記変更可能領域記憶手段から解除する変
更可能領域解除手段とを具備し、前記試験命令生成手段
が前記試験命令を生成するときに、前記試験命令により
変更される前記領域を前記変更可能領域記憶手段に記憶
されている変更可能な前記領域からランダムに選ぶこと
により、変更可能な前記領域以外の前記領域の内容を変
更する前記試験命令が生成されないように前記試験命令
列を作成することを特徴とするものである。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の情報処理装置の試験命令組み
立て方法について、図面を参照して説明する。
立て方法について、図面を参照して説明する。
【０００７】図１は本発明の情報処理装置の試験命令組
み立て方法の一実施例のブロック図であり、この情報処
理装置の試験命令組み立て方法は命令組み立て部１０及
び試験命令列２３からなる。又、命令組み立て部１０は
図２に示す命令組み立て部２２に相当し、試験命令生成
手段１１、変更可能レジスタ記憶手段１２、変更レジス
タ判定手段１３、変更可能レジスタ記憶手段更新部１４
から成る。更に変更可能レジスタ記憶手段更新部１４
は、変更可能レジスタ登録手段１４１、変更可能レジス
タ解除手段１４２から成る。
み立て方法の一実施例のブロック図であり、この情報処
理装置の試験命令組み立て方法は命令組み立て部１０及
び試験命令列２３からなる。又、命令組み立て部１０は
図２に示す命令組み立て部２２に相当し、試験命令生成
手段１１、変更可能レジスタ記憶手段１２、変更レジス
タ判定手段１３、変更可能レジスタ記憶手段更新部１４
から成る。更に変更可能レジスタ記憶手段更新部１４
は、変更可能レジスタ登録手段１４１、変更可能レジス
タ解除手段１４２から成る。
【０００８】図２は図１の情報処理装置の試験命令組み
立て方法を用いて行う情報処理装置の試験手順を示すブ
ロック図である。
立て方法を用いて行う情報処理装置の試験手順を示すブ
ロック図である。
【０００９】図３は図１の実施例の動作を示す流れ図で
ある。
ある。
【００１０】図４は本発明の情報処理装置の試験命令組
み立て方法の他の実施例のブロック図であり、この情報
処理装置の試験命令組み立て方法は命令組み立て部４０
及び試験命令列２３からなる。又、命令組み立て部４０
は図２に示す命令組み立て部２２に相当し、試験命令生
成手段１１、変更可能レジスタ記憶手段１２、変更可能
レジスタ記憶手段更新部１４から成る。更に変更可能レ
ジスタ記憶手段更新部１４は、変更可能レジスタ登録手
段１４１、変更可能レジスタ解除手段１４２から成る。
み立て方法の他の実施例のブロック図であり、この情報
処理装置の試験命令組み立て方法は命令組み立て部４０
及び試験命令列２３からなる。又、命令組み立て部４０
は図２に示す命令組み立て部２２に相当し、試験命令生
成手段１１、変更可能レジスタ記憶手段１２、変更可能
レジスタ記憶手段更新部１４から成る。更に変更可能レ
ジスタ記憶手段更新部１４は、変更可能レジスタ登録手
段１４１、変更可能レジスタ解除手段１４２から成る。
【００１１】図５は図４の実施例の動作を示す流れ図で
ある。
ある。
【００１２】次に、この様に構成された本実施例の情報
処理装置の試験命令組み立て方法を用いた試験手順の動
作について、図面を参照して説明する。
処理装置の試験命令組み立て方法を用いた試験手順の動
作について、図面を参照して説明する。
【００１３】図２を参照すると、情報処理装置の試験命
令組み立て方法を用いた試験手順は、前処理部２１にて
試験実行時のパラメータの入力、試験空間の確保などの
初期設定を行う。次に命令組み立て部２２にて組み立て
られた試験命令列２３を情報処理装置２４にて実行し、
情報処理装置実行結果２６を求める。同様に、試験命令
列２３を命令レベルシミュレータ２５にて実行し、命令
レベルシミュレータ実行結果２７を求める。その後、実
行結果比較部２８にて情報処理装置実行結果２６と命令
レベルシミュレータ実行結果２７の比較を行う。比較の
結果により、試験対象の情報処理装置２４の誤りを判定
する。
令組み立て方法を用いた試験手順は、前処理部２１にて
試験実行時のパラメータの入力、試験空間の確保などの
初期設定を行う。次に命令組み立て部２２にて組み立て
られた試験命令列２３を情報処理装置２４にて実行し、
情報処理装置実行結果２６を求める。同様に、試験命令
列２３を命令レベルシミュレータ２５にて実行し、命令
レベルシミュレータ実行結果２７を求める。その後、実
行結果比較部２８にて情報処理装置実行結果２６と命令
レベルシミュレータ実行結果２７の比較を行う。比較の
結果により、試験対象の情報処理装置２４の誤りを判定
する。
【００１４】次に、本発明の実施例における命令組み立
て部１０の処理を、図１を参照して説明する。
て部１０の処理を、図１を参照して説明する。
【００１５】変更可能レジスタ記憶手段１２は、対応す
るレジスタに対して書き込む試験命令を生成しても良い
か否かを示すフラグであり、１つのフラグが１つのレジ
スタに対応している。まず、試験命令生成手段１１にて
試験命令を生成する。生成された試験命令によって書き
込まれる全てのレジスタが、変更可能レジスタ記憶手段
１２で書き込まれても良いと記憶されているか否かを変
更レジスタ判定手段１３にて判定する。書き込まれても
良いと記憶されている場合のみ、変更可能レジスタ記憶
手段更新部１４が変更可能レジスタ記憶手段１２を更新
し、生成された命令を試験命令列２３として出力する。
るレジスタに対して書き込む試験命令を生成しても良い
か否かを示すフラグであり、１つのフラグが１つのレジ
スタに対応している。まず、試験命令生成手段１１にて
試験命令を生成する。生成された試験命令によって書き
込まれる全てのレジスタが、変更可能レジスタ記憶手段
１２で書き込まれても良いと記憶されているか否かを変
更レジスタ判定手段１３にて判定する。書き込まれても
良いと記憶されている場合のみ、変更可能レジスタ記憶
手段更新部１４が変更可能レジスタ記憶手段１２を更新
し、生成された命令を試験命令列２３として出力する。
【００１６】次に、命令組み立て部１０の処理を、図３
を参照して詳細に説明する。
を参照して詳細に説明する。
【００１７】まず、変更可能レジスタ記憶手段１２のす
べてのフラグに、対応するレジスタに書き込みを行って
も良いことを意味する０をセットする（ステップ３
１）。次に、試験命令生成手段１１で擬似乱数を用いて
１試験命令を生成する（ステップ３２）。その後、生成
された試験命令によって書き込みが行われるレジスタに
対応する変更可能レジスタ記憶手段１２内のフラグをす
べてチェックする（ステップ３３）。その結果、０でな
いフラグが１つでも存在する場合は、生成した命令によ
り変更可能レジスタ以外のレジスタが変更されるため、
試験命令としては不適当である。そこでステップ３２を
再度実行し、試験命令を生成し直す。なお、ステップ３
２の最初の実行では、予めステップ３１でフラグがすべ
て０にセットされているため、試験命令が不適当と判定
されることはない。ステップ３２の２度目以降の実行で
は、ステップ３５でフラグが１にセットされている可能
性があり、試験命令が不適当と判定されることがある。
ステップ３３にて、０でないフラグが１つも存在しない
場合は、生成した命令により変更可能レジスタ以外のレ
ジスタは変更されないため、試験命令としては適当であ
る。そこで、生成された試験命令によって読み出しが行
われるレジスタに対応する変更可能レジスタ記憶手段１
２内のフラグを変更可能レジスタ登録手段１４１が０に
セットする（ステップ３４）。次に、生成された試験命
令によって書き込みが行われるレジスタに対応する変更
可能レジスタ記憶手段１２内のフラグを変更可能レジス
タ解除手段１４２が１にセットする（ステップ３５）。
その後、生成された試験命令を試験命令列２３として出
力する（ステップ３６）。次に、予め決められた数の試
験命令を生成し終わったか否かを判定する（ステップ３
７）。生成し終わっていない場合は、ステップ３２へ戻
って、次の試験命令を生成する。ステップ３７で予め決
められた数の試験命令を生成し終わったと判定された場
合は、試験命令列２３に試験命令列が出来上がっている
ので、命令の組み立てを終了する。
べてのフラグに、対応するレジスタに書き込みを行って
も良いことを意味する０をセットする（ステップ３
１）。次に、試験命令生成手段１１で擬似乱数を用いて
１試験命令を生成する（ステップ３２）。その後、生成
された試験命令によって書き込みが行われるレジスタに
対応する変更可能レジスタ記憶手段１２内のフラグをす
べてチェックする（ステップ３３）。その結果、０でな
いフラグが１つでも存在する場合は、生成した命令によ
り変更可能レジスタ以外のレジスタが変更されるため、
試験命令としては不適当である。そこでステップ３２を
再度実行し、試験命令を生成し直す。なお、ステップ３
２の最初の実行では、予めステップ３１でフラグがすべ
て０にセットされているため、試験命令が不適当と判定
されることはない。ステップ３２の２度目以降の実行で
は、ステップ３５でフラグが１にセットされている可能
性があり、試験命令が不適当と判定されることがある。
ステップ３３にて、０でないフラグが１つも存在しない
場合は、生成した命令により変更可能レジスタ以外のレ
ジスタは変更されないため、試験命令としては適当であ
る。そこで、生成された試験命令によって読み出しが行
われるレジスタに対応する変更可能レジスタ記憶手段１
２内のフラグを変更可能レジスタ登録手段１４１が０に
セットする（ステップ３４）。次に、生成された試験命
令によって書き込みが行われるレジスタに対応する変更
可能レジスタ記憶手段１２内のフラグを変更可能レジス
タ解除手段１４２が１にセットする（ステップ３５）。
その後、生成された試験命令を試験命令列２３として出
力する（ステップ３６）。次に、予め決められた数の試
験命令を生成し終わったか否かを判定する（ステップ３
７）。生成し終わっていない場合は、ステップ３２へ戻
って、次の試験命令を生成する。ステップ３７で予め決
められた数の試験命令を生成し終わったと判定された場
合は、試験命令列２３に試験命令列が出来上がっている
ので、命令の組み立てを終了する。
【００１８】次に、本発明の実施例における命令組み立
て部４０の処理を、図４を参照して説明する。
て部４０の処理を、図４を参照して説明する。
【００１９】まず、試験命令生成手段１１にて試験命令
を生成する。このとき、内容を変更するレジスタに関し
ては変更可能レジスタ記憶手段１２を参照し、書き込む
ことが許されているレジスタの中から選ぶ。その後、変
更可能レジスタ記憶手段更新部１４が変更可能レジスタ
記憶手段１２を更新し、生成された命令を試験命令列２
３として出力する。
を生成する。このとき、内容を変更するレジスタに関し
ては変更可能レジスタ記憶手段１２を参照し、書き込む
ことが許されているレジスタの中から選ぶ。その後、変
更可能レジスタ記憶手段更新部１４が変更可能レジスタ
記憶手段１２を更新し、生成された命令を試験命令列２
３として出力する。
【００２０】次に、本発明の実施例における命令組み立
て部４０の処理を、図５を参照して詳細に説明する。
て部４０の処理を、図５を参照して詳細に説明する。
【００２１】まず、変更可能レジスタ記憶手段１２のす
べてのフラグに、対応するレジスタに書き込みを行って
も良いことを意味する０をセットする（ステップ５
１）。次に、変更可能レジスタ記憶手段１２を参照し
て、内容を変更しても良いすべてのレジスタを得る（ス
テップ５２）。その後、試験命令生成手段１１で擬似乱
数を用いて１試験命令を生成する（ステップ５３）。こ
のとき、ステップ５２にて内容を変更しても良いレジス
タが存在しないことが判明した場合は、レジスタの内容
を変更する命令以外の命令の中から擬似乱数を用いて１
試験命令を生成する。又、ステップ５２にて内容を変更
しても良いレジスタが存在する場合は、レジスタの内容
を変更する命令も含めて擬似乱数を用いて１試験命令を
生成する。内容を変更するレジスタに関してはステップ
５２にて得たレジスタの中から擬似乱数を用いて選ぶ。
ステップ５３で１試験命令を生成したならば、生成され
た試験命令によって読み出しが行われるレジスタに対応
する変更可能レジスタ記憶手段１２内のフラグを０にセ
ットする（ステップ５４）。次に、生成された試験命令
によって書き込みが行われるレジスタに対応する変更可
能レジスタ記憶手段１２内のフラグを１にセットする
（ステップ５５）。その後、生成された試験命令を試験
命令列２３として出力する（ステップ５６）。次に、予
め決められた数の試験命令を生成し終わったか否かを判
定する（ステップ５７）。生成し終わっていない場合
は、ステップ５２へ戻って、次の試験命令を生成する。
ステップ５７で予め決められた数の試験命令を生成し終
わったと判定された場合は、試験命令列２３に試験命令
列が出来上がっているので、命令の組み立てを終了す
る。
べてのフラグに、対応するレジスタに書き込みを行って
も良いことを意味する０をセットする（ステップ５
１）。次に、変更可能レジスタ記憶手段１２を参照し
て、内容を変更しても良いすべてのレジスタを得る（ス
テップ５２）。その後、試験命令生成手段１１で擬似乱
数を用いて１試験命令を生成する（ステップ５３）。こ
のとき、ステップ５２にて内容を変更しても良いレジス
タが存在しないことが判明した場合は、レジスタの内容
を変更する命令以外の命令の中から擬似乱数を用いて１
試験命令を生成する。又、ステップ５２にて内容を変更
しても良いレジスタが存在する場合は、レジスタの内容
を変更する命令も含めて擬似乱数を用いて１試験命令を
生成する。内容を変更するレジスタに関してはステップ
５２にて得たレジスタの中から擬似乱数を用いて選ぶ。
ステップ５３で１試験命令を生成したならば、生成され
た試験命令によって読み出しが行われるレジスタに対応
する変更可能レジスタ記憶手段１２内のフラグを０にセ
ットする（ステップ５４）。次に、生成された試験命令
によって書き込みが行われるレジスタに対応する変更可
能レジスタ記憶手段１２内のフラグを１にセットする
（ステップ５５）。その後、生成された試験命令を試験
命令列２３として出力する（ステップ５６）。次に、予
め決められた数の試験命令を生成し終わったか否かを判
定する（ステップ５７）。生成し終わっていない場合
は、ステップ５２へ戻って、次の試験命令を生成する。
ステップ５７で予め決められた数の試験命令を生成し終
わったと判定された場合は、試験命令列２３に試験命令
列が出来上がっているので、命令の組み立てを終了す
る。
【００２２】なお、本実施例では説明を簡単にするた
め、「領域」としてレジスタに関してのみ述べた。実際
には主記憶も「領域」であるので、主記憶１バイトに対
して１つのフラグを対応させて試験命令を生成する必要
がある。
め、「領域」としてレジスタに関してのみ述べた。実際
には主記憶も「領域」であるので、主記憶１バイトに対
して１つのフラグを対応させて試験命令を生成する必要
がある。
【００２３】
【発明の効果】以上説明した通り本発明は、領域Ａの内
容を変更する２つの命令Ｘ，Ｙの間には、領域Ａの内容
を参照する命令が存在しないような試験命令列を作成し
ないことにより、命令Ｘが不正動作し、領域Ａに書き込
まれる内容が誤っていた場合に誤りを検出できないケー
スが無くなり、誤り検出率が向上する効果がある。
容を変更する２つの命令Ｘ，Ｙの間には、領域Ａの内容
を参照する命令が存在しないような試験命令列を作成し
ないことにより、命令Ｘが不正動作し、領域Ａに書き込
まれる内容が誤っていた場合に誤りを検出できないケー
スが無くなり、誤り検出率が向上する効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１の情報処理装置の試験命令組み立て方法を
用いた情報処理装置の試験手順を示すブロック図であ
る。
用いた情報処理装置の試験手順を示すブロック図であ
る。
【図３】本発明の一実施例を示す流れ図である。
【図４】本発明の他の実施例を示すブロック図である。
【図５】本発明の他の実施例を示す流れ図である。
【図６】従来例を示すブロック図である。
１１ 試験命令生成手段 １２ 変更可能レジスタ記憶手段 １３ 変更レジスタ判定手段 １４ 変更可能レジスタ記憶手段更新部 １４１ 変更可能レジスタ登録手段 １４２ 変更可能レジスタ解除手段
Claims (2)
- 【請求項１】 乱数を利用してランダムに試験命令を生
成する試験命令生成手段を具備する情報処理装置の試験
命令組み立て方法に於いて、変更可能な領域を示す変更
可能領域記憶手段と、前記試験命令生成手段により生成
された前記試験命令を実行したときに変更される前記領
域が前記変更可能領域記憶手段に記憶されている変更可
能な前記領域であるか否を判定する変更領域判定手段
と、前記試験命令生成手段により生成された前記試験命
令を実行したときに参照される前記領域を変更可能領域
とする様に前記変更可能領域記憶手段に登録する変更可
能領域登録手段と、前記試験命令生成手段により生成さ
れた前記試験命令を実行したときに変更される前記領域
を変更可能な前記領域とする様に前記変更可能領域記憶
手段から解除する変更可能領域解除手段とを具備し、前
記変更可能領域記憶手段に記憶されている変更可能な前
記領域以外の前記領域を変更する試験命令であると前記
変更可能領域判定手段により判定されたときに再度前記
試験命令生成手段により前記試験命令を生成し直すこと
により、変更可能な前記領域以外の前記領域の内容を変
更する前記試験命令が生成されないように前記試験命令
列を生成することを特徴とする情報処理装置の試験命令
組み立て方法。 - 【請求項２】 乱数を利用してランダムに試験命令を生
成する試験命令生成手段を具備する情報処理装置の試験
命令組み立て方法に於いて、変更可能な領域を示す変更
可能領域記憶手段と、前記試験命令生成手段により生成
された前記試験命令を実行したときに参照される前記領
域を変更可能な前記領域とする様に前記変更可能領域記
憶手段に登録する変更可能領域登録手段と、前記試験命
令生成手段により生成された前記試験命令を実行したと
きに変更される前記領域を変更不可能な前記領域とする
様に前記変更可能領域記憶手段から解除する変更可能領
域解除手段とを具備し、前記試験命令生成手段が前記試
験命令を生成するときに、前記試験命令により変更され
る前記領域を前記変更可能領域記憶手段に記憶されてい
る変更可能な前記領域からランダムに選ぶことにより、
変更可能な前記領域以外の前記領域の内容を変更する前
記試験命令が生成されないように前記試験命令列を作成
することを特徴とする情報処理装置の試験命令列の組み
立て方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3003588A JP2903721B2 (ja) | 1991-01-17 | 1991-01-17 | 情報処理装置の試験命令組み立て方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3003588A JP2903721B2 (ja) | 1991-01-17 | 1991-01-17 | 情報処理装置の試験命令組み立て方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04242439A JPH04242439A (ja) | 1992-08-31 |
| JP2903721B2 true JP2903721B2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=11561623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3003588A Expired - Lifetime JP2903721B2 (ja) | 1991-01-17 | 1991-01-17 | 情報処理装置の試験命令組み立て方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2903721B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5623728B2 (ja) * | 2009-10-22 | 2014-11-12 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 情報処理装置の試験装置、情報処理装置の試験装置による試験方法及びプログラム |
-
1991
- 1991-01-17 JP JP3003588A patent/JP2903721B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04242439A (ja) | 1992-08-31 |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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