JPS6081979A - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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JPS6081979A
JPS6081979A JP58190296A JP19029683A JPS6081979A JP S6081979 A JPS6081979 A JP S6081979A JP 58190296 A JP58190296 A JP 58190296A JP 19029683 A JP19029683 A JP 19029683A JP S6081979 A JPS6081979 A JP S6081979A
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JP
Japan
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circuit
image
level
light
image pickup
Prior art date
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Pending
Application number
JP58190296A
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English (en)
Inventor
Takuji Suzaki
須崎　琢而
Akishi Yamamoto
晃史 山本
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Omron Corp
Original Assignee
Tateisi Electronics Co
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity
    • G01N21/5907—Densitometers
    • G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/75—Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing optical camera components
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity
    • G01N21/5907—Densitometers
    • G01N2021/5915—Processing scan data in densitometry
    • G01N2021/5923—Determining zones of density; quantitating spots

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 この発明は、撮像装置に関し、特にたとえば低輝度から
高輝度の広範囲の輝度が混在した被写体を撮像するよう
な撮像装置の改良に関する。
先行技術の説明 一般に、撮像管や固体撮像素子等を用いたｍ像装置は、
焼きつきなどの破壊を防ぐため、あるいは適正な輝度の
画像を得るために、ＡＧＣ（自動感度調節）回路を備え
ている。ところで、搬像対象によっては、輝度の高い部
分と低い部分とが沢在している場合がある。たとえば、
生体厳器を光源からの反射光で観察するとき、表面がさ
れているので、光源の像が表面で反射され、ｍ像管や撮
像素子上で結像されてしまうことがある。この場合、反
射光によって光源の像ができた部分は非常に輝度が高く
、その他の注目したい部分は暗いという状態が生じる。
このような状態において、ＡＧＣ回路が作動すると、輝
度の高い部分が代表されてＡＧＣがかかるため、注目し
たい部分は益々暗くなり、詳細に観？：！”Ｊることが
困難になることがあった。
一方、ＡＧＣ回路を解除して撮像装置の感度（印加電圧
）を上げると、入射光量の多い部分の撮像索子がいわゆ
る焼きつき現象を起こして、破壊され【しまうという問
題を生じる、 発明の目的 この発明は、輝度の高い部分と低い部分とが混在した被
写体をｍｅする１合においても、上述のような焼きつき
を起こ寸ことなく、観察したい部分の輝度をＦ分に上げ
て詳細に観察できるような保像装ｄを提供することを目
的としている。
発明の構成および効果 この発明は、要約すれば、被写体の像を撮像手段上に結
像させるための光学系に関連して光透過率変化手段を設
け、Ｉａ像手段で撮像された被写体の像の中で輝度の高
い領域と対応する光透過率変化手段の領域の光透過亭を
低下させるようにした：ｂのである。
この発明によれば、撮像手段でｍｓされた被写その部分
の＋ｉｉを下げることができるので、踊録装置の焼きつ
きをおこさずに撮像装駅の感度を上げることができる。
したがって、観察したい部分の輝度を十分（上げること
ができ、鮮明な像をけることができる。
以下、図面に示す実施例とともに、この発明をより具体
的に説明する。
実施例の説明 第１図はこの発明の一実施例を示す概略ブロック図であ
る。図において、撮影の被写体の一例である生体臓器（
以下生体と称する）１には、！４１装置２を有する照明
装置３によって上方から照明光が当てられる。この生体
１からの反射光は、対物レンズ５によって集光され、顕
微鏡４によって拡大される。この鎮黴鏡４によって拡大
された像は、光ファイバ８を通ってｍｓ手段の一例の撮
像管６に伝達される。なお、顕ｍ鏡４の結像面には、液
晶素子７が配置される。したがって、光ファイバ８は液
晶素子７を通った像を撮像管６に伝える。
なお、“撮像管６に代えて固体撮像素子を用いてもよい
。また、光ファイバ８に代えてレンズ系を用いてもよい
。ここで、液晶素子７は後述の第４図に示ずごと（、複
数の領域に区切られており、各領域ごとに光の透過率を
変化させることが可能である。
１１９Ｍ６の出力は、増幅回路９に与えられる。
この増幅回路９は、外部からマニュアルでその増幅率が
変化できるように構成されている。増幅回路９の出力は
、Ａ／Ｄ変換回路１０に与えられ、アナログの画素信号
がディジタル信号に変換される。Ａ　、／　Ｄ変換回路
１０の出力は、識別回路１１に与えられる。この識別回
路１１は、Ａ／Ｄ変換回路１０からの画素信号のレベル
（輝度）が予め設定されたＭ単鎖よりも大きいか否かを
識別するための回路である。画素信号のレベルが予め設
定されたＭ単鎖よりも小さいと識別された場合は、画素
信号は書込回路１５によって画像記憶回路１６に記憶さ
れる。記憶されたｉｉ！ｉｉ素信号は、続出回路１８を
介してＤ／ｉｎｋ回路１９に与えられる。
ここで、ディジタル信号はアナログの映像信号に戻され
、その後にモニタテレビ２０に表示される。
一方、識別回路１１において、画素信号のレベルが予め
設定された基準値よりも大きいと識別された場合は、画
策信号は光量ｍ節回路１２に与えられる。この光量調節
回路１２は、与えられたｍｉＡ信号のレベルに基づいて
、光量ｗ４節信号を導出する。この光ａｍｍ倍信号、液
晶制ａ＋＋回路１３およびドライバ１４を介して液晶索
子７に与えられる。
上述の撮像管６．識別回路１１．光量調節回路１２、液
晶制御回路１３．書込回路１５．読出回路１８およびモ
ニタテレビ２０は同期信号発生回路２１からの同期信号
に基づいて、それぞれの動作が同期するように制御され
る。また、液晶制御回路１３の出力は、演算回路１７に
与えられる。
この演算回路１７と画像記憶回路１６とは接続される。
第２図は識別回路１１における識別動作を説明するため
の図である。第３図は液晶素子７の印加電圧−光透過率
特性を示ずグラフである。第４図は補正時にお【プる液
晶素子７の状態を示す図である。以下、これら２８２図
ないし第４図をＤ照して、第１図の実施例の動作につい
て説明する。生体１の像は、閾微鏡４で拡大された棲、
液晶素子７および光フフνイバ８を介して撮像管６に与
えられ、搬像される。この撮像管６の出力は、増幅回路
９に与えられ適当な増ｍ＊で増幅された後、Ａ／Ｄ変換
回路１０に与えられディジタル画素信号に変換される。
Ａ　／　Ｄ変換回路１０の出力は識別回路１１に与えら
れる。この識別回路１１では、与えられた画素信号のレ
ベルが、予め設定された基準レベルＣ（第２図参照）以
下であるピークへのようであれば書込回路１５を経て画
像記憶回路１６に記憶される。一方、与えられた画素信
号のレベルが基準レベルＣよりも大であるビークＢのよ
うであれば、画素信号は光量調節回路１２に与えられる
。この光ｆｆｉ［１回路１２は、与えられた画素信号の
レベルを検出し、その画素信号のレベルを低下させるべ
く、液晶ｔ１１１１１回路１３およびドライバ１４を介
して液晶素子７の対応の領域の印加電圧を増加させ、そ
の部分の光透過率を低下させる。
たとえば、第４図に示すごとく、液晶素子７の頭載Ｚ１
に光８！像があり、その部分の画素の信号のレベルが基
準レベルＣよりも大きい場合は、領域Ｚ１に印加される
電圧のレベルが上げられ・、・光透過率が低下するよう
にされる。また、複雑な凹凸を有する生体１の像が領域
Ｚ２にある場合も、その中で輝度が基準値よりも高い部
分があればその部分の光透過率が低下される。これによ
って、娼保管６の焼きつきを防止することかできる。
なお、画像計測で補正前の両値；情Ｈ１か必要な場合は
、上記補正によって画素信号のレベルか低下された部分
の補正前のレベルが演算回路１７で演棹され、その演紳
結果が画像記憶回路１６の対応の画素の部分に書込まれ
る。これによって、補正前の画像情報を得ることができ
る。
なお、液晶索子７には、色々なタイプのものが市販され
ているが、電界制御複屈折効果を右するものあるいは水
平配内型のゲストホスト効果を有するものが用いやすい
。
また、上述の実施例Ｃは、顕ｌ＆鏡にｍ保管を具備した
場合を説明Ｉ）たが、内視鏡にｍ保管を備える場合、あ
るいは眼底カメラ等においても同様な効果が期待できる
。
さらに、建物専の陰の中の窓ガラスを含む景色を被写体
どする場合、窓ガラスの光反射のため映像信号の増幅が
できず他の部分が暗い映像になるが、この不都合はこの
発明を適用することによって解決できる。このように、
この発明は一般的撮影の際にもその効力な婁する。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例を示す概略ブロック図であ
る。第２図は識別回路１１における識別動作を説明りる
ための図である。第３図は液晶素子７の印加電圧−光透
過串特性を示すグラフである。俯４図は液晶素子７の補
正時の状ｊＩｌｉ図である。 図において、１は生体繊器、３は光源、４曝よ顕微鏡、
６はｌｌａ像管保管は液晶素子、８は光ファイバ、１１
は識別回路、１２は光ｍ調節回路、１３は液晶きり御回
路、１７は＠算回路、１６は画像記憶回路、２ｏはモニ
タテレビを示４゜ 特許出願人　立５電機株式会社 第１　図 射２図 Ａ　Ｂ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）　被写体を照らすための光源、 前記被写体を撮像するための１１！ｌＩ＆手段、前記被
    写体と線像手段との間に設【ノられて、前記被写体の像
    を＾ｒ「記比像手段上に結像させるための光学系、 前記光学系に関連して設けられ、その任意の領域の光透
    過率を変化し得る光ｍ過率変化手段、前記撮像手段でＷ
    ｌ像された被写体の像の中で輝度の高い領域を指定する
    手段、および 前記光透過率廓化手段において、前記指定手段によって
    指定された領域と対応する領域の光透過率を低下させる
    手段を備える、撮像装置ｉＳＩ。
  2. （２）　前記指定子〇は、ｗＪ記被写体の像の輝度を予
    め定められた基準レベルと比較して、自動釣に前記輝度
    の高い領域を指定する手段を含む、特許請求の範囲第１
    項記観の撮像装置。
JP58190296A 1983-10-12 1983-10-12 撮像装置 Pending JPS6081979A (ja)

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