JPS6069891A - 半導体メモリ装置 - Google Patents
半導体メモリ装置Info
- Publication number
- JPS6069891A JPS6069891A JP58175441A JP17544183A JPS6069891A JP S6069891 A JPS6069891 A JP S6069891A JP 58175441 A JP58175441 A JP 58175441A JP 17544183 A JP17544183 A JP 17544183A JP S6069891 A JPS6069891 A JP S6069891A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output data
- input
- data lines
- line
- memory cells
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体メモIJ lk置に関し、特に、相補
型電界効果(以下「c−MU8Jと称す)トランジスタ
にて構成されるスタティックメモIJititにおける
消費電力の改良に係わる。
型電界効果(以下「c−MU8Jと称す)トランジスタ
にて構成されるスタティックメモIJititにおける
消費電力の改良に係わる。
第1図は、C−MO3スタティックメモリセル(以下単
に「メモリセル」と称す)の従来例であり、メモリセル
1は、トランスファゲートとして動作するトランジスタ
2及び3と、トランジスタ2及び3のオン又はオフ全制
御するアドレス線6と、インバータ回路4及び5と、デ
ータの書き込み又は、読み出し時に、データを伝える入
出力データ線7及びその逆相・υデータ?伝える入出力
データ線7から構成される。すなわら、アドレス線6が
ハイレベルの時、トランジスタ2及び3がオンとなり、
人出力データ;線7をハイレベルに、入出力データ線7
全ロウレベルに、付勢した時、インバータ4の出力が、
ロウレベル、インバータ5の出力がハイレベルとなり、
データとしてノ・イレベルが書き込まれたことになる。
に「メモリセル」と称す)の従来例であり、メモリセル
1は、トランスファゲートとして動作するトランジスタ
2及び3と、トランジスタ2及び3のオン又はオフ全制
御するアドレス線6と、インバータ回路4及び5と、デ
ータの書き込み又は、読み出し時に、データを伝える入
出力データ線7及びその逆相・υデータ?伝える入出力
データ線7から構成される。すなわら、アドレス線6が
ハイレベルの時、トランジスタ2及び3がオンとなり、
人出力データ;線7をハイレベルに、入出力データ線7
全ロウレベルに、付勢した時、インバータ4の出力が、
ロウレベル、インバータ5の出力がハイレベルとなり、
データとしてノ・イレベルが書き込まれたことになる。
又、逆に、入出力データ線7をロウレベル、7をハイレ
ベルに付勢した時、データとして、ロウレベルが書き込
まれる。
ベルに付勢した時、データとして、ロウレベルが書き込
まれる。
アドレス線6が、ロウレベルの時には、トランジスタ2
及び3がオフするため、データがインバータ4及び5に
記憶保持される。一方、人出力データ線7及び7全付勢
ぜずに、・・イレベルの電位に充電(これ全以下「プリ
チャージ」と称す)しておき、アドレス祠6全71イレ
ベルにすることによジ、メモリセルlの記憶情報音、入
出力データ線7及び7に得ることができる。
及び3がオフするため、データがインバータ4及び5に
記憶保持される。一方、人出力データ線7及び7全付勢
ぜずに、・・イレベルの電位に充電(これ全以下「プリ
チャージ」と称す)しておき、アドレス祠6全71イレ
ベルにすることによジ、メモリセルlの記憶情報音、入
出力データ線7及び7に得ることができる。
第1図に示したメモリセルを行列に配置したメ゛モリ装
はの従来例全第2図に示す。同図は、メモリセル11・
1〜l・4・4全4行4列に配置し、行毎に4個のメモ
リセルをアドレス線6・1〜6・4により選択するよう
にした例であり、その他、人出力データ線7・1〜7・
4及び7・1〜7・4.これら人出力データ線7・1〜
7・4及び7・1〜7・4をプリチャージするだめの制
御を行なうプリチャージ線8.プリチャージ線8がノ・
イレベルの時オンし、人出力データ)腺7・1〜7・4
及び7・1〜7・4に7・イレペルを伝えるトランジス
タ(+・1〜9・8 から構成されている。第3図は、
第2図におけるデータの、書き込み又は、0代み出しの
タイミングチャートであり、データの1.き込み又は、
読み出しを実行する直前に、プリチャージ線8全ハイレ
ベルにして、あらかじめ人出力データ線7・1〜7・4
及―■■■■■■1−一一一−−−■―■−レび7・1
〜7・4をプリチャージし、又その間に、アドレス線の
いずれか全ハイレベルにして所定メモリセルを選択する
。プリチャージ線8が、ロウレベルになった後、tの期
間にデータの書き込み又は、読み出し動作全実行すれば
よい。
はの従来例全第2図に示す。同図は、メモリセル11・
1〜l・4・4全4行4列に配置し、行毎に4個のメモ
リセルをアドレス線6・1〜6・4により選択するよう
にした例であり、その他、人出力データ線7・1〜7・
4及び7・1〜7・4.これら人出力データ線7・1〜
7・4及び7・1〜7・4をプリチャージするだめの制
御を行なうプリチャージ線8.プリチャージ線8がノ・
イレベルの時オンし、人出力データ)腺7・1〜7・4
及び7・1〜7・4に7・イレペルを伝えるトランジス
タ(+・1〜9・8 から構成されている。第3図は、
第2図におけるデータの、書き込み又は、0代み出しの
タイミングチャートであり、データの1.き込み又は、
読み出しを実行する直前に、プリチャージ線8全ハイレ
ベルにして、あらかじめ人出力データ線7・1〜7・4
及―■■■■■■1−一一一−−−■―■−レび7・1
〜7・4をプリチャージし、又その間に、アドレス線の
いずれか全ハイレベルにして所定メモリセルを選択する
。プリチャージ線8が、ロウレベルになった後、tの期
間にデータの書き込み又は、読み出し動作全実行すれば
よい。
上述したように第1図のスタティックメモリセルを基本
としたメモリ装置におい−Cは、データの書き込み又は
、読み出し動作を実行する毎に、入出力データ線は、プ
リチャージ全必要とし、その時、プリチャージにより、
人出力データ線をハイレベルの電位に充電するため、充
電電流が流れる。
としたメモリ装置におい−Cは、データの書き込み又は
、読み出し動作を実行する毎に、入出力データ線は、プ
リチャージ全必要とし、その時、プリチャージにより、
人出力データ線をハイレベルの電位に充電するため、充
電電流が流れる。
この充電型INは、入出力データ線の配線容量に依存す
るため、多数のメモリセルを含むメモリ装置では、入出
力データ線の配線容量か増加し、消費電流が増大するこ
とになる。このように、プリチャージ時の充電電流は、
に−MOSスタティックメモリ装置の消費電力を増加さ
ぜる原因となり、特に、低消費電力が要求される電池駆
動機器への応用では、電池寿命が短かくなるという障害
が生じるO 不発明の目的は、半導体メモリ装置のチップ面M ’f
−増大することなく、プリチャージ時消費される充電電
流を1戊減することにより、さらに低消費電力化を計っ
たスタティックメモリ装置全提供することにある。
るため、多数のメモリセルを含むメモリ装置では、入出
力データ線の配線容量か増加し、消費電流が増大するこ
とになる。このように、プリチャージ時の充電電流は、
に−MOSスタティックメモリ装置の消費電力を増加さ
ぜる原因となり、特に、低消費電力が要求される電池駆
動機器への応用では、電池寿命が短かくなるという障害
が生じるO 不発明の目的は、半導体メモリ装置のチップ面M ’f
−増大することなく、プリチャージ時消費される充電電
流を1戊減することにより、さらに低消費電力化を計っ
たスタティックメモリ装置全提供することにある。
本発明は、アドレス線によりアドレス指定され、2不の
データ線全通してデータの書き込み又は、読み出し動作
全行なうメモリセルを、行列に配置して戟る半導体メモ
リセルにおいて、同−何円の苛数普目のメモリセルをア
ドレス指定する奇数アドレス線と、同一行内の偶数番目
のメモリセル全アドレス指定する偶数アドレス線とを備
え、同一行内のとなりあうメモリセルの一方のデータ線
を共通にしたこと盆特1敗としている。
データ線全通してデータの書き込み又は、読み出し動作
全行なうメモリセルを、行列に配置して戟る半導体メモ
リセルにおいて、同−何円の苛数普目のメモリセルをア
ドレス指定する奇数アドレス線と、同一行内の偶数番目
のメモリセル全アドレス指定する偶数アドレス線とを備
え、同一行内のとなりあうメモリセルの一方のデータ線
を共通にしたこと盆特1敗としている。
本発明の一実施例を第4図に示す。
同図において、第2図と同一手段には、同一番号が伺し
である。第4図において、隣接するメモリセルの人出力
データ線は、共用となっており、又隣接するメモリセル
のアドレス線は、互いに、別のアドレス線により選択さ
れる。すなわち1列目のメモリセル]・1・1及び1・
3・lは、入出力データ線10・2と10・1を有し、
それぞれアドレス線6・1及び6・3により、選択され
る。2列目のメモリセルト2・l及び1・4・1は、入
出力データ線10・3と10・2を有し、それぞれアド
レス線6・2及び6・4により選択される。ここで、メ
モリセルト1・1及びl・3・1と、メモリセルト2・
1及びl・4・1は、入出力データ線10・2を共用し
ている。
である。第4図において、隣接するメモリセルの人出力
データ線は、共用となっており、又隣接するメモリセル
のアドレス線は、互いに、別のアドレス線により選択さ
れる。すなわち1列目のメモリセル]・1・1及び1・
3・lは、入出力データ線10・2と10・1を有し、
それぞれアドレス線6・1及び6・3により、選択され
る。2列目のメモリセルト2・l及び1・4・1は、入
出力データ線10・3と10・2を有し、それぞれアド
レス線6・2及び6・4により選択される。ここで、メ
モリセルト1・1及びl・3・1と、メモリセルト2・
1及びl・4・1は、入出力データ線10・2を共用し
ている。
以下、同様に、3列目のメモリセルト1・2及びl・3
・2,4列目の1・2・2及び1・4・2,5列目の1
・1・3及び1・3・3.6列目の1・2・3及び1・
4・3,7列目の1・l・4及び1・3・4,8列目の
1・2・4及び1・4・4は、人出力データ線10・4
10・4.lO・5.10・6.[1・7.108.1
0・9を有し、それぞれアドレス線6・1.6・2.6
・3.6・4により、選択される。父、入出力データ線
10・1〜10・9は、トランジスタ9・1〜9・9
全通じて、プリチャージ線8の制御によ、!11.プリ
チャージされる。
・2,4列目の1・2・2及び1・4・2,5列目の1
・1・3及び1・3・3.6列目の1・2・3及び1・
4・3,7列目の1・l・4及び1・3・4,8列目の
1・2・4及び1・4・4は、人出力データ線10・4
10・4.lO・5.10・6.[1・7.108.1
0・9を有し、それぞれアドレス線6・1.6・2.6
・3.6・4により、選択される。父、入出力データ線
10・1〜10・9は、トランジスタ9・1〜9・9
全通じて、プリチャージ線8の制御によ、!11.プリ
チャージされる。
以[、第4図の動作全説明する。第3図に示したように
データの書き込み又は、読み出し全実行する場合、あら
かじめプリチャージ線8をハイレベルC〆Cして、入出
力データ線10・1〜」0・9をプリチャージする。こ
こで第4図における入出力データ線10−1〜10・9
の配線容量は、第2図の従来例における人出力データ線
の配峻容量に比較し、約半分となっている。すなわち、
第4図における人出力データ線の数クユ、9本であり、
第2図の従来例における入出力データ線の数は、8木で
あるが、紀4図の入出力データ線の長さは、第2図の従
来例における入出力データ線の長さの半分となるためで
あZ、したがってプリチャージ線8をハイレベルとして
、人出力データ線をプリチャージした。1易合、不発I
JJにおける第4図の人出力データ線全プリチャージ1
゛るための充電電流は、第2図の従来例に−1,・ける
充電電流に比較し、約半分ですむため、消費1i、力も
、約半分に1成域することができる。プリチャージ線8
がハイレベルのM 間K、例えばアドレス線6・2 を
ハイレベルとすれば、メモリセルト2・1.1・2・2
,1・2・3.1・2・4が選択されるので、プリチャ
ージ線8が、ロウレベルになった後、これらのメモリセ
ルに対シ、ソれぞれ、入出力データ線1o・3及び1o
・2,1o・5及び10・4.10・7及び10・6j
10・9及び10・8全通してデータの書き込み又は、
読み出し全実行することができる。
データの書き込み又は、読み出し全実行する場合、あら
かじめプリチャージ線8をハイレベルC〆Cして、入出
力データ線10・1〜」0・9をプリチャージする。こ
こで第4図における入出力データ線10−1〜10・9
の配線容量は、第2図の従来例における人出力データ線
の配峻容量に比較し、約半分となっている。すなわち、
第4図における人出力データ線の数クユ、9本であり、
第2図の従来例における入出力データ線の数は、8木で
あるが、紀4図の入出力データ線の長さは、第2図の従
来例における入出力データ線の長さの半分となるためで
あZ、したがってプリチャージ線8をハイレベルとして
、人出力データ線をプリチャージした。1易合、不発I
JJにおける第4図の人出力データ線全プリチャージ1
゛るための充電電流は、第2図の従来例に−1,・ける
充電電流に比較し、約半分ですむため、消費1i、力も
、約半分に1成域することができる。プリチャージ線8
がハイレベルのM 間K、例えばアドレス線6・2 を
ハイレベルとすれば、メモリセルト2・1.1・2・2
,1・2・3.1・2・4が選択されるので、プリチャ
ージ線8が、ロウレベルになった後、これらのメモリセ
ルに対シ、ソれぞれ、入出力データ線1o・3及び1o
・2,1o・5及び10・4.10・7及び10・6j
10・9及び10・8全通してデータの書き込み又は、
読み出し全実行することができる。
尚、第4図の不発明による半導体メモリ装置は、第2図
の従来例に比較して、チップ面積葡はとんど増加するこ
となく実現することが可能である。
の従来例に比較して、チップ面積葡はとんど増加するこ
となく実現することが可能である。
以上のように不発明によれ(址、チップ面積全はとんど
増すことなく、書き込み又は、読み出し時のプリチャー
ジ動作におけるr目費1b、力を約手分に低減した低消
費電力の半導体メモリ装置を提供することができる。又
、本発明における半導体メモリ装置は、C−M(JS回
路で構成されるマイクロコンビーータや表示器(液晶表
示器、螢光表示管等)?:駆動する表示器コントローラ
ー等に内蔵し、処理データや表示データを記憶するメモ
リとして使用することもυf能である・ 第1図はスタティックメモリセルの構成を示す図、第2
図は従来のメモリ装置υ例全示す図、第3図はプリチャ
ージ、アドレス線指定、書き込み読み出しタイミングチ
ャート金示す図、第4図は本発明におけるメモリ装置の
一実施例を示す図である。
増すことなく、書き込み又は、読み出し時のプリチャー
ジ動作におけるr目費1b、力を約手分に低減した低消
費電力の半導体メモリ装置を提供することができる。又
、本発明における半導体メモリ装置は、C−M(JS回
路で構成されるマイクロコンビーータや表示器(液晶表
示器、螢光表示管等)?:駆動する表示器コントローラ
ー等に内蔵し、処理データや表示データを記憶するメモ
リとして使用することもυf能である・ 第1図はスタティックメモリセルの構成を示す図、第2
図は従来のメモリ装置υ例全示す図、第3図はプリチャ
ージ、アドレス線指定、書き込み読み出しタイミングチ
ャート金示す図、第4図は本発明におけるメモリ装置の
一実施例を示す図である。
】・1・1〜1・4・4・・・メモリセル、6・1〜6
・4・・・・・・アドレス線、10・1〜10・9−・
・・・・入出力データ線、8・・・・プリチャージ線、
9・1〜9・9−・・・トランジスタ。
・4・・・・・・アドレス線、10・1〜10・9−・
・・・・入出力データ線、8・・・・プリチャージ線、
9・1〜9・9−・・・トランジスタ。
) へ
7
壺1図
第2図
Claims (1)
- アドレス線の制御により、アドレス指定し、2本のデー
タ線金通して、データの書き込み又は読み出し動作を行
なうメモリセルを、行列に配置して成る半導体メモリ装
置において、同一行の奇数番目のメモリセル葡アドレス
指定する奇数アドレス線と、同一行の偶数番目のメモリ
セルをアドレス指定する偶数アドレス線を有し、となり
あうメモリセルの一方のデータ線t1共通にしたことを
特徴とする半導体メモリ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58175441A JPS6069891A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 半導体メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58175441A JPS6069891A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 半導体メモリ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6069891A true JPS6069891A (ja) | 1985-04-20 |
Family
ID=15996138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58175441A Pending JPS6069891A (ja) | 1983-09-22 | 1983-09-22 | 半導体メモリ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6069891A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6134787A (ja) * | 1984-07-25 | 1986-02-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体メモリ装置 |
JPS6276093A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US5894443A (en) * | 1996-10-23 | 1999-04-13 | Nec Corporation | Static semiconductor memory device capable of reducing precharging power dissipation |
US6147898A (en) * | 1998-03-06 | 2000-11-14 | Nec Corporation | Semiconductor static random access memory device with low power consumption in a write operation |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56124259A (en) * | 1979-11-13 | 1981-09-29 | Texas Instruments Inc | Semiconductor memory |
-
1983
- 1983-09-22 JP JP58175441A patent/JPS6069891A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56124259A (en) * | 1979-11-13 | 1981-09-29 | Texas Instruments Inc | Semiconductor memory |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6134787A (ja) * | 1984-07-25 | 1986-02-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体メモリ装置 |
JPS6276093A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPH0519795B2 (ja) * | 1985-09-30 | 1993-03-17 | Toshiba Kk | |
US5894443A (en) * | 1996-10-23 | 1999-04-13 | Nec Corporation | Static semiconductor memory device capable of reducing precharging power dissipation |
US6147898A (en) * | 1998-03-06 | 2000-11-14 | Nec Corporation | Semiconductor static random access memory device with low power consumption in a write operation |
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