JPS6069709A - 制御盤の検査システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は制御盤の検査システムに係シ、特に、マイクコ
コ／ピユータ（以下マイコン）を組込んだ制御盤に対す
る自動検査に好適なシステムに関する。

〔発明の背景〕

制御盤の検査装置は、ｇ１図式示すようなものが知られ
ている（特開昭５７−６４１７２）。検査装置ｌは、デ
ータ処理装置２の中に制＃盤１１と論理構成が等しい模
擬の制御盛金形成させ、その制御盤ケスイッチ＃８によ
シ操作させて設計性能を検証し、その時得られる入力操
作手順と出力応答の故障診断データを便って製品の検査
を行なうことができ心。しかし、この装置には次のよう
な欠点が有る。

（１）　スイッチ群８、表示ランプ杯９．１０だけでは
アナログ信号を含む制御盤１１の検査は行なえない。

（２）演算処理装置内に制御盤１１と論理構成が等しい
模擬の制御盤を形成しただけでは制御対象機器との闇の
閉ループ信号の検証ができない。

（３）制御盤１１が大規模、複雑化すると模擬の制御盤
用のデータが膨大となり、大規模なデータ処理装置が必
要で有シ、装置が非常に高価となる。

（４）制御盤ｌｌが大規模となるとスイッチ群８０点数
が多くなシ、人手操作では誤シｆすい。

な２、図中３は図形シンボル入力装置、４は操作表示部
、７は検査制御装置、１２は被制御装置でめ々。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、上記（ｉ）〜（４）の問題点を解決す
る検査システムを提供するにおる。

〔発明の概要〕

本発明は、設計結果のデータを大屋計算機に人力し、こ
の中に制御盤と機能構成が等しい模擬の制御盤を形成し
、又、制御対象機器と機能構成が等しい模擬の制御対象
機器を形成し、入出力動作を簡便に記述で＠心高級言語
によシ記述したテスト手順によシミュレーションを実施
し、設計結果全検証できる装置と、制御盤の入力信号端
子に予め与えた信号（アナログも含む）を目出に印加し
、又、出力信号端子から出力信号端子り込んで、予め与
えられた基本値との比較照合が行なえり小形計算機によ
る制御盤の製品検量装置を設置ｙ、前述のシミュレーシ
ョン結果より得られる入力信号と出力信号を後述の製品
検査装置へ供給することを第一の特徴とする。更に、制
御盤と制御対象機器との間の閉ループ試験に於いて、人
出力の信号データが膨大となめ場合には、閉ループ回路
部分の入出力信号の代シに、シミュレーションで用いた
制御対象機器の機能モデルデータを製品検査装置へ供給
し、製品検査装置の小形計算機の中に模擬の制御対象機
器を形成し、制御盤との間の閉ループ信号を作シ出すこ
とを第二の特徴とする。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の一実施例ｔｌ−第２図ないし第８図によ
シ説明すΦ。

本検量システム２０は、第２図に示すように、設計結果
検査装置１００と製品検査装置２００よシなシ、それら
は通信回線によシ結ばれている。

設計結果検査装置よ多出力された入出力のテストパター
ンは、通信回線により製品検量装置の記憶部へ送られ製
作されｆｃ実製品制御盤の検査を実施すりのに使われる
。

設計結果検査装置１００の構成は、第３図に示す通シで
めゐ。即ち、図形入力装置５０、中央処理装置！ｉｌ　
０１．入力装置ｔ１０２、ディスク装置１０４、ライン
プリンタ１０６ｊ？よびプログラム群１５０よシなる。

プログラム＃１５０の構成および相互関係を第４図に示
す。即ち、シミュレーションモデル作成フログラム１５
１．シミュレーション実行プログラム１５２、テスト手
順編集プログラム１５３、入出力テストパターン編集プ
ログラム１５５よシなる。制御盤の設計結果は、その機
能全表すために、基本制御要素＃（例えば、ＡＮＤ、０
几、積分器など）の接続関係を示す図形データの形で作
成されている。これは、設計時°に図形入力装置よシ入
力されてディスク装置１０４内に格納され心。又、制御
対象機器の機能ｔｌ−表わすデータも同様に図形データ
として機器毎にライブラリィの形でディスク装置内に貯
えられている。

シミュレーションモデル作成フロ／、７ムハ、コの制御
盤の図形データと制御対象機器の図形データシイプラリ
イよシ第５図に示す構成のシミュレーショ７゛モデルデ
ータテープノンを作成する機能をもつ。制御盤の機能は
リレー回路などのノ・−ドウエアで構成される部分とマ
イコンによシ制御すめソフトウェア部の二つに大別され
、それぞれ力；設計段階で図形データとして作成されて
いる。従って、シミュレーションモデル編集フログ２ム
ハソの両者に対応してノーード部モデルテーブル４０１
とマイコ／ソフト部モデルテーブル４０２を作成する。

そして、機能動作確認のペースとなるイ／ターフエース
部の信号、即ち、外部人力信号テーブル４０７、内部入
出力信号テープ／Ｌ／４０８、外部出力信号テープ／Ｉ
／４０９を作成する。次に、市Ｉ］御対象機器図形ライ
ブラリィから必要なものを選び出し、制御対象モデルテ
ーブル４０３を作成し、先の外部入力信号テーブル４０
７と外部出力信号テーブル４０９の関係個所に組合せろ
。シミュレ−ジョン実行プログラム１５２は、第５図の
外部入力信号テーブル４０７に与えられた操作スイッチ
の入切などの操作信号と制御対象プラントからの入力信
号（閉ループを必要としないもの）にもとづき、ハード
部モデルテーブル４０１とマイコンソフト部モデルテー
ブル４０２に従って内部入出力信号テーブル４０８の信
号値と外部出力信号テーブル４０９の信号値を計算し、
更に、その外部出力信号テーブル中の閉ループにかかわ
る信号値から制御対象モデルに従って、外部入力信号テ
ーブル４０７の値（閉ループにかかわゐもの）を計算し
、これを必要回数繰返しながら予め与えられてい心外部
出力信号の期待値と照合して制御盤の機能動作をチェッ
クして行く機能金もたせる。

又、外部入出力信号の値をディスク装置内に保存したり
、入力装置１０２からの指令によυ図形入力装置５０や
ラインプリンタ１０６に出力する。

テスト手順編集プログラムは、第５図の外部入力信号テ
ーブル４０７に与える制御盤のテストのための入力信号
値と動作結果が得られると期待される外部出力信号テー
ブル４０９の信号値との一連のテスト手順のプログラム
結果を入力装置１０２より受けて入出力テストデータを
作成す６機能を持つ。また、入出力テストパターン編集
プログラム１５５は、シミュレーショｈ央行結果作成さ
れディスク装置１ｔ１０４に入Ｇｒ：）ｆ′してい々外
部入出力１ぎ号の値ｔテストパター７とし製品検出装置
２００へ出力する機能を持っている。

次に、襄品恢ｆ誠１１２００の構成金弟６図で祝明Ｔｂ
。これは、マイコンによりなる中大処ａ装置２０１、外
部記ｉ、を装置２０２、コ／ンール人力映直２０５、デ
ィスプレイ′Ａ１２０６、製品（制御盤）５００と入出
力１１号ｅＪＰり取ｐすゐ入出力装置２０７、それにプ
ログラム群２５０よシ構成される。本装置２００を用い
ての製品検査の手順を以下に示す。

（２）　テストパターン編集プログラム１５５（第４図
）Ｖｃよシ作成されたテストノ（ターン金外部記憶装置
２０２に格納する。

（２）入出力装［２０７と製品５００Ｇり偏ｇ祿を恢続
する。

（３）コンソーρ入力装置２０５よシテスト開始入力を
与える。

（４）中央処理装置２０１は、プログラム群２５００手
順に従ってテストパターンよりテスト項目毎に順に入力
信号を取シ出し、入出力装置２−０７を経由し製品５０
０に信号を与え、ついで製品５００よシの出力信号を入
出力装置２０７を経由して取込みテストパターンの出力
期待値と照合し合否を判定する。又、必要に応じて検査
員へのガイダンスメツセージｆテスト結果情報をコンソ
ール入出力装置２０２のディスプレイへ表示する。

（５）テストパターンに含まれるすべてのテスト項目に
つき（４）を実行する。

上記の実施例では、制御盤の規模が大きい時には、テス
トパターンのデータ量が膨大となって製品検査装置のマ
イコンでは処理しきれないケースが発生する。又、スピ
ード上の問題も有る。これは、閉ループ回路の入力信号
に設計結果検査装置におけるシミュレーションテスト結
果よシ得られた時々刻々の動作パターンを使用すること
に起因している。これを解決する例を第７図と第８図に
よシ説明すめ。第７図は、設計結果検査装置の中の第４
図に示したプログラム膵札新たに制御対象モデル変換プ
ログラム１５６を設けたものである。

こノ制御対象モデル変換プログラムは第５図の制御対象
モデル４０３を製品検査装置で使える形に変換して製品
検査装置へ出力する機能を持つ。即ち、設計結果検査装
置から製品検査装置へ供給するデータは、開ループ部分
の入出力テストノくターンと閉ループ部分の制御対象モ
デルデータの二つとなる。第８図は、製品検査装置を示
す第６図に、新たに、シーケンスコントロール装置２０
９を追加したものである。中央処理装置２０１は、設計
結果検査装置より送られた制御対象モデルデータをシー
ケンスコントロール装置２０９へ送る。シーケンスコン
トロール装置２０９は、このデータをもとに入出力装置
２０７を経由して製品よシ取り込まれた閉ループ回路の
出力信号値に従って入力信号を計算して、高速で、入出
力装置ｔ２０７を経由して製品の閉ループ回路の該当す
る入力端子へ印力日される。開ループ信号の入出力は、
前と同じく中央処理装置２０１によって入出力装置２０
７を経由して製品５００との間で行なわれる。

し発明の効果〕 本発明によれば、 （ａ）　制御盤のテストが簡便に精度良く行なえ、（ｂ
）　設計のミスが製品製造前に発見でき、製品の改造作
業の減少と製作工程の短縮となシ、（Ｃ）　大規模な製
品の検査も安価な小型針ｘ＋！Ａによる検査装置で効率
良〈実施できる。

という効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の制御盤検査装置のブロック図、第２図は
本発明の一実施例の制御盤検査システムの全体構成図、
第３図は本発明の設計結果検査装置の構成図、第４図は
本発明の設計結果検査装置用プログラム構成ブロック図
、第５図は本発明のシュミレーションモデルの構成フロ
ック図、第６図は本発明の製品検査装置の構成図、第７
図は本発明の設計結果検査装置用プログラムの構成ブロ
ック図、第８図は本発明の製品検査装置の構成図である
。 ５０・・・図形入力装置、１０２・・・六カ装置、１０
４・・・ディスク装置、１０６・・・ラインプリンタ、
１５０・・・プログラム群、１５１・・・シミュレーン
ヨンモデル作成フログラム、１５２・・・シミュレーシ
ョン実行プログラム、１５３・・・テスト手順ｉ東プロ
グラム、１５５・・・入出力テストパターン編果グログ
ラ第　Ｓ図 ”’　”　’、、ｏ。 ２θＯ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、制御盤の設計結果を大型電子計算機に入力し、これ
   と制御対象機器の機能モデルとを組合せてシミュレーシ
   ョンを行なうことにより、テスト用人カバターンに対応
   した出カバターフを自動的に作シ出して前記設計結果を
   検証する設計結果検査装置と、小屋電子計算機を用いて
   検査対象制御盤に入カバターンを印加し、出カバターン
   を取シ込んでその動作を検証す、６Ｍ品検査装置とよシ
   なゐ検査システムに２いて、 前記設計結果検査装置によυ得られたテスト用の前記入
   、出カバターンの他に前記制御対象機器の前記慎能モデ
   ルのプログラムデータを前記製品検査装置に自動的に入
   力する手段を設けたことを特徴とする制御盤の検査シス
   テム。