JPH1185251A - デジタル制御装置およびそのデジタル用入出力基板試験装置 - Google Patents
デジタル制御装置およびそのデジタル用入出力基板試験装置Info
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- JPH1185251A JPH1185251A JP25265497A JP25265497A JPH1185251A JP H1185251 A JPH1185251 A JP H1185251A JP 25265497 A JP25265497 A JP 25265497A JP 25265497 A JP25265497 A JP 25265497A JP H1185251 A JPH1185251 A JP H1185251A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試験用の模擬信号によってプラントが影響を
受けることがないデジタル制御装置およびそのデジタル
用入出力基板試験装置を得ることである。 【解決手段】 検出器からのアナログ信号を入力しデジ
タル信号に変換するアナログ入力基板２９の入力の精度
を確認するアナログ入力試験に際し、制御用の信号値を
試験前の値に第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持
し、試験用に模擬された信号値を第２のアナログ信号信
号用レジスタ２２に保存し制御に用いないようにする。
受けることがないデジタル制御装置およびそのデジタル
用入出力基板試験装置を得ることである。 【解決手段】 検出器からのアナログ信号を入力しデジ
タル信号に変換するアナログ入力基板２９の入力の精度
を確認するアナログ入力試験に際し、制御用の信号値を
試験前の値に第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持
し、試験用に模擬された信号値を第２のアナログ信号信
号用レジスタ２２に保存し制御に用いないようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラントからのア
ナログ信号または接点信号をデジタル値に変換して取込
み、所定の監視制御演算を行って得られたデジタル値を
アナログ信号またはデジタル信号に変換して出力するよ
うにしたデジタル制御装置、およびプラントからの接点
信号をデジタル信号に変換しプラントの監視制御の演算
結果をデジタル信号から接点信号に変換するデジタル入
出力基板の試験を行うデジタル用入出力基板試験装置に
関する。
ナログ信号または接点信号をデジタル値に変換して取込
み、所定の監視制御演算を行って得られたデジタル値を
アナログ信号またはデジタル信号に変換して出力するよ
うにしたデジタル制御装置、およびプラントからの接点
信号をデジタル信号に変換しプラントの監視制御の演算
結果をデジタル信号から接点信号に変換するデジタル入
出力基板の試験を行うデジタル用入出力基板試験装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、プラント制御装置としては計算
機が用いられており、その内部処理はデジタル信号で処
理される。このようなデジタル信号で監視制御演算を行
うデジタル制御装置では、プラント状態を把握するため
に流量や圧力等のアナログ信号を入力しデジタル信号に
変換する必要がある。
機が用いられており、その内部処理はデジタル信号で処
理される。このようなデジタル信号で監視制御演算を行
うデジタル制御装置では、プラント状態を把握するため
に流量や圧力等のアナログ信号を入力しデジタル信号に
変換する必要がある。
【０００３】この際、流量や圧力等のプロセス値は、検
出器で検出され電圧や電流等のアナログ入力信号へ変換
された後、デジタル制御装置のアナログ入力基板によっ
てアナログ信号レベルに応じたデジタル信号に変換（Ａ
／Ｄ変換）される。そして、デジタル制御装置でのロジ
ック処理に用いられる。また、ポンプの起動停止、弁の
開閉などの接点信号も同様にデジタル変換されて入力さ
れ、ロジック処理に用いられる。
出器で検出され電圧や電流等のアナログ入力信号へ変換
された後、デジタル制御装置のアナログ入力基板によっ
てアナログ信号レベルに応じたデジタル信号に変換（Ａ
／Ｄ変換）される。そして、デジタル制御装置でのロジ
ック処理に用いられる。また、ポンプの起動停止、弁の
開閉などの接点信号も同様にデジタル変換されて入力さ
れ、ロジック処理に用いられる。
【０００４】一方、デジタル制御装置ではプラントを制
御するために、デジタル値で演算を行い制御信号を作成
する。その制御信号をプラントの調節計等へ出力するに
あたっては、アナログ信号に変換する必要がある。そこ
で、デジタル制御装置のアナログ出力基板によって、そ
のデジタル値に応じた電圧電流等のアナログ出力信号に
変換（Ｄ／Ａ変換）し、調節計等の制御に用いている。
また、調節計等のアナログ的な制御以外では、例えば、
ポンプの起動停止、弁の開閉などの指令は接点信号の形
で出力する必要がある。
御するために、デジタル値で演算を行い制御信号を作成
する。その制御信号をプラントの調節計等へ出力するに
あたっては、アナログ信号に変換する必要がある。そこ
で、デジタル制御装置のアナログ出力基板によって、そ
のデジタル値に応じた電圧電流等のアナログ出力信号に
変換（Ｄ／Ａ変換）し、調節計等の制御に用いている。
また、調節計等のアナログ的な制御以外では、例えば、
ポンプの起動停止、弁の開閉などの指令は接点信号の形
で出力する必要がある。
【０００５】このようなことから、アナログ信号の入出
力や接点信号の入出力は重要であるので、デジタル制御
装置では、その試験項目としてアナログ入力基板の精度
が規定値以内に有ることを確認するアナログ入力試験、
アナログ出力基板の精度が規定値以内に有ることを確認
するアナログ出力試験、接点信号の読み込み動作を確認
するデジタル入力試験、及び接点信号の出力動作を確認
するデジタル出力試験を行っている。
力や接点信号の入出力は重要であるので、デジタル制御
装置では、その試験項目としてアナログ入力基板の精度
が規定値以内に有ることを確認するアナログ入力試験、
アナログ出力基板の精度が規定値以内に有ることを確認
するアナログ出力試験、接点信号の読み込み動作を確認
するデジタル入力試験、及び接点信号の出力動作を確認
するデジタル出力試験を行っている。
【０００６】アナログ入力試験は、デジタル信号で制御
を行うデジタル制御装置におけるアナログ入力処理の試
験であり、アナログの電気信号をデジタル値へ変換する
アナログ入力回路及びその入力精度を確認する試験であ
る。また、アナログ出力試験は、デジタル信号をアナロ
グの電気信号へ変換するアナログ出力回路及びその出力
精度を確認する試験である。
を行うデジタル制御装置におけるアナログ入力処理の試
験であり、アナログの電気信号をデジタル値へ変換する
アナログ入力回路及びその入力精度を確認する試験であ
る。また、アナログ出力試験は、デジタル信号をアナロ
グの電気信号へ変換するアナログ出力回路及びその出力
精度を確認する試験である。
【０００７】同様に、デジタル入力試験は接点入力信号
をデジタル値へ変換する接点入力回路及びその入力動作
を確認する試験であり、デジタル出力試験はデジタル信
号を接点の電気信号へ変換するデジタル出力回路及びそ
の動作を確認する試験である。
をデジタル値へ変換する接点入力回路及びその入力動作
を確認する試験であり、デジタル出力試験はデジタル信
号を接点の電気信号へ変換するデジタル出力回路及びそ
の動作を確認する試験である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところが、デジタル制
御装置でアナログ入力試験やアナログ出力試験を行う場
合には、試験用の模擬信号をデジタル制御装置に入力し
なければならないので、この模擬信号によってプラント
が影響を受けないようにする必要がある。すなわち、プ
ラントに対する安全処置を施すか、プラント自体を停止
させるかが必要となる。
御装置でアナログ入力試験やアナログ出力試験を行う場
合には、試験用の模擬信号をデジタル制御装置に入力し
なければならないので、この模擬信号によってプラント
が影響を受けないようにする必要がある。すなわち、プ
ラントに対する安全処置を施すか、プラント自体を停止
させるかが必要となる。
【０００９】同様に、デジタル制御装置でデジタル入力
試験やデジタル出力試験を行う場合にも、試験用の模擬
信号を入力しなければならないので、この模擬信号によ
ってプラントが影響を受けないようにプラントに対する
安全処置あるいはプラント自体の停止が必要となる。
試験やデジタル出力試験を行う場合にも、試験用の模擬
信号を入力しなければならないので、この模擬信号によ
ってプラントが影響を受けないようにプラントに対する
安全処置あるいはプラント自体の停止が必要となる。
【００１０】本発明の目的は、試験用の模擬信号によっ
てプラントが影響を受けることがないデジタル制御装置
およびそのデジタル用入出力基板試験装置を得ることで
ある。
てプラントが影響を受けることがないデジタル制御装置
およびそのデジタル用入出力基板試験装置を得ることで
ある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係わる
デジタル制御装置は、プラントからのアナログ信号を入
力しデジタル信号に変換するアナログ入力基板と、アナ
ログ入力基板の入力の精度を確認するアナログ入力試験
に際しプラントの監視制御用の信号値を試験前の値に保
持する第１のアナログ信号用レジスタと、アナログ入力
試験に際にはアナログ入力試験用の模擬信号をアナログ
用入出力基板試験装置からアナログ入力基板を介して入
力しその模擬された信号値を保存する第２のアナログ信
号用レジスタとを備えている。
デジタル制御装置は、プラントからのアナログ信号を入
力しデジタル信号に変換するアナログ入力基板と、アナ
ログ入力基板の入力の精度を確認するアナログ入力試験
に際しプラントの監視制御用の信号値を試験前の値に保
持する第１のアナログ信号用レジスタと、アナログ入力
試験に際にはアナログ入力試験用の模擬信号をアナログ
用入出力基板試験装置からアナログ入力基板を介して入
力しその模擬された信号値を保存する第２のアナログ信
号用レジスタとを備えている。
【００１２】請求項１の発明に係わるデジタル制御装置
では、検出器からのアナログ信号を入力しデジタル信号
に変換するアナログ入力基板の入力の精度を確認するア
ナログ入力試験に際し、制御用の信号値を試験前の値に
第１のアナログ信号用レジスタに保持し、試験用に模擬
された信号値を第２のアナログ信号信号用レジスタに保
存し制御に用いないようにする。
では、検出器からのアナログ信号を入力しデジタル信号
に変換するアナログ入力基板の入力の精度を確認するア
ナログ入力試験に際し、制御用の信号値を試験前の値に
第１のアナログ信号用レジスタに保持し、試験用に模擬
された信号値を第２のアナログ信号信号用レジスタに保
存し制御に用いないようにする。
【００１３】請求項２の発明に係わるデジタル制御装置
は、プラントからの接点信号を入力しデジタル信号に変
換するデジタル入力基板と、デジタル入力基板の入力動
作の確認をするデジタル入力試験に際しプラントの監視
制御用の信号値を試験前の値に保持する第１の接点信号
用レジスタと、デジタル入力試験に際にはデジタル入力
試験用の模擬信号をデジタル用入出力基板試験装置から
デジタル入力基板を介して入力しその模擬された信号値
を保存する第２の接点信号用レジスタとを備えている。
は、プラントからの接点信号を入力しデジタル信号に変
換するデジタル入力基板と、デジタル入力基板の入力動
作の確認をするデジタル入力試験に際しプラントの監視
制御用の信号値を試験前の値に保持する第１の接点信号
用レジスタと、デジタル入力試験に際にはデジタル入力
試験用の模擬信号をデジタル用入出力基板試験装置から
デジタル入力基板を介して入力しその模擬された信号値
を保存する第２の接点信号用レジスタとを備えている。
【００１４】請求項２の発明に係わるデジタル制御装置
では、検出器からの接点信号を入力しデジタル信号に変
換するデジタル入力基板の入力動作の確認をするデジタ
ル入力試験に際し、制御用の信号値を試験前の値に第１
の接点信号用レジスタに保持し、試験用に模擬された信
号値を第２の接点信号用レジスタに保存し制御に用いな
いようにする。
では、検出器からの接点信号を入力しデジタル信号に変
換するデジタル入力基板の入力動作の確認をするデジタ
ル入力試験に際し、制御用の信号値を試験前の値に第１
の接点信号用レジスタに保持し、試験用に模擬された信
号値を第２の接点信号用レジスタに保存し制御に用いな
いようにする。
【００１５】請求項３の発明に係わるデジタル制御装置
は、請求項１の発明において、第１のアナログ信号用レ
ジスタに保持された制御用の信号値をプラント状態の変
化に合わせて変化させて模擬信号とするようにしたもの
である。
は、請求項１の発明において、第１のアナログ信号用レ
ジスタに保持された制御用の信号値をプラント状態の変
化に合わせて変化させて模擬信号とするようにしたもの
である。
【００１６】請求項３の発明に係わるデジタル制御装置
では、請求項１の発明の作用に加え、アナログ入力試験
に際し、第１のアナログ信号用レジスタに保存された制
御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて任意の値
に模擬する。これにより、変動するアナログ入力の試験
を可能としている。
では、請求項１の発明の作用に加え、アナログ入力試験
に際し、第１のアナログ信号用レジスタに保存された制
御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて任意の値
に模擬する。これにより、変動するアナログ入力の試験
を可能としている。
【００１７】請求項４の発明に係わるデジタル制御装置
は、請求項２の発明において、第１の接点信号用レジス
タに保持された制御用の信号値をプラント状態の変化に
合わせて変化させて模擬信号とするようにしたものであ
る。
は、請求項２の発明において、第１の接点信号用レジス
タに保持された制御用の信号値をプラント状態の変化に
合わせて変化させて模擬信号とするようにしたものであ
る。
【００１８】請求項４の発明に係わるデジタル制御装置
では、請求項２の発明の作用に加え、デジタル入力試験
に際し、第１の接点信号用レジスタに保存された制御用
の信号値をプラント状態の変化に合わせて任意の値に模
擬する。これにより、変動する接点入力の試験を可能と
している。
では、請求項２の発明の作用に加え、デジタル入力試験
に際し、第１の接点信号用レジスタに保存された制御用
の信号値をプラント状態の変化に合わせて任意の値に模
擬する。これにより、変動する接点入力の試験を可能と
している。
【００１９】請求項５の発明に係わるデジタル制御装置
は、監視演算を行って得られたデジタル信号をアナログ
信号に変換するアナログ出力基板と、アナログ出力基板
の出力の精度を確認するアナログ出力試験に際しプラン
トの監視制御用の信号値を試験前の値に保持する第１の
アナログ信号用レジスタと、アナログ出力試験に際には
アナログ出力試験用の模擬信号をアナログ用入出力基板
試験装置から入力して保存しアナログ出力基板に出力す
る第２のアナログ信号用レジスタとを備えている。
は、監視演算を行って得られたデジタル信号をアナログ
信号に変換するアナログ出力基板と、アナログ出力基板
の出力の精度を確認するアナログ出力試験に際しプラン
トの監視制御用の信号値を試験前の値に保持する第１の
アナログ信号用レジスタと、アナログ出力試験に際には
アナログ出力試験用の模擬信号をアナログ用入出力基板
試験装置から入力して保存しアナログ出力基板に出力す
る第２のアナログ信号用レジスタとを備えている。
【００２０】請求項５の発明に係わるデジタル制御装置
では、アナログ出力試験に際し、第１のアナログ信号用
レジスタには制御用の信号値として試験前の値を保持
し、第２のアナログ信号用レジスタにはアナログ出力試
験用の模擬信号をアナログ用入出力基板試験装置から入
力して保存する。そして、アナログ出力基板を介して出
力しその模擬された信号値をアナログ用入出力基板試験
装置に出力する。
では、アナログ出力試験に際し、第１のアナログ信号用
レジスタには制御用の信号値として試験前の値を保持
し、第２のアナログ信号用レジスタにはアナログ出力試
験用の模擬信号をアナログ用入出力基板試験装置から入
力して保存する。そして、アナログ出力基板を介して出
力しその模擬された信号値をアナログ用入出力基板試験
装置に出力する。
【００２１】請求項６の発明に係わるデジタル制御装置
は、監視演算を行って得られたデジタル信号を接点信号
に変換するデジタル出力基板と、デジタル出力基板の出
力動作の確認をするデジタル出力試験に際しプラントの
監視制御用の信号値を試験前の値に保持する第１の接点
信号用レジスタと、デジタル出力試験に際にはデジタル
出力試験用の模擬信号をデジタル入出力基板試験装置か
ら入力して保存しデジタル出力基板に出力する第２の接
点信号用レジスタとを備えている。
は、監視演算を行って得られたデジタル信号を接点信号
に変換するデジタル出力基板と、デジタル出力基板の出
力動作の確認をするデジタル出力試験に際しプラントの
監視制御用の信号値を試験前の値に保持する第１の接点
信号用レジスタと、デジタル出力試験に際にはデジタル
出力試験用の模擬信号をデジタル入出力基板試験装置か
ら入力して保存しデジタル出力基板に出力する第２の接
点信号用レジスタとを備えている。
【００２２】請求項６の発明に係わるデジタル制御装置
では、デジタル出力試験に際し、プラントの監視制御用
の信号値として試験前の値を第１の接点信号用レジスタ
に保存し、第２の接点信号用レジスタにはデジタル出力
試験用の模擬信号をデジタル入出力基板試験装置から入
力して保存する。そして、デジタル出力基板を介して出
力しその模擬された信号値をデジタル入出力基板試験装
置に出力する。
では、デジタル出力試験に際し、プラントの監視制御用
の信号値として試験前の値を第１の接点信号用レジスタ
に保存し、第２の接点信号用レジスタにはデジタル出力
試験用の模擬信号をデジタル入出力基板試験装置から入
力して保存する。そして、デジタル出力基板を介して出
力しその模擬された信号値をデジタル入出力基板試験装
置に出力する。
【００２３】請求項７の発明に係わるデジタル用入出力
基板試験装置は、プラントからの接点信号をデジタル信
号に変換するデジタル入力基板の入力動作の確認をする
デジタル入力試験に際して、電圧接点型デジタル入力基
板の配置及び入力チャンネルに応じて電圧接点信号を模
擬し、試験対象であるデジタル制御装置の電圧接点型デ
ジタル入力基板からのデジタル値を確認することで電圧
接点型デジタル入力基板の健全性を確認するようにした
ものである。
基板試験装置は、プラントからの接点信号をデジタル信
号に変換するデジタル入力基板の入力動作の確認をする
デジタル入力試験に際して、電圧接点型デジタル入力基
板の配置及び入力チャンネルに応じて電圧接点信号を模
擬し、試験対象であるデジタル制御装置の電圧接点型デ
ジタル入力基板からのデジタル値を確認することで電圧
接点型デジタル入力基板の健全性を確認するようにした
ものである。
【００２４】請求項７の発明に係わるデジタル用入出力
基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、電圧接
点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネルに応じ
て電圧接点信号を模擬して試験対象であるデジタル制御
装置の電圧接点型デジタル入力基板に出力し、その模擬
信号によるデジタル値を確認することで電圧接点型デジ
タル入力基板の健全性を確認する。
基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、電圧接
点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネルに応じ
て電圧接点信号を模擬して試験対象であるデジタル制御
装置の電圧接点型デジタル入力基板に出力し、その模擬
信号によるデジタル値を確認することで電圧接点型デジ
タル入力基板の健全性を確認する。
【００２５】請求項８の発明に係わるデジタル用入出力
基板試験装置は、プラントからの接点信号をデジタル信
号に変換するデジタル入力基板の入力動作の確認をする
デジタル入力試験に際して、無電圧接点型デジタル入力
基板の配置及び入力チャンネルに応じて無電圧接点のＯ
Ｎ／ＯＦＦを模擬し、試験対象であるデジタル制御装置
の無電圧接点型デジタル入力基板からのデジタル値を確
認することで無電圧接点型デジタル入力基板の健全性を
確認するようにしたものである。
基板試験装置は、プラントからの接点信号をデジタル信
号に変換するデジタル入力基板の入力動作の確認をする
デジタル入力試験に際して、無電圧接点型デジタル入力
基板の配置及び入力チャンネルに応じて無電圧接点のＯ
Ｎ／ＯＦＦを模擬し、試験対象であるデジタル制御装置
の無電圧接点型デジタル入力基板からのデジタル値を確
認することで無電圧接点型デジタル入力基板の健全性を
確認するようにしたものである。
【００２６】請求項８の発明に係わるデジタル用入出力
基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、無電圧
接点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネルに応
じて無電圧接点のＯＮ／ＯＦＦを模擬して試験対象であ
るデジタル制御装置の無電圧接点型デジタル入力基板に
出力し、その模擬信号によるデジタル値を確認すること
で無電圧接点型デジタル入力基板の健全性を確認する。
基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、無電圧
接点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネルに応
じて無電圧接点のＯＮ／ＯＦＦを模擬して試験対象であ
るデジタル制御装置の無電圧接点型デジタル入力基板に
出力し、その模擬信号によるデジタル値を確認すること
で無電圧接点型デジタル入力基板の健全性を確認する。
【００２７】請求項９の発明に係わるデジタル用入出力
基板試験装置は、監視制御演算結果のデジタル信号を接
点信号に変換するデジタル出力基板の出力動作の確認を
するデジタル入力試験に際して、電圧接点型デジタル出
力基板の配置及び出力チャンネルに応じてデジタル値を
模擬し、監視対象であるデジタル制御装置の電圧接点型
デジタル出力基板からの電圧接点信号を確認することで
電圧接点型デジタル出力基板の健全性を確認するように
したものである。
基板試験装置は、監視制御演算結果のデジタル信号を接
点信号に変換するデジタル出力基板の出力動作の確認を
するデジタル入力試験に際して、電圧接点型デジタル出
力基板の配置及び出力チャンネルに応じてデジタル値を
模擬し、監視対象であるデジタル制御装置の電圧接点型
デジタル出力基板からの電圧接点信号を確認することで
電圧接点型デジタル出力基板の健全性を確認するように
したものである。
【００２８】請求項９の発明に係わるデジタル用入出力
基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、電圧接
点型デジタル出力基板の配置及び出力チャンネルに応じ
てデジタル値を模擬して監視対象であるデジタル制御装
置の電圧接点型デジタル出力基板に出力し、その模擬信
号による電圧接点信号を確認することで電圧接点型デジ
タル出力基板の健全性を確認する。
基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、電圧接
点型デジタル出力基板の配置及び出力チャンネルに応じ
てデジタル値を模擬して監視対象であるデジタル制御装
置の電圧接点型デジタル出力基板に出力し、その模擬信
号による電圧接点信号を確認することで電圧接点型デジ
タル出力基板の健全性を確認する。
【００２９】請求項１０の発明に係わるデジタル用入出
力基板試験装置は、監視制御演算結果のデジタル信号を
接点信号に変換するデジタル出力基板の出力動作の確認
をするデジタル入力試験に際して、無電圧接点型デジタ
ル出力基板の配置及び出力チャンネルに応じてデジタル
値を模擬し、監視対象であるデジタル制御装置の無電圧
接点型デジタル出力基板からの無電圧接点信号を確認す
ることで無電圧接点型デジタル出力基板の健全性を確認
するようにしたものである。
力基板試験装置は、監視制御演算結果のデジタル信号を
接点信号に変換するデジタル出力基板の出力動作の確認
をするデジタル入力試験に際して、無電圧接点型デジタ
ル出力基板の配置及び出力チャンネルに応じてデジタル
値を模擬し、監視対象であるデジタル制御装置の無電圧
接点型デジタル出力基板からの無電圧接点信号を確認す
ることで無電圧接点型デジタル出力基板の健全性を確認
するようにしたものである。
【００３０】請求項１０の発明に係わるデジタル用入出
力基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、無電
圧接点型デジタル出力基板の配置及び出力チャンネルに
応じてデジタル値を模擬して監視対象であるデジタル制
御装置の無電圧接点型デジタル出力基板に出力し、その
模擬信号による無電圧接点信号を確認することで無電圧
接点型デジタル出力基板の健全性を確認する。
力基板試験装置では、デジタル入力試験に際して、無電
圧接点型デジタル出力基板の配置及び出力チャンネルに
応じてデジタル値を模擬して監視対象であるデジタル制
御装置の無電圧接点型デジタル出力基板に出力し、その
模擬信号による無電圧接点信号を確認することで無電圧
接点型デジタル出力基板の健全性を確認する。
【００３１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。図１乃至図４は、本発明の第１の実施の形態の説
明図であり、アナログ入力基板のアナログ入力試験を行
う場合を示している。図１はアナログ入力試験を行う場
合のデジタル制御装置の動作説明図であり、図２はデジ
タル制御装置および入出力基板試験装置との関係を示す
構成図である。
する。図１乃至図４は、本発明の第１の実施の形態の説
明図であり、アナログ入力基板のアナログ入力試験を行
う場合を示している。図１はアナログ入力試験を行う場
合のデジタル制御装置の動作説明図であり、図２はデジ
タル制御装置および入出力基板試験装置との関係を示す
構成図である。
【００３２】図２において、デジタル制御装置には、プ
ラントの監視制御用のデジタル制御装置２ａと、プラン
トとの入出力信号を制御するリモート入出力用のデジタ
ル制御装置１ｂとがあり、以下の説明では単にデジタル
制御装置１という場合にはリモート入出力用のデジタル
制御装置１ｂを指すものとする。
ラントの監視制御用のデジタル制御装置２ａと、プラン
トとの入出力信号を制御するリモート入出力用のデジタ
ル制御装置１ｂとがあり、以下の説明では単にデジタル
制御装置１という場合にはリモート入出力用のデジタル
制御装置１ｂを指すものとする。
【００３３】デジタル制御装置１ｂはアナログ入出力基
板２およびデジタル入出力基板３を有しており、アナロ
グ信号および接点信号の入出力を行うようになってい
る。デジタル制御装置１ｂとプラントとの間の入出力信
号は外部ケーブル４によって伝送されデジタル制御装置
１ｂの端子台５で中継される。端子台５には、アナログ
基板用配線６およびデジタル基板用配線７が接続されて
いる。入出力信号はこのアナログ基板用配線６およびデ
ジタル基板用配線７を経てアナログ入出力基板２及びデ
ジタル入出力基板３との伝送を行っている。
板２およびデジタル入出力基板３を有しており、アナロ
グ信号および接点信号の入出力を行うようになってい
る。デジタル制御装置１ｂとプラントとの間の入出力信
号は外部ケーブル４によって伝送されデジタル制御装置
１ｂの端子台５で中継される。端子台５には、アナログ
基板用配線６およびデジタル基板用配線７が接続されて
いる。入出力信号はこのアナログ基板用配線６およびデ
ジタル基板用配線７を経てアナログ入出力基板２及びデ
ジタル入出力基板３との伝送を行っている。
【００３４】たとえば、アナログ信号を入力する場合に
は、アナログ入出力基板２へ伝えられたアナログ入力信
号はそこでデジタル値に変換され、インターフェース基
板８および光ケーブル９を経て監視制御用のデジタル制
御装置１ａへ伝えられ、プラントの監視制御に用いられ
る。接点信号を入力する場合にも同様に、入力された接
点信号はデジタル入出力基板３でデジタル値に変換さ
れ、インターフェース基板８および光ケーブル９を経て
監視制御用のデジタル制御装置１ａへ伝えられ、プラン
トの監視制御に用いられる。
は、アナログ入出力基板２へ伝えられたアナログ入力信
号はそこでデジタル値に変換され、インターフェース基
板８および光ケーブル９を経て監視制御用のデジタル制
御装置１ａへ伝えられ、プラントの監視制御に用いられ
る。接点信号を入力する場合にも同様に、入力された接
点信号はデジタル入出力基板３でデジタル値に変換さ
れ、インターフェース基板８および光ケーブル９を経て
監視制御用のデジタル制御装置１ａへ伝えられ、プラン
トの監視制御に用いられる。
【００３５】一方、アナログ入出力基板２のアナログ入
力基板の試験時は、アナログ基板用配線６の代わりにア
ナログ基板用ケーブル１０がアナログ入出力基板２に接
続され、アナログ用入出力基板試験装置１１から試験用
の模擬信号が出力される。この模擬信号はアナログ入出
力基板２のアナログ入力基板でデジタル値に変換され、
インターフェース基板８およびデータ入出力ケーブル１
２を経てアナログ用入出力基板試験装置１１へ戻って来
る。そして、模擬したアナログ値と帰ってきたデジタル
値とを比較することでアナログ入出力基板２のアナログ
入力基板の精度評価を行う。
力基板の試験時は、アナログ基板用配線６の代わりにア
ナログ基板用ケーブル１０がアナログ入出力基板２に接
続され、アナログ用入出力基板試験装置１１から試験用
の模擬信号が出力される。この模擬信号はアナログ入出
力基板２のアナログ入力基板でデジタル値に変換され、
インターフェース基板８およびデータ入出力ケーブル１
２を経てアナログ用入出力基板試験装置１１へ戻って来
る。そして、模擬したアナログ値と帰ってきたデジタル
値とを比較することでアナログ入出力基板２のアナログ
入力基板の精度評価を行う。
【００３６】同様に、デジタル入出力基板３のデジタル
入力基板の試験時は、デジタル基板用配線７の代わりに
デジタル基板用ケーブル１３がデジタル入出力基板３に
接続され、デジタル用入出力基板試験装置１４から試験
用の模擬信号が出力される。この模擬信号はデジタル入
出力基板２のデジタル入力基板でデジタル値に変換さ
れ、インターフェース基板８およびデータ入出力ケーブ
ル１２を経てデジタル用入出力基板試験装置１１へ戻っ
て来る。そして、模擬信号と帰ってきたデジタル値とを
比較することでデジタル入出力基板３のデジタル入力基
板の精度評価を行う。
入力基板の試験時は、デジタル基板用配線７の代わりに
デジタル基板用ケーブル１３がデジタル入出力基板３に
接続され、デジタル用入出力基板試験装置１４から試験
用の模擬信号が出力される。この模擬信号はデジタル入
出力基板２のデジタル入力基板でデジタル値に変換さ
れ、インターフェース基板８およびデータ入出力ケーブ
ル１２を経てデジタル用入出力基板試験装置１１へ戻っ
て来る。そして、模擬信号と帰ってきたデジタル値とを
比較することでデジタル入出力基板３のデジタル入力基
板の精度評価を行う。
【００３７】ここで、図３にアナログ用入出力基板試験
装置１１の構成図を示す。このアナログ用入出力基板試
験装置１１は、試験に関してアナログ入出力基板２の入
出力を模擬信号（電圧、電流等）を出力する電圧電流発
生器１５と、この模擬信号の入力により各アナログ入出
力基板２が出力する電気信号を測定する測定手段１６
と、電気回路に挿入する標準抵抗１７とを設けている。
装置１１の構成図を示す。このアナログ用入出力基板試
験装置１１は、試験に関してアナログ入出力基板２の入
出力を模擬信号（電圧、電流等）を出力する電圧電流発
生器１５と、この模擬信号の入力により各アナログ入出
力基板２が出力する電気信号を測定する測定手段１６
と、電気回路に挿入する標準抵抗１７とを設けている。
【００３８】さらに、これらを試験対象基板の試験内容
に応じて接点の切換により適切な電気回路を形成する切
替手段１８と、アナログ基板用ケーブル１０との接続に
用いる端子台１９、さらに各アナログ入出力基板２に係
わる各種データベースを備えて、電圧電流発生器１５と
測定手段１６および切替手段１８を制御して、順次試験
対象基板の選定と接続確認および試験結果から変換機能
の評価等を行う演算処理手段２０とから構成されてい
る。
に応じて接点の切換により適切な電気回路を形成する切
替手段１８と、アナログ基板用ケーブル１０との接続に
用いる端子台１９、さらに各アナログ入出力基板２に係
わる各種データベースを備えて、電圧電流発生器１５と
測定手段１６および切替手段１８を制御して、順次試験
対象基板の選定と接続確認および試験結果から変換機能
の評価等を行う演算処理手段２０とから構成されてい
る。
【００３９】模擬信号はアナログ基板用ケーブル１０を
介してアナログ入出力基板２に入力され、その模擬信号
に対して応動した信号値はインターフェース基板８およ
びデータ入出力ケーブルを介して演算処理手段２０に入
力され、演算処理手段２０で試験結果が評価される。
介してアナログ入出力基板２に入力され、その模擬信号
に対して応動した信号値はインターフェース基板８およ
びデータ入出力ケーブルを介して演算処理手段２０に入
力され、演算処理手段２０で試験結果が評価される。
【００４０】次に、図１は、デジタル制御装置１ｂの説
明図であり、信号の流れはアナログ入力試験を行う場合
を示している。デジタル制御装置１ｂのインタフェース
基板８には、第１のアナログ信号用レジスタ２１および
第２のアナログ信号用レジスタ２２がアナログデータ切
替器２３を介して設けられている。同様に、第１の接点
信号用レジスタ２４および第２の接点信号用レジスタ２
５がデジタルデータ切替器２６を介して設けられてい
る。そして、アナログ入力基板２９のアナログ入力試験
の際には、アナログ用データ切替スイッチ２７により試
験中に選択し、同様に、デジタル入力基板３０のデジタ
ル入力試験の際にはデジタル用データ切替スイッチ２８
を試験中に選択する。
明図であり、信号の流れはアナログ入力試験を行う場合
を示している。デジタル制御装置１ｂのインタフェース
基板８には、第１のアナログ信号用レジスタ２１および
第２のアナログ信号用レジスタ２２がアナログデータ切
替器２３を介して設けられている。同様に、第１の接点
信号用レジスタ２４および第２の接点信号用レジスタ２
５がデジタルデータ切替器２６を介して設けられてい
る。そして、アナログ入力基板２９のアナログ入力試験
の際には、アナログ用データ切替スイッチ２７により試
験中に選択し、同様に、デジタル入力基板３０のデジタ
ル入力試験の際にはデジタル用データ切替スイッチ２８
を試験中に選択する。
【００４１】いま、アナログ入力基板２９のアナログ入
力試験のために、アナログ用データ切替スイッチ２７に
よりアナログ入力試験中を選択したとする。これによ
り、アナログデータ切替器２３がＯＦＦする。つまり、
第１のアナログ信号用レジスタ２１および第２のアナロ
グ信号用レジスタ２２の接続がＯＦＦするので、第１の
アナログ信号用レジスタ２１の値は更新されなくなり、
プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力さ
れる信号値は第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持
される。
力試験のために、アナログ用データ切替スイッチ２７に
よりアナログ入力試験中を選択したとする。これによ
り、アナログデータ切替器２３がＯＦＦする。つまり、
第１のアナログ信号用レジスタ２１および第２のアナロ
グ信号用レジスタ２２の接続がＯＦＦするので、第１の
アナログ信号用レジスタ２１の値は更新されなくなり、
プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力さ
れる信号値は第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持
される。
【００４２】この状態で、アナログ入出力基板試験装置
１１から模擬信号を出力すると、アナログ基板用ケーブ
ル１０を介してアナログ入力基板２９に伝送され、アナ
ログ入力基板２９はその模擬信号に基づいて動作する。
第２のアナログ用レジスタ２２には、その模擬信号によ
り動作した結果の模擬された信号値が格納される。この
信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てアナログ用
入出力基板試験装置１１に伝えられる。従って、プラン
トの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験
を行うことができる。
１１から模擬信号を出力すると、アナログ基板用ケーブ
ル１０を介してアナログ入力基板２９に伝送され、アナ
ログ入力基板２９はその模擬信号に基づいて動作する。
第２のアナログ用レジスタ２２には、その模擬信号によ
り動作した結果の模擬された信号値が格納される。この
信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てアナログ用
入出力基板試験装置１１に伝えられる。従って、プラン
トの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験
を行うことができる。
【００４３】次に、図４は、図１に示したアナログ入力
試験の際に、第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持
された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて
変化させて模擬信号とするようにしたものである。
試験の際に、第１のアナログ信号用レジスタ２１に保持
された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて
変化させて模擬信号とするようにしたものである。
【００４４】図４において、プラントの監視制御演算を
行うデジタル制御装置１ａへ模擬信号を送出する場合を
示している。アナログ入力基板２９の試験を行う場合に
は、アナログ用データ切替えスイッチ２７を試験中に選
択することで行われる。そうすると、アナログデータ切
替器２３がアナログ用入出力基板試験装置１１側に切り
替わり、第１のアナログ信号用レジスタ２１の値は更新
されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装
置１ａに出力される信号値は第１のアナログ信号用レジ
スタ２１に保持される。
行うデジタル制御装置１ａへ模擬信号を送出する場合を
示している。アナログ入力基板２９の試験を行う場合に
は、アナログ用データ切替えスイッチ２７を試験中に選
択することで行われる。そうすると、アナログデータ切
替器２３がアナログ用入出力基板試験装置１１側に切り
替わり、第１のアナログ信号用レジスタ２１の値は更新
されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装
置１ａに出力される信号値は第１のアナログ信号用レジ
スタ２１に保持される。
【００４５】この状態で、アナログ入出力基板試験装置
１１から模擬信号を出力すると、アナログ基板用ケーブ
ル１０を介してアナログ入力基板２９に伝送され、アナ
ログ入力基板２９はその模擬信号に基づいて動作し、第
２のアナログ用レジスタ２２には、その模擬信号により
動作した結果の模擬された信号値が格納される。この信
号値は、データ入出力ケーブル１２を経てアナログ用入
出力基板試験装置１１に伝えられる。従って、プラント
の監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を
行うことができる。
１１から模擬信号を出力すると、アナログ基板用ケーブ
ル１０を介してアナログ入力基板２９に伝送され、アナ
ログ入力基板２９はその模擬信号に基づいて動作し、第
２のアナログ用レジスタ２２には、その模擬信号により
動作した結果の模擬された信号値が格納される。この信
号値は、データ入出力ケーブル１２を経てアナログ用入
出力基板試験装置１１に伝えられる。従って、プラント
の監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を
行うことができる。
【００４６】また、第１のアナログ信号用レジスタ２１
の保持値を、アナログ用入出力基板試験装置１１から変
更する。すなわち、プラント状態の変化に合わせて変化
させる。そして、その変化させた値を模擬信号としてデ
ジタル制御装置１ａに出力する。従って、変動するアナ
ログ入力信号に対する試験を行うことができる。
の保持値を、アナログ用入出力基板試験装置１１から変
更する。すなわち、プラント状態の変化に合わせて変化
させる。そして、その変化させた値を模擬信号としてデ
ジタル制御装置１ａに出力する。従って、変動するアナ
ログ入力信号に対する試験を行うことができる。
【００４７】次に、本発明の第２の実施の形態を説明す
る。図５は、本発明の第２の実施の形態に係わるデジタ
ル制御装置でアナログ出力試験を行う場合の説明図であ
る。この第２の実施の形態は、アナログ出力試験に際
し、第１のアナログ信号用レジスタ２１には制御用の信
号値として試験前の値を保持し、第２のアナログ信号用
レジスタ２２にはアナログ出力試験用の模擬信号をアナ
ログ用入出力基板試験装置１１から入力して保存する。
そして、アナログ出力基板３１を介して出力しその模擬
された信号値をアナログ用入出力基板試験装置１１に戻
すようにし、試験結果を評価するようにしている。
る。図５は、本発明の第２の実施の形態に係わるデジタ
ル制御装置でアナログ出力試験を行う場合の説明図であ
る。この第２の実施の形態は、アナログ出力試験に際
し、第１のアナログ信号用レジスタ２１には制御用の信
号値として試験前の値を保持し、第２のアナログ信号用
レジスタ２２にはアナログ出力試験用の模擬信号をアナ
ログ用入出力基板試験装置１１から入力して保存する。
そして、アナログ出力基板３１を介して出力しその模擬
された信号値をアナログ用入出力基板試験装置１１に戻
すようにし、試験結果を評価するようにしている。
【００４８】図５において、通常運転時においては、デ
ジタル制御装置１ａから出力された信号は光ケーブル９
およびインターフェース基板８を経てアナログ出力基板
３１へ伝えられてアナログ信号に変換され、プラントを
制御するために出力される。
ジタル制御装置１ａから出力された信号は光ケーブル９
およびインターフェース基板８を経てアナログ出力基板
３１へ伝えられてアナログ信号に変換され、プラントを
制御するために出力される。
【００４９】一方、アナログ出力基板の試験時は、アナ
ログ基板用配線６の代わりにアナログ基板用ケーブル１
０を用いてアナログ入出力基板試験装置１１に接続す
る。この状態で、アナログ出力基板３１のアナログ出力
試験のために、アナログ用データ切替スイッチ２７によ
りアナログ入力試験中を選択する。そうすると、アナロ
グデータ切替器２３がＯＦＦする。
ログ基板用配線６の代わりにアナログ基板用ケーブル１
０を用いてアナログ入出力基板試験装置１１に接続す
る。この状態で、アナログ出力基板３１のアナログ出力
試験のために、アナログ用データ切替スイッチ２７によ
りアナログ入力試験中を選択する。そうすると、アナロ
グデータ切替器２３がＯＦＦする。
【００５０】つまり、第１のアナログ信号用レジスタ２
１および第２のアナログ信号用レジスタ２２の接続がＯ
ＦＦするので、第２のアナログ信号用レジスタ２２の値
は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル
処理装置１ａから出力される信号値は第１のアナログ信
号用レジスタ２１に更新保持される。
１および第２のアナログ信号用レジスタ２２の接続がＯ
ＦＦするので、第２のアナログ信号用レジスタ２２の値
は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル
処理装置１ａから出力される信号値は第１のアナログ信
号用レジスタ２１に更新保持される。
【００５１】この状態で、アナログ入出力基板試験装置
１１からデータ入出力ケーブル１２を介して、模擬信号
（デジタル値）を第２のアナログ信号レジスタ２２に出
力する。模擬信号はアナログ出力基板３１に伝送され、
アナログ出力基板３１はその模擬信号に基づいてアナロ
グ信号に変換し、その変換されたアナログ信号は、アナ
ログ基板用ケーブル１０を介してアナログ用入出力基板
試験装置１１に伝えられる。ここで模擬したデジタル値
と、帰ってきたアナログ値とを比較することでアナログ
出力基板３１の精度評価を行う。従って、プラントの監
視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を行う
ことができる。
１１からデータ入出力ケーブル１２を介して、模擬信号
（デジタル値）を第２のアナログ信号レジスタ２２に出
力する。模擬信号はアナログ出力基板３１に伝送され、
アナログ出力基板３１はその模擬信号に基づいてアナロ
グ信号に変換し、その変換されたアナログ信号は、アナ
ログ基板用ケーブル１０を介してアナログ用入出力基板
試験装置１１に伝えられる。ここで模擬したデジタル値
と、帰ってきたアナログ値とを比較することでアナログ
出力基板３１の精度評価を行う。従って、プラントの監
視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験を行う
ことができる。
【００５２】次に、本発明の第３の実施の形態を説明す
る。図６は本発明の第３の実施の形態に係わるデジタル
制御装置でデジタル入力試験を行う場合の説明図であ
る。この第３の実施の形態は、図１に示した第１の実施
の形態のアナログ入力基板２９に代えてデジタル入力基
板３０のデジタル入力試験を行う場合のものである。
る。図６は本発明の第３の実施の形態に係わるデジタル
制御装置でデジタル入力試験を行う場合の説明図であ
る。この第３の実施の形態は、図１に示した第１の実施
の形態のアナログ入力基板２９に代えてデジタル入力基
板３０のデジタル入力試験を行う場合のものである。
【００５３】いま、デジタル入力基板３０のデジタル入
力試験のために、デジタル用データ切替スイッチ２８に
よりデジタル入力試験中を選択したとする。これによ
り、デジタルデータ切替器２６がＯＦＦする。つまり、
第１のデジタル信号用レジスタ２４および第２のデジタ
ル信号用レジスタ２６の接続がＯＦＦするので、第１の
デジタル信号用レジスタ２４の値は更新されなくなり、
プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力さ
れる信号値は第１のデジタル信号用レジスタ２４に保持
される。
力試験のために、デジタル用データ切替スイッチ２８に
よりデジタル入力試験中を選択したとする。これによ
り、デジタルデータ切替器２６がＯＦＦする。つまり、
第１のデジタル信号用レジスタ２４および第２のデジタ
ル信号用レジスタ２６の接続がＯＦＦするので、第１の
デジタル信号用レジスタ２４の値は更新されなくなり、
プラントの監視制御用のデジタル処理装置１ａに出力さ
れる信号値は第１のデジタル信号用レジスタ２４に保持
される。
【００５４】この状態で、デジタル用入出力基板試験装
置１４から模擬信号（接点信号）を出力すると、デジタ
ル基板用ケーブル１３を介してデジタル入力基板３０に
伝送され、デジタル入力基板３０はその模擬信号に基づ
いて動作する。第２のデジタル用レジスタ２５には、そ
の模擬信号により動作した結果の模擬された信号値が格
納される。この信号値は、データ入出力ケーブル１２を
経てデジタル用入出力基板試験装置１４に伝えられる。
ここで模擬した接点信号と帰ってきたデジタル値とを比
較することでデジタル入力基板６の動作評価を行う。従
って、プラントの監視制御に影響を与えることなくアナ
ログ入力試験を行うことができる。
置１４から模擬信号（接点信号）を出力すると、デジタ
ル基板用ケーブル１３を介してデジタル入力基板３０に
伝送され、デジタル入力基板３０はその模擬信号に基づ
いて動作する。第２のデジタル用レジスタ２５には、そ
の模擬信号により動作した結果の模擬された信号値が格
納される。この信号値は、データ入出力ケーブル１２を
経てデジタル用入出力基板試験装置１４に伝えられる。
ここで模擬した接点信号と帰ってきたデジタル値とを比
較することでデジタル入力基板６の動作評価を行う。従
って、プラントの監視制御に影響を与えることなくアナ
ログ入力試験を行うことができる。
【００５５】次に、図７は、図６に示したデジタル入力
試験の際に、第１のデジタル信号用レジスタ２４に保持
された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて
変化させて模擬信号とするようにしたものである。
試験の際に、第１のデジタル信号用レジスタ２４に保持
された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて
変化させて模擬信号とするようにしたものである。
【００５６】図７において、プラントの監視制御演算を
行うデジタル制御装置１ａへ模擬信号を送出する場合を
示している。デジタル入力基板３０の試験を行う場合に
は、デジタル用データ切替えスイッチ２８を試験中に選
択することで行われる。そうすると、デジタルデータ切
替器２６がデジタル用入出力基板試験装置１４側に切り
替わり、第１のデジタル信号用レジスタ２４の値は更新
されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装
置１ａに出力される信号値は第１のデジタル信号用レジ
スタ２４に保持される。
行うデジタル制御装置１ａへ模擬信号を送出する場合を
示している。デジタル入力基板３０の試験を行う場合に
は、デジタル用データ切替えスイッチ２８を試験中に選
択することで行われる。そうすると、デジタルデータ切
替器２６がデジタル用入出力基板試験装置１４側に切り
替わり、第１のデジタル信号用レジスタ２４の値は更新
されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル処理装
置１ａに出力される信号値は第１のデジタル信号用レジ
スタ２４に保持される。
【００５７】この状態で、デジタル用入出力基板試験装
置１４から模擬信号を出力すると、デジタル基板用ケー
ブル１３を介してデジタル入力基板３０に伝送され、デ
ジタル入力基板３０はその模擬信号に基づいて動作し、
第２のデジタル用レジスタ２５には、その模擬信号によ
り動作した結果の模擬された信号値が格納される。この
信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てデジタル用
入出力基板試験装置１４に伝えられる。従って、プラン
トの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験
を行うことができる。
置１４から模擬信号を出力すると、デジタル基板用ケー
ブル１３を介してデジタル入力基板３０に伝送され、デ
ジタル入力基板３０はその模擬信号に基づいて動作し、
第２のデジタル用レジスタ２５には、その模擬信号によ
り動作した結果の模擬された信号値が格納される。この
信号値は、データ入出力ケーブル１２を経てデジタル用
入出力基板試験装置１４に伝えられる。従って、プラン
トの監視制御に影響を与えることなくアナログ入力試験
を行うことができる。
【００５８】また、第１のデジタル信号用レジスタ２４
の保持値を、デジタル用入出力基板試験装置１４から変
更する。すなわち、プラント状態の変化に合わせて変化
させる。そして、その変化させた値を模擬信号としてデ
ジタル制御装置１ａに出力する。従って、変動するアナ
ログ入力信号に対する試験を行うことができる。
の保持値を、デジタル用入出力基板試験装置１４から変
更する。すなわち、プラント状態の変化に合わせて変化
させる。そして、その変化させた値を模擬信号としてデ
ジタル制御装置１ａに出力する。従って、変動するアナ
ログ入力信号に対する試験を行うことができる。
【００５９】次に、本発明の第４の実施の形態を説明す
る。図８は本発明の第４の実施の形態に係わるデジタル
制御装置でデジタル出力試験を行う場合の説明図であ
る。この第４の実施の形態は、デジタル出力試験に際
し、第１のデジタル信号用レジスタ２４には制御用の信
号値として試験前の値を保持し、第２のデジタル信号用
レジスタ２５にはデジタル出力試験用の模擬信号をデジ
タル用入出力基板試験装置１４から入力して保存する。
そして、デジタル出力基板３２を介して出力しその模擬
された信号値をデジタル用入出力基板試験装置１４に戻
すようにし、試験結果を評価するようにしたものであ
る。
る。図８は本発明の第４の実施の形態に係わるデジタル
制御装置でデジタル出力試験を行う場合の説明図であ
る。この第４の実施の形態は、デジタル出力試験に際
し、第１のデジタル信号用レジスタ２４には制御用の信
号値として試験前の値を保持し、第２のデジタル信号用
レジスタ２５にはデジタル出力試験用の模擬信号をデジ
タル用入出力基板試験装置１４から入力して保存する。
そして、デジタル出力基板３２を介して出力しその模擬
された信号値をデジタル用入出力基板試験装置１４に戻
すようにし、試験結果を評価するようにしたものであ
る。
【００６０】図８において、通常運転時においては、デ
ジタル制御装置１ａから出力された信号は光ケーブル９
およびインターフェース基板８を経てアナログ出力基板
３１へ伝えられてアナログ信号に変換され、プラントを
制御するために出力される。
ジタル制御装置１ａから出力された信号は光ケーブル９
およびインターフェース基板８を経てアナログ出力基板
３１へ伝えられてアナログ信号に変換され、プラントを
制御するために出力される。
【００６１】一方、デジタル出力基板の試験時は、デジ
タル基板用配線７の代わりにデジタル基板用ケーブル１
３を用いてデジタル入出力基板試験装置１４に接続す
る。この状態で、デジタル出力基板３２のデジタル出力
試験のために、デジタル用データ切替スイッチ２８によ
りアナログ入力試験中を選択する。そうすると、デジタ
ルデータ切替器２６がＯＦＦする。
タル基板用配線７の代わりにデジタル基板用ケーブル１
３を用いてデジタル入出力基板試験装置１４に接続す
る。この状態で、デジタル出力基板３２のデジタル出力
試験のために、デジタル用データ切替スイッチ２８によ
りアナログ入力試験中を選択する。そうすると、デジタ
ルデータ切替器２６がＯＦＦする。
【００６２】つまり、第１のデジタル信号用レジスタ２
４および第２のデジタル信号用レジスタ２５の接続がＯ
ＦＦするので、第２のデジタル信号用レジスタ２５の値
は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル
処理装置１ａから出力される信号値は第１のデジタル信
号用レジスタ２４に更新保持される。
４および第２のデジタル信号用レジスタ２５の接続がＯ
ＦＦするので、第２のデジタル信号用レジスタ２５の値
は更新されなくなり、プラントの監視制御用のデジタル
処理装置１ａから出力される信号値は第１のデジタル信
号用レジスタ２４に更新保持される。
【００６３】この状態で、デジタル入出力基板試験装置
１４からデータ入出力ケーブル１２を介して、模擬信号
（デジタル値）を第２のデジタル信号レジスタ２５に出
力する。模擬信号はデジタル出力基板３２に伝送され、
デジタル出力基板３２はその模擬信号に基づいてデジタ
ル信号に変換し、その変換されたデジタル信号は、デジ
タル基板用ケーブル１３を介してデジタル用入出力基板
試験装置１４に伝えられる。ここで模擬した接点信号
と、帰ってきたデジタル値とを比較することでデジタル
出力基板３２の精度評価を行う。従って、プラントの監
視制御に影響を与えることなくデジタル入力試験を行う
ことができる。
１４からデータ入出力ケーブル１２を介して、模擬信号
（デジタル値）を第２のデジタル信号レジスタ２５に出
力する。模擬信号はデジタル出力基板３２に伝送され、
デジタル出力基板３２はその模擬信号に基づいてデジタ
ル信号に変換し、その変換されたデジタル信号は、デジ
タル基板用ケーブル１３を介してデジタル用入出力基板
試験装置１４に伝えられる。ここで模擬した接点信号
と、帰ってきたデジタル値とを比較することでデジタル
出力基板３２の精度評価を行う。従って、プラントの監
視制御に影響を与えることなくデジタル入力試験を行う
ことができる。
【００６４】次に、図９はデジタル用入出力基板試験装
置１４の構成図であり、図１０はデジタル入出力基板３
の種類毎の試験時におけるスイッチの状態を示す説明図
である。デジタル用入出力基板試験装置１４は、抵抗器
３７、試験用の電圧を発生する発生器３８、デジボル
（デジタルマルチメータ）３９、ジャンパー４０、切替
接点３３〜３６および切替接点４１〜４７を有してい
る。
置１４の構成図であり、図１０はデジタル入出力基板３
の種類毎の試験時におけるスイッチの状態を示す説明図
である。デジタル用入出力基板試験装置１４は、抵抗器
３７、試験用の電圧を発生する発生器３８、デジボル
（デジタルマルチメータ）３９、ジャンパー４０、切替
接点３３〜３６および切替接点４１〜４７を有してい
る。
【００６５】デジタル入力基板３０が電圧接点の場合に
は、図１０に示すように切替接点３３および切替接点３
４をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応
する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせる。これに
より、デジタル入力基板３０の基板入力チャンネル５１
〜５７へ電圧を印可させる。
は、図１０に示すように切替接点３３および切替接点３
４をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応
する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせる。これに
より、デジタル入力基板３０の基板入力チャンネル５１
〜５７へ電圧を印可させる。
【００６６】デジタル入力基板３０が無電圧接点の場合
には、図１０に示すようにジャンパー４０につながる切
替接点３５をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネ
ルに対応する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせる
ことで、デジタル入力基板３０の基板入力チャンネル５
１〜５７へ接点のＯＮ／ＯＦＦを模擬する。
には、図１０に示すようにジャンパー４０につながる切
替接点３５をＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネ
ルに対応する切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせる
ことで、デジタル入力基板３０の基板入力チャンネル５
１〜５７へ接点のＯＮ／ＯＦＦを模擬する。
【００６７】一方、デジタル出力基板３２が電圧接点の
場合には、図１０に示すように切替接点３４をＯＮし、
確認対象となる基板入力チャンネルに対応する切替接点
４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせることで、デジタル出力
基板３２の基板入力チャンネル５１〜５７からの電圧を
確認する。
場合には、図１０に示すように切替接点３４をＯＮし、
確認対象となる基板入力チャンネルに対応する切替接点
４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせることで、デジタル出力
基板３２の基板入力チャンネル５１〜５７からの電圧を
確認する。
【００６８】デジタル出力基板３２が無電圧接点の場合
には、図１０に示すように切替接点３３、３４、３６を
ＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応する
切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせることで、デジ
タル基板３２の基板入力チャンネル５１〜５７の接点動
作を確認する。
には、図１０に示すように切替接点３３、３４、３６を
ＯＮし、確認対象となる基板入力チャンネルに対応する
切替接点４１〜４７をＯＮ／ＯＦＦさせることで、デジ
タル基板３２の基板入力チャンネル５１〜５７の接点動
作を確認する。
【００６９】基板の接点がＯＦＦの状態では、発生器３
８の出力電圧に等しい電圧がデジボル３９に印荷され、
ＯＮの状態では抵抗器３８と基板の出力インピーダンス
とで分圧された出力インピーダンス相当の電圧が印荷さ
れる。
８の出力電圧に等しい電圧がデジボル３９に印荷され、
ＯＮの状態では抵抗器３８と基板の出力インピーダンス
とで分圧された出力インピーダンス相当の電圧が印荷さ
れる。
【００７０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
デジタル制御装置でアナログ入力試験を行う場合に、試
験用の模擬信号によってプラントが影響を受けることが
なく、プラントに対する安全処置が図られ、プラント自
体の停止を避けることができる。また、アナログ入力試
験及びアナログ入力試験を自動的に行える。
デジタル制御装置でアナログ入力試験を行う場合に、試
験用の模擬信号によってプラントが影響を受けることが
なく、プラントに対する安全処置が図られ、プラント自
体の停止を避けることができる。また、アナログ入力試
験及びアナログ入力試験を自動的に行える。
【００７１】同様にデジタル制御装置でデジタル入力試
験を行う場合も、試験用の模擬信号によってプラントが
影響を受けることがなく、プラントに対する安全処置を
図ることができ、プラント自体の停止を避けることがで
きる。また、デジタル入力試験及びデジタル入力試験を
自動的に行える。
験を行う場合も、試験用の模擬信号によってプラントが
影響を受けることがなく、プラントに対する安全処置を
図ることができ、プラント自体の停止を避けることがで
きる。また、デジタル入力試験及びデジタル入力試験を
自動的に行える。
【図１】本発明の第１の実施の形態に係わるデジタル制
御装置でアナログ入力試験を行う場合の説明図。
御装置でアナログ入力試験を行う場合の説明図。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係わるデジタル制
御装置と入出力基板政権装置との関係を示す構成図。
御装置と入出力基板政権装置との関係を示す構成図。
【図３】本発明の第１の実施の形態におけるアナログ用
入出力基板試験装置の構成図。
入出力基板試験装置の構成図。
【図４】本発明の第１の実施の形態に係わるデジタル制
御装置でアナログ入力試験を行う際に制御用の信号値を
プラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とす
る場合の説明図。
御装置でアナログ入力試験を行う際に制御用の信号値を
プラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とす
る場合の説明図。
【図５】本発明の第２の実施の形態に係わるデジタル制
御装置でアナログ出力試験を行う場合の説明図。
御装置でアナログ出力試験を行う場合の説明図。
【図６】本発明の第３の実施の形態に係わるデジタル制
御装置でアナログ入力試験を行う場合の説明図。
御装置でアナログ入力試験を行う場合の説明図。
【図７】本発明の第３の実施の形態に係わるデジタル制
御装置でアナログ入力試験を行う際に制御用の信号値を
プラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とす
る場合の説明図。
御装置でアナログ入力試験を行う際に制御用の信号値を
プラント状態の変化に合わせて変化させて模擬信号とす
る場合の説明図。
【図８】本発明の第４の実施の形態に係わるデジタル制
御装置でデジタル出力試験を行う場合の説明図。
御装置でデジタル出力試験を行う場合の説明図。
【図９】本発明のデジタル用入出力基板試験装置の構成
図。
図。
【図１０】本発明のデジタル用入出力基板試験装置にお
けるデジタル入出力基板の種類毎の試験時におけるスイ
ッチのオンオフ状態を示す説明図。
けるデジタル入出力基板の種類毎の試験時におけるスイ
ッチのオンオフ状態を示す説明図。
１ デジタル制御装置 ２ アナログ入出力基板 ３ デジタル入出力基板 ４ 外部ケーブル ５ 端子台 ６ アナログ基板用配線 ７ デジタル基板用配線 ８ インターフェース基板 ９ 光ケーブル １０ アナログ基板用ケーブル １１ アナログ用入出力基板試験装置 １２ データ入出力ケーブル １３ デジタル基板用ケーブル １４ デジタル用入出力基板試験装置 １５ 電圧電流発生器 １６ 測定手段 １７ 標準抵抗 １８ 切替手段 １９ 端子台 ２０ 演算処理手段 ２１ 第１のアナログ信号用レジスタ ２２ 第２のアナログ信号用レジスタ ２３ アナログデータ切替器 ２４ 第１の接点信号用レジスタ ２５ 第２の接点信号用レジスタ ２６ デジタルデータ切替器 ２７ アナログ用データ切替スイッチ ２８ デジタル用データ切替スイッチ ２９ アナログ入力基板 ３０ デジタル入力基板 ３１ アナログ出力基板 ３２ デジタル出力基板 ３３〜３６ 切替接点 ３７ 抵抗器 ３８ 発生器 ３９ デシボル ４０ ジャンパー ４１〜４７ 切替接点 ５１〜５７ 基板入力チャンネル
Claims (10)
- 【請求項１】 プラントからのアナログ信号または接点
信号をデジタル値に変換して取込み、所定の監視制御演
算を行って得られたデジタル値をアナログ信号またはデ
ジタル信号に変換して出力するようにしたデジタル制御
装置において、プラントからのアナログ信号を入力しデ
ジタル信号に変換するアナログ入力基板と、前記アナロ
グ入力基板の入力の精度を確認するアナログ入力試験に
際しプラントの監視制御用の信号値を試験前の値に保持
する第１のアナログ信号用レジスタと、前記アナログ入
力試験に際には前記アナログ入力試験用の模擬信号をア
ナログ用入出力基板試験装置から前記アナログ入力基板
を介して入力しその模擬された信号値を保存する第２の
アナログ信号用レジスタとを備えたことを特徴とするデ
ジタル制御装置。 - 【請求項２】 プラントからのアナログ信号または接点
信号をデジタル値に変換して取込み、所定の監視制御演
算を行って得られたデジタル値をアナログ信号またはデ
ジタル信号に変換して出力するようにしたデジタル制御
装置において、プラントからの接点信号を入力しデジタ
ル信号に変換するデジタル入力基板と、前記デジタル入
力基板の入力動作の確認をするデジタル入力試験に際し
プラントの監視制御用の信号値を試験前の値に保持する
第１の接点信号用レジスタと、前記デジタル入力試験に
際には前記デジタル入力試験用の模擬信号をデジタル用
入出力基板試験装置から前記デジタル入力基板を介して
入力しその模擬された信号値を保存する第２の接点信号
用レジスタとを備えたことを特徴とするデジタル制御装
置。 - 【請求項３】 前記第１のアナログ信号用レジスタに保
持された制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせ
て変化させて模擬信号とするようにしたことを特徴とす
る請求項１に記載のデジタル制御装置。 - 【請求項４】 前記第１の接点信号用レジスタに保持さ
れた制御用の信号値をプラント状態の変化に合わせて変
化させて模擬信号とするようにしたことを特徴とする請
求項２に記載のデジタル制御装置。 - 【請求項５】 プラントからのアナログ信号または接点
信号をデジタル値に変換して取込み、所定の監視制御演
算を行って得られたデジタル値をアナログ信号またはデ
ジタル信号に変換して出力するようにしたデジタル制御
装置において、監視演算を行って得られたデジタル信号
をアナログ信号に変換するアナログ出力基板と、前記ア
ナログ出力基板の出力の精度を確認するアナログ出力試
験に際しプラントの監視制御用の信号値を試験前の値に
保持する第１のアナログ信号用レジスタと、前記アナロ
グ出力試験に際には前記アナログ出力試験用の模擬信号
をアナログ用入出力基板試験装置から入力して保存し前
記アナログ出力基板に出力する第２のアナログ信号用レ
ジスタとを備えたことを特徴とするデジタル制御装置。 - 【請求項６】 プラントからのアナログ信号または接点
信号をデジタル値に変換して取込み、所定の監視制御演
算を行って得られたデジタル値をアナログ信号またはデ
ジタル信号に変換して出力するようにしたデジタル制御
装置において、監視演算を行って得られたデジタル信号
を接点信号に変換するデジタル出力基板と、前記デジタ
ル出力基板の出力動作の確認をするデジタル出力試験に
際しプラントの監視制御用の信号値を試験前の値に保持
する第１の接点信号用レジスタと、前記デジタル出力試
験に際には前記デジタル出力試験用の模擬信号をデジタ
ル入出力基板試験装置から入力して保存し前記デジタル
出力基板に出力する第２の接点信号用レジスタとを備え
たことを特徴とするデジタル制御装置。 - 【請求項７】 プラントからの接点信号をデジタル信号
に変換しプラントの監視制御の演算結果をデジタル信号
から接点信号に変換するデジタル入出力基板の試験を行
うデジタル用入出力基板試験装置において、プラントか
らの接点信号をデジタル信号に変換するデジタル入力基
板の入力動作の確認をするデジタル入力試験に際して、
電圧接点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネル
に応じて電圧接点信号を模擬し、試験対象であるデジタ
ル制御装置の電圧接点型デジタル入力基板からのデジタ
ル値を確認することで電圧接点型デジタル入力基板の健
全性を確認するようにしたことを特徴とするデジタル用
入出力基板試験装置。 - 【請求項８】 プラントからの接点信号をデジタル信号
に変換しプラントの監視制御の演算結果をデジタル信号
から接点信号に変換するデジタル入出力基板の試験を行
うデジタル用入出力基板試験装置において、プラントか
らの接点信号をデジタル信号に変換するデジタル入力基
板の入力動作の確認をするデジタル入力試験に際して、
無電圧接点型デジタル入力基板の配置及び入力チャンネ
ルに応じて無電圧接点のＯＮ／ＯＦＦを模擬し、試験対
象であるデジタル制御装置の無電圧接点型デジタル入力
基板からのデジタル値を確認することで無電圧接点型デ
ジタル入力基板の健全性を確認するようにしたことを特
徴とするデジタル用入出力基板試験装置。 - 【請求項９】 プラントからの接点信号をデジタル信号
に変換しプラントの監視制御の演算結果をデジタル信号
から接点信号に変換するデジタル入出力基板の試験を行
うデジタル用入出力基板試験装置において、監視制御演
算結果のデジタル信号を接点信号に変換するデジタル出
力基板の出力動作の確認をするデジタル入力試験に際し
て、電圧接点型デジタル出力基板の配置及び出力チャン
ネルに応じてデジタル値を模擬し、監視対象であるデジ
タル制御装置の電圧接点型デジタル出力基板からの電圧
接点信号を確認することで電圧接点型デジタル出力基板
の健全性を確認するようにしたことを特徴とするデジタ
ル用入出力基板試験装置。 - 【請求項１０】 プラントからの接点信号をデジタル信
号に変換しプラントの監視制御の演算結果をデジタル信
号から接点信号に変換するデジタル入出力基板の試験を
行うデジタル用入出力基板試験装置において、監視制御
演算結果のデジタル信号を接点信号に変換するデジタル
出力基板の出力動作の確認をするデジタル入力試験に際
して、無電圧接点型デジタル出力基板の配置及び出力チ
ャンネルに応じてデジタル値を模擬し、監視対象である
デジタル制御装置の無電圧接点型デジタル出力基板から
の無電圧接点信号を確認することで無電圧接点型デジタ
ル出力基板の健全性を確認するようにしたことを特徴と
するデジタル用入出力基板試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25265497A JP3556443B2 (ja) | 1997-09-03 | 1997-09-03 | デジタル制御装置の基板試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25265497A JP3556443B2 (ja) | 1997-09-03 | 1997-09-03 | デジタル制御装置の基板試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1185251A true JPH1185251A (ja) | 1999-03-30 |
| JP3556443B2 JP3556443B2 (ja) | 2004-08-18 |
Family
ID=17240374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25265497A Expired - Fee Related JP3556443B2 (ja) | 1997-09-03 | 1997-09-03 | デジタル制御装置の基板試験装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3556443B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007086870A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Design Office See:Kk | インターフェース |
| JP2013206087A (ja) * | 2012-03-28 | 2013-10-07 | Toshiba Corp | 多重化制御システム |
| CN112611983A (zh) * | 2020-12-07 | 2021-04-06 | 交控科技股份有限公司 | 轨道交通数字量输入输出通道检测方法及装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62276991A (ja) * | 1986-05-26 | 1987-12-01 | Fuji Electric Co Ltd | 計測制御システムにおけるテスト方法 |
| JPH05158531A (ja) * | 1991-12-05 | 1993-06-25 | Hitachi Ltd | システムの安全保護系健全性確認方法及び装置 |
| JPH06123757A (ja) * | 1992-10-13 | 1994-05-06 | Yokogawa Electric Corp | 試験装置 |
| JPH0843500A (ja) * | 1994-08-02 | 1996-02-16 | Toshiba Corp | アナログ入力出力基板試験装置 |
| JPH08223241A (ja) * | 1995-02-14 | 1996-08-30 | Fujitsu Ltd | 伝送装置のための消費電力低減装置 |
-
1997
- 1997-09-03 JP JP25265497A patent/JP3556443B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN112611983A (zh) * | 2020-12-07 | 2021-04-06 | 交控科技股份有限公司 | 轨道交通数字量输入输出通道检测方法及装置 |
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|---|---|
| JP3556443B2 (ja) | 2004-08-18 |
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