JPS608906A - 制御盤検査装置 - Google Patents
制御盤検査装置Info
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- JPS608906A JPS608906A JP58115848A JP11584883A JPS608906A JP S608906 A JPS608906 A JP S608906A JP 58115848 A JP58115848 A JP 58115848A JP 11584883 A JP11584883 A JP 11584883A JP S608906 A JPS608906 A JP S608906A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、制御盤の検査装置に係わるものであシ、特に
、マイクロコンピュータC以下、マイコンと呼ぶ)を組
込んだ制御盤に対する自動検査に好適な装置に関する。
、マイクロコンピュータC以下、マイコンと呼ぶ)を組
込んだ制御盤に対する自動検査に好適な装置に関する。
制御盤の設計、製造、検査の手順の概要は、第1図に示
すとおりである。すなわち、 ステップ101:顧客の要求等に基づき、制御盤の要求
機能を記述した運転方案 を作成する。
すとおりである。すなわち、 ステップ101:顧客の要求等に基づき、制御盤の要求
機能を記述した運転方案 を作成する。
ステップ102:運転方案を満足するように制御盤の設
計を行なう。近年の制御 盤は、マイコンが組込まれるこ とが多いので、その設計は、ハ −ドロジックに関するものと、 マイコンソフトに関するものに 大別される。
計を行なう。近年の制御 盤は、マイコンが組込まれるこ とが多いので、その設計は、ハ −ドロジックに関するものと、 マイコンソフトに関するものに 大別される。
ステップ103:設計が運転方案を満足するものになっ
ているかどうか、設計績 果の検査を行なう。
ているかどうか、設計績 果の検査を行なう。
ステップ104:設計結果に基づき、制御盤を製造する
。以下、製造された制御 盤を製品と呼ぶ。
。以下、製造された制御 盤を製品と呼ぶ。
ステップ105:上記ステップ102〜103の過程で
、製品が運転方案の機能 を満足するものであるととを確 認するに必要なテスト用人カバ ターン(製品に対する各種の入 力信号に関する情報、以下、テ ストパターンとも呼ぶ)と、出 ・カバターン(正しく製造されて いる場合の各種の出力信号に関 する情報)を別途作成しておく。
、製品が運転方案の機能 を満足するものであるととを確 認するに必要なテスト用人カバ ターン(製品に対する各種の入 力信号に関する情報、以下、テ ストパターンとも呼ぶ)と、出 ・カバターン(正しく製造されて いる場合の各種の出力信号に関 する情報)を別途作成しておく。
ステップ106二人カバターンを製品に与え、出カバタ
ーンに合致するかどうか を検査する。
ーンに合致するかどうか を検査する。
製品に対する従来の検査は、検査員が、スナップスイッ
チ等によりテストパターンを与え、出カバターンと合致
するかどうかを別の検査員が電流計等により確認すると
いう方法を採用していた。
チ等によりテストパターンを与え、出カバターンと合致
するかどうかを別の検査員が電流計等により確認すると
いう方法を採用していた。
従来の検査方法では次のような問題があった。
(11人手で実施するので、テストパターンヲ与え出カ
バターンと合致するかどうかを確認するのに要する人員
と時間が多くかかる。
バターンと合致するかどうかを確認するのに要する人員
と時間が多くかかる。
(2) テストパターンに対応した出カバターンを運転
方案から作成しなければならないが、この検討も人手で
やっているため、人員と時間が多くかかると共に、間違
った出カバターンを与えることがあった。
方案から作成しなければならないが、この検討も人手で
やっているため、人員と時間が多くかかると共に、間違
った出カバターンを与えることがあった。
(3)設計そのものの検査も展開接続図を見ながら人間
が行なっているので、人員と時間が多くかかると共に、
設計の間違いを発見できない場合があった。との段階で
間違いが発見できないで製品検査や稼動後これが発見さ
れると、設計変更、製品改造が必要となり、全体として
の工程が長くなる場合があった。
が行なっているので、人員と時間が多くかかると共に、
設計の間違いを発見できない場合があった。との段階で
間違いが発見できないで製品検査や稼動後これが発見さ
れると、設計変更、製品改造が必要となり、全体として
の工程が長くなる場合があった。
以上の傾向は、制御システムの複雑化と共に強くなって
いる。
いる。
このようh問題に対処するため、制御盤製品の検査に、
電子計算機を用いる方法(ComputerAided
’l’esting、以下CATと呼ぶ)が考えられ
ている(特開昭56−162060号公報参照)。
電子計算機を用いる方法(ComputerAided
’l’esting、以下CATと呼ぶ)が考えられ
ている(特開昭56−162060号公報参照)。
これは、(a)テストパターン作成用のマクロ言語など
を用いて、テスト項目を入力することにより、短時間で
多くのテストパターンの付与を可能とすると共に、(b
)出力信号の動きを自動的に検出し、あらかじめ入力さ
れた出カバターンと自動的に比較することにより、出力
結果の確認の手間を低減しようとするものである。
を用いて、テスト項目を入力することにより、短時間で
多くのテストパターンの付与を可能とすると共に、(b
)出力信号の動きを自動的に検出し、あらかじめ入力さ
れた出カバターンと自動的に比較することにより、出力
結果の確認の手間を低減しようとするものである。
とのような方法を採用することにより、上記(1)の問
題点を解決することは可能であるが、+21. (31
の問題点は解決されないままである。f2+、(31の
問題点が解決されなりと、製品の検査を何度もやり直さ
なければならず、結果的に多くの人員と時間を要するよ
うになる。
題点を解決することは可能であるが、+21. (31
の問題点は解決されないままである。f2+、(31の
問題点が解決されなりと、製品の検査を何度もやり直さ
なければならず、結果的に多くの人員と時間を要するよ
うになる。
なお、設計の検査結果を製品の検査に利用するという考
えは既に提案されている(坪田庸介二制御盤の検査及び
故障診断装置:特開昭57−64172号公報、昭和5
7年4月19日公開)が、これは、設計検査のだめのシ
ミュレーションに制御対象を含まないため、設計のエラ
ーが発見できない可能性が高かった。また、制御盤がハ
ードロジックのみからなる場合に適用が可能なもので、
本発明で対象とするようなコンピュータのソフトウェア
と論理演算用ノ\−ドウエアCノ1−ドロシック)によ
って制御かたされる制御盤に対しては直接は適用できな
い本のである。
えは既に提案されている(坪田庸介二制御盤の検査及び
故障診断装置:特開昭57−64172号公報、昭和5
7年4月19日公開)が、これは、設計検査のだめのシ
ミュレーションに制御対象を含まないため、設計のエラ
ーが発見できない可能性が高かった。また、制御盤がハ
ードロジックのみからなる場合に適用が可能なもので、
本発明で対象とするようなコンピュータのソフトウェア
と論理演算用ノ\−ドウエアCノ1−ドロシック)によ
って制御かたされる制御盤に対しては直接は適用できな
い本のである。
[発明の目的]
本発明の目的は、上記問題点を解決する検査装置を提供
することにある。
することにある。
上記目的を達成するため、本発明ではマイコンソフトと
ハードロジックを用いて制御する制御盤の設計結果の検
査と製品の検査に電子計算機を導入し、その間をマグネ
ティックテープ(以下、M/Tと略す)やフロッピーデ
ィスクで結び、制御対象を含めた設計のCATと製品の
CATを統合する点に特徴がある。それぞれの方法の概
要は以下のとおりである。
ハードロジックを用いて制御する制御盤の設計結果の検
査と製品の検査に電子計算機を導入し、その間をマグネ
ティックテープ(以下、M/Tと略す)やフロッピーデ
ィスクで結び、制御対象を含めた設計のCATと製品の
CATを統合する点に特徴がある。それぞれの方法の概
要は以下のとおりである。
[設計結果の検査コ(第1図のステップ103に対応)
(a) 設計が完了した時点で制御盤と制御対象(ポン
プ、ボイラー等)の機能を電子計算機に入力する。
プ、ボイラー等)の機能を電子計算機に入力する。
(b) テストパターン作成用マクロ言語により作成さ
れたテストパターン(操作員の正常操作信号、異常操作
信号、制御対象の初期値など)を入力した場合の制御盤
と制御対象の動きを電子計算機内でシミュレーション(
模擬実験)する。
れたテストパターン(操作員の正常操作信号、異常操作
信号、制御対象の初期値など)を入力した場合の制御盤
と制御対象の動きを電子計算機内でシミュレーション(
模擬実験)する。
(C) グラフィックディスプレイ(または、リスト)
上に出力されたシミュレーション結果に基づく出カバタ
ーンに問題がないかどうかを検査員が検査する。
上に出力されたシミュレーション結果に基づく出カバタ
ーンに問題がないかどうかを検査員が検査する。
(d) 問題がなければ、製品検査に必要なテストパタ
ーンと出カバターンをM/T(−iたは、フロッピーデ
ィスク)内に保存する。
ーンと出カバターンをM/T(−iたは、フロッピーデ
ィスク)内に保存する。
[製品の検査コ(第1図のステップ106に対応)(e
) 制御盤製造後に、マイコンを用いたテスタと製品を
結合する。
) 制御盤製造後に、マイコンを用いたテスタと製品を
結合する。
(f) マイコンを用いたテスタを介して、上記のMZ
T中のテストパターンを製品に与え、出力が、M/T内
の出カバターンと合致するかどうかをテスタ内で自動的
に検査する。
T中のテストパターンを製品に与え、出力が、M/T内
の出カバターンと合致するかどうかをテスタ内で自動的
に検査する。
(a)〜(d)を実施することにより、間違った出カバ
ターンの作成を減少させると共に設計ミスを減少させる
ことが可能となり、問題点(2+、 (31の解決が可
能となる。また、(e)、 (f)を実施することによ
り、検査人員、時間の削減が可能となり問題点(1)が
解決され得る。さらに、(a)〜(d)と(e)〜(f
)の間をM/Tでむすぶことにより、従来のCAT法で
は不可欠だった、出カバターンをテスタに入力する手間
が低減されている。
ターンの作成を減少させると共に設計ミスを減少させる
ことが可能となり、問題点(2+、 (31の解決が可
能となる。また、(e)、 (f)を実施することによ
り、検査人員、時間の削減が可能となり問題点(1)が
解決され得る。さらに、(a)〜(d)と(e)〜(f
)の間をM/Tでむすぶことにより、従来のCAT法で
は不可欠だった、出カバターンをテスタに入力する手間
が低減されている。
以下、本発明の実施例を第2図〜第12図により説明す
る。
る。
本検査装置20は第2図に示すように設計結果検査装置
100と製品検査装置200とこれらを結ぶM/T30
0から構成されている。設計結果検査装置100より出
力されたテストパターンおよび出カバターンは、M/T
300内に保存され、製品製造後に製品検査装置200
を用いて制御盤製品500の検査を自動的に実施すると
きに使用される。
100と製品検査装置200とこれらを結ぶM/T30
0から構成されている。設計結果検査装置100より出
力されたテストパターンおよび出カバターンは、M/T
300内に保存され、製品製造後に製品検査装置200
を用いて制御盤製品500の検査を自動的に実施すると
きに使用される。
設計結果検査装置100の構成とその入力部分は、第3
図に示すとおりである。すなわち、入力には、CAD
(Computer Aided Design)Jf
HC開発された図形入力システム50を用いる(小林他
1制御盤・配電盤・整流器盤におけるCAD/CAMシ
ステム”日立評論vot、62.A7(1980)pp
5〜10参照)。本システム50は、主として大型コン
ピュータ(例えば、HITAC−M200H)51、入
力装置52、グラフィックディスプレイ53、ディスク
54、図形処理用プログラム55よυなる。制御盤のハ
ードロジックおよびマイコ(9) ンソフトの設計の過程で、本CADシステム50を用い
て、ハードロジックおよびマイコンソフトを図形の形で
入力、修正、保存する。入力、修正には入力装置52を
、図形入力結果の表示には、グラフィックディスプレイ
53、データの保存にはディスク54を用いる。また、
これらを制御するため、大型コンピュータ51と図形処
理用プログラム55を用いる。
図に示すとおりである。すなわち、入力には、CAD
(Computer Aided Design)Jf
HC開発された図形入力システム50を用いる(小林他
1制御盤・配電盤・整流器盤におけるCAD/CAMシ
ステム”日立評論vot、62.A7(1980)pp
5〜10参照)。本システム50は、主として大型コン
ピュータ(例えば、HITAC−M200H)51、入
力装置52、グラフィックディスプレイ53、ディスク
54、図形処理用プログラム55よυなる。制御盤のハ
ードロジックおよびマイコ(9) ンソフトの設計の過程で、本CADシステム50を用い
て、ハードロジックおよびマイコンソフトを図形の形で
入力、修正、保存する。入力、修正には入力装置52を
、図形入力結果の表示には、グラフィックディスプレイ
53、データの保存にはディスク54を用いる。また、
これらを制御するため、大型コンピュータ51と図形処
理用プログラム55を用いる。
ここで、マイコンソフトを図形で入力するというのは、
マイコンソフトの機能を、ANDゲート、ORゲート、
7リツプフロツプゲート、加算ゲートなど(アナログ回
路も含む)のブロックとその間の関係で表現しようとす
るものである。
マイコンソフトの機能を、ANDゲート、ORゲート、
7リツプフロツプゲート、加算ゲートなど(アナログ回
路も含む)のブロックとその間の関係で表現しようとす
るものである。
また、制御対象も、マイコンソフトと同様な方法で表現
が可能である。
が可能である。
ここでは、入力の容易性と、設計用に入力したものを効
率的に使うという目的から、CADシステムによる入力
を採用したが、カードリーダ等を用いて、別途入力する
ことも当然可能である。
率的に使うという目的から、CADシステムによる入力
を採用したが、カードリーダ等を用いて、別途入力する
ことも当然可能である。
ディスク54に保存された図形データは、設計(10)
結果の検査時に、設計結果検査装置100に入力される
。同装置100は、大型コンピュータ101、入力装置
102、グラフィックディスプレイ103、ディスク1
04、M/T駆動装置105、ラインプリンタ106お
よび、プログラム群150よりなる。
。同装置100は、大型コンピュータ101、入力装置
102、グラフィックディスプレイ103、ディスク1
04、M/T駆動装置105、ラインプリンタ106お
よび、プログラム群150よりなる。
ここで、大型コンピュータ、入力装置、グラフィックデ
ィスプレイおよびディスクをCADシステム用のものと
共用することも可能である。
ィスプレイおよびディスクをCADシステム用のものと
共用することも可能である。
プログラム群150の構成および相互関係は第4図に示
すとおりである。すなわち、プログラム群、シミュレー
ションモデル作成フロクラム151、シミュレーション
実行プログラム152、テストパターン編集プログラム
153、表示用プログラム154、出カバターン編集プ
ログラム155よシなる。
すとおりである。すなわち、プログラム群、シミュレー
ションモデル作成フロクラム151、シミュレーション
実行プログラム152、テストパターン編集プログラム
153、表示用プログラム154、出カバターン編集プ
ログラム155よシなる。
CADシステム50用のディスク54に保存されたハー
ドロジック用図形データ、マイコンソフト用図形データ
、制御対象用図形データは、シミュレーションモデル作
成プログラム151によつ(11) て、相互に結合され、設計結果検査装置100のディス
ク104に保存される。
ドロジック用図形データ、マイコンソフト用図形データ
、制御対象用図形データは、シミュレーションモデル作
成プログラム151によつ(11) て、相互に結合され、設計結果検査装置100のディス
ク104に保存される。
まず、シミュレーションモデル作成プログラム151に
おける処理を第5図のフローチャートにそって説明する
。
おける処理を第5図のフローチャートにそって説明する
。
ステップ51:CADシステム用のディスク54に保存
された図形データ(ハード ロジック用、マイコンソフト用、 制御対象用の3つからなる)を読 み込む。
された図形データ(ハード ロジック用、マイコンソフト用、 制御対象用の3つからなる)を読 み込む。
ステップ52:もし、図形データを変更したければ、入
力装置102を用いてデー タの修正を行なう。この修正結果 は、ディスク104に保存する。
力装置102を用いてデー タの修正を行なう。この修正結果 は、ディスク104に保存する。
ステップ53:ディスク104より、登録された要素記
号を読み込み、図形データ 内の要素のうち未登録なものがな いかどうかチェックする。
号を読み込み、図形データ 内の要素のうち未登録なものがな いかどうかチェックする。
ステップ54:登録されてない要素があれば、その記号
を登録し、その機能を対応 (12) するサブルーチンに記述し、ディ スフ104内に保存する。この記 述にはフォートラン等種々のコン ピユータ言語の使用が可能である。
を登録し、その機能を対応 (12) するサブルーチンに記述し、ディ スフ104内に保存する。この記 述にはフォートラン等種々のコン ピユータ言語の使用が可能である。
ステップ55:異なる図形データ間で同じものを異なっ
た記号で記述していたり、 接続が記述されて々ければ、入力 装置102より入力する。
た記号で記述していたり、 接続が記述されて々ければ、入力 装置102より入力する。
ステップ56:以上の入力に基づき、要素接続テーブル
を主メモリ上に作成する。
を主メモリ上に作成する。
ここで、要素接続テーブルについて、説明しておく。例
えば、第6図のようなマイコンソフトの図形データに対
しては第7図のような要素接続テーブルを作成すること
ができる。
えば、第6図のようなマイコンソフトの図形データに対
しては第7図のような要素接続テーブルを作成すること
ができる。
第6図において、ボックスは、それぞれの要素を表わし
ており、AD、AM等は要素の種類を表わしている。例
えば、ADは加算器、AMはアナログメモリーを意味す
る。8071.8070等は、計算順序を表わすシーケ
ンス番号であり、Sを除いた数字の小さい順に計算する
ようになっている。
ており、AD、AM等は要素の種類を表わしている。例
えば、ADは加算器、AMはアナログメモリーを意味す
る。8071.8070等は、計算順序を表わすシーケ
ンス番号であり、Sを除いた数字の小さい順に計算する
ようになっている。
(13)
また、AOOI、AO25,DO2C等は入出力信号を
表わしている。例えば、AD型要素の入力信号は、AO
23とA024であり、出力信号はAO25であること
を示している。
表わしている。例えば、AD型要素の入力信号は、AO
23とA024であり、出力信号はAO25であること
を示している。
第7図において、シーケンス番号、要素番号、要素記号
、対応サブルーチン、入力信号番号、出力信号番号は、
図形データより直接、間接的に得ることが可能である。
、対応サブルーチン、入力信号番号、出力信号番号は、
図形データより直接、間接的に得ることが可能である。
また、地図形データの信号点との関連は、ステップ55
の入力により得ることができる。出力信号の状態は、後
述するシミュレーション実行プログラム152を用いて
順次計算するものである。
の入力により得ることができる。出力信号の状態は、後
述するシミュレーション実行プログラム152を用いて
順次計算するものである。
以上の例は、マイコンソフトの図形データについて説明
したが、制御対象用の図形データについても同様のテー
ブルの作成が可能であり、ノ1−ドロシック用図形デー
タも前処理を少し行なえば、すぐに同じテーブルを作成
することができる。
したが、制御対象用の図形データについても同様のテー
ブルの作成が可能であり、ノ1−ドロシック用図形デー
タも前処理を少し行なえば、すぐに同じテーブルを作成
することができる。
このようにして作られたシミュレーションモデルの構成
を第8図に示す。シミュレーションモデル400内には
、ハードロジック部モデル401、(14) マイコンソフト部モデル402、制御対象モデル403
、操作盤モデル404が、各種の信号405〜411に
よって第8図に示すように結合されている。ここで操作
盤モデル404というのは、制御盤のハードロジックモ
デルの一種であう、操作員との入出力部を受け持つもの
である。
を第8図に示す。シミュレーションモデル400内には
、ハードロジック部モデル401、(14) マイコンソフト部モデル402、制御対象モデル403
、操作盤モデル404が、各種の信号405〜411に
よって第8図に示すように結合されている。ここで操作
盤モデル404というのは、制御盤のハードロジックモ
デルの一種であう、操作員との入出力部を受け持つもの
である。
次に、第4図のテストパターン編集プログラム153に
っbて説明する。入力装置102より、テストパターン
作成用マクロ言語などを用いてテスト項目を入力すると
、テストパターン編集プログラム153では、指定され
た入力信号の状態の時間変化を作成する。ここで、通常
入力指定の対象となるのは、第8図の人手入力信号4o
5、制御対象初期入力信号406である。
っbて説明する。入力装置102より、テストパターン
作成用マクロ言語などを用いてテスト項目を入力すると
、テストパターン編集プログラム153では、指定され
た入力信号の状態の時間変化を作成する。ここで、通常
入力指定の対象となるのは、第8図の人手入力信号4o
5、制御対象初期入力信号406である。
ここでは、入力の手間を低減するため、テストパターン
作成マクロ言語を用いる方法を採用したが、テストパタ
ーンを入力装置102から直接入力することも可能であ
る。なお、テストパターン作成マクロ言語については、
各種のテスト用に開発されており、それらを改良するこ
とにより使用(15) することが可能である。
作成マクロ言語を用いる方法を採用したが、テストパタ
ーンを入力装置102から直接入力することも可能であ
る。なお、テストパターン作成マクロ言語については、
各種のテスト用に開発されており、それらを改良するこ
とにより使用(15) することが可能である。
次に1第4図のシミュレーション実行プログラム152
について説明する。シミュレーション作成プログラム1
51で作られたシミュレーションモデルと、テストパタ
ーン編集プログラム153で作られたテストパターンを
用いてシミュレーション実行プログラム152では、各
要素の機能シミュレーションを実行する。
について説明する。シミュレーション作成プログラム1
51で作られたシミュレーションモデルと、テストパタ
ーン編集プログラム153で作られたテストパターンを
用いてシミュレーション実行プログラム152では、各
要素の機能シミュレーションを実行する。
シミュレーション結果の処理手順を、第9図のフローチ
ャートにそって説明する。
ャートにそって説明する。
ステップ91:対象マイコン(例えば、HISEC−0
4)において、制御に用いてい るサイクルタイム(Δt)を読み込 む。
4)において、制御に用いてい るサイクルタイム(Δt)を読み込 む。
ステップ92:テストパターンと出力信号をテストパタ
ーン編集プログラム153 を通じて読み込む。
ーン編集プログラム153 を通じて読み込む。
ステップ93:要素接続テーブルを探索し、観測すべき
出力に直接、間接つながる 要素を摘出し、入力側に近い順に、 (16) 計算順序テーブルを作成する。
出力に直接、間接つながる 要素を摘出し、入力側に近い順に、 (16) 計算順序テーブルを作成する。
ステップ94:計算順序テーブルをサーチし、計算すべ
き要素を探し出す。
き要素を探し出す。
ステップ95:対象要素に関するサブルーチンをコール
し、入力値に対応する計算 結果を要素接続テーブルの出力信 号状態部に書き込む。なお、この 値はディスク104にも書き込み、 後での表示にそなえる。
し、入力値に対応する計算 結果を要素接続テーブルの出力信 号状態部に書き込む。なお、この 値はディスク104にも書き込み、 後での表示にそなえる。
ステップ96〜97:計算順序テーブル内のすべての要
素について計算したら、時 間を1単位進め、同テーブルの最 初の要素にもどる。
素について計算したら、時 間を1単位進め、同テーブルの最 初の要素にもどる。
ステップ98〜99:すべての時間、すべてのテストパ
ターンについて実施するま で繰り返す。
ターンについて実施するま で繰り返す。
なお、計算時間を短縮するため、ステップ93で観測す
べき出力信号につながる要素のみを切り出し計算する方
法を採用したが、すべての要素について計算することも
可能である。
べき出力信号につながる要素のみを切り出し計算する方
法を採用したが、すべての要素について計算することも
可能である。
(17)
次に、表示用プログラム154について説明する。観測
するように指定された信号の動きのシミュレーション結
果をディスク104より取り出し、検査員のために、グ
ラフィックディスプレイ103やラインプリンタ106
上に表示する。
するように指定された信号の動きのシミュレーション結
果をディスク104より取り出し、検査員のために、グ
ラフィックディスプレイ103やラインプリンタ106
上に表示する。
ここで、通常観測するように指定される出力信号は、第
8図の人手確認信号410.制御対象出力信号411、
制御対象モデルに入力される外部出力信号409、制御
対象モデルから外部入力信号407としてフィードバッ
クするものなどである。また、詳細に信号の動きを知り
たい場合には、内部入出力信号408や、それぞれのモ
デル部内の信号を指定する場合もある。第10図に表示
の一例を示す。第10図(a)はテストパターンを示し
、(b)は出カバターンを示す。表示結果を見て、運転
法案と異なる動きがあれば設計の見直し、変更を行なう
。なおグラフィックディスプレイ103上への表示は、
第10図のようなグラフだけでなく、プラントの状態を
アニメーションのように表示することも可能である。
8図の人手確認信号410.制御対象出力信号411、
制御対象モデルに入力される外部出力信号409、制御
対象モデルから外部入力信号407としてフィードバッ
クするものなどである。また、詳細に信号の動きを知り
たい場合には、内部入出力信号408や、それぞれのモ
デル部内の信号を指定する場合もある。第10図に表示
の一例を示す。第10図(a)はテストパターンを示し
、(b)は出カバターンを示す。表示結果を見て、運転
法案と異なる動きがあれば設計の見直し、変更を行なう
。なおグラフィックディスプレイ103上への表示は、
第10図のようなグラフだけでなく、プラントの状態を
アニメーションのように表示することも可能である。
(18)
信号の動きがすべて正しいと判断したら、その結果を出
カバターン編集プログラム155で編集し、重複パター
レ等を排除したり、コメントを追加したりした上で、M
/T駆動装置105内のM/T300内に保存する。M
/’r 300内には、出カバターンに対応したテスト
パターンを同時に保存しておく。M/T300内のデー
タの持ち方の一例を第11図に示しておく。
カバターン編集プログラム155で編集し、重複パター
レ等を排除したり、コメントを追加したりした上で、M
/T駆動装置105内のM/T300内に保存する。M
/’r 300内には、出カバターンに対応したテスト
パターンを同時に保存しておく。M/T300内のデー
タの持ち方の一例を第11図に示しておく。
M/T300内のデータは、Aデータ301、Bデータ
302、Cデータ303より々る。Aデータ301は、
通常1つの制御盤のテストに対し1つだけ存在し、ヘッ
ディング項目に相当する。
302、Cデータ303より々る。Aデータ301は、
通常1つの制御盤のテストに対し1つだけ存在し、ヘッ
ディング項目に相当する。
Bデータ302は、テスト項目を表わし、Cデータ30
3はステップ項目を表わす。ステップ項目というのは、
ある対象、目的、状態、時刻におけるテストパターン、
出カバターン等を表わしている。テスト項目というのは
、このステップ項目をすべての時刻において−まとめに
したものである。
3はステップ項目を表わす。ステップ項目というのは、
ある対象、目的、状態、時刻におけるテストパターン、
出カバターン等を表わしている。テスト項目というのは
、このステップ項目をすべての時刻において−まとめに
したものである。
なお、操作指示文は、第8図の人手入力信号405を、
テスト結果確認指示文は、同じく人手確認信(19) 号410を出カバターン編集プログラム155で交換す
ることによって得られる。
テスト結果確認指示文は、同じく人手確認信(19) 号410を出カバターン編集プログラム155で交換す
ることによって得られる。
以上で、設計結果検査装置100の構成、機能、処理方
法の説明を終わる口 次に製品検査装置200について第12図を用いて説明
する。本装置t2001d、マイコン(HISEC−0
4等)201、ディスク202、M/T駆動装置203
、タイプライタ204、入力装置205、ディスプレイ
装置206、信号変換装置207、接続装置208から
構成される。ここで、信号変換装置207というのは、
マイコン201用の信号電圧を、制御盤製品500用の
信号電圧に変換するためのものである。また、接続装置
208というのは、制御盤製品500用の配線を容易に
接続するためのものである。
法の説明を終わる口 次に製品検査装置200について第12図を用いて説明
する。本装置t2001d、マイコン(HISEC−0
4等)201、ディスク202、M/T駆動装置203
、タイプライタ204、入力装置205、ディスプレイ
装置206、信号変換装置207、接続装置208から
構成される。ここで、信号変換装置207というのは、
マイコン201用の信号電圧を、制御盤製品500用の
信号電圧に変換するためのものである。また、接続装置
208というのは、制御盤製品500用の配線を容易に
接続するためのものである。
本装置200を用いての製品検査の手順を以下に示す。
(1)M/T駆動装置203に対象製品用のM/’I’
300をセットする。
300をセットする。
(2)制御盤製品500と接続装置208を接続す(2
0) る。
0) る。
(3)検査員が入力装置205より、検査開始(あるい
は、継続)入力を与え、M/T300より1組のテスト
データ(1つのBデータから次のBデータの前まで)を
マイコン201の主メモリ上にロードする。
は、継続)入力を与え、M/T300より1組のテスト
データ(1つのBデータから次のBデータの前まで)を
マイコン201の主メモリ上にロードする。
(4)制御盤の状態を外部から変える必要のある場合に
は、ディスプレイ装置206上に表示された操作指示文
(M/T300内の情報)にそって、セットする。
は、ディスプレイ装置206上に表示された操作指示文
(M/T300内の情報)にそって、セットする。
(5)マイコン201では、このデータ内のテストパタ
ーンを第9図のステップ91で指定された時間きざみΔ
tごとに、信号変換装置207、接続装置208を通じ
て、製品500に与える。
ーンを第9図のステップ91で指定された時間きざみΔ
tごとに、信号変換装置207、接続装置208を通じ
て、製品500に与える。
(6)製品500からの信号をマイコン201 K取り
込み、主メモリ上にロードされた出カバターンと合致す
るかどうかをマイコン201内で比較する。
込み、主メモリ上にロードされた出カバターンと合致す
るかどうかをマイコン201内で比較する。
(7)合致するかどうかの結果は、ディスプレイ装置2
06、タイプライタ204上に表示する。
06、タイプライタ204上に表示する。
(21)
また後での詳細検討のため、実際の出力信号と、出カバ
ターンを、ディスク202内に保存する。
ターンを、ディスク202内に保存する。
(8)検査をより確かなものにしたー場合には、製品5
00のランプ等の状態を、ディスプレイ装置206上に
表示されたテスト結果確認指示文(M/T 300内の
情報)に従って検査する。
00のランプ等の状態を、ディスプレイ装置206上に
表示されたテスト結果確認指示文(M/T 300内の
情報)に従って検査する。
以上の(3)〜(8)の手順をすべてのケースについて
繰返す。
繰返す。
上記の実施例では、マイコン1台を用いたスタンド・ア
ロン型を前提として説明したが、大型コンピュータとの
階層構造にしたりする他の構成にすることも当然可能で
ある。
ロン型を前提として説明したが、大型コンピュータとの
階層構造にしたりする他の構成にすることも当然可能で
ある。
また、上記の例では、検査を確実な屯のkするために、
製品検査時に検査員が1回1回テープからの入力を指示
したり、結果の確認を行なったりする方法を採用してい
るが、時間を更に短縮したい場合には、この部分を自動
化することも可能であることは言うまでもない。
製品検査時に検査員が1回1回テープからの入力を指示
したり、結果の確認を行なったりする方法を採用してい
るが、時間を更に短縮したい場合には、この部分を自動
化することも可能であることは言うまでもない。
本発明によれば、(1)コンピュータ利用の制御盤(2
2) の設計結果の検査に制御対象モデルを含めたコンピュー
タシミュレーションを導入し、(2)その結果得られた
テストパターン、出カバターンをM/T内に保存した上
で、(3)製品製造後の検査に、マイコンを用いたテス
タと上記のM/T内情報を直接使用しているので、 (a) テストパターンに対応した出カバターンの間違
いが少なく(主として上記(1)による)、(b) 設
計のミスが発見しやすいので、製品改造等による工程の
遅れが少なくなることが期待でき(主として上記の(1
)による)、 (C) 製品の検査のために必要な人員および時間を減
少できる(主として上記の(21,(31による)、と
いう効果がある。
2) の設計結果の検査に制御対象モデルを含めたコンピュー
タシミュレーションを導入し、(2)その結果得られた
テストパターン、出カバターンをM/T内に保存した上
で、(3)製品製造後の検査に、マイコンを用いたテス
タと上記のM/T内情報を直接使用しているので、 (a) テストパターンに対応した出カバターンの間違
いが少なく(主として上記(1)による)、(b) 設
計のミスが発見しやすいので、製品改造等による工程の
遅れが少なくなることが期待でき(主として上記の(1
)による)、 (C) 製品の検査のために必要な人員および時間を減
少できる(主として上記の(21,(31による)、と
いう効果がある。
第1図は制御盤の設計、製造、検査の手順の概要を示す
フローチャート、第2図は制御盤の検査装置の全体構成
図、第3図は設計結果検査装置とその入力部の構成図、
第4図は設計結果検査装置用プログラムの構成および相
互関係を示す図、第(23) v、1Fn 5図はシミュレーションモデル作成プログラムの処理手
順を示すフローチャート、第6図は図形データの一例を
示す図、第7図は要素接続テーブルの一例を示す図、第
8図はシミュレーションモデルの構成と信号の流れを示
す図、第9図はシミュレーション実行プログラムの処理
手順を示すフローチャート、第10図は表示結果の一例
を示す図、第11図はM/T内の情報配置の一例を示す
図、第12図は製品検査装置の構成図である。 20・・・制御盤の検査システム、50・・・図形入力
システム、51・・・大型コンピュータ、52・・・入
力装置。 (24) 第 2 口
フローチャート、第2図は制御盤の検査装置の全体構成
図、第3図は設計結果検査装置とその入力部の構成図、
第4図は設計結果検査装置用プログラムの構成および相
互関係を示す図、第(23) v、1Fn 5図はシミュレーションモデル作成プログラムの処理手
順を示すフローチャート、第6図は図形データの一例を
示す図、第7図は要素接続テーブルの一例を示す図、第
8図はシミュレーションモデルの構成と信号の流れを示
す図、第9図はシミュレーション実行プログラムの処理
手順を示すフローチャート、第10図は表示結果の一例
を示す図、第11図はM/T内の情報配置の一例を示す
図、第12図は製品検査装置の構成図である。 20・・・制御盤の検査システム、50・・・図形入力
システム、51・・・大型コンピュータ、52・・・入
力装置。 (24) 第 2 口
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、コンピュータ利用の制御盤検査装置において、制御
盤の設計結果と該制御盤により制御される制御対象を表
わす模擬モデルおよび該モデルにたいするテスト用人カ
バターンとをコンピュータに入力して上記モデルの動作
をコンピュータ内で模擬することにより上記設計結果を
検査する検査手段と、検査の結果を示す出カバターンの
うち正しいと判断された出力−くターンと対応する入カ
バターンとを格納する外部記憶手段と、上記検査手段に
より検査された設計結果にもとづき製造された制御盤に
たいしてテスト用人カバターンを上記記憶手段より読み
出して付与したときに該制御盤から出力された出カバタ
ーンが上記記憶手段中の対応する出カバターンと合致す
るか調べる演算をおこなって上記製造された制御盤を検
査する製品検査手段とを備えたことを特徴とする制御盤
検査装置。 2、上記製造された制御盤は対象を制御するだめのコン
ピュータソフトウェアと論垣演算用ハードウェアを含む
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項の制御盤検査装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58115848A JPS608906A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 制御盤検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58115848A JPS608906A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 制御盤検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS608906A true JPS608906A (ja) | 1985-01-17 |
Family
ID=14672626
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58115848A Pending JPS608906A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 制御盤検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS608906A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014203244A (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-27 | 三菱電機株式会社 | 情報処理実行プロセス監視システムおよび情報処理実行プロセス監視プログラム |
-
1983
- 1983-06-29 JP JP58115848A patent/JPS608906A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014203244A (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-27 | 三菱電機株式会社 | 情報処理実行プロセス監視システムおよび情報処理実行プロセス監視プログラム |
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